JPS6183901A - 標点間変位計 - Google Patents
標点間変位計Info
- Publication number
- JPS6183901A JPS6183901A JP20527084A JP20527084A JPS6183901A JP S6183901 A JPS6183901 A JP S6183901A JP 20527084 A JP20527084 A JP 20527084A JP 20527084 A JP20527084 A JP 20527084A JP S6183901 A JPS6183901 A JP S6183901A
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- rod
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ） 産業上の利用分野
この発明は、試験片を材料試験する材料試験機に関する
しのであり、特にその試験片の標点間変位量を検出する
ための標点間変位計に関するものである。
しのであり、特にその試験片の標点間変位量を検出する
ための標点間変位計に関するものである。
（ロ）従来技術
材１１試験機として、′！Ｊ％２図に示すように一対の
ｇｉ負荷ロッドＩＡ）、＋ＩＢ）を同一軸線上に配置し
たものが一般に便用されている。普通、負荷ロッド（Ｉ
Ａ）、（ＩＢ）は垂直に配置され、試験片（２）も＊直
に配置される。そして、試験片（２）が各負荷ロッド（
ＩＡ）、（ＩＢ）のつかみ具（３Ａ）、（３Ｂ）にチャ
ッキングされるつしたがって、「ｌ荷Ｕヮド（ＩＡ）、
（ＩＢ）によって試験片（２）に試験荷重、たとえば引
張荷重を加えることができる。
ｇｉ負荷ロッドＩＡ）、＋ＩＢ）を同一軸線上に配置し
たものが一般に便用されている。普通、負荷ロッド（Ｉ
Ａ）、（ＩＢ）は垂直に配置され、試験片（２）も＊直
に配置される。そして、試験片（２）が各負荷ロッド（
ＩＡ）、（ＩＢ）のつかみ具（３Ａ）、（３Ｂ）にチャ
ッキングされるつしたがって、「ｌ荷Ｕヮド（ＩＡ）、
（ＩＢ）によって試験片（２）に試験荷重、たとえば引
張荷重を加えることができる。
この種の試験機においＣ，試験片（２）の標点間変位蚤
を検出するとき、従来は試験片（２）に一対の突起（４
Ａ）、 （ｔｌ １３）を設け、各突起（４Ａｌ。
を検出するとき、従来は試験片（２）に一対の突起（４
Ａ）、 （ｔｌ １３）を設け、各突起（４Ａｌ。
（４Ｂ）に一対のフランジ（５八）、（５Ｂ）を固定し
ていた。さらに、一対の検出）１（６Ａ）、 （６１３
）を負荷ロッド（ＩＡ）、ｆｌＢ）と平行に配置する。
ていた。さらに、一対の検出）１（６Ａ）、 （６１３
）を負荷ロッド（ＩＡ）、ｆｌＢ）と平行に配置する。
そ′ して、各検出棒（６八）、（６Ｂ）の上端を
フランジ（５Ａ）、（５Ｂ）に固定し、下端に差動トラ
ンス（７）を設けていた。この変位計は試験片（２）自
体に検出棒（６Ａ）、（ＧＢ）および差動トランス（７
）を支持させるようにしたも°ので、差動トランス（７
）はコイル（８）とコア（９）からなり、コア（９）は
−かの検出Ｋ（ＧＡ）に連結され、コイル（８−）は他
方の検出Ｍｊ（６Ｂ）に固定されている。したがって、
試験片（２）の標点間に変位量が生じると、各検出棒（
１’ｉＡ）、（６，８）が軸方向に移動し、差動トラン
ス（７）のコイル（８）とコア（９）が相対的に変位す
る。したがって、コイル（８）め電流が変化する。これ
によって試験片（２）の樟ζ間変位量を検出することか
できる。
フランジ（５Ａ）、（５Ｂ）に固定し、下端に差動トラ
ンス（７）を設けていた。この変位計は試験片（２）自
体に検出棒（６Ａ）、（ＧＢ）および差動トランス（７
）を支持させるようにしたも°ので、差動トランス（７
）はコイル（８）とコア（９）からなり、コア（９）は
−かの検出Ｋ（ＧＡ）に連結され、コイル（８−）は他
方の検出Ｍｊ（６Ｂ）に固定されている。したがって、
試験片（２）の標点間に変位量が生じると、各検出棒（
１’ｉＡ）、（６，８）が軸方向に移動し、差動トラン
ス（７）のコイル（８）とコア（９）が相対的に変位す
る。したがって、コイル（８）め電流が変化する。これ
によって試験片（２）の樟ζ間変位量を検出することか
できる。
し、かじながら、この変位計は試験片（２〉に突起（４
Ａ）、 （ｌＩ Ｂ）を設けねばならす、試験片（２）
の標占間距離を正確に設定するこ七かできない。したか
って、試験片（２）の標点間変位量を正確に検出するこ
とができないという問題があった。さらに、場合によっ
ては、負荷ロンド（ＩＡ）、（ＩＢ）および試験片（２
）を垂直ではなく、水平に配置することが要求されるが
、試験片（２）自体に検出棒（６Ａ）、（６Ｂ）および
差動トランス（７）を支持さる必要があり、その構造上
試験片（２）を水平に配置する試験に使用することはで
きない。
Ａ）、 （ｌＩ Ｂ）を設けねばならす、試験片（２）
の標占間距離を正確に設定するこ七かできない。したか
って、試験片（２）の標点間変位量を正確に検出するこ
とができないという問題があった。さらに、場合によっ
ては、負荷ロンド（ＩＡ）、（ＩＢ）および試験片（２
）を垂直ではなく、水平に配置することが要求されるが
、試験片（２）自体に検出棒（６Ａ）、（６Ｂ）および
差動トランス（７）を支持さる必要があり、その構造上
試験片（２）を水平に配置する試験に使用することはで
きない。
この他、第３図に示すように、負荷ロッドおよび試験片
（２）を垂直に配置し、一対の検出棒（ｔ。
（２）を垂直に配置し、一対の検出棒（ｔ。
Ａ）、（ＩＯＢ＞を負荷ロッドと直角に配置する。そし
て、コイルはねによって各検出ｆｉ（ＩＯＡ）、 （Ｉ
ＯＢ＞の一端を試験片（２）に押し付け、仮はね（１１
）によって各検出棒（ＩＯＡ）、（ＩＯＢ）を互いに連
結し、各検出棒（ＩＯＡ）、’（’ＩＯＢ＞の他端に差
動トランス（７）を設けたらのもある。この変位計も試
験片（２）自体に検出Ａ（１０八）、（ＩＯＢ）および
差動トランス（７）を支持させるようにしたもので、差
動トランス（７）はコイル（８）とコア（９）からなり
、コア（９）は一方の検出棒（ＩＯＡ）に連結され、コ
イル（８〉は他方の検出棒（１０Ｂ ＞に固定されてい
る。したがって、試験片（２）の標点間に変位量が生じ
ると、１反はね（１１）を支点として各検出棒（ＩＯＡ
）、 （１０Ｂ）が揺動し、差動トランス（・７）のコ
イル（８）とコア（９）が相対的に変位する。したがっ
て、差動トランス（７）によって試験片（２）の標点間
変位量を検出することができる。
て、コイルはねによって各検出ｆｉ（ＩＯＡ）、 （Ｉ
ＯＢ＞の一端を試験片（２）に押し付け、仮はね（１１
）によって各検出棒（ＩＯＡ）、（ＩＯＢ）を互いに連
結し、各検出棒（ＩＯＡ）、’（’ＩＯＢ＞の他端に差
動トランス（７）を設けたらのもある。この変位計も試
験片（２）自体に検出Ａ（１０八）、（ＩＯＢ）および
差動トランス（７）を支持させるようにしたもので、差
動トランス（７）はコイル（８）とコア（９）からなり
、コア（９）は一方の検出棒（ＩＯＡ）に連結され、コ
イル（８〉は他方の検出棒（１０Ｂ ＞に固定されてい
る。したがって、試験片（２）の標点間に変位量が生じ
ると、１反はね（１１）を支点として各検出棒（ＩＯＡ
）、 （１０Ｂ）が揺動し、差動トランス（・７）のコ
イル（８）とコア（９）が相対的に変位する。したがっ
て、差動トランス（７）によって試験片（２）の標点間
変位量を検出することができる。
しかしながら、この変位計の検出棒（１０Ａ）、 （１
０Ｂ）が大きく揺動すると、差動トランス（７）のコイ
ル（８）とコア（９）が完全には直線変位しない。
０Ｂ）が大きく揺動すると、差動トランス（７）のコイ
ル（８）とコア（９）が完全には直線変位しない。
このため、検出誤差が生じるのはさけられない。
したがって、試験片（２）の標点間変位量を大きくする
ことができなかった。また、試験片（２）をｌｋ下、に
配置するとき、試験片（２）に各検出棒（１〇八）。
ことができなかった。また、試験片（２）をｌｋ下、に
配置するとき、試験片（２）に各検出棒（１〇八）。
（ＩＯＢ）の一端を押し付けるのは困難であり、試験片
（２）を水平に配置する試験に使用することができない
のは同様である。さらに、た七えは、高温環境下で試験
片（２）を材料試験するとき、高温炉内に試験片（２）
を収容する必要かあるが、差動トランス（７）は熱に弱
い。しかしながら、試験片（２）自体に差動トランス（
７）を支持させるには、差動トランス（７）も高温炉内
に収容せねばならない。したがって、試験片を高温炉内
に収容する試験にｆ受用することもできなかった。
（２）を水平に配置する試験に使用することができない
のは同様である。さらに、た七えは、高温環境下で試験
片（２）を材料試験するとき、高温炉内に試験片（２）
を収容する必要かあるが、差動トランス（７）は熱に弱
い。しかしながら、試験片（２）自体に差動トランス（
７）を支持させるには、差動トランス（７）も高温炉内
に収容せねばならない。したがって、試験片を高温炉内
に収容する試験にｆ受用することもできなかった。
（ハ）目 ０勺
したがって、この発明は、実質上同一軸線上に配置した
一対の負荷ロッドによって試験片に試験荷重を加えるよ
うにした材料試験機において、試験片の轢点間変位吊が
大きくてら、これを正確に検出すること、および試験片
を水平に配置する試験および試験片を高温炉内に収容す
る試験であっても、その標点間変ｂ’ｒ、Ｍを支障なく
検出することを目的としてなされたものである。
一対の負荷ロッドによって試験片に試験荷重を加えるよ
うにした材料試験機において、試験片の轢点間変位吊が
大きくてら、これを正確に検出すること、および試験片
を水平に配置する試験および試験片を高温炉内に収容す
る試験であっても、その標点間変ｂ’ｒ、Ｍを支障なく
検出することを目的としてなされたものである。
（ニ）ＩＭ 成
この発明は、一対の検出棒を負荷ロッドと平行゛ に配
置し、複数の仮ばねによって各検出棒全体を軸方向に移
動可能に支持するとともに、試験片の位置て各検出棒の
一端を試験片に同かって屈曲させ、コイルはねによって
各検出棒の一端を試験片に押し付ける。さらに、各検出
棒のＩＩ！！端に差動トランスなどの検出器を設け、検
出器によって試験片の標点間変位量を検出するようにし
たことを特徴とするらのである。
置し、複数の仮ばねによって各検出棒全体を軸方向に移
動可能に支持するとともに、試験片の位置て各検出棒の
一端を試験片に同かって屈曲させ、コイルはねによって
各検出棒の一端を試験片に押し付ける。さらに、各検出
棒のＩＩ！！端に差動トランスなどの検出器を設け、検
出器によって試験片の標点間変位量を検出するようにし
たことを特徴とするらのである。
（ポ）実 施 １’４＋
以下、この発明の実施例を説明する。第１ＩＡはこの発
明の一実施例を示す。この試験機は同一軸線上の一対の
負荷ロッド（ＩＡ）、（ＩＢ＋を有し、口筒ロット（Ｉ
Ａ）、ｆｌＢ＞は水平に配置され、試験片（２）も水平
に配置されている。一方の負荷ロッド（ＩＡ）はロード
セル（１２）に連結され、他方の１宜：■ロッド（ＩＢ
）は（ｌ荷機描に連結されている。
明の一実施例を示す。この試験機は同一軸線上の一対の
負荷ロッド（ＩＡ）、（ＩＢ＋を有し、口筒ロット（Ｉ
Ａ）、ｆｌＢ＞は水平に配置され、試験片（２）も水平
に配置されている。一方の負荷ロッド（ＩＡ）はロード
セル（１２）に連結され、他方の１宜：■ロッド（ＩＢ
）は（ｌ荷機描に連結されている。
また、この試験機は加熱炉（１３）を有し、試験片（２
）は加熱炉（１３）内に収容され、負荷ロッド（１八）
、（ＩＢ）のつかみ具（３八）、（３Ｂ）ｌこｆ・ナノ
１ングされている。
）は加熱炉（１３）内に収容され、負荷ロッド（１八）
、（ＩＢ）のつかみ具（３八）、（３Ｂ）ｌこｆ・ナノ
１ングされている。
一対の検出ｖＪ（１４Ａ）、 （１４Ｂ）は負荷ロッド
（ｌＡ）、（ＩＢ＞と平行に配置され、加熱炉（１３）
内に挿入されている。また、加熱炉（１３）外に一対の
直線状１反はね（＋５）、 ＋１６＞および湾曲した板
はね（１７）が設けられ、直線状板はね（＋５）、 （
１６）は垂直に、かつ互いに平行に配置されている。さ
らに、各検出棒（１４Ａ）、（１４Ｂ）にそれぞれスリ
ーブ＋１８Ａ）、 （１８Ｂ）か嵌合され、各１反はね
（Ｉｓ）、（１６）、＜１７１によってスリーブ（１８
Ａ）、（１ＢＢ）が固定金具（１９）に連結され、検出
棒（１４Ａ）、（１４Ｂ＞全体が軸方間に移イｉ＋＋可
能に支持されている。また、加熱炉（１３）内において
、試験片（２）の位置で各検出棒（１４Ａ）、 （１４
Ｂ）の一端が試験片、（２）に向かって屈曲している。
（ｌＡ）、（ＩＢ＞と平行に配置され、加熱炉（１３）
内に挿入されている。また、加熱炉（１３）外に一対の
直線状１反はね（＋５）、 ＋１６＞および湾曲した板
はね（１７）が設けられ、直線状板はね（＋５）、 （
１６）は垂直に、かつ互いに平行に配置されている。さ
らに、各検出棒（１４Ａ）、（１４Ｂ）にそれぞれスリ
ーブ＋１８Ａ）、 （１８Ｂ）か嵌合され、各１反はね
（Ｉｓ）、（１６）、＜１７１によってスリーブ（１８
Ａ）、（１ＢＢ）が固定金具（１９）に連結され、検出
棒（１４Ａ）、（１４Ｂ＞全体が軸方間に移イｉ＋＋可
能に支持されている。また、加熱炉（１３）内において
、試験片（２）の位置で各検出棒（１４Ａ）、 （１４
Ｂ）の一端が試験片、（２）に向かって屈曲している。
この実施例では、負荷ロット（ＩＡ）、（ＩＢ）および
試験片（２）の上方に検出棒（＋４Ａ）、（１４Ｂ）が
配置され、検出棒（１４＋〜）、 （１４［３）の−・
喘が１１字状に下方に屈曲している。そして、各検出棒
（＋４Ａ）。
試験片（２）の上方に検出棒（＋４Ａ）、（１４Ｂ）が
配置され、検出棒（１４＋〜）、 （１４［３）の−・
喘が１１字状に下方に屈曲している。そして、各検出棒
（＋４Ａ）。
＋１’ｌｌ＋１（１）屈曲端とｌ）２ばね（ｌ！’ｉｌ
Ａ １ｌｉ） 、（１７）間の位置（χ１のコイルは
ね（２０Ａ）、 （２０１３）によって６検１１）１ケ
（ＩｌｌＡ）、 （１４Ｂ）が固定金具（１９）に連結
され、検出Ｆａ（ＩＯＡ）、 （ｌＯＢ）（７）屈曲端
が試験片（２）に押し付けられている。
Ａ １ｌｉ） 、（１７）間の位置（χ１のコイルは
ね（２０Ａ）、 （２０１３）によって６検１１）１ケ
（ＩｌｌＡ）、 （１４Ｂ）が固定金具（１９）に連結
され、検出Ｆａ（ＩＯＡ）、 （ｌＯＢ）（７）屈曲端
が試験片（２）に押し付けられている。
さらに、各検出棒（１４Ａ）、（１４Ｂ）の他端に差動
トランス（７）が設けられている。差動トランス（７）
はコイル（８）とコア（９）からなり、コイル（８）は
保持金具（２１）に固定され、コア（９）は調筋ねしく
２２）に固定されている。また、各検出棒（１４、＼）
、（１４Ｂ＞にそれぞれスリーブ（２３Ａ）、（２３Ｂ
）が嵌合され、スリーブ＋２３Ａｌの１ｌｌＩ商ねしく
２４）にコイル（８）の保持金具（２１）が連結されて
いる。コア（９）の副産ねじ（２２）は検出棒（１４Ｂ
）のスリーブ（２３Ｂ）にねじ合わされている。
トランス（７）が設けられている。差動トランス（７）
はコイル（８）とコア（９）からなり、コイル（８）は
保持金具（２１）に固定され、コア（９）は調筋ねしく
２２）に固定されている。また、各検出棒（１４、＼）
、（１４Ｂ＞にそれぞれスリーブ（２３Ａ）、（２３Ｂ
）が嵌合され、スリーブ＋２３Ａｌの１ｌｌＩ商ねしく
２４）にコイル（８）の保持金具（２１）が連結されて
いる。コア（９）の副産ねじ（２２）は検出棒（１４Ｂ
）のスリーブ（２３Ｂ）にねじ合わされている。
なお、各スリーブ（１８Ａ）、 （１８Ｂ）、 （２：
ｌＡ）、 （２３１３）は、それぞれ止めねしく２５）
を有する。したがって、止めねしく２５）によって各ス
リーブ（１８Ａ）。
ｌＡ）、 （２３１３）は、それぞれ止めねしく２５）
を有する。したがって、止めねしく２５）によって各ス
リーブ（１８Ａ）。
（１８Ｂ）、（２３Ａ）、（２３Ｂ）と検出棒（１４Ａ
）、（１４Ｂ）を所定位置で固定することができる。。
）、（１４Ｂ）を所定位置で固定することができる。。
前記のように（Ｒ成された材料試験機において、ｆ＋
ｎ：ｊ機描を駆動すると、負荷ロッド＜ ｌ Ａ）、（
ｌ Ｂ）によって試験片（２）に試験荷重が加えられる
。ぞして、試験片（２）のｆｉｆｆ（がロードセル（１
２）に伝達され、ロードセル（１２）によって試験片（
２）の荷重が検出される。
ｎ：ｊ機描を駆動すると、負荷ロッド＜ ｌ Ａ）、（
ｌ Ｂ）によって試験片（２）に試験荷重が加えられる
。ぞして、試験片（２）のｆｉｆｆ（がロードセル（１
２）に伝達され、ロードセル（１２）によって試験片（
２）の荷重が検出される。
また、試験片（２）の標点間に変位量が生しると、各検
出棒＋１４Ａ）、（１４８＋の屈曲端かそれに；ｆ′Ｌ
随する。各コイルばね（２０Ａ）、 （２０＋３１は検
出棒（＋４Ａ）。
出棒＋１４Ａ）、（１４８＋の屈曲端かそれに；ｆ′Ｌ
随する。各コイルばね（２０Ａ）、 （２０＋３１は検
出棒（＋４Ａ）。
（１４Ｂ）の屈曲端を試験片（２）に押し付け、試験片
（２）に追随させる作用をする。したがって、検出４１
（１４Ａ）、 （１４Ｂ）全体が軸方向に移動する。各
板はね（ｉｓ） 、（１６） 、（１７）は検出棒（１
４Ａ）、（１４Ｂ）の軸方向にたわみ、その軸方向移動
を吸収する作用を４ろ。したか−、で、差動トー！ンＸ
＋７）のコイル（８）とコア（９）が相対的に午位する
。これによっ１−（駒Ｂ’（２）の標点間変位徂が検出
される。
（２）に追随させる作用をする。したがって、検出４１
（１４Ａ）、 （１４Ｂ）全体が軸方向に移動する。各
板はね（ｉｓ） 、（１６） 、（１７）は検出棒（１
４Ａ）、（１４Ｂ）の軸方向にたわみ、その軸方向移動
を吸収する作用を４ろ。したか−、で、差動トー！ンＸ
＋７）のコイル（８）とコア（９）が相対的に午位する
。これによっ１−（駒Ｂ’（２）の標点間変位徂が検出
される。
したかって、この変位計は各検出４％（１４Ａ）、 ＜
１４Ｂ）の屈曲端を直接試験片（２）に押し付けること
ができる。したがって、試験片（２）の標Ｑ間距離を正
確に設定することがてきる。また、試験片（２）の捏、
６間変位量か大きくても、各検出棒（１１ＩＡ１．（１
４Ｂ）全体が軸方向に移動するだけてあり、差動トラン
ス（７）のコイル（８）とコア（９）を完全に直線変位
させることができる。したがって、試験片（２）の櫻占
間変位量を正確に検出することができる。さらに、試験
片〈２）自体ではなく、板はね（１５）、（ＩＧ）、（
１７）によって検出棒（１４Ａ）、Ｎ４Ｂ）を確尖に支
持することができ、試験片（２）を水平に配置する試験
であってＩ）、試験片（２）の１！７古間変位量を支障
なく検出することができる。試験片（２）を高温炉（１
３）内に収容する試験であって１）、その櫻点間変位量
を支障なく検出することができる。
１４Ｂ）の屈曲端を直接試験片（２）に押し付けること
ができる。したがって、試験片（２）の標Ｑ間距離を正
確に設定することがてきる。また、試験片（２）の捏、
６間変位量か大きくても、各検出棒（１１ＩＡ１．（１
４Ｂ）全体が軸方向に移動するだけてあり、差動トラン
ス（７）のコイル（８）とコア（９）を完全に直線変位
させることができる。したがって、試験片（２）の櫻占
間変位量を正確に検出することができる。さらに、試験
片〈２）自体ではなく、板はね（１５）、（ＩＧ）、（
１７）によって検出棒（１４Ａ）、Ｎ４Ｂ）を確尖に支
持することができ、試験片（２）を水平に配置する試験
であってＩ）、試験片（２）の１！７古間変位量を支障
なく検出することができる。試験片（２）を高温炉（１
３）内に収容する試験であって１）、その櫻点間変位量
を支障なく検出することができる。
また、各スリーブ（１８Ａ）、（１８Ｂ）、＋２３Ａ）
、（２３Ｂ＞の止めねしく２５）をゆるめると、各スリ
ーブ（１８Ａ）、（１８Ｂ）、（２３Ａ）、（２３Ｂ）
と検出棒（＋４Ａ）。
、（２３Ｂ＞の止めねしく２５）をゆるめると、各スリ
ーブ（１８Ａ）、（１８Ｂ）、（２３Ａ）、（２３Ｂ）
と検出棒（＋４Ａ）。
（１４Ｂ）を相対的にスライドさせることができる。
これによって各検出棒（１４Ａ）、（ｌｌＩＢ）の屈曲
端の間隔を調節するこ、とができる。したがって、試験
片（２）の標点間距離を任意にｗＪ節することができる
。さらに、差動トランス（７）のコイル（８）とコア（
９）の位置を相対的に１１１節することらできる。
端の間隔を調節するこ、とができる。したがって、試験
片（２）の標点間距離を任意にｗＪ節することができる
。さらに、差動トランス（７）のコイル（８）とコア（
９）の位置を相対的に１１１節することらできる。
コイル（８）とコア（９）の位置を径方向に７ＪＡ？ｍ
するには、コイル（８）の調節ねしく２４）によってコ
イル（８）を径方向に変位させればよい。コイル（８〉
とコア（９）の位置を軸方向に調節するには、コア（９
）の調節ねじ（２２）によってコア（９）を軸方向に変
位させればよい。
するには、コイル（８）の調節ねしく２４）によってコ
イル（８）を径方向に変位させればよい。コイル（８〉
とコア（９）の位置を軸方向に調節するには、コア（９
）の調節ねじ（２２）によってコア（９）を軸方向に変
位させればよい。
なお、この実施１？ｌては、ｆ’＋向１／ト（ＩＡ）。
（ｌ Ｉｔ ＋ｔＪよび試ＷＡＩｉ（２）をＩｋ−１°
に配ＩＣシたしのに・λいて説明したが、この変１１”
＋１Ａ１は試験片（２）を垂的に１ｌｌＬ！ｉｉＴ’ｉ
ｌ°る試験（こｆ重用するこ七らできる。また、差動ト
ランス（７）に代えて、ストレンゲーシを張り付けたク
リップゲージなと、その他の検出器を使用することもで
きる。
に配ＩＣシたしのに・λいて説明したが、この変１１”
＋１Ａ１は試験片（２）を垂的に１ｌｌＬ！ｉｉＴ’ｉ
ｌ°る試験（こｆ重用するこ七らできる。また、差動ト
ランス（７）に代えて、ストレンゲーシを張り付けたク
リップゲージなと、その他の検出器を使用することもで
きる。
（へ）効 果
以上説明したように、この発明は、試験片のけ声間変位
璧が大きくても、これを正確に検出ずろことができる。
璧が大きくても、これを正確に検出ずろことができる。
また、試験片を水：Ｖに配置する試験および試験片を高
温炉内に収容する試験であっても、その標点間変位量を
支障なく検出することができ、所期の目的を達成するこ
とができるらのである。
温炉内に収容する試験であっても、その標点間変位量を
支障なく検出することができ、所期の目的を達成するこ
とができるらのである。
第１図はこの発明の一実施例を示す側面図、第２ＵＡお
よび第３図は従来の標点間変位計を示４説明園である。 （ＩＡ＞、（ＩＢ）・・・・・・・・・・・ｖＪ荷ロン
ド（２）・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・試吟片（７）・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・差動トランス（１４Ａ）、
（１４，３）・・・・・・・・・・・・検出棒（Ｉｓ）
、＋ １６） 、（１７）・・・・・・・・・・・・
板ばね（２０Ａ）、（２０Ｂ＞・・・・・・・・・・・
・フィルばね特許出頓人 株式会社島津製作所 第 ２ 図 ム
よび第３図は従来の標点間変位計を示４説明園である。 （ＩＡ＞、（ＩＢ）・・・・・・・・・・・ｖＪ荷ロン
ド（２）・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・試吟片（７）・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・差動トランス（１４Ａ）、
（１４，３）・・・・・・・・・・・・検出棒（Ｉｓ）
、＋ １６） 、（１７）・・・・・・・・・・・・
板ばね（２０Ａ）、（２０Ｂ＞・・・・・・・・・・・
・フィルばね特許出頓人 株式会社島津製作所 第 ２ 図 ム
Claims (1)
- 実質上同一軸線上に配置した一対の負荷ロッドによって
試験片に試験荷重を加えるようにした材料試験機におい
て、一対の検出棒を前記負荷ロッドと平行に配置し、複
数の板ばねによって前記各検出棒全体を軸方向に移動可
能に支持するとともに、前記試験片の位置で前記各検出
棒の一端を前記試験片に向かって屈曲させ、コイルばね
によって前記各検出棒の一端を前記試験片に押し付け、
さらに前記各検出棒の他端に差動トランスなどの検出器
を設け、前記検出器によって前記試験片の標点間変位量
を検出するようにしたことを特徴とする標点間変位計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20527084A JPS6183901A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | 標点間変位計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20527084A JPS6183901A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | 標点間変位計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6183901A true JPS6183901A (ja) | 1986-04-28 |
| JPH0448161B2 JPH0448161B2 (ja) | 1992-08-06 |
Family
ID=16504194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20527084A Granted JPS6183901A (ja) | 1984-09-29 | 1984-09-29 | 標点間変位計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6183901A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5278450U (ja) * | 1975-12-09 | 1977-06-11 | ||
| JPS5893855U (ja) * | 1981-12-21 | 1983-06-25 | 三菱重工業株式会社 | 変位計 |
-
1984
- 1984-09-29 JP JP20527084A patent/JPS6183901A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5278450U (ja) * | 1975-12-09 | 1977-06-11 | ||
| JPS5893855U (ja) * | 1981-12-21 | 1983-06-25 | 三菱重工業株式会社 | 変位計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0448161B2 (ja) | 1992-08-06 |
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