JPS6184541A - Measuring device for image formation performance of camera lens - Google Patents
Measuring device for image formation performance of camera lensInfo
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- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、カメラレンズの結像性能の測定器、特に、カ
メラの実際の結像位置におけるカメラレンズのＭＴＦ測
定器に関する。TECHNICAL FIELD The present invention relates to an instrument for measuring the imaging performance of a camera lens, and more particularly to an instrument for measuring the MTF of a camera lens at the actual imaging position of the camera.
従来技術
レンズ等の結像系の性能を総合的に表わす量としてＭＴ
Ｆ 、すなわち、レンズの空間周波数特性があり、これ
は空間的な正弦波をレンズに入力したときのレンズによ
る像の振幅と物体側の振幅との比で表わされる。ＭＴＦ
は、実際（：は、被検レンズによる点像、線像、エツジ
像の光強度分布を光電検出し、フーリエ変換等の信号処
理を行って測定する。MT is a quantity that comprehensively expresses the performance of an imaging system such as a conventional lens.
There is F, that is, the spatial frequency characteristic of the lens, which is expressed as the ratio of the amplitude of the image produced by the lens to the amplitude on the object side when a spatial sine wave is input to the lens. MTF
Actually (: is measured by photoelectrically detecting the light intensity distribution of point images, line images, and edge images by the lens under test, and performing signal processing such as Fourier transform.
第６図に従来のＭＴＦ測定器の一つの例における測定原
理を示す。カメラのフィルム面に相当する位置であって
、被検レンズ３の光軸上と光軸外とにスリット２を置き
、このスリット２を光源１で照明して、被検レンズ３に
よってカメラの物体面に相当する像面こスリット像４を
結像させる。FIG. 6 shows the measurement principle of one example of a conventional MTF measuring device. A slit 2 is placed at a position corresponding to the film surface of the camera, on the optical axis and off the optical axis of the lens 3 to be tested, and this slit 2 is illuminated with the light source 1. A slit image 4 is formed on the image plane corresponding to the plane.
このスリット像４をそれぞれＣＣＤ等のラインセンｆ５
で撮像してスリット像の長手方向に直交する方向へ走査
し、こうして得られた信号を信号波形処理回路Ｂで増幅
、ノイズ除去し、ＦＦＴ演箕回路（入力信号を高速フー
リエ変換処理するための回路）１で処理してＭＴＦの値
を算出し、表示° 部８にその結果を表示する。フィル
ム面（二置くものはスリットに代えてエツジチャート、
ピンホール等であっても良い。This slit image 4 is converted into a line sensor f5 such as a CCD.
The image is captured by the slit image and scanned in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the slit image, and the signal thus obtained is amplified and noise removed by the signal waveform processing circuit B. Circuit) 1 calculates the MTF value, and displays the result on the display unit 8. Film side (the second one has an edge chart instead of a slit,
It may be a pinhole or the like.
第７図（ａ）（二信号波形処理回路６の出力の一例を、
第７図（ｂ）（二ＦＦＴ演算回路７からの出力の一例を
それぞれ示す。FIG. 7(a) (an example of the output of the two-signal waveform processing circuit 6,
FIG. 7(b) shows an example of the output from the two FFT calculation circuits 7.
第８図ｃＭＴＦ測定器の従来の別の例の光学的な部分を
示す。この例では、カメラの物体面（ニスリット２を配
置し、これを光源１で照明し、スリットの像４は被検レ
ンズ３を通りカメラのフィルム面に相当する面１：配置
したラインセンナ５上（二結像する。この例における信
号波形処理及びＦＦＴ演算、表示は前記第１の従来技術
の場合と同様である。信号波形処理後の出力及びＦＦＴ
演算回路の出力は第７図と同様のものが得られる。FIG. 8 shows an optical part of another conventional example of a cMTF measuring instrument. In this example, the object plane of the camera (the Nislit 2 is arranged, this is illuminated by the light source 1, and the image 4 of the slit passes through the test lens 3, and the image 4 of the slit passes through the test lens 3, and the surface 1 corresponding to the film plane of the camera is placed on the line scanner 5. (Two images are formed. Signal waveform processing, FFT calculation, and display in this example are the same as in the case of the first prior art. Output after signal waveform processing and FFT
The output of the arithmetic circuit is similar to that shown in FIG. 7.
ところで、ＭＴＦは、多くのパラメータにより、その値
が変化する。パラメータＣ二は、例えば、空間開波数、
像高、デフォーカス位置、測定光線の分光特性等がある
。＄９図１＝縦軸Ｌ：ＭＴＦ値、横軸（：デフォーカス
位置をとったときの測定カーブの一例を示す。デフォー
カス位置とは、測定面とレンズとの間の光軸に沿った距
離で、このデフォーカス位置によりレンズのベストピン
ト位置を示すことができる。第９図におけるピーク位置
がベストピント位置となる。このピーク位置は測定する
空間用波数、測定像高によってデフォーカス位置座標上
でその位置が異なる。By the way, the value of MTF changes depending on many parameters. Parameter C2 is, for example, spatial open wave number,
These include image height, defocus position, and spectral characteristics of the measurement light beam. $9 Figure 1 = Vertical axis L: MTF value, horizontal axis (: Shows an example of the measurement curve when the defocus position is taken. The defocus position is the value along the optical axis between the measurement surface and the lens. In terms of distance, this defocus position can indicate the best focus position of the lens.The peak position in Fig. 9 is the best focus position.This peak position is determined by the defocus position coordinates depending on the spatial wave number to be measured and the measured image height. Its position is different on the top.
ここで被測定レンズの性能を示す代表的な像面を、例え
ば、空間周波数が３０ Ｍ’ 、像高を像面中心とした
ときの、デフォーカスカーブがピークとなるような、デ
フォーカス位置とすると、前記したような従来技術では
、レンズを光軸方向に動かし、上記の条件でのＭＴＦの
最大値を示すレンズ位置をさがし、そのレンズ位置での
他の空間局波砿、像高におけるＭＴＦの値を測定してい
る。これは、レンズ単体Ｃ：ついては、前記の条件での
最良状態での測定となる。Here, we define a typical image plane that indicates the performance of the lens to be measured as the defocus position where the defocus curve reaches its peak, for example, when the spatial frequency is 30 M' and the image height is centered on the image plane. Then, in the conventional technology described above, the lens is moved in the optical axis direction, the lens position showing the maximum value of MTF under the above conditions is found, and the MTF at other spatial local waves and image heights at that lens position is calculated. The value of is being measured. This is a measurement of the lens alone C: in its best condition under the above conditions.
ここで、−眼レフカメラのレンズのピントの合わせ方を
第１０図を参照にして、説明する。レンズ２２による被
写体２１の像がはね上げミラー２３を介してファインダ
２５上に結像される。このファインダスクリーン２５上
の像をペンタゴナルダハプリズム２６を介し、ファイン
ダルーペ２７で拡大し、眼２Ｂでこれを観察しながらレ
ンズ２２を調節してピントを合わせ、次に図示していな
いレリーズボタンを押すことＣ−より、ピントの合った
像が、フィルム面２４（：結像される。Here, how to focus the lens of a -eye reflex camera will be explained with reference to FIG. An image of the subject 21 formed by the lens 22 is formed on the finder 25 via the flip-up mirror 23. The image on the finder screen 25 is magnified by the finder loupe 27 via the pentagonal roof prism 26, and while observing this with the eye 2B, the lens 22 is adjusted to focus, and then a release button (not shown) is pressed. From C-, a focused image is formed on the film surface 24 (:).
第１１図に、スプリットイメージと呼ばれる対のブリ女
ムを設けたファインダスクリーン上のファインダ像中央
付近の様子を示す。ピントが合っていないときは第１１
図Ｂの様（二上と下の像が左右に相互Ｃ二ずれ、ピント
が合うと第１１図Ａの様（二上と下の像が一致して連続
する。FIG. 11 shows the situation near the center of the finder image on the finder screen, which is equipped with a pair of split images. 11th when the focus is out of focus.
As shown in Figure B (the two upper and lower images are shifted by C2 from each other to the left and right, and when the image is in focus, the two upper and lower images coincide and continue as shown in Figure 11A).
第１０図の説明で述べたよう（二、カメラレンズのピン
トは、レンズからフィルム面に至るまでの間に、ミラー
を設け、フィルム面と等価の位置Ｃ二股けた、例えば、
スプリットイメージ・プリズムを備えたファインダスク
リーン上に結像した像の状態で判断している。しかし、
レンズの組立て誤差、及び、カメラボディのミラーから
ファインダスクリーンとミラーからフィルム面との光路
差により、ファインダスクリーンで上でのピントの合致
と、フィルム面でのピント合致とでは、レンズの光軸上
の位置が異っているのが一般的である。As mentioned in the explanation of Fig. 10 (2. To focus the camera lens, a mirror is provided between the lens and the film surface, and the position C is divided into two positions equivalent to the film surface. For example,
Judgments are made based on the image formed on a finder screen equipped with a split-image prism. but,
Due to lens assembly errors and optical path differences between the camera body mirror and the finder screen and the mirror and the film surface, the alignment of the focus on the finder screen and the focus alignment on the film surface may be different from each other on the optical axis of the lens. Generally, the positions of the two are different.
ギ１記の従来技術による測定法では、単体のレンズのベ
ストピント位置の性能を測定はしているが、これは、レ
ンズの性能の一部の測定ではあるが、実際の使用時に即
した測定ではない。代用特性として最大値をとるとして
も、ファインダ側とフィルム側とのずれの程度が不明な
ため、適切な評価とはなり得ない。The conventional measurement method described in G.1 measures the performance of a single lens at its best focus position, but although this is a partial measurement of lens performance, it is not a measurement that is appropriate for actual use. isn't it. Even if the maximum value is taken as the substitute characteristic, the degree of deviation between the viewfinder side and the film side is unknown, so it cannot be an appropriate evaluation.
発明の目的
本発明の目的は、このような従来技術のカメラレンズ結
像性能測定器の欠点を除去した、新規で有効なカメラレ
ンズ結像性能測定器を提供することであり、特に、実際
にカメラのファインダな通してピントを合わせたときの
フィルム面でのカメラレンズのＭＴＦを測定する装置を
提供することである。OBJECTS OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a new and effective camera lens imaging performance measuring instrument that eliminates the drawbacks of the prior art camera lens imaging performance measuring instruments, and in particular, to provide a camera lens imaging performance measuring instrument that is practical. To provide a device for measuring the MTF of a camera lens on a film plane when focusing through a finder of a camera.
発明の概要
本発明は、被検カメラレンズを通過した〜ＩＴＦ測定用
チャートの像光束を、ＭＴＦ測定用光電変換素子とファ
インダピント検出部とに向けるよう（二、切換える機構
を設けたカメラレンズ結像性能測定器である。Summary of the Invention The present invention provides a camera lens assembly equipped with a mechanism to direct (2. It is an image performance measuring instrument.
より具体的には、本発明は、被検レンズを光他方向Ｃ：
調節可能に取付けるマウント台と、被検レンズの物体面
に配置されたＭＴＦ測定用チャートと、被検レンズの像
面に配置されたＭＴＦ Ａ１１ｌ定用光電変換素子とか
らなるカメラレンズ結像性能測定器において、被検レン
ズ誉通過したＭ丁°Ｆ迎１定用チャートの像光束をＭＴ
Ｆ測定用光電変換累子とファインダピント検出部と（二
向けるよう（−切換える機構を設け、このファインダピ
ント検出部（二ＭＴＦ測定用チャートの像のピント合致
を検出する装置を設けたものである。More specifically, the present invention directs the lens to be tested in the other direction of light C:
Camera lens imaging performance measurement consisting of an adjustable mount base, an MTF measurement chart placed on the object plane of the tested lens, and a photoelectric conversion element for measuring MTF A11l placed on the image plane of the tested lens. MT
A photoelectric converter for F measurement, a finder focus detection section, and a mechanism for switching between two directions are provided, and a device for detecting whether the images of the two MTF measurement charts are in focus is provided. .
実 施 例
第１図に本発明の原理を示す。被検レンズ３５は光軸方
向１：微動可能なレンズシフト機構３６に取付けられる
。この被検レンズ３５の物体側の光軸と直交する面上に
、測定（二必要な像高及び像方向に相当するスリン）
３２ 、３２’が配置され、それぞれのスリットは、被
検レンズに対して反対側に配置された光源３１ 、３１
’ Ｃより、照明される。このときのスリットが含まれ
る平面が物体面である。中心のスリット３２はチャート
切換機構３４により、半月チャート３３と切換えられる
。物体面の半月チャート３３からの光束は、被検レンズ
３５を通り、被検レンズ３５とこのレンズの像面との間
（：設けられている切換ミラー３１に当る。最初は、切
換ミラー ３７ Ｃよって、ファインダピント検出部４
０へ光束が導かれる。ここで、ファインダスクリーン４
１上に物体面上の半月チャートの像が結像され、ファイ
ンダルーペ４２、リレーレンズ４３を介して、ファイン
ダスクリーン４１の中心のスプリットイメージプリズム
４１′の部分を拡大した家がビデオカメラ４４の撮像面
上に結像する。第２図にビデオカメラ４４に入力された
スプリットイメージ部の像を示す。第２図Ａ、Ｂの様（
；、スプリットの両側（２１本ずつ走査線をスプリット
の境界に平行（二股定する。この走査１１ｉ１Ａ、
Ｂに沿った出力を第３図に示す。この走査ＭＡ、Ｈの出
力５１ 、５２が合致するような被検レンズ３５の位置
が、ファインダピント検出部によって検出されるピント
面である。こうして、ファインダピントの位置が求まる
。EXAMPLE FIG. 1 shows the principle of the present invention. The lens 35 to be tested is attached to a lens shift mechanism 36 that can be finely moved in the optical axis direction 1. On the surface perpendicular to the optical axis on the object side of this lens 35 to be measured, measure (2) the necessary image height and image direction.
32, 32' are arranged, and each slit is connected to a light source 31, 31 arranged on the opposite side with respect to the lens to be examined.
' Illuminated by C. The plane that includes the slit at this time is the object plane. The center slit 32 is switched to a half-moon chart 33 by a chart switching mechanism 34. The light flux from the half-moon chart 33 on the object plane passes through the test lens 35 and hits the switching mirror 31 provided between the test lens 35 and the image plane of this lens. Therefore, the finder focus detection section 4
The luminous flux is guided to 0. Here, finder screen 4
An image of the half-moon chart on the object plane is formed on 1, and a video camera 44 captures the image of the house magnified by the split image prism 41' at the center of the finder screen 41 through the finder loupe 42 and relay lens 43. Image is formed on a surface. FIG. 2 shows an image of the split image portion input to the video camera 44. As shown in Figure 2 A and B (
, both sides of the split (21 scanning lines are parallel to the split boundary (two branches are defined. This scanning 11i1A,
The output along line B is shown in FIG. The position of the lens 35 to be tested where the outputs 51 and 52 of the scans MA and H match is the focus plane detected by the finder focus detection section. In this way, the position of the finder focus is determined.
次に、半月チャート３３をスリット３２に切換え、同時
に、切換ミラー３７を退避させて、被検レンズ３５より
入射した光束がラインセンナ（又はリニアセンナ）３８
Ｃ結像するようにする。このＭＴＦ測定部の構成は第８
図で示した従来技術の場合と同様なものであって、ＭＴ
Ｆ処理装［３９で、ラインセンナのノイズ除去、Ａ／Ｄ
変換、ＦＦＴ演算、表示等の処理を行う。Next, the half-moon chart 33 is switched to the slit 32, and at the same time, the switching mirror 37 is retracted so that the light flux incident from the test lens 35 is transferred to the line senna (or linear senna) 38.
C image formation. The configuration of this MTF measurement section is as follows:
This is similar to the case of the prior art shown in the figure, and the MT
F processing equipment [39, line sensor noise removal, A/D
Performs processing such as conversion, FFT calculation, and display.
以上Ｃ二おいて、ファインダピント検出部を通してピン
トを検出する際、半月チャート３３に切換えてこのチャ
ートを用いているが、必ずしもこのようなピント検出専
用のチャートを用いず、ＭＴＦ測定用のスリット３２を
ピント検出用にも用いても良い。このよう（ニすると、
チャート切換機構３４を省略することができる。In C2 above, when detecting focus through the finder focus detection section, this chart is used by switching to the half-moon chart 33, but such a chart exclusively for focus detection is not necessarily used, and instead of using the slit 32 for MTF measurement. may also be used for focus detection. Like this (Ni),
The chart switching mechanism 34 can be omitted.
本発明のカメラレンズ結像性能測定器は基本的にはこの
ような構成であるので、被検レンズのベストピント位置
でのＭＴＦを測定するのではなく、ファインダでピント
合致が検出されたときのフィルム面での実際のＭＴＦを
測定するものであり、したがって、カメラを実際（：使
用するときのフィルムに記録される像のレンズ結像性能
が測定されることになる。Since the camera lens imaging performance measuring instrument of the present invention basically has such a configuration, it does not measure the MTF at the best focus position of the lens to be tested, but rather measures the MTF when the focus is detected in the finder. It measures the actual MTF at the film plane, and therefore measures the lens imaging performance of the image recorded on the film when the camera is actually used.
ピント面検出のために、以上に説明したような方法によ
らず、他の公知の光電的ピント面検出方法を用いて、フ
ァインダを通して検出しても良いことは明らかであろう
。さらに、被検レンズ３５の位置は手動によって調節し
ているが、これを電気的に調節できるようにし、これを
ファインダの光電的ピント検出機構と連動させて、自動
的にピントを合致させるようにできることは、現在のオ
ートフォーカス技術を考えれば明らかであろう。It will be obvious that the method described above is not used for detecting the focus plane, and other known photoelectric focus plane detection methods may be used to detect the focus plane through the finder. Furthermore, although the position of the test lens 35 is manually adjusted, it can now be adjusted electrically, and this can be linked with the photoelectric focus detection mechanism of the finder to automatically bring it into focus. What is possible is obvious given current autofocus technology.
さて第４図に本発明の第１実施例を示す。その構成を説
明すると、レンズホルダ６１は、被検物である一眼レフ
カメラ用交換レンズ６０をマウント面基準で装着できる
よう１：なっており、光軸方向に、図示してない送り機
構で微動可能となっている。Now, FIG. 4 shows a first embodiment of the present invention. To explain its structure, the lens holder 61 is configured so that an interchangeable lens 60 for a single-lens reflex camera, which is the object to be inspected, can be attached with reference to the mount surface, and is slightly moved in the optical axis direction by a feed mechanism (not shown). It is possible.
前記レンズ６０の物体側の光軸上には、ＭＴＦ測定用の
スリットチャート６６と、ファインダピント検出用の半
月チャート７０が図示されていない切換え機構；二よっ
て、光軸上の同じ平面内にセットできるようになってい
る。それぞれのチャートのうしろには、拡散板６８及び
適切な光学フィルタ６７ 、７１が配置されていて、さ
らにそれらのうしろの光軸上１：あるランプ６９が、光
軸上にあるスリットチャート６６または半月チャー）
７０に、均一で、適切な分光特性の照明を与えるように
なっている。この光学フィルタ６７ 、７１は、ライセ
ンチ６４とビデオカメラ７６の分光感度を補正する作用
と、この測定器の分光エネルギー分布をレンズの設計値
に合わせてその測定結果を設計にフィードバックできる
ようＣ：する作用とをしている。被検レンズ６０の画角
内の軸外の必要な像高及び像方向に対応する場所にもス
リット発生部７２が配置される（通常は光軸上のスリッ
ト発生部と同じ物体面Ｃ：配置する）。このスリット発
生部７２は、軸上のＭＴＦｆｆｉｌｌ定用のスリット発
生部の構成と同様に、被検レンズ側からスリットチャー
ト、光学フィルタ、拡散板、ランプからなっている。On the optical axis on the object side of the lens 60, a slit chart 66 for MTF measurement and a half-moon chart 70 for finder focus detection are provided by a switching mechanism (not shown); therefore, they are set in the same plane on the optical axis. It is now possible to do so. Behind each chart, a diffuser plate 68 and appropriate optical filters 67 and 71 are arranged, and further behind them, on the optical axis 1: a certain lamp 69 is placed on the slit chart 66 on the optical axis. or half moon char)
70 to provide uniform illumination with appropriate spectral characteristics. The optical filters 67 and 71 have the function of correcting the spectral sensitivities of the license center 64 and the video camera 76, as well as adjusting the spectral energy distribution of this measuring instrument to the design value of the lens and feeding back the measurement results to the design. It has an effect. A slit generating section 72 is also arranged at a location corresponding to the required image height and image direction off-axis within the angle of view of the test lens 60 (usually placed on the same object plane C as the slit generating section on the optical axis). do). This slit generating section 72 is made up of a slit chart, an optical filter, a diffuser plate, and a lamp from the test lens side, similar to the configuration of the slit generating section for on-axis MTFffill.
被検レンズの像側には切換えミラー６２及び切換えミラ
ー駆動ハンドル６３が光軸上に設けられ、被検レンズ６
０より来た光束をＭＴＦ測定部、または、ファインダピ
ント検出部へ切換える。ＭＴＦ測足部は被検レンズ６０
≦二よるスリットの結像位置にライセンサ６４の位置を
調節できるようにするために、このライセンｆ６４を取
付けである駆動回路基板６５を光軸と直角な２軸方向へ
位置調節可能にしである（機構は図示せず）。また、軸
外（：結像されるスリット像の位置にも、図示していた
い２軸の送りＰ、１９でライセンサ６４の受光部を持っ
てくることを可能としている。ファインダピント検出部
はスプリットイメージプリズムを中央１＝イｆｔ：ｆえ
たファインダスクリーン７３、ファインダルーベア４、
リレーレンズ７５、ビデオカメラ７６が光Ｇｈ上に配置
されている。ビデオカメラＴ６による、ファインダスク
リーン７３のスプリットイメージのイ得よモニタＴＶ
７８で観察でき、さらにビデオ信号が電装部７７に送ら
れる。電装部子７は、ラインセンナ駆動回路基板６５へ
の電源供給、スプリットイメージの合致度検出、ＭＴ’
Ｆの演算及び物体側のスリットチャート６８と半月チャ
ートの切換えの制徊１を行う。次に、この測定器の操作
手順を追って説明する。被検レンズ６０をレンズホルダ
６１にセットし、物体側Ｃ：は、光軸上の半月チャー）
７０をセットし、切換えミラー６２で、被検レンズ６
０による半月チャート７０の像をファインダスクリーン
７３上に結像させ、ファインダルーペア４、リレーレン
ズ７５で拡大したスプリットイメージの像をビデオカメ
ラ７６の撮像面上に結像させる２、スプリットイメージ
の拡大像を、モニタＴＶ ７Ｂで観察し、レンズホルダ
６１を光軸方向に微動させて行き、スプリットの合致点
をさがし、さら（：電装部７７の表示で精度よくこの合
致を検出する。そのレンズ位置で、今度は切換えミラー
６２を切換え、物体側のチャートもスリットチャート６
６に切換えてラインセンサ６４上にスリットチャート６
６の像を結像させて、ＭＴＦ測定を行う。電装部の測定
スタートボタン（図示せず）を押すと、電装部７７内部
でＭＴＦの７寅算が実行され、結果が表示される。光畑
外のスリットチャートについても同様にＭＴＦが測定さ
れる。A switching mirror 62 and a switching mirror drive handle 63 are provided on the optical axis on the image side of the lens to be tested.
The light flux coming from 0 is switched to the MTF measurement section or the finder focus detection section. The MTF foot measuring unit is the test lens 60.
In order to be able to adjust the position of the licensor 64 to the imaging position of the slit according to ≦2, the drive circuit board 65, which is attached to the license f64, is made adjustable in position in two axial directions perpendicular to the optical axis. mechanism not shown). In addition, it is possible to bring the light receiving part of the licensor 64 to the position of the slit image that is formed off-axis (: the position of the slit image to be imaged) by using the two axes of feed P and 19 shown in the figure. Finder screen 73 with prism centered 1=ift:f, finder bearer 4,
A relay lens 75 and a video camera 76 are arranged on the light Gh. Split image of finder screen 73 from video camera T6 monitor TV
78 , and a video signal is further sent to the electrical equipment section 77 . The electrical component 7 supplies power to the line sensor drive circuit board 65, detects the degree of matching of split images, and performs MT'
Calculation of F and control 1 of switching between the object-side slit chart 68 and the half-moon chart are performed. Next, the operating procedure of this measuring instrument will be explained one by one. Set the lens 60 to be tested in the lens holder 61, and the object side C: is a half-moon chart on the optical axis).
70, and use the switching mirror 62 to set the test lens 6.
An image of the half-moon chart 70 according to 0 is formed on the finder screen 73, and an image of the split image enlarged by the finder loupe pair 4 and the relay lens 75 is formed on the imaging surface of the video camera 76. 2. Enlargement of the split image The image is observed on the monitor TV 7B, the lens holder 61 is slightly moved in the optical axis direction, the matching point of the split is found, and the matching point is detected with high precision by the display on the electrical component 77.The lens position is Now, switch the switching mirror 62 and change the object side chart to the slit chart 6.
6 and display the slit chart 6 on the line sensor 64.
6 is formed and MTF measurement is performed. When a measurement start button (not shown) on the electrical equipment section is pressed, seven calculations of MTF are performed inside the electrical equipment section 77, and the results are displayed. MTF is similarly measured for the slit chart outside the light field.
この実施例の測定器Ｃ二よると、−眼レフカメラのファ
インダでピントを合わせたときと同じ像面でのレンズの
結像性能を測定することができるため、実際の使用に即
したカメラレンズのチェックが可能になる。According to the measuring device C2 of this embodiment, it is possible to measure the imaging performance of the lens on the same image plane as when focusing with the finder of an eye reflex camera, so it is possible to measure the imaging performance of the lens on the same image plane as when focusing with the finder of an eye reflex camera, so it is possible to measure the imaging performance of the lens in the same image plane as when focusing with the finder of an eye reflex camera, so it is possible to measure the imaging performance of the lens in the same image plane as when focusing with the finder of an eye reflex camera can be checked.
第５図に本発明の第２実施例の要部を示す。この第２実
施例Ｃ二おいてもスリット発生部は第４図の第１実施例
のものと同様であるので図示は省略しである。この第２
実施例ではファインダピント検出部の光学系に一眼レフ
カメラのボディ８２を利用したことが特長である。第４
図で、物体側に半月チャート７０をセットしたとき、−
眼レフのクイックリターンミラー８８を下げておけば、
ボディ８２に組み込まれたファインダスクリーン、ファ
インダルーベア
ンダより光束が出る。これをリレーレンズ８６でビデオ
カメラ８７に拡大結像する。このカメラ８７でピント合
わせの検出を行い、物体側にスリットチ、ヤード６６を
セットし、ボディ８２のクイックリターンミラー８８を
上げるとボディ８２のフィルム面に置いたライセンナ８
３上にスリット像が結像される。処理系は、第１実施例
と同じである。この実施例によると、−眼レフカメラの
ボディを利用すること（二より、光学的な要素を高精度
に配置することが容易にできる。FIG. 5 shows the main parts of a second embodiment of the present invention. In this second embodiment C2 as well, the slit generating portion is the same as that in the first embodiment shown in FIG. 4, so illustration thereof is omitted. This second
The embodiment is characterized in that the body 82 of a single-lens reflex camera is used as the optical system of the finder focus detection section. Fourth
In the figure, when the half-moon chart 70 is set on the object side, -
If you lower the quick return mirror 88 of your eye reflex camera,
A light beam is emitted from the finder screen built into the body 82 and the finder Louveunder. This is enlarged and imaged on a video camera 87 using a relay lens 86. This camera 87 detects the focus, sets the slit shot and yardage 66 on the object side, and raises the quick return mirror 88 of the body 82.
A slit image is formed on 3. The processing system is the same as in the first embodiment. According to this embodiment, by using the body of an eye reflex camera (secondly, optical elements can be easily arranged with high precision).
発明の効果
カメラレンズのＭＴＦ測定において、測定１５！面が、
レンズのみの場合のベストの性能を示す図でなく、実際
（ニレンズを一眼レフカメラに装着し、ファインダでピ
ントを合わせたときのフィルム面であり、その面におけ
るレンズの性能を測定することが可能Ｃ二なった。その
ため、実際の使用に即したレンズのチェックが可能にな
った。これＣ二より、球面収差等で、ファインダでのピ
ントがフィルム面でのピントからずれてしまうようなレ
ンズのチェックが可能になった。Effects of the invention In the MTF measurement of camera lenses, the measurement was 15! The face is
This is not a diagram showing the best performance of the lens alone, but an actual film surface when the lens is attached to a single-lens reflex camera and focused with the viewfinder, and it is possible to measure the performance of the lens in that surface. C2. Therefore, it is now possible to check the lens according to actual use. With C2, it is possible to check the lens in accordance with actual use. Check is now possible.
第１図は本発明の原理を示す説明図、第２図は第１図に
おけるファインダのピントの検出方法を示す説明図、第
３図は第２図の走査線の出力の例を示すグラフ、＠４図
は本発明の第１実施例の斜視図、第５図は本発明の第２
実施例の要部の側面図、第６図は第１の従来例の説明図
、第７図は第６図の各部の出力の例を示すグラフ、第８
図は第２の従来例の説明図、第９図は測定する像面とＭ
ＴＦ値との関係を示すグラフ、第１０図は通常の一眼レ
フカメラでの写真撮影時のフイノシム面とファインダピ
ントの差を説明する図面、第１１１図はスプリットイメ
ージ式のファインダのピント検出を説明する図面である
。
３１．３１’・・・光源
３２．３２’・１．スリット
３３・・・・・・・・・・・・半月チャート３４・・・
・・・・・・・・・チャート切換８ｍ病３５・・・・・
・・・・・・・被検レンズ３６・・・・・・・・・・・
・レンズシフト機構３７・・・・・・・・・・・・切換
ミラー３８・・・・・・・・・・・・ラインセンサ３９
・・・・・・・・・・・・ＭＴＦ処理装置４０・・・・
・・・・・・・・ファインダピント検出部４１・・・・
・・・・・・・・ファインダスクリーン４２・・・・・
・・・・・・・ファインダピント４３・・・・・・・・
・・・・リレーレンズ４４・・・・・・・・・・・・ビ
デオカメラ４５・・・・・・・・・・・・ピント検出処
理部４１′・・・・・・・・・・・・スプリットイメー
ジプリズム第−
第２図
ζｎ
第６図
第８図
第９図
第１０図
第１１図
手続補正魯（自発）
昭和６０年４月２日
１、事１牛の表示
昭和５９年特許願第２０７５５３号
２、発明の名称
カメラレンズ結像性能測定装置
３、補正をする者
事件との関係 特許出頓人
住 所 東京都渋谷区幡ケ谷２丁目４３番２号４、代
理人
６、補正の対象
（ｌ；・ 明細書の「発明の詳細な説明、の憫７、補
正の内容
（１）明細孔第５頁第７行目から同頁”、ｉＳ １０行
目までの記載を下記の通り補正する。
「の比で表される。ＭＴＦは、この他に、肢検レンズに
よる点像、線像、エツジ像の光強度分布を光電検出し、
フーリエ変換等の信号処理によっても測定される。ヨ
（２）明細書第１１頁第８行目に記載する「スリットは
、を、「スリット３２．３２’ヨと補正する。
（３）明細書第１１頁第１８行目記１成ずろ「半月チャ
ートの１を、「半月チャー１・３３の、と７市正する。
（４）明細書第１６貫第１２行目に記載する「半月チャ
ートのヨを、「半月チャート７０のヨと補正する。FIG. 1 is an explanatory diagram showing the principle of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram showing a method of detecting focus of the finder in FIG. 1, and FIG. 3 is a graph showing an example of the output of the scanning line in FIG. @Figure 4 is a perspective view of the first embodiment of the present invention, and Figure 5 is a perspective view of the second embodiment of the present invention.
6 is an explanatory diagram of the first conventional example, FIG. 7 is a graph showing an example of the output of each part in FIG. 6, and FIG. 8 is a side view of the main parts of the embodiment.
The figure is an explanatory diagram of the second conventional example, and Figure 9 shows the image plane to be measured and M
A graph showing the relationship with the TF value, Fig. 10 is a drawing explaining the difference between the Finosim surface and finder focus when taking pictures with a normal single-lens reflex camera, and Fig. 111 explains focus detection with a split-image finder. This is a drawing. 31.31'...Light source 32.32'/1. Slit 33... Half moon chart 34...
・・・・・・Chart switching 8m illness 35・・・・・・
......Test lens 36...
・Lens shift mechanism 37......Switching mirror 38...Line sensor 39
......MTF processing device 40...
...Finder focus detection section 41...
...Finder screen 42...
・・・・・・Finder focus 43・・・・・・・・・
...Relay lens 44...Video camera 45...Focus detection processing section 41'... ...Split image prism No. 2 - Figure 2 ζn Figure 6 Figure 8 Figure 9 Figure 10 Figure 11 Procedure correction Lu (voluntary) April 2, 1985 1, Matter 1 Cattle display Patented in 1988 Application No. 207553 2, Name of the invention Camera lens imaging performance measurement device 3, Person making the amendment Relationship to the case Patent issuer address 2-43-2-4 Hatagaya, Shibuya-ku, Tokyo, Agent 6, Amendment Subject (l;・Detailed Description of the Invention, Part 7, Contents of Amendment (1) Specification Hole, page 5, line 7 to the same page”, iS, line 10 of the description below) In addition to this, MTF photoelectrically detects the light intensity distribution of point images, line images, and edge images using a limb detection lens.
It is also measured by signal processing such as Fourier transform. (2) The ``slit'' written on page 11, line 8 of the specification is corrected to ``slit 32.32'. 1 of the half-moon chart is corrected as ``half-moon chart 1.33''. (4) ``Yo of the half-moon chart'' written in the 16th line of the specification is corrected to ``Yo of half-moon chart 70''. do.
Claims (14)
ント台と、被検レンズの物体面に配置されたＭＴＦ測定
用チャートと、被検レンズの像面に配置されたＭＴＦ測
定用光電変換素子とからなるカメラレンズ結像性能測定
器において、被検レンズを通過したＭＴＦ測定用チャー
トの像光束をＭＴＦ測定用光電変換素子とファインダピ
ント検出部とに向けるように切換える機構を設け、この
ファインダピント検出部にＭＴＦ測定用チャートの像の
ピント合致を検出する装置を設けたことを特徴とするカ
メラレンズ結像性能測定器。(1) A mount base on which the test lens is adjustable in the optical axis direction, an MTF measurement chart placed on the object plane of the test lens, and a photoelectric converter for MTF measurement placed on the image plane of the test lens. A camera lens imaging performance measuring device consisting of an element is provided with a mechanism that switches the image light flux of the MTF measurement chart that has passed through the lens to be tested to the MTF measurement photoelectric conversion element and the finder focus detection section, and this finder A camera lens imaging performance measuring instrument, characterized in that a focus detection section is provided with a device for detecting whether an image of an MTF measurement chart is in focus.
ャートはファインダピント検出用チャートを兼ねるよう
に構成したことを特徴とするカメラレンズ結像性能測定
器。(2) The camera lens imaging performance measuring device according to claim 1, wherein the MTF measurement chart is configured to also serve as a finder focus detection chart.
ャートは物体面上で切換可能なファインダピント検出用
チャートを備えていることを特徴とするカメラレンズ結
像性能測定器。(3) A camera lens imaging performance measuring device according to claim 1, characterized in that the MTF measurement chart includes a finder focus detection chart that can be switched on the object plane.
いて、ＭＴＦ測定用チャートはスリットチャートである
ことを特徴とするカメラレンズ結像性能測定器。(4) The camera lens imaging performance measuring device according to any one of claims 1 to 3, wherein the MTF measurement chart is a slit chart.
インダピント検出用チャートは透光部と不透光部が半分
ずつになつている半月チャートであることを特徴とする
カメラレンズ結像性能測定器。(5) In claim 3 or 4, the camera lens imaging method is characterized in that the finder focus detection chart is a half-moon chart in which a transparent part and a non-transparent part are each half. Performance measuring instrument.
いて、ＭＴＦ測定用チャートは光軸上及び光軸外の所定
位置に複数個設けてあることを特徴とするカメラレンズ
結像性能測定器。(6) In any one of claims 1 to 5, the camera lens imaging performance is characterized in that a plurality of MTF measurement charts are provided at predetermined positions on the optical axis and off the optical axis. Measuring instrument.
いて、ＭＴＦ測定用チャートはこれを照明する光源を備
えていることを特徴とするカメラレンズ結像性能測定器
。(7) The camera lens imaging performance measuring device according to any one of claims 1 to 6, wherein the MTF measurement chart is provided with a light source for illuminating the MTF measurement chart.
いて、ファインダピント検出部はスプリットイメージプ
リズムを備えたファインダスクリーンと、ファインダル
ーペとを含んでいることを特徴とするカメラレンズ結像
性能測定器。(8) The camera lens imaging system according to any one of claims 1 to 7, wherein the finder focus detection section includes a finder screen equipped with a split image prism and a finder loupe. Performance measuring instrument.
いて、チャートのピント合致を検出する装置は光電変換
装置を備え、この光電変換装置からの出力信号を処理し
てチャートの像の合焦状態を検出する回路を含んでいる
ことを特徴とするカメラレンズ結像性能測定器。(9) In any one of claims 1 to 8, a device for detecting focus alignment of a chart includes a photoelectric conversion device, and processes an output signal from the photoelectric conversion device to generate an image of the chart. A camera lens imaging performance measuring instrument characterized by including a circuit for detecting a focusing state.
はビデオカメラであることを特徴とするカメラレンズ結
像性能測定器。(10) The camera lens imaging performance measuring device according to claim 9, wherein the photoelectric conversion device is a video camera.
において、チャートのピント合致を検出する装置と被検
レンズのマウント台の調節機構とを連動させて自動的に
調節できるように構成したことを特徴とするカメラレン
ズ結像性能測定器。(11) In any one of claims 1 to 10, the device for detecting focus alignment of the chart and the adjustment mechanism of the mount base of the lens to be examined are configured to be automatically adjusted in conjunction with each other. A camera lens imaging performance measuring instrument characterized by the following.
において、ＭＴＦ測定用光電変換素子は像面上でその位
置を自在に調節できる機構を備えていることを特徴とす
るカメラレンズ結像性能測定器。(12) A camera lens assembly according to any one of claims 1 to 11, characterized in that the photoelectric conversion element for MTF measurement is provided with a mechanism that can freely adjust its position on the image plane. Image performance measuring instrument.
において、ＭＴＦ測定用光電変換素子はその出力信号を
処理してＭＴＦを算出する回路を備えていることを特徴
とするカメラレンズ結像性能測定器。(13) A camera lens assembly according to any one of claims 1 to 12, characterized in that the photoelectric conversion element for MTF measurement is equipped with a circuit that processes the output signal to calculate the MTF. Image performance measuring instrument.
において、マウント台、ファインダピント検出部、光束
切換機構は一眼レフカメラボディに備わつているもので
あることを特徴とするカメラレンズ結像性能測定器。(14) The camera lens according to any one of claims 1 to 13, wherein the mount base, finder focus detection unit, and light flux switching mechanism are provided in a single-lens reflex camera body. Imaging performance measuring instrument.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20755384A JPS6184541A (en) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | Measuring device for image formation performance of camera lens |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20755384A JPS6184541A (en) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | Measuring device for image formation performance of camera lens |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6184541A true JPS6184541A (en) | 1986-04-30 |
| JPH0544977B2 JPH0544977B2 (en) | 1993-07-07 |
Family
ID=16541639
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20755384A Granted JPS6184541A (en) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | Measuring device for image formation performance of camera lens |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6184541A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006250764A (en) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Riken Keiki Co Ltd | Gas sampling probe device and portable hydrogen flame ionization gas detector |
| JP2010112831A (en) * | 2008-11-06 | 2010-05-20 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | Device and method for inspecting capillary array sheet |
| CN112437224A (en) * | 2019-08-26 | 2021-03-02 | 腾讯科技（深圳）有限公司 | Camera data processing method and device, computer equipment and storage medium |
-
1984
- 1984-10-03 JP JP20755384A patent/JPS6184541A/en active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006250764A (en) * | 2005-03-11 | 2006-09-21 | Riken Keiki Co Ltd | Gas sampling probe device and portable hydrogen flame ionization gas detector |
| JP2010112831A (en) * | 2008-11-06 | 2010-05-20 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | Device and method for inspecting capillary array sheet |
| CN112437224A (en) * | 2019-08-26 | 2021-03-02 | 腾讯科技（深圳）有限公司 | Camera data processing method and device, computer equipment and storage medium |
| CN112437224B (en) * | 2019-08-26 | 2022-11-11 | 腾讯科技（深圳）有限公司 | Camera data processing method and device, computer equipment and storage medium |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0544977B2 (en) | 1993-07-07 |
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