JPS6189578A - β線エネルギスペクトル測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明はβ線のエネルギ分布の測定に用いられるβ線エ
ネルギスペクトル測定装置に関する。

「従来の技術」 β線のエネルギ分布の測定には、磁気スペクトロメータ
、ンンチレーションスペクトロメータあるいは半導体ス
ペクトロメータ等の測定装置が用いられている。このう
ち磁気スペクトロメータ以外の測定装置では、β線のエ
ネルギに比例したパルス波高を発生させ、Ａ／Ｄ変換器
でこれらパルスのディジクル変換を行う。このようにし
て得られたディジクル信号は各波高に対応したチャンネ
ルに割り振られてそれぞれ該当するメモリ領域に蓄えら
れる。このようにして各チャンネルごとにパルスの計数
結果が得られる。これはβ線のエネルギスペクトルを表
わしており、β線核種のエネルギ測定に用いられている
。

ところで原子力施設等において、放射線汚染された機器
表面に対するβ線核種のエネルギ測定を行うと、Ｔ線放
出核種による測定妨害が避は得ない問題として発生して
くる。特にエネルギの測定範囲の上限を引き上げるため
にβ線検出用のスペク）四メータ検出器の厚さをより厚
く設定すると、この検出器のＴ線に対する感度も上がっ
てしまい、本来測定すべきβ線スペクトルを歪めること
になる。

この−例を第１０図および第１１図を用題て説明する。

このうち第１０図はプラスチックシンチレータをスペク
トロメータ検出器として用″、）、９０３、　９０Ｙの
β線源を測定したものであり、第１１図はこのβ線源に
”　Ｃｏ　が同時に存在した場合を表わしたものである
。第１１図の例ではス・；クトロメータ検出器内でＴ線
コンプトン敗乱が生じ、”　Ｃｏ　によるコンプトン電
子がβ線と同様の挙動を示してβ線のスペクトル上に重
なり合ってしまう。すなわちＴ線ハックグラウンドの存
在がβ線のエネルギ測定に妨害を与えることになるつこ
うしたγ線による妨害を取り除（手法として、従来から
（ｉ）引き去り法と（１１）同時計数法が考案されてい
る。このうち第１２図は、引き去り法によるβ線エネル
ギスペクトル測定装置を表わしたものである。この装置
ではスペクトロメーク検出器１と線源２との間に、開閉
自在のβ線遮へい板３を配置している。このβ線遮へい
板３が開いた状態では、γ線の影響を含んだβ線のスペ
クトルの測定が行われる。またβ線遮へい板３が閉じた
状態では、Ｔ線の影響分に相当するスペクトルの測定が
行われる。引き去り法では、このようにして得られた２
種類のスペクトルの差を求めて、β線のみによるスペク
トルを得る。

この具体的な方法としては、Ａ／Ｄ変換器４によってＡ
／Ｄ変換された後のβ線遮へい板が開いた状態でのエネ
ルギスペクトルをプロセスメモリ５に蓄えた後、Ａ／Ｄ
変換器を減算モードにしてβ線遮へい板を閉じ引き算を
行う方法と、先に測定した値を図示しないバッファメモ
リに一時的に蓄えておき、後に測定した値と引き算して
これをプロセスメモリ５に蓄える方法とがある。

これに対して第１３図は、同時計数法によるβ線エネル
ギスペクトル測定装置を表わしたものである。この装置
では、スペクトロメータ検出器１と線源２との間に、非
常に薄い透過型β線同時計数用検出器６を配置している
。透過型β線同時計数用検出器６はβ線が入射すると電
気信号を発生させ、Ａ／Ｄ変換器７に内蔵されているゲ
ートをその間だけ開いてＡ／Ｄ変換を行わせる。この透
過型β線同時計数用検出器６は非常に薄いため、β線の
エネルギは透過時に一部失われるのみて後段のスペクト
ロメータ検出器ｌに到達する。すなわち線源２からβ線
が放出された場合には、透過型β線同時計数用検出器６
によってゲートが開かれ、スペクトロメータ検出器１に
到達したβ線の全エネルギに対応するパルス波高値がＡ
／Ｄ変換されることになる。

一方、線源２からＴ線が放出された場合に：ま、透過型
β線同時計数用検出器６が非常に薄いのでβ線と比べて
比電離の小さなＴ線はこの検出器構成体との相互作用を
起こさない。つまりＴ線（ま透過型β線同時計数用検出
器６をそのまま通過しスペクトロメータ検出器１に到達
するが、ゲートが閉じた状態なのでこのパルス波高のＡ
／Ｄ変換は行われない。

このように同時計数法ではβ線とＴ線の至り米をたくみ
に区別してエネルギ分布を計数するので、β線の計数を
ほとんど低下させずにＴ線バッククラウンドの影響を減
少させることができる。

「発明が解決しようとする問題点」 ところで以上説明した２種類のβ線エネルギスペクトル
測定装置は、それぞれ次のような問題点を有している。

（１）引き去り法による装置 まず引き去り法では、β線遮へい板３がβ線を完全に遮
へいすることが前提となる。そこで測定対象のβ線エネ
ルギが高くなるにつれてβ線の遮へい板中の飛程が増加
する為、β線遮へい板３の厚さをより厚くする必要があ
る。ところがβ線遮へい板３を厚くすると、この部分で
のｒ線の吸収が無視できなくなる。この結果としてβ線
遮へい板３が開いたときと閉じたときとでＴ線バックグ
ラウンドにスペクトル上の差を生じてしまい、これがβ
線スペクトル上に誤差分として残ってしまう。

例えばＩＭｅＶのβ線を測定対象とした場合には、この
β線を完全に遮へいする遮へい板あるいは遮へい体の厚
さはアクリル板で１，５ｃｍとなる。この場合のＩＭｅ
ＶのエネルギのＴ線バックグラウンドは、遮へい阪が存
在しない場合ｊこ比べて約１／１０だけ低減する。

実際の例を用いてこれを説明する。第１４図：ま第１２
図に示すようにβ線遮へい坂３をスペクトロメータ検出
器１の前面に置いた場合のニス・ルキスペ、クトルを表
わしたものであり　６０Ｃ０コンプトン電子のスペクト
ルである。今、第１１図に示すβ線遮へい板を置かない
場合のスペクトルから第１０図に示すβ線源のみのスペ
クトルを演算処理によって差し引くと、第１５図で実線
で示すスペクトルが得られる。この第１５図で破線で示
したスペクトルが９０３．　９０ｙの実際のスペクトル
であり、これらの差が第１４図に示した６０Ｃｏ　　コ
ンプトン電子の残留分となる。すなわち引き去り法を用
いると、Ｔ線の影響の大きな場所では、例えばｒ線の主
成分が”　Ｃｏ　の場合”Ｃｏ　　ｒ線の影響を受ける
ｌ　Ｍ　ｅ　Ｖ以下のエネルギ領域でのスペクトルを正
確に測定することができないっ（ｉｉ　）同時計数法に
よる装置 一方、同時計数法を用いると、引き去り法に比べてγ線
のハックグラウンドの低減率は数オーダー高くなり、通
常の場合にはＴ線の影響を十分取り除くことができる。

しかしながらＴ線が極めて高い場所では、第１３図に示
した透過型β線同時計数用検出器６がこれを感知してＡ
／Ｄ変換が行われる場合あるいは偶発同時計数も生じ、
Ｔ線の影響が若干ながら残ってしまう。

透過型β線同時計数用検出器６を用いることによるもう
１つの問題点は、この検出器のエネルギ損失のために低
エネルギのβ線がこの検出器を通過てきないことである
。すなわちこのような低エネルギのβ線はスペクトロメ
ータ検出器１まで到達することができず、スペクトルの
測定対象から除外されてしまう。

この問題点を解決するためには透過型β線同時計数用検
出器６の厚さをできるだけ薄くすることが必要となる。

ところが透過型β線同時計数用検出器６としてプラスチ
ックシンチレーション検出器を用いると、これを薄くす
るほどその発光効率が低下するのでその薄さに限界があ
る。従ってこのような薄い透過型β線同時計数用検出器
６には比例計数管が多く用いられることになる。ところ
が比例計数管を用いた場合には、その窓厚を薄くする必
要からガスの充填が必要となり、ボンベ等の付属物を備
えたガスフロ一方式の装置とせざるを得ない。このため
装置自体が大型化してしまＬ　′１゜実験室で固定して
用いる場合に支障はないが、可搬性に欠は現場での使用
が現実的に困グ（Ｆまたは不可能であった。

また同時計数法で測定しうるエネルギ下限：ま、透過型
β線同時計数用検出器６の厚さによって定まり、例えば
この検出器をＱ、５ｍｍ厚のプラスチックシンチレータ
とすると、測定エネルギの下限は０．３ＭｅＶとなる。

従って最大エネルギか０．３２Ｍｅ、Ｖの”　Ｃｏ　の
β線は原子力発電所等のβ線寄与核種として普遍的なも
のであるにもかかわらず、これを測定することが困難で
あった。

本発明はこのような事情に鑑み、高Ｔ１ｘλぶ境下でも
広いエネルギ範囲に、わたってβ線のエネル千スペクト
ルの測定を可能とするβ線エネルキスベクトル測定装置
を提供することをその目的とする。

「問題点を解決するための手段」 本発明では第１図に原理的に示すように、β線を透過さ
せる薄い透過型β線エネルギ検出器１１と、開閉可能な
β線カットフィルタ１２と、これらの後段に配置された
厚型β線エネルギ検出器１３と、β線カットフィルタ１
２の開いた状態と閉じた状態のそれぞれの状態で個別に
同時計数を行った結果得られた透過型β線エネルギ検出
器１１のエネルギ信号をｓｌ　、　　　′、同時計数を
行わないとき（尋られた両β線エネルギ検出器１１．１
３のエネルギ信号を５２、　　　′、また、β線カット
フィルタ１２の開いた状態と閉じた状態のそれぞれの状
態で同時計数を行った結果得られた厚型β線エネルギ検
出器１３のエネルギ信号を３３　、Ｓ３　　’とすると
き、これら６個のデータを用いてβ線エネルギスペクト
ルを演算するエネルギスペクトル演算手段１４とをβ線
エネルギスペクトル測定装置に具備させる。

エネルギスペクトル演算手段１４は、アナログ−ディジ
タル変換後の前記した６個のデータをスペクトロメータ
として、次の演算式でβ線エネルギスペクトルＥを演算
することができる。

Ｅ＝３３　　＋　−（Ｓｔ　　−ａ　５２　　）ただし
Ｓ　ｌ　　”　（Ｓｔ　　　Ｓｔ　　’）、Ｓ　２−（
Ｓ２　　　Ｓ２　　’）、 Ｓ　３＝　（Ｓ３Ｓ３　　’　）、 ａ＞１ 本発明の装置は、（１）γ線に対して感度の低い薄型か
つ透過型の低エネルギβ線スペクトロメータ（透過型β
線エネルギ検出器１１）と、高エネルギ川厚型β線スペ
クトロメーク（厚型β線エネルギ検出器１３）を組み合
わせて、相互間に同時計数を行わせることにより、γ線
の影響を低減する。また、（１１）これらのスペクトロ
メータ（透過型β線エネルギ検出器１１および厚型β線
エネルギ検出器１３）の前面に配置されたβ線カットフ
ィルター２の開閉時のデータを用いて、更に一般のγ線
の影響の低減を図る。これにより、γ線に極めて感度の
低い透過型β線同時計数用検出器が実現される。

「実施例」 以下実施例につき本発明の詳細な説明する。

第２図は本実施例のβ線エネルギスペクトル測定装置の
要部についてその断面を表わしたものである。この装置
は持ち運び可能な図示しない筐体内に低エネルギ用およ
び高エネルギ用の２種類の光電子増倍管２１．２２を配
置した構造となっている。低エネルギ用光電子増倍管２
１を収容する鉛で作られた第１の遮へい体２３には、放
射線通過用の孔２４が開けられており、その前面にはβ
線カットフィルタ２５が開閉自在に配置されている。β
線カットフィルタ２５の開いた状態または閉じた状態で
孔２４に入射した放射線は、同時計数用プラスチックシ
ンチレータ２６を通過し、更に遮光膜２７を通過して、
エネルギ測定用プラスチックシンチレータ２８に入射す
るようになっている。このとき同時計数用プラスチツク
シンチレ−り２６の発する光は光ガイド２９によって低
エネルギ用光電子増倍管２１に導かれ、ここで−匿子的
に増幅された後、電気信号に変換される。抵エネルギ用
光電子増倍管２１の出力する電気（言号：は光電子増倍
管用ソケット３１を介して第１のプリアンプ３２に人力
される。

一方、同じく鉛で作られた第２の遮へ′Ｊ）体３３内に
収容されている高エネルギ用光電子増倍管２２はエネル
ギ測定用プラスチックシンチレータ２８の発する光を電
気信号に変換し、第２のプリアンプ３４に人力するよう
になっているっこの装置でエネルギ測定用プラスチック
シンチレータ２８は、測定対象となるβ線の最大エネル
ギによって必要とする厚さが異なる。これに対して同時
計数用プラスチックシンチレータ２６は、６０Ｃｏ　か
ら放出される最大エネルギのβ線を測定可能な厚さを有
している。すなわちこのプラスチックシンチレータ２６
は、０．３２Ｍｅ＼ノ゛のエネルギのβ線についてのプ
ラスチックシンチレータ内での最大飛程に（目当する約
０．５ｍｍ０厚さとなっている。またβ線カットフィル
タ２５の厚さは、測定対象とするβ線の最大エネルギや
このフィルタを構成する材質によって必要な厚さが異な
り、測定上限エネルギに相当するβ線のフィルタ物質中
での最大飛程以上の厚さを必要とする。

第３図はこのようなβ線エネルギスペクトル測定装置の
回路構成の要部を表わしたものである。

この装置の低エネルギ用光電子増倍管２１からエネルギ
に比例した波高で出力される波高パルス４１は、第１の
プリアンプ（ＰＡ）３２で波形整形され、第１のリニア
アンプ（ＬＡ）４２で増幅される。高エネルギ用光電子
増倍管（ＰＭ）２２から出力される波高パルス４３も同
様に第２のプリアンプ３４で波形整形された後、第２の
リニアアンプ４４で増幅される。第１および第２のリニ
アアンプ４２．４４を経た信号は対応する第１または第
２の遅延増幅器（ＤＡ＞４５．４６および、第１または
第２のシングルチャンネル波高弁別回路（ＳＣＡ）４７
．４８にそれぞれ入力される。

このうち第１および第２のシングルチャンネル波高弁別
回路（ＳＣＡ）４７．４８；こ入力された信号は、ノイ
ズ成分と区別されると共ｊこ同時計数に必要な一定波高
かつ一定幅のパルス信号５１．５２に変換される。同時
計数回路（ＣＯＩ　Ｎ　）５３は、２種類のパルス信号
５１．５２が同時゛に発生した場合にのみ、パルス信号
５４を発生させる。すなわちパルス信号５４が発生する
場合とは、同時計数用プラスチックシンチレータ２６に
入射したβ線の最大飛程がこのプラスチックシンチレー
タの厚さよりも長い場合である。この場合にはそのβ線
は一部のエネルギを損失した状態でプラスチックシンチ
レータ２６を透過し、エネルギ測定用プラスチックシン
チレータ２８に到達して残りの全エネルギを失い、これ
により両パルス信号５１．５２が発生することになる。

パルス信号５４は遅延回路付ゲート信号発生器（ＤＧＧ
）５６に入力され、時間的に遅延されたゲート信号５７
が発生する。

一方、前記した第１および第２の遅延増幅器４５．４６
は、同時計数回路５３を経た信号とのタイミングをとる
ために、それらの出力信号５８．５９を所定時間だけ遅
延させる。このうち第１の出力信号５８は第１のＡ／Ｄ
変換器（ＡＤＣ）６１に入力され、ここでディジタル信
号に変換される。このようにして作成されたスペクトル
データＳｌ、　Ｓｔ　　’はマルチプレクサ（ＭＰＸ）
６２の入力となる。

第１の出力信号５８は第２のＡ／Ｄ変換器６３にも供給
され、ゲート信号５７の制御によってＡ／Ｄ変換される
。これによって作成されたスペクトルデータＳ２、′も
マルチプレクサ６２の人力となる。

一方、第２の出力信号５９は第３のＡ／Ｄ変換器６４に
供給され、ゲート信号５７の制御によってＡ／Ｄ変換さ
れる。この結果得られたスペクトルデータＳ３　、Ｓ３
　　’もマルチプレクサ６２の入力となる。マルチプレ
クサ６２はこれら３種類のスペクトルデータ（Ｓｔ　、
Ｓｔ　　′）、（Ｓ２．５２′）、（Ｓ３、Ｓ３’）を
択一的に選択し、プロセミメモリ（ＰＲＭ）６５に書き
込むことになる。

次にこれらのスペクトルデータがβ線カットフィルタ２
５（第１図）との関係でどのようにしてプロセスメモリ
に書き込まれるかを具体的に説明する。

（ｉ）まず３種類のスペクトルデータＳ１　　、Ｓ２、
Ｓ３　は、β線カットフィルタ２５を開いた状態の測定
結果として取得される。β線カットフィルタ２５は第１
図で矢印６７方向に移動できるようになっており、例え
ば図で上方向に移動すると孔２４の入力が完全に開き、
β線が自由に入射できる状態となる。この状態で第１の
Ａ／Ｄ変換器６１からは低エネルギ用光電子増倍管２１
からのデータとしてスペクトルデータＳ１　　が（尋ら
れ、第２のＡ／Ｄ変換器６３からは同時計数を行った低
エネルギ用光電子増倍管２１からのデータとしてスペク
トルデータＳ２が１等られる。また第３のＡ／Ｄ変換器
６４からは、同じく同時計数を行った高エネルギ用光電
子増倍管２２からのデータとしてスペクトルデータｓ３
　が得られる。

マルチプレクサ６２はこれら３睡頚のスペクトルデータ
ｓ１　、Ｓ２、Ｓ３を用頁１こ選択し、それらの値をプ
ロセスメモリ６５の該当するアドレスにそれぞれ書き込
むことになる。

（ｉｉ　）次に残りの３種類のスペクトルデータｓ　、
　　／、８２　′、ｓ　３／について説明する。これら
は第１図に示したβ線カットフィルタ２５を閉じた状態
で１尋られる。このときβ線は孔２４の手前で入射を遮
断されることになる。この状態で第１〜第３のＡ／Ｄ変
換器６１．６３．６４からスペクトルデータｓＩ′、　
　　′、８３′が得られる。これらはマルチプレクサ６
２の制御によってプロセスメモリ６５のそれぞれ該当す
るアドレスに書き込まれる。プロセスメモリ６５に以上
のようにして書き込まれたデータは、演算回路６９によ
って処理され、β線のエネルギスペクトルが求められる
ことになる。

第４図はこのようなデータ処理を行う部分を表わしたも
のである。このβ線エネルギスペクトル測定装置には各
部を制御するためのＣＰＵ　（中央処理装置）７１が搭
載されており、ＲＯＭ　（’ｊ　−ド・オンリ・メモリ
）７２に書き込まれたブロクラムに従って前記テーク処
理等を行うようｊごなっている。ＲＡν１（ランダム・
アクセス・メモリ）７３は処理データを一時的に蓄積す
る作業用のメモリである。ＣＰＩＪ７１、ＲＯＭ？２、
Ｒ９へ〜１７３とプロセスメモリ６５はパス７４によっ
て接続されており、処理データやアドレステークが転送
されるようになっている。測定が終了すると、演算処理
回路６９はプロセスメモリ６５から各スペクトルデータ
ｓ、　　、Ｓ、’、Ｓｌ　Ｓ　Ｓｌ　　　ＳＳ３、Ｓ３
′の読み出しを行い、次の演算を行ってスペクトルデー
タの差Ｓ１、Ｓ７、Ｓ３　を求める（第５図ステップ■
）、。

３１　°５．１　−５１　　’ Ｓｌ　＝５２　　Ｓｌ　　′ ５３＝Ｓ３Ｓ３’ このようにスペクトルデータの差Ｓ１　、Ｓｌ、Ｓ３を
求めたのは、前記したデータの引き去りを行うためであ
る。すなわち第１２図において説明めである。

Ｓｌ　　に余分のβ線エネルギスペクトルが含まれるこ
とになる。これは、同時計数用プラスチックシンチレー
タ２６をβ線が透過してしまった場合のこれによるエネ
ルギの損失分に相当し、第６図にこの斜線部分の成分は
、低エネルギ用光電子増管２２からの信号とを同時計数
することにより求められる。このデータが第７に示すス
ペクトルデータの差Ｓ２　である。従って０．３ＭｅＶ
以下についての真のスペクトル成分を求めるには、スペ
クトルデータの差Ｓ１からスペクトルデータの差Ｓ２　
を所定の比で差し引くことが必要となる。これを式で表
わすと次のようになる。

低エネルギのβ線スペクトル−３＋　　　ａ　Ｓｌここ
で、この上式はいずれもスペクトルの各部。

ンネルごとの演算として行われるものであるっまた定数
ａは線源に対する透過型および彫型のそれぞれの検出器
の幾何学的な効率を考慮した重み付（すであり、１より
も大きな正の数である。

一方、０．３ＭｅＶよりも大きな高エネルギｉｉＪ、Ｉ
ｌのβ線スペクトルは、第８図に示すように高エネルギ
用光電子増倍管２２からの信号を用いて作成したスペク
トルデータの差Ｓ３　となる。

従って全体のβ線エネルギスペクトルをＥとすると、こ
れは低エネルギ側と高エネルギ側を合算したものであり
、次式で表わされる。

Ｅ＝３３　＋　　　　（Ｓ＋　　　ａｓ２　）この式で
表わした演算をスペクトルデータ間に行うことにより、
広範囲なエネルギ測定領域を有し、かつＴ線の影響の少
ないβ線スペクトルデー夕を得ることができる。低エネ
ルギ用の検出器の測定エネルギの上限は、本実施例のよ
うに、測定現場に不偏に存在する６０Ｃｏ　のβ線の最
大エネルギすなわち０．３ＭｅＶに設定することが望ま
しい。この場合の同時計測用プラスチックシンチレータ
の厚さはＱ、５ｍｍとなる。

第９図は一例としてＴβ−２０４のβ線を本実施例のβ
線エネルギスペクトル測定装置によって測定した結果を
実線で表わしたものである。低エネルギ用の検出器の測
定上限を０．３ＭｅＶとし、高エネルギ用の検出器の測
定上限を４　Ｍ　ｅ　Ｖとしている。破線は理論上の値
であり、両者がよく一致していることがわかる。このβ
線エネルギスペクトル測定装置を用いた測定におけるＴ
線に対する感度は、０，３ＭｅＶ以上の高エネルギスペ
クトル領域で６０Ｃｏ　のＴ線について、従来技術とし
ての引き去り法に比べて１／１００になっており、また
同時計数法に比べて１．／４となっている。

「発明の効果」 以上説明したように本発明によれば従来の同時計数法を
用いた装置に必要だったボンベ等の大型の設備が不要な
ので、装置を非常に小型にすることができ、現場で自由
に移動させ測定を行うことができる。また本発明では低
エネルギ用β線スペクトロメータ検出器と高エネルギ用
β線スペクトロメータ検出器のそれぞれのエネルギ情報
に所定の補正を行うことにより、Ｔ線に対する感度を十
分に低下させ、低エネルギまでのエネルギスペクトルを
得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理を示すブロック図、第２図〜第９
図は本発明の一実施例を説明するためのもので、このう
ち第２図はβ線エネルギスペクトル測定装置の要部を示
す断面図、第３図はβ線エネルギスペクトル測定装置の
回路構成を示すブロック図、第４図はデータ処理を行う
回路部分の要部を示すブロック図、第５図は演算回路の
動作を示す流れ図、第６図はスペクトルデータの差Ｓ１
を表わすスペクトル特性図、第７図はスペクトルデータ
の差Ｓ２を表わすスペクトル特性図、第８図はスペクト
ルデータの差Ｓ３を表わすスペクトル特性図、第９図は
演算処理後のβ線スペクトルの一例を示す特性図、第１
０図はβ線源のみのスペクトルの一例を示す特１生図、
第１１図は第１０図に示すβ線源に６０Ｃｏｒ線源のス
ペクトルが重なり合った状態を示すスペクトル特性図、
第１２図は従来の引き去り法によるβ線エネルギスペク
トル測定装置を示すブロック図、第１３図は従来の同時
計数法によるβ線エネルギスペクトル測定装置を示すブ
ロック図、第１４図は”　Ｃｏ　のコンプトン電子のス
ペクトル特性図、第１５図は従来の引き去り法によるス
ペクトルと理論値を比較した説明図である。 １１・・・・・・透過型β線エネルギ検出器、１２・・
・・・・β線カットフィルタ、１３・・・・・・彫型β
線エネルギ検出器、１４・・・・・・エネルギスペクト
ル演算手段、２１・・・・・・低エネルギ用光電子増倍
管、２２・・・・・・高エネルギ用光電子増倍管、２６
・・・・・・同時計数用プラスチックシンチレータ、２
８・・・・・・エネルギ測定用 プラスチックシンチレータ、 ６９・・・・・・演算回路、 ａ・・・・・・定数、 Ｓｌ　、ＳＩ　′、Ｓ２　、Ｓ２　　’、ｓ３、ｓ３・
・・・・・スペクトルデータ、 Ｓ、　、Ｓ２、Ｓ、・・・・・・スペクトルデータの差
。 出　願　人　　　　日本原子力事業株式会社代　　理　
　人　　　　　　弁理士　　山　　内　　侮　　雄第７
図 第８図 第１２図 ′　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（３１と去
り汰）第９図 第１３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、β線を透過させる薄い透過型β線エネルギ検出器と
   、開閉可能なβ線カットフィルタと、これら両者の後段
   に配置された厚型β線エネルギ検出器と、前記β線カッ
   トフィルタの開いた状態と閉じた状態のそれぞれの状態
   で同時計数を行った結果得られた透過型β線エネルギ検
   出器のエネルギ信号をＳ＿１、Ｓ＿１′、同時計数を行
   わないとき得られた両β線エネルギ検出器のエネルギ信
   号をＳ＿２、Ｓ＿２′、また、前記β線カットフィルタ
   の開いた状態と閉じた状態のそれぞれの状態で同時計数
   を行った結果得られた厚型β線エネルギ検出器のエネル
   ギ信号をＳ＿３、Ｓ＿３′とするとき、これら６個のデ
   ータを用いてβ線エネルギスペクトルを演算するエネル
   ギスペクトル演算手段とを具備することを特徴とするβ
   線エネルギスペクトル測定装置。 ２、前記６個のデータがアナログ−ディジタル変換され
   たスペクトルデータであり、エネルギスペクトル演算手
   段が次の演算式 Ｅ＝Ｓ＿３＋１／ａ（Ｓ＿１−ａＳ＿２） ただしＳ＿１＝（Ｓ＿１−Ｓ＿１′）、 Ｓ＿２＝（Ｓ＿２−Ｓ＿２′）、 Ｓ＿３＝（Ｓ＿３−Ｓ＿３′）、 ａ＞１ をもとにしてβ線エネルギスペクトルＥを演算すること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項記載のβ線エネルギ
   スペクトル測定装置。