JPS62112042A - 測定出力におけるピ−ク検出方法 - Google Patents
測定出力におけるピ−ク検出方法Info
- Publication number
- JPS62112042A JPS62112042A JP25240185A JP25240185A JPS62112042A JP S62112042 A JPS62112042 A JP S62112042A JP 25240185 A JP25240185 A JP 25240185A JP 25240185 A JP25240185 A JP 25240185A JP S62112042 A JPS62112042 A JP S62112042A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- peak
- data
- points
- difference
- statistical
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ９産業上の利用分野
本発明はＸＭ分析におけるＸ線ピークの検出のような統
計的変動のある測定出力におけピーク検出方法に関する
。
計的変動のある測定出力におけピーク検出方法に関する
。
口、従来の技術
Ｘ検出のように統計的変動の大きい量の検出には従来、
時間をかけて統計的変動を平均化する方法が一般的に用
いられていた。
時間をかけて統計的変動を平均化する方法が一般的に用
いられていた。
ハ０発明が解決しようとする問題点
従来Ｘ線分析等では統計的変動を平均化するため測定に
時間がかかっていたのを改善しようとするものである。
時間がかかっていたのを改善しようとするものである。
即ち統計的変動を含むデータに基いてピーク強度、ピー
ク位置、ピークの半価幅を数値として求める手段を提供
し、Ｘ線分１斤等の能率化を計るものである。
ク位置、ピークの半価幅を数値として求める手段を提供
し、Ｘ線分１斤等の能率化を計るものである。
二１問題点解決のための手段
統計的変動を含むデータをスムージングし、スムージン
グされたデータについて園犬点、極小点をもとめ、隣合
う極大点と極小点との間のレベル差（位置の差ではない
）が統計的変動の範囲に含まれるか否かを判定し、統計
的変動に含まれる場合、その２点間は水平とし、統計的
変動に含まれない場合、その差をその２点間のレベル差
として一つの折線グラフを作成し、その折線グラフにお
いてピークを索出し、索出されたピークについて、ピー
ク位置 、＜ツクグラウンド強度２ピーク高さ、半価幅
を決定するようにした。
グされたデータについて園犬点、極小点をもとめ、隣合
う極大点と極小点との間のレベル差（位置の差ではない
）が統計的変動の範囲に含まれるか否かを判定し、統計
的変動に含まれる場合、その２点間は水平とし、統計的
変動に含まれない場合、その差をその２点間のレベル差
として一つの折線グラフを作成し、その折線グラフにお
いてピークを索出し、索出されたピークについて、ピー
ク位置 、＜ツクグラウンド強度２ピーク高さ、半価幅
を決定するようにした。
ホ９作用
統計的変動を含む測定結果をスムージングして表示ずれ
ば目視によってピークの存在とかピーク高さ、半価幅等
を知ることができるが主観が入り易く、作業としても面
倒である。本発明ではスムージングされたデータにおけ
る上下変動から統計的変動以上の変化部分だけを抽出し
てピーク検出、ピーク高さ１幅等の検出を行うので主観
が入らず、かつコンピュータによる処理が容易である。
ば目視によってピークの存在とかピーク高さ、半価幅等
を知ることができるが主観が入り易く、作業としても面
倒である。本発明ではスムージングされたデータにおけ
る上下変動から統計的変動以上の変化部分だけを抽出し
てピーク検出、ピーク高さ１幅等の検出を行うので主観
が入らず、かつコンピュータによる処理が容易である。
へ、実施例
第１図ａはＸ線分光分析の測定データをスムージングし
た結果をグラフ１ヒしたちので、横軸は波長であり、縦
軸がＸ！＋ＩＪ１強度である。第１図すはスムージング
したデータから極大極小の点を検出して、それらの点だ
けをプロットしたものである。
た結果をグラフ１ヒしたちので、横軸は波長であり、縦
軸がＸ！＋ＩＪ１強度である。第１図すはスムージング
したデータから極大極小の点を検出して、それらの点だ
けをプロットしたものである。
こ＼で極大、極小と云うのは局所的極大極小のことで、
第１図ａの１．２．３．４等の点である。
第１図ａの１．２．３．４等の点である。
本発明では相隣る極大極小の点間のレベル差即ち第１図
すの点１とこの高さの差、２と３の高さの差等を順次求
めて行き、次にこれらの差から統計的変動より大きい差
だけを抽出して行く。金弟１図すて点１と２との高さの
差は統計的変動内であり、点１．２間では変化なしとす
る。同様に点２．３間２点３．４間も変化なしてあり、
点１がら点４までは変化がないことになるので、この間
は点１と点４を直線で結ぶ。点４から５との間の差は統
計的変動の範囲を超えているので、点４がら５までは第
１図すの変化があったとする。このようにして統計的変
動を超える部分だけを抽出してグラフを画くと第１図Ｃ
のようになる。この第１図Ｃに基づいて、ピーク高さＩ
ｐ、ピーク位置λｐ、ベースライン窩さＩｂ、半価幅λ
ＨＷ等を求める。
すの点１とこの高さの差、２と３の高さの差等を順次求
めて行き、次にこれらの差から統計的変動より大きい差
だけを抽出して行く。金弟１図すて点１と２との高さの
差は統計的変動内であり、点１．２間では変化なしとす
る。同様に点２．３間２点３．４間も変化なしてあり、
点１がら点４までは変化がないことになるので、この間
は点１と点４を直線で結ぶ。点４から５との間の差は統
計的変動の範囲を超えているので、点４がら５までは第
１図すの変化があったとする。このようにして統計的変
動を超える部分だけを抽出してグラフを画くと第１図Ｃ
のようになる。この第１図Ｃに基づいて、ピーク高さＩ
ｐ、ピーク位置λｐ、ベースライン窩さＩｂ、半価幅λ
ＨＷ等を求める。
極大、極小の差が統計的変動に含まれるか否かの判定は
、一つの測定点におけるカウントデータがガウス分布に
従うとすると、カウント数Ｎに対して分散σは詣になる
ので、極大値、極小値の差をＤとして、ＩＤ１が極大値
における分散σに対して ・ ＤＩ＞ｋ σ ならＤは統計的変動、より犬であるとする。スムージン
グの方法は任意で例えば移動平均法等が用いられる。
、一つの測定点におけるカウントデータがガウス分布に
従うとすると、カウント数Ｎに対して分散σは詣になる
ので、極大値、極小値の差をＤとして、ＩＤ１が極大値
における分散σに対して ・ ＤＩ＞ｋ σ ならＤは統計的変動、より犬であるとする。スムージン
グの方法は任意で例えば移動平均法等が用いられる。
第２図は上述した所をコンピュータを用いて行う場合の
フローチャートを示す。測定データをメモリに取込み（
イ）、スムージング処理を行い（ロ）、スムージングさ
れたデータを用いて長波長側から（モ大、極小の波尺及
び強度を検出しメモリに格納（〕・）、長波長側の最初
の極大と極小の平均を１としく二〉、当初（ホ）のステ
ップはＮＯで、次のくベフのステップで長波長（ｌＩｌ
ｌから隣合う極大、極小の差り一（長波長側極値）−＜
短波長側極値）を求め、Ｄの絶対値が統計的変動より大
であるか否（チ）シ、動作は（ホ）に戻り、この循環を
繰返していると、（ハ）のステップで求めたデータはな
（なるから、〈ホ〉のステップはＹＥＳとなり、動作は
（ヌ）へ進んで（ヂ）のステップで求められたデータか
らピークを検出し、次いて検出されたピークにつき、（
チ）のデータを用いてピーク高さ、ヘースライン、半価
幅、波長等を算出くル）し、結果を打出しくオ）で動作
を終わる。
フローチャートを示す。測定データをメモリに取込み（
イ）、スムージング処理を行い（ロ）、スムージングさ
れたデータを用いて長波長側から（モ大、極小の波尺及
び強度を検出しメモリに格納（〕・）、長波長側の最初
の極大と極小の平均を１としく二〉、当初（ホ）のステ
ップはＮＯで、次のくベフのステップで長波長（ｌＩｌ
ｌから隣合う極大、極小の差り一（長波長側極値）−＜
短波長側極値）を求め、Ｄの絶対値が統計的変動より大
であるか否（チ）シ、動作は（ホ）に戻り、この循環を
繰返していると、（ハ）のステップで求めたデータはな
（なるから、〈ホ〉のステップはＹＥＳとなり、動作は
（ヌ）へ進んで（ヂ）のステップで求められたデータか
らピークを検出し、次いて検出されたピークにつき、（
チ）のデータを用いてピーク高さ、ヘースライン、半価
幅、波長等を算出くル）し、結果を打出しくオ）で動作
を終わる。
ト、効果
本発明によれば、測定データは統計的変動をかなり含ん
でいても長時間をかけて統計的変動を平均化すると云う
必要がないから高速でピークに関するデータが得られ、
データ処理の速度は１６ビツトマイクロコンピユータで
６６００点のデータにつき数秒程度で完了できるので、
実測定所要時間の短縮と相まって、分析能率の向上、リ
アルタイムに近い状態での分析、データ結果の取得が可
能となる。
でいても長時間をかけて統計的変動を平均化すると云う
必要がないから高速でピークに関するデータが得られ、
データ処理の速度は１６ビツトマイクロコンピユータで
６６００点のデータにつき数秒程度で完了できるので、
実測定所要時間の短縮と相まって、分析能率の向上、リ
アルタイムに近い状態での分析、データ結果の取得が可
能となる。
【図面の簡単な説明】
第１図ａ、ｂ、ｃは本発明の詳細な説明するグラフ、第
２図は同実施例のデータ処理動作のフローチャートであ
る。 代理人 弁理士 縣 浩 介 第１図 ５′Ｘ。 ′Ａｐ 手 続 補 正 書 （ｊ′５式゛プ１、事件
の表示 昭和６０年特許願第２５２−Ｂ）７号２、発
明の名称 ：）１３１７足出力にｈ゛けるヒ０−り市（上方ピ火３
、補正をする者 事件との関係 特許出願人 ４、代理 人 昭和 ６を年 １ 月 ？ 日 ６、補正により増加する発明の数 ０ ７、補正の対象 明靭コ図面の［こ−；−なこニノ」の１図 ｉ？：ｉ
メ′１図 ８、補正の内容 別紙の通り 特顎昭６０−２５２４０１ 補正の内容別紙１、明細
書第６頁第１６行「第１図ａ、ｂ、ｃ」を「第１図」と
訂正する。 ２６図面第１図を別紙のように訂正する。 以上
２図は同実施例のデータ処理動作のフローチャートであ
る。 代理人 弁理士 縣 浩 介 第１図 ５′Ｘ。 ′Ａｐ 手 続 補 正 書 （ｊ′５式゛プ１、事件
の表示 昭和６０年特許願第２５２−Ｂ）７号２、発
明の名称 ：）１３１７足出力にｈ゛けるヒ０−り市（上方ピ火３
、補正をする者 事件との関係 特許出願人 ４、代理 人 昭和 ６を年 １ 月 ？ 日 ６、補正により増加する発明の数 ０ ７、補正の対象 明靭コ図面の［こ−；−なこニノ」の１図 ｉ？：ｉ
メ′１図 ８、補正の内容 別紙の通り 特顎昭６０−２５２４０１ 補正の内容別紙１、明細
書第６頁第１６行「第１図ａ、ｂ、ｃ」を「第１図」と
訂正する。 ２６図面第１図を別紙のように訂正する。 以上
Claims (1)
- 測定データをスムージングし、スムージングされたデー
タについて極大点、極小点を求め、隣合う極大、極小点
間のレベル差が統計的変動の範囲内か同範囲以上か判定
し、範囲内の場合はその２点間は水平とし、上記範囲以
上の場合、その差をその２点間のレベル差として一つの
折線グラフのデータを作成し、このデータによってピー
クを索出することを特徴とする測定出力におけるピーク
検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25240185A JPS62112042A (ja) | 1985-11-11 | 1985-11-11 | 測定出力におけるピ−ク検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25240185A JPS62112042A (ja) | 1985-11-11 | 1985-11-11 | 測定出力におけるピ−ク検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62112042A true JPS62112042A (ja) | 1987-05-23 |
Family
ID=17236820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25240185A Pending JPS62112042A (ja) | 1985-11-11 | 1985-11-11 | 測定出力におけるピ−ク検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62112042A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03142319A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-18 | Asahi Okuma Ind Co Ltd | 測定装置 |
| JPH03172743A (ja) * | 1989-11-30 | 1991-07-26 | Shimadzu Corp | 分光分析装置におけるピークサーチ法 |
-
1985
- 1985-11-11 JP JP25240185A patent/JPS62112042A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03142319A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-18 | Asahi Okuma Ind Co Ltd | 測定装置 |
| JPH03172743A (ja) * | 1989-11-30 | 1991-07-26 | Shimadzu Corp | 分光分析装置におけるピークサーチ法 |
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