JPS6182648A - 質量分析計 - Google Patents
質量分析計Info
- Publication number
- JPS6182648A JPS6182648A JP59204598A JP20459884A JPS6182648A JP S6182648 A JPS6182648 A JP S6182648A JP 59204598 A JP59204598 A JP 59204598A JP 20459884 A JP20459884 A JP 20459884A JP S6182648 A JPS6182648 A JP S6182648A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample introduction
- mass spectrometer
- vacuum chamber
- holding
- introduction system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0431—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/72—Mass spectrometers
- G01N30/7206—Mass spectrometers interfaced to gas chromatograph
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野ン
本考案は混合物試料の定性・定量分析などを行なうため
に使用されるガスクロマトグラフ質量分析計（Ｇ Ｃ−
Ｍ Ｓ ）に関するものである。
に使用されるガスクロマトグラフ質量分析計（Ｇ Ｃ−
Ｍ Ｓ ）に関するものである。
（従来の技術）
ガスクロマトグラフ質量分析計はガスクロマトグラフと
質量分析計とを直結したものであるが、広い応用分野に
対応するため、質量分析計の試料導入部は通ｔ：Ｆ少な
くとも３個設けられている。それらの試料導入部は１例
えば標準試料導入系、ガスクロマトグラフのバツクドカ
ラムからセパレータやスプリンタ−を経由して導入され
るバツクドカラム導入系、及びガスクロマトグラフのキ
ャピラリーカラムから導入されるキャピラリーカラム導
入系のそれぞれの導入部である。
質量分析計とを直結したものであるが、広い応用分野に
対応するため、質量分析計の試料導入部は通ｔ：Ｆ少な
くとも３個設けられている。それらの試料導入部は１例
えば標準試料導入系、ガスクロマトグラフのバツクドカ
ラムからセパレータやスプリンタ−を経由して導入され
るバツクドカラム導入系、及びガスクロマトグラフのキ
ャピラリーカラムから導入されるキャピラリーカラム導
入系のそれぞれの導入部である。
これらの試料導入部は、その内壁面に試料成分が付着す
るのを防止するために加熱される必要がある。バツクド
カラム導入系やキャピラリーカラム導入系のようなガス
クロマトグラフからの試料導入系では、その試料導入部
は最高３００°Ｃ程度まで加熱される必要があるのに対
し、標準試料導入系の試料導入部の加熱は２００°Ｃ程
度で十分であるというように、必要な加熱温度は試料導
入系によって異なっている。
るのを防止するために加熱される必要がある。バツクド
カラム導入系やキャピラリーカラム導入系のようなガス
クロマトグラフからの試料導入系では、その試料導入部
は最高３００°Ｃ程度まで加熱される必要があるのに対
し、標準試料導入系の試料導入部の加熱は２００°Ｃ程
度で十分であるというように、必要な加熱温度は試料導
入系によって異なっている。
したがって、従来は真空室外から真空室内への試料導入
部においてそれぞれの試料導入系に独立に、ヒータとＷ
ｌｌ’Ｌ度調節装置とからなる加熱保温手段を設置して
いる。
部においてそれぞれの試料導入系に独立に、ヒータとＷ
ｌｌ’Ｌ度調節装置とからなる加熱保温手段を設置して
いる。
（９！明が解決しようとする問題点）
いま、１個の標準試料導入系と１個のガスクロマトグラ
フからの試料導入系とを備えた質量分析計においては、
ヒータと温度調節装置が２組必要であり、試料導入系が
増すに従って必要なヒータと温度調節装置の組も増して
いく。その結果、試料導入部の構造が複雑化し、コスト
高になることは避けられない。
フからの試料導入系とを備えた質量分析計においては、
ヒータと温度調節装置が２組必要であり、試料導入系が
増すに従って必要なヒータと温度調節装置の組も増して
いく。その結果、試料導入部の構造が複雑化し、コスト
高になることは避けられない。
本発明はこのような異なる温度に設定される複数の試料
導入系の試料導入部の加熱保温手段を簡略化することに
より、試料導入部を簡略化することを目的とするもので
ある。
導入系の試料導入部の加熱保温手段を簡略化することに
より、試料導入部を簡略化することを目的とするもので
ある。
（問題点を解決するための手段）
本発明の質量分析装置は、少なくとも２個の設定温度の
異なる試料導入部の保持部を所定の断面積で接合した熱
伝導体の一体構造とし、相対的に品温に保つへき保持部
側に加熱保温手段を有する試料導入系を備えている。
異なる試料導入部の保持部を所定の断面積で接合した熱
伝導体の一体構造とし、相対的に品温に保つへき保持部
側に加熱保温手段を有する試料導入系を備えている。
（作用）
一体化された複数の試料導入系に対して１組の加熱保１
ｆｎｊ丁段が設けられている。それらの試料導入系の保
持部の間では所定の断面積の接合部を通じて熱が流れる
か、その接合部の断面積に応じて８１λ度勾配が生し、
各保持部が所定の温度になる。
ｆｎｊ丁段が設けられている。それらの試料導入系の保
持部の間では所定の断面積の接合部を通じて熱が流れる
か、その接合部の断面積に応じて８１λ度勾配が生し、
各保持部が所定の温度になる。
（実施例）
第１図は一実施例における真空室外から真空室内への試
料導入部を真空室外からみた正面図、第２図は第１図の
Ａ−Ｂ線断面図を真空室の一部とともに示したものであ
る。
料導入部を真空室外からみた正面図、第２図は第１図の
Ａ−Ｂ線断面図を真空室の一部とともに示したものであ
る。
２は標準試料導入系用のガラス管で、保持部４により保
持されている。６はガスクロマトグラフのカラムからの
流出ガスを導くための試料導入系のガラス管で、保持部
８により保持されている。
持されている。６はガスクロマトグラフのカラムからの
流出ガスを導くための試料導入系のガラス管で、保持部
８により保持されている。
保持部４と保持部８はともに熱伝導性のよい金属で形成
され、両保持部４，８は所定の断面積をもつ接合部１０
で接合して一体として構成されている。そして、この一
体化された両保持部４，８には単一の真空フランジ１２
が設けられ、質量分析計の真空室１４に取りつけられて
いる。
され、両保持部４，８は所定の断面積をもつ接合部１０
で接合して一体として構成されている。そして、この一
体化された両保持部４，８には単一の真空フランジ１２
が設けられ、質量分析計の真空室１４に取りつけられて
いる。
ガスクロマトグラフからの試料導入系の保持部８にはヒ
ータ１６が埋め込まれており、このヒータ１６が温度調
節装置（図示略）により制御されて保持部８及び保持部
４が所定温度に保たれるようになっている。
ータ１６が埋め込まれており、このヒータ１６が温度調
節装置（図示略）により制御されて保持部８及び保持部
４が所定温度に保たれるようになっている。
ガラス管２の真空室外側（第２図の右側）は標準試料容
器に接続され、ガラス管６の真空室外側はセパレータ若
しくはスプリッタを経て、又は直接にガスクロマトグラ
フのカラムに接続される。
器に接続され、ガラス管６の真空室外側はセパレータ若
しくはスプリッタを経て、又は直接にガスクロマトグラ
フのカラムに接続される。
また、ガラス管２，６の真空室内側（第２図の左側）は
それぞれ接続器（図示略）を経てイオン源のイオン化室
（図示略）に接続される。
それぞれ接続器（図示略）を経てイオン源のイオン化室
（図示略）に接続される。
この実施例において、ヒータ１６の通電により保持部８
が加熱され、接合部１０を介して保持部４も加熱される
が、接合部１０は所定の断面積に設計されているので流
れる熱量が制限され、保持部８と保持部４の間で温度勾
配が生じる。その温度勾配により保持部８が所定温度に
、保持部４がそれより低温の所定温度になるように温度
調節装置によりヒータ１６の通電量が制御される。
が加熱され、接合部１０を介して保持部４も加熱される
が、接合部１０は所定の断面積に設計されているので流
れる熱量が制限され、保持部８と保持部４の間で温度勾
配が生じる。その温度勾配により保持部８が所定温度に
、保持部４がそれより低温の所定温度になるように温度
調節装置によりヒータ１６の通電量が制御される。
その結果、例えばガスクロマトグラフからの試料導入用
ガラス管６が約３００’Ｃに、標準試料導入系用ガラス
管２が約２００°Ｃに保たれる。
ガラス管６が約３００’Ｃに、標準試料導入系用ガラス
管２が約２００°Ｃに保たれる。
実施例は２個の試料導入系について説明しているが、３
個以上の試料導入系の保持部を同様にして一体化し、そ
れぞれの温度を所定温度に保つことができる。
個以上の試料導入系の保持部を同様にして一体化し、そ
れぞれの温度を所定温度に保つことができる。
（発明の効果）
本発明によれば、一体化された複数の試料導入系につい
てヒータと温度調節装置が１組で済むので、構゛造が簡
単になってコストが低下する。
てヒータと温度調節装置が１組で済むので、構゛造が簡
単になってコストが低下する。
また、一体化されｌ１ｆｆ ！１．になったことから保
守作業も容易になる。
守作業も容易になる。
第１図は一実施例における試料導入部を示す正面図、第
２図は第１図のＡ−Ｂ線断面図を真空室の一部とともに
示す図である。 ２．６・・・・・・試料導入系用ガラス管、４．８・・
・・・保持部、 １０・・・・接合部、［４・・・・
・真空室、 １６ ・・・ヒータ。
２図は第１図のＡ−Ｂ線断面図を真空室の一部とともに
示す図である。 ２．６・・・・・・試料導入系用ガラス管、４．８・・
・・・保持部、 １０・・・・接合部、［４・・・・
・真空室、 １６ ・・・ヒータ。
Claims (1)
- （１）真空室外からイオン源へ試料を導入する複数個の
試料導入系を含む質量分析計において、少なくとも２個
の設定温度の異なる試料導入系の保持部を所定の断面積
で接合した熱伝導体の一体構造とし、相対的に高温に保
つべき保持部側に加熱保温手段を備えたことを特徴とす
る質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59204598A JPS6182648A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59204598A JPS6182648A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 質量分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6182648A true JPS6182648A (ja) | 1986-04-26 |
Family
ID=16493112
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59204598A Pending JPS6182648A (ja) | 1984-09-28 | 1984-09-28 | 質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6182648A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4886966A (en) * | 1988-01-07 | 1989-12-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for introducing samples into an inductively coupled, plasma source mass spectrometer |
| JP2009222444A (ja) * | 2008-03-13 | 2009-10-01 | Shimadzu Corp | 大気圧イオン化質量分析装置 |
| JP2014532966A (ja) * | 2011-11-02 | 2014-12-08 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 溶媒支援入口イオン化用多重入口 |
-
1984
- 1984-09-28 JP JP59204598A patent/JPS6182648A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4886966A (en) * | 1988-01-07 | 1989-12-12 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for introducing samples into an inductively coupled, plasma source mass spectrometer |
| JP2009222444A (ja) * | 2008-03-13 | 2009-10-01 | Shimadzu Corp | 大気圧イオン化質量分析装置 |
| JP2014532966A (ja) * | 2011-11-02 | 2014-12-08 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 溶媒支援入口イオン化用多重入口 |
| US9761428B2 (en) | 2011-11-02 | 2017-09-12 | Micromass Uk Limited | Multi inlet for solvent assisted inlet ionisation |
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