JPS62140458U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS62140458U JPS62140458U JP2717986U JP2717986U JPS62140458U JP S62140458 U JPS62140458 U JP S62140458U JP 2717986 U JP2717986 U JP 2717986U JP 2717986 U JP2717986 U JP 2717986U JP S62140458 U JPS62140458 U JP S62140458U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe pin
- conductor
- constitute
- utility
- scope
- Prior art date
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- Pending
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を示す構成説明図、
第２図は従来のプローブピンの一例を示す構成説
明図、第３図はプローブピンを用いた半導体試験
装置の要部の構成説明図である。 １…内部導体、２…絶縁物、３…外部導体、７
…終端用抵抗器。
第２図は従来のプローブピンの一例を示す構成説
明図、第３図はプローブピンを用いた半導体試験
装置の要部の構成説明図である。 １…内部導体、２…絶縁物、３…外部導体、７
…終端用抵抗器。
Claims (1)
- プローブピンを構成する内部導体と外部導体と
の間に終端用抵抗器を設けたことを特徴とするプ
ローブピン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2717986U JPS62140458U (ja) | 1986-02-26 | 1986-02-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2717986U JPS62140458U (ja) | 1986-02-26 | 1986-02-26 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62140458U true JPS62140458U (ja) | 1987-09-04 |
Family
ID=30828962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2717986U Pending JPS62140458U (ja) | 1986-02-26 | 1986-02-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62140458U (ja) |
-
1986
- 1986-02-26 JP JP2717986U patent/JPS62140458U/ja active Pending