JPS62129727A - 放射エネルギ撮像装置 - Google Patents
放射エネルギ撮像装置Info
- Publication number
- JPS62129727A JPS62129727A JP60269317A JP26931785A JPS62129727A JP S62129727 A JPS62129727 A JP S62129727A JP 60269317 A JP60269317 A JP 60269317A JP 26931785 A JP26931785 A JP 26931785A JP S62129727 A JPS62129727 A JP S62129727A
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- JP
- Japan
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- wavelength
- filter
- emissivity
- energy
- radiant energy
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 6
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
し産業上の利用分野〕
この発明は、対象物の各部から放射される放射線、特に
赤外線を撮像し、その撮像結果から対象物の温度分布像
（以下、熱画像と称する）を得る放射エネルギ撮像装置
に関するものである。
赤外線を撮像し、その撮像結果から対象物の温度分布像
（以下、熱画像と称する）を得る放射エネルギ撮像装置
に関するものである。
従来、対象物の温度に応じて対象物渋面から赤外線等の
放射線が放射されることが知られており。
放射線が放射されることが知られており。
この赤外線を撮像して熱画像を表示することによって、
その対象物の温度分布を知ることができるので、この計
測方法は非接触で広い範囲の温度分布が瞬時に得られる
。このため接触式による手法がとれないところで有効に
用いられている。
その対象物の温度分布を知ることができるので、この計
測方法は非接触で広い範囲の温度分布が瞬時に得られる
。このため接触式による手法がとれないところで有効に
用いられている。
しかしながらエネルギの放射量は対象物表面の放射率に
よって決まるが、この放射率は計測面の全範囲にわたっ
て均一ではないため、このことが誤差の原因になってい
た。
よって決まるが、この放射率は計測面の全範囲にわたっ
て均一ではないため、このことが誤差の原因になってい
た。
このような欠点を解決するためこの発明は、２種類の波
長を用いて得られた撮像データを用いて、熱画像が放射
率の影響を受けないよう処理したものである。
長を用いて得られた撮像データを用いて、熱画像が放射
率の影響を受けないよう処理したものである。
ある波長で撮像されたデータと、その波長と異なる波長
で撮像されたデータとの比が求められ、その結果をもと
に全画面にわたって正確な温度を示した熱画像が得られ
る。
で撮像されたデータとの比が求められ、その結果をもと
に全画面にわたって正確な温度を示した熱画像が得られ
る。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図であるっ
同図において、１はフィルタ、２はカメラヘッド、３は
切換スイッチ、４ａ、ｎｂｆｄフレームメモリ、５は比
較演算部、６は温度換算部、７は比較温度テーブル、８
はフレームメモＩＪ、９は表示処理部、１０はモニタ部
、１１はフィルタ切換部、１２はマイクロコンピュータ
である。
同図において、１はフィルタ、２はカメラヘッド、３は
切換スイッチ、４ａ、ｎｂｆｄフレームメモリ、５は比
較演算部、６は温度換算部、７は比較温度テーブル、８
はフレームメモＩＪ、９は表示処理部、１０はモニタ部
、１１はフィルタ切換部、１２はマイクロコンピュータ
である。
フィルタ１は対象物から放射される赤外線エネルギのう
ち、特定波長成分のみをカメラヘッド２に入射させるた
めのバンドパスフィルタで、２ｆｉ！類の波長λ１．λ
２がフィルタ切換部１１から供給される制何信号に応じ
て選択されるようになっている。カメラヘッド２はフィ
ルタ１を透過して供給された赤外線を撮像し、ディジタ
ル信号に変換して送出するようになっている。スイッチ
３およびフレームメモ’Ｊ４ａ、４ｂはフィルタ１０波
長選択に同期して選択される側が決まるようになってい
る。比較演算部５はフレームメモ！７４Ｂ、４ｂがら供
給される信号の比を求め、その値を温度換算部６に供給
するようになっている。
ち、特定波長成分のみをカメラヘッド２に入射させるた
めのバンドパスフィルタで、２ｆｉ！類の波長λ１．λ
２がフィルタ切換部１１から供給される制何信号に応じ
て選択されるようになっている。カメラヘッド２はフィ
ルタ１を透過して供給された赤外線を撮像し、ディジタ
ル信号に変換して送出するようになっている。スイッチ
３およびフレームメモ’Ｊ４ａ、４ｂはフィルタ１０波
長選択に同期して選択される側が決まるようになってい
る。比較演算部５はフレームメモ！７４Ｂ、４ｂがら供
給される信号の比を求め、その値を温度換算部６に供給
するようになっている。
このようにして考成゛された装置の動作は次のとおりで
ある。フィルタ切換部１１はマイクロコンピュータ１２
から供給されるデータに応じてフイＪ１７タ１を制御し
、フィルタ１の透過波長を交互に選択する。この結果、
波長λｌ、λ２の赤外線が交互にカメラヘッド２によっ
て撮像され、ディジタル信号に変換されて切換スイッチ
３に供給される。
ある。フィルタ切換部１１はマイクロコンピュータ１２
から供給されるデータに応じてフイＪ１７タ１を制御し
、フィルタ１の透過波長を交互に選択する。この結果、
波長λｌ、λ２の赤外線が交互にカメラヘッド２によっ
て撮像され、ディジタル信号に変換されて切換スイッチ
３に供給される。
切換スイッチ３はフィルタ１の波長切換に同期して切換
えられ、波長λｌのデータをフレームメモリ４ａに、波
長λ２のデータをフレームメモリ４ｂに交互に供給する
。フレームメモリ４ａ、４ｂに供給されたデータはマイ
クロコンピュータ１２から供給されたアドレスデータに
よって決まる場所に記憶される。そして、記憶されたデ
ータは比較演算部５に供給され、各ビクセル毎のデータ
の比が求められる。
えられ、波長λｌのデータをフレームメモリ４ａに、波
長λ２のデータをフレームメモリ４ｂに交互に供給する
。フレームメモリ４ａ、４ｂに供給されたデータはマイ
クロコンピュータ１２から供給されたアドレスデータに
よって決まる場所に記憶される。そして、記憶されたデ
ータは比較演算部５に供給され、各ビクセル毎のデータ
の比が求められる。
比較演算部５で求められたデータは温度換算部６に供給
され、比較温度テーブル７にあらかじめ書込まれている
データと比較され、温度換算部６に供給されたデータを
温度信号に変換して出力する。この処理がフレームメモ
リ４ａ、４ｂの全ピクセルについて行なわれ、その処理
が行なわｎたデータがフレームメモリ８に書込まれる。
され、比較温度テーブル７にあらかじめ書込まれている
データと比較され、温度換算部６に供給されたデータを
温度信号に変換して出力する。この処理がフレームメモ
リ４ａ、４ｂの全ピクセルについて行なわれ、その処理
が行なわｎたデータがフレームメモリ８に書込まれる。
その後、７１／−ムメモリ８に書込まれたデータはマイ
クロコンピュータ１２の制御によっで読出され、表示処
理部９を介してモニタ部１０に供給され、表示される。
クロコンピュータ１２の制御によっで読出され、表示処
理部９を介してモニタ部１０に供給され、表示される。
次に、このようにして得られた熱画像が正確な工坏ルギ
分布を表わす理由について説明する。
分布を表わす理由について説明する。
対象物から放射されるある波長λの赤外線エイ・ルギＷ
λは、Ｃ＋＋Ｃ２を定数、Ｔを絶対温度とすると次の（
１）式で表わされる。
λは、Ｃ＋＋Ｃ２を定数、Ｔを絶対温度とすると次の（
１）式で表わされる。
しかし、実際の対象物は同じ温反りものでもぞの拐質、
衣囲状態等によって放射する赤外庫：ｊｉ・が異なり、
この放射の程度を放射率εとすると、（１）式は次の（
２）式のように表わせる。
衣囲状態等によって放射する赤外庫：ｊｉ・が異なり、
この放射の程度を放射率εとすると、（１）式は次の（
２）式のように表わせる。
自 Ｃ，／λ。
ｗλ＝ ｇ ｏ−（ｅ −１）−’ Ｉ′”
”＜２）λ５ ここで波長λ１．λ２での放射エイ・ルギは次の（３）
。
”＜２）λ５ ここで波長λ１．λ２での放射エイ・ルギは次の（３）
。
（４）式で表わせる。−
この比をとると次の（５）式のようになる。
（５）式は放射率εを含んでいないので、この値から正
確な絶対温度Ｔを求めることができる。
確な絶対温度Ｔを求めることができる。
第１図の装置は波長λ１のエネルギＷ、ｉ、と、波長λ
２のエネルギＷλ２を求めるためにフィルタ１を切換え
、そのフィルタ１を透過した波長λｌのエネルギと波長
λ２のエイ・ルギをフレームメモリ４ａ、４ｂにそれぞ
れ６己ｔｉさせ、フレームメモリ４ａ、４ｂのビクセル
毎に比較演算部５で（５）式の処理を行ない、その結果
をもとに温度換算部６で正確な温度に換算している。こ
のため、放射率εが対象物の全面にわたって均一でなく
とも、（５）式は放射率εの項を含まないので、正確な
熱画像が得られる。
２のエネルギＷλ２を求めるためにフィルタ１を切換え
、そのフィルタ１を透過した波長λｌのエネルギと波長
λ２のエイ・ルギをフレームメモリ４ａ、４ｂにそれぞ
れ６己ｔｉさせ、フレームメモリ４ａ、４ｂのビクセル
毎に比較演算部５で（５）式の処理を行ない、その結果
をもとに温度換算部６で正確な温度に換算している。こ
のため、放射率εが対象物の全面にわたって均一でなく
とも、（５）式は放射率εの項を含まないので、正確な
熱画像が得られる。
フィルタ１は第２図に示すように２つのニレメンＨａ、
１ｂを軸１ｃを中心に回転したり、２つのエレメントを
可倒式にしたりするなどＫよって実現できる。また、実
施例ではフィルタ１をカメラヘッド２の前に置いている
が、これはカメラヘッド内部の検出器前段までの間であ
ればどこに置いても良い。なお、フィルタ１の透過波長
λｌ 。
１ｂを軸１ｃを中心に回転したり、２つのエレメントを
可倒式にしたりするなどＫよって実現できる。また、実
施例ではフィルタ１をカメラヘッド２の前に置いている
が、これはカメラヘッド内部の検出器前段までの間であ
ればどこに置いても良い。なお、フィルタ１の透過波長
λｌ 。
λ２はカメラヘッド内の検出器の感する波長帯のなかで
選ばねばならない。又、対象物の温度に対する放射率の
変化特性から、透過波長λ！、λ２は’ＡＭするなるべ
く近い波長を選ぶことが必要である。
選ばねばならない。又、対象物の温度に対する放射率の
変化特性から、透過波長λ！、λ２は’ＡＭするなるべ
く近い波長を選ぶことが必要である。
以上説明したようにこの発明は、異なる透過波長を有す
るフィルタを通した赤外線エネルギの比をとるようにし
たので、放射率の影響を受けることなく、正確な熱画像
が得られるという効果を有する。
るフィルタを通した赤外線エネルギの比をとるようにし
たので、放射率の影響を受けることなく、正確な熱画像
が得られるという効果を有する。
第１図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第２図
はフィルタの平面図である。 １・・・・フィルタ、２・・・・カメラヘッド。 ３・・・・切換スイッチ、４ａ、４ｂ、８ ・・・・フ
レームメモリ、５・・・・比較演り。部、６・・・・温
度換算部、７・・・・比較温度テーブル、９・・・・表
示処理部、１０・・・・モニタ部。 １１・・・・フィルタ切換部、１２・・・・マイクロコ
ンピュータ。
はフィルタの平面図である。 １・・・・フィルタ、２・・・・カメラヘッド。 ３・・・・切換スイッチ、４ａ、４ｂ、８ ・・・・フ
レームメモリ、５・・・・比較演り。部、６・・・・温
度換算部、７・・・・比較温度テーブル、９・・・・表
示処理部、１０・・・・モニタ部。 １１・・・・フィルタ切換部、１２・・・・マイクロコ
ンピュータ。
Claims (1)
- 物体から放射される放射線を撮像してその撮像結果から
放射エネルギ分布像を求める放射エネルギ撮像装置にお
いて、ある波長の撮像結果を記憶する第１のメモリとそ
の波長と異なる波長の撮像結果を記憶する第２のメモリ
と、第１および第２のメモリの撮像結果の比率から物体
の真の温度を求める温度演算部とを備えたことを特徴と
する放射エネルギ撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60269317A JPS62129727A (ja) | 1985-12-02 | 1985-12-02 | 放射エネルギ撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60269317A JPS62129727A (ja) | 1985-12-02 | 1985-12-02 | 放射エネルギ撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62129727A true JPS62129727A (ja) | 1987-06-12 |
Family
ID=17470660
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60269317A Pending JPS62129727A (ja) | 1985-12-02 | 1985-12-02 | 放射エネルギ撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62129727A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5639433A (en) * | 1979-09-05 | 1981-04-15 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Method for measuring temperature pattern and its apparatus |
| JPS5994025A (ja) * | 1982-11-20 | 1984-05-30 | Seiichi Okuhara | 色温度計 |
-
1985
- 1985-12-02 JP JP60269317A patent/JPS62129727A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5639433A (en) * | 1979-09-05 | 1981-04-15 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Method for measuring temperature pattern and its apparatus |
| JPS5994025A (ja) * | 1982-11-20 | 1984-05-30 | Seiichi Okuhara | 色温度計 |
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