JPS6199842A - 光学測定装置 - Google Patents
光学測定装置Info
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- JPS6199842A JPS6199842A JP22097884A JP22097884A JPS6199842A JP S6199842 A JPS6199842 A JP S6199842A JP 22097884 A JP22097884 A JP 22097884A JP 22097884 A JP22097884 A JP 22097884A JP S6199842 A JPS6199842 A JP S6199842A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/75—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
- G01N21/77—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator
- G01N21/82—Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator producing a precipitate or turbidity
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
医学的診断の高度化に伴って、生体の血液検査の分野に
おいても、血液の微量化、血中成分の微量測定が要求さ
れているが、血中成分を測定する装置の精度９反応促進
物質の感度にも制約があり測定された結果に対する信頼
性にも限界がある。
おいても、血液の微量化、血中成分の微量測定が要求さ
れているが、血中成分を測定する装置の精度９反応促進
物質の感度にも制約があり測定された結果に対する信頼
性にも限界がある。
とくに、免疫反応で血液の抗原抗体反応による複合物質
を光散乱で測定する場合２反応溶液中に、気泡および塵
埃などが混在すると、これらからの異常な光の散乱を生
じ 低濃度の免疫反応を１ｉ１１１定するのは困難であ
る。
を光散乱で測定する場合２反応溶液中に、気泡および塵
埃などが混在すると、これらからの異常な光の散乱を生
じ 低濃度の免疫反応を１ｉ１１１定するのは困難であ
る。
本発明の実施例は血中の免疫物質の測定を光散乱によっ
ておこなうに際して反応液中に混入した気泡、塵埃の影
善をほとんど受けず、精度良く免疫物質の測定をおこな
う光学測定装置に関するもので以下詳細について説明す
る。
ておこなうに際して反応液中に混入した気泡、塵埃の影
善をほとんど受けず、精度良く免疫物質の測定をおこな
う光学測定装置に関するもので以下詳細について説明す
る。
第１図は、血清を含む溶液に攪拌しながら反応促進物質
を加え攪拌を停止して９反応の進行状態を記録した図、
第２図は、攪拌を継続しながら反応の進行状態を記録し
た図、第３図は本発明の構成図、第４図は反応の初期状
態と測定状態の最低値の検知方法を説明した図。
を加え攪拌を停止して９反応の進行状態を記録した図、
第２図は、攪拌を継続しながら反応の進行状態を記録し
た図、第３図は本発明の構成図、第４図は反応の初期状
態と測定状態の最低値の検知方法を説明した図。
第１図に示すごとく９反応溶液中に気泡塵埃が混入する
と溶液中を通過する光束の中に停滞しまた静かに運動す
るため異常な光の散乱を生じ反応特性にドリフトして重
畳する。したがって△ 一定時間後に反応生成物からの散乱光を１ｔｌｌｌ定す
る場合正しい測定が困難であり、実用に供しない。
と溶液中を通過する光束の中に停滞しまた静かに運動す
るため異常な光の散乱を生じ反応特性にドリフトして重
畳する。したがって△ 一定時間後に反応生成物からの散乱光を１ｔｌｌｌ定す
る場合正しい測定が困難であり、実用に供しない。
他方第２図（ａ）、Φ）では、攪拌を継続すると気泡。
塵挨などの異物が光束中を速く通過するため。
これらから発した散乱光は連続して正常な反応特性に重
畳する。
畳する。
第２図（ａ）において異物からの散乱光は正確々測定を
おこなうために不要であるが９反応特性の各瞬間の最小
値を連続して記録すると正常な反応特性が得られ、異物
の量が多い第２図（ｂ）の場合でも断続的な最小値が正
常な反応値を示し。
おこなうために不要であるが９反応特性の各瞬間の最小
値を連続して記録すると正常な反応特性が得られ、異物
の量が多い第２図（ｂ）の場合でも断続的な最小値が正
常な反応値を示し。
これらを連続して曲線にすると異物によるドリフトに関
係なく正常な反応特性が得られる。本発明は溶液中の低
濃度の物質を、化学的に反応させ９反応生成物を光散乱
によって測定する場合、従来より敬遠されていた気泡、
塵挨などの異物を逆に利用して正しい反応特性を得るも
のである。
係なく正常な反応特性が得られる。本発明は溶液中の低
濃度の物質を、化学的に反応させ９反応生成物を光散乱
によって測定する場合、従来より敬遠されていた気泡、
塵挨などの異物を逆に利用して正しい反応特性を得るも
のである。
第３図において■測定セル、■反応溶液、■攪拌了、■
回転磁石、■モータ、■半導体レーザの光倣回路、■半
導体レーザ、■半導体レーザーから発したパルスレーザ
光、■反応生成物から発した散乱光、■散乱光を検知す
る半導体検知器、（ｐ前置増幅器、０パルヌ状の増幅さ
れた信号を直流に変換する］）−Ａコンバータ、■増幅
器、０測定開始のスイッチ、（ｆｕｌｌ定時間を制御す
る制御回路、［相］初期状態での最低値検知回路、Ｏ記
憶回路Ａ、０測定時での最低値検知回路、ｑ９）記憶回
路Ｂ、［相］差動回路、■表示回路が構成要素である。
回転磁石、■モータ、■半導体レーザの光倣回路、■半
導体レーザ、■半導体レーザーから発したパルスレーザ
光、■反応生成物から発した散乱光、■散乱光を検知す
る半導体検知器、（ｐ前置増幅器、０パルヌ状の増幅さ
れた信号を直流に変換する］）−Ａコンバータ、■増幅
器、０測定開始のスイッチ、（ｆｕｌｌ定時間を制御す
る制御回路、［相］初期状態での最低値検知回路、Ｏ記
憶回路Ａ、０測定時での最低値検知回路、ｑ９）記憶回
路Ｂ、［相］差動回路、■表示回路が構成要素である。
以下本発明の機能について、説明する。
ガラス製の測定セル■に血清を含む溶液■を入れ、モー
タ■に直結した回転磁石■によって攪拌子■を回転し攪
拌混合する。発振回路■によって半導体レーザ■がパル
ス発振し、パフレスレーザ光■が測定セル■中の溶液■
の中を通過する。抗血清を溶液■に加え、スイッチ（少
を押すと、溶液■を通過するパルスレーザ−光■が反応
生成物および気泡、塵挨などの異物によって散乱され、
散乱光■は半導体検知器０によって検出され、前置増幅
器０によって増幅されたのち発振回路■と同期した１）
−Ａコンバータ０によって直流に変換され、さらに直流
増幅器ｑｅによって増幅される。
タ■に直結した回転磁石■によって攪拌子■を回転し攪
拌混合する。発振回路■によって半導体レーザ■がパル
ス発振し、パフレスレーザ光■が測定セル■中の溶液■
の中を通過する。抗血清を溶液■に加え、スイッチ（少
を押すと、溶液■を通過するパルスレーザ−光■が反応
生成物および気泡、塵挨などの異物によって散乱され、
散乱光■は半導体検知器０によって検出され、前置増幅
器０によって増幅されたのち発振回路■と同期した１）
−Ａコンバータ０によって直流に変換され、さらに直流
増幅器ｑｅによって増幅される。
スイッチ０によって制御回路［相］が初期状態で反応の
最低値を検知する最低検知回路０を△１１時間作動し、
抗血清を加えたときの溶液からの散乱光の最低値を′検
出し、記憶回路ＡＯに記憶する。この状態を第４図に示
す。抗血清を加えた直後は攪拌が充分でないから、異物
からの散乱光によって各瞬間の最低値は変化しており、
異物の量が多い場合は顕著である。第４図のごとく、抗
血清を加えた時点では指示値は高くなっているが△亀時
間内に最小値幹が測定されさらに指示値が」二外しても
最小値■が記憶回路ＡＯに記憶される。さらに反応が進
行し反応時間Ｔになると制御回路［相］が測定値での最
低検知回路Ｑゆを△Ｔ２時間作動し、△Ｔ２の間の最低
値を検知して記憶回路■に記憶する。△１゛１の設定は
反応ＪＩＪ！度によって変える必要があるが本発明の実
施例では反応が急激に進行しないよう攪拌子■をゆっく
り回転せしめるよう工夫されておシ、異物による散乱が
多くても初期状態での最小値は検知できる。このように
して記憶回路ＡＯ９記憶回路ＢＯに記憶されたそれぞれ
の電気量は差動回路０によって反応の変化量が計算され
９表示回路＠に表示される。
最低値を検知する最低検知回路０を△１１時間作動し、
抗血清を加えたときの溶液からの散乱光の最低値を′検
出し、記憶回路ＡＯに記憶する。この状態を第４図に示
す。抗血清を加えた直後は攪拌が充分でないから、異物
からの散乱光によって各瞬間の最低値は変化しており、
異物の量が多い場合は顕著である。第４図のごとく、抗
血清を加えた時点では指示値は高くなっているが△亀時
間内に最小値幹が測定されさらに指示値が」二外しても
最小値■が記憶回路ＡＯに記憶される。さらに反応が進
行し反応時間Ｔになると制御回路［相］が測定値での最
低検知回路Ｑゆを△Ｔ２時間作動し、△Ｔ２の間の最低
値を検知して記憶回路■に記憶する。△１゛１の設定は
反応ＪＩＪ！度によって変える必要があるが本発明の実
施例では反応が急激に進行しないよう攪拌子■をゆっく
り回転せしめるよう工夫されておシ、異物による散乱が
多くても初期状態での最小値は検知できる。このように
して記憶回路ＡＯ９記憶回路ＢＯに記憶されたそれぞれ
の電気量は差動回路０によって反応の変化量が計算され
９表示回路＠に表示される。
以上の如く、高感度の光散乱光度計において。
気泡、塵挨などの異物が溶液中を通過する。光束中に浮
遊し異常な散乱光として反応特性に重畳するドリフトは
不可避なものとされていたが本発明のごとく適当な攪拌
をおこない、初期状態および測定時に一定時間反応特性
の最小値を検知し、それぞれの差を求めることによって
精度良く反応価を得ることができる。
遊し異常な散乱光として反応特性に重畳するドリフトは
不可避なものとされていたが本発明のごとく適当な攪拌
をおこない、初期状態および測定時に一定時間反応特性
の最小値を検知し、それぞれの差を求めることによって
精度良く反応価を得ることができる。
本発明は、散乱光度計のみならす、他の光学を応用した
測定装置にも適用できる。
測定装置にも適用できる。
第１図は、血清を含む溶液に攪拌しながら反応促進物質
を加え攪拌を停止して９反応の進行状態を記録した図、
第２図は、攪拌を継続しながら反応の進行状態を記録し
た図、第３図は。 本発明の構成１図、第４図は９反応の初期状態と測定状
態の最低値の検知方法を説明した図である。 以下図面内各部を番号順に述べる。 ■測定セル、■反応溶液、■攪拌イ、■回転磁石、■モ
ータ、■発振回路、■半導体レーザ。 ■パルヌレーザ光、■散乱光、［相］半導体検出器。 ■前置増幅器、＠Ｄ−Ａコンバータ、０増幅器。 ０スイツチ、■制御回路、■最低検知回路Ａ。 Ｏ記憶回路Ａ、Ｏ最低値検知回路１）、ｏ記憶回路Ｂ、
［相］差動回路、０表示回路、■最小値＝ ７− ＄１１」 千２■
を加え攪拌を停止して９反応の進行状態を記録した図、
第２図は、攪拌を継続しながら反応の進行状態を記録し
た図、第３図は。 本発明の構成１図、第４図は９反応の初期状態と測定状
態の最低値の検知方法を説明した図である。 以下図面内各部を番号順に述べる。 ■測定セル、■反応溶液、■攪拌イ、■回転磁石、■モ
ータ、■発振回路、■半導体レーザ。 ■パルヌレーザ光、■散乱光、［相］半導体検出器。 ■前置増幅器、＠Ｄ−Ａコンバータ、０増幅器。 ０スイツチ、■制御回路、■最低検知回路Ａ。 Ｏ記憶回路Ａ、Ｏ最低値検知回路１）、ｏ記憶回路Ｂ、
［相］差動回路、０表示回路、■最小値＝ ７− ＄１１」 千２■
Claims (1)
- 測定物質を含む溶液に、反応促進物質を加え攪拌しなが
ら反応生成物の増加、減少を光の変化として検知し、測
定物質の濃度の変化を定量的に測定する光学測定装置に
おいて、反応促進物質を加えたのち、一定時間△Ｔｉの
間反応量の最低値Ａを記憶し、さらに、時間Ｔの間反応
を進行せしめたのちＴから一定時間△Ｔ＿２の間反応量
の最低値Ｂを測定し記憶するとともに、ＢとＡの差を求
めることによって、溶液中に混在する気泡や異物が発生
する異常な光学的変化に影響されることなく時間Ｔの間
の反応量を精度良く測定できることを特長とする光学測
定装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22097884A JPS6199842A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 光学測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22097884A JPS6199842A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 光学測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6199842A true JPS6199842A (ja) | 1986-05-17 |
Family
ID=16759547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22097884A Pending JPS6199842A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 光学測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6199842A (ja) |
-
1984
- 1984-10-19 JP JP22097884A patent/JPS6199842A/ja active Pending
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