JPS62143232A - 予書込み記憶媒体とそのための光走査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ル肚夏豆Ｍ 本発明は、データの記憶のため予約されかつディスクの
ＩＪ　ｉＸｆ表面を適当に配置することによって規定さ
れる領域へのアクセスを備えた光メモリ装置に係わる。

従来技用 データは読み出し−書き込み装置にＪ：って記憶される
しので、該装置は実７１的にディスクの回転用駆動装置
と、微細に集束された光スポットを対物レンズを通して
基Ｗ１表面に投影する」′径方向可動の光学ヘッドとか
ら成る。ディスクはそのす壁表面にデータを受容づるた
めの領域を画定すべく予出込される。これらの領域は螺
旋形のトラックまたは同心円状１−ラック要素の、［に
位置する。光学ｌ＼ラッド主要な役割は予め書き込まれ
た情報を読み、データを古さ込み、データを読み、どこ
のデータを消去するか等を行／ｒうことである。これら
種々の仕事をデータがトラック上で高密度の場合に実行
するには、集束並びに、トラック追跡装置を設ける必要
がある。トラックの走査においては同期装置を設ける必
要があり、それはデータの各要素がトラックに沿って連
続的に配置された要素位置に：’ｊｌ当てられるからで
、これに対して等角的分布の特定半径上に位置する同期
パターンを介して基ｑ−が形成される。

ディスクが、光学的キセラクタを可逆的にまたは非可逆
的に変更することにより光学的にフシぎ込み可能な構造
を有するとすれば、同期化、トラック追跡および集束機
能を満足ずべく開明的に走査される基準面の特定部分に
対して、データ書き込みを避けることは適切なことであ
る。ｆ−クジき込み予定の領域はそれでいかなる予め書
き込み情報しないか、または限定的に予め書き込まれた
溝があり、このＩＭ　＜よ光ベッドによりｉＱ　Ｑ−Ｊ
される光ビーム制御には全く寄与しない。この原理に従
って予め形式化されたディスクは、一般に占ぎ込み−読
み出し装置を介して読まれ、該装置は、光スボッ１〜が
データブロック間に挿入された予め書き込まれたパター
ンと相互作用する度に出る電気的読み出し信号中のリー
ンプルと応答する。

光学ヘッドの半径方向位置の制御のために、換言すれば
走査光スポットをして、トラック要素の斗 数を個のうちの数十個を含む相中の１つの所与のトラッ
ク要素を追跡させるには、各要素はディジタル・アドレ
スの形で認知が付与される。

この配列はアクセスの終りに用いられるもので、ヘッド
が位置することに対する粘度をチェックするのが目的で
ある。（れは時間が長くかかる処理なので、それ自身十
分とはいえない。読み出しへラドの進行をチェックする
ためにもまた準備がなされ、ヘッドの半径方向移動がス
ターｉ−位置から目的点の近くのアドレスが読み出され
るまで測定されることによって実施される。

移動を測定することにより、光ヘッドを移動させるため
のねじ回転数が知られ、その連続または段階的回転が移
動の幅とサインを示す。また伯に移動り一夕と、光ヘッ
ドの実際の移動を決定する光学尺度のような測定系との
協働も知り得る。これらの装置は遅くおよび／または複
雑であるという欠点をもっているが、何れにせよ予め店
ぎ込まれた情報に関連して読み出し光スポットの移動の
計量を与えないので不満足である。予め書き込まれた情
報はディスクの回転に対して偏心しており、その結果と
して読み取り光スポットがスペースに固定されたとして
も、それは周期的に数ゾーンのトラック要素を横切る。

これらの欠点を軽減すべくトラック交差計測技で感知さ
れる信号を発生すべく用いられる光センまれだ溝の存在
を意味し、また比較的）の用するのに困難な予め書き込
まれた情報の形の他の領域の採用を誘導する。

経験によるとサンプリングの技術は、正確なトラック追
跡を保証するもので、たといトラックが、データのブロ
ック間で互いにグループ化されたある限定された数の子
め書き込まれたパターンを介して具体化されたトラック
の場合も同様である。

かくしてディスクは書き込みデータがあろうとなかろう
と同じ方法で走査され、それはデータを蓄積するために
用いられるコーティングの選択を促がすが、よみ込みコ
ントラストは予め書き込まれ丘 ６パターンのコントラストに影響を与えない。

経験によれば、サンプリング技術は、計数トラック交差
がたとえ検出された信号の２つのサンプリングの間で起
こっても、計数トラック交差まで延長され得ることが証
明されている。又、カウンタを有する指示を基礎として
他のアドレスからアドレスをたどることからなるトラッ
ク交差計数方法は、１〜ラツク交差が、サンプルが軌道
・を描くことを必要とするサンプリングの頻度に関して
低い頻度であるならば、メモリ平面で走査光点スポット
をよりよく位置決めする「地上に落ちない間の」アドレ
ス指示リードによって置換され得る。予め書き込まれた
構成に関して走査光点スポットの位置の正確な知識の利
用は、特に、交差速度の変化が比較的ゆるやかに半径方
向の接近のＱ好な分析を可能にするという小実からもた
らされる。これは特に、速度がおそい場合にアクセスの
始め及び最後において確かである。

１つの観点において、本発明は、基準面と、前記基準面
上の１組の隣接したトラック要素と、前記隣接したトラ
ック要素の湾曲した夫々の軸線と、前記＠線に予め書か
れたパターンと、前記軸線上にデータをストアし、前記
予め書かれたパタンーンを交替させるべく確保された領
域と、前記湾曲した軸線の共通の回転中心と、等角度で
分離され、各々が前記軸線の交差位置を画成し、前記パ
ターンがその上に置かれる前記共通の回転中心から始ま
るＮ半径の第１の組と、前記交差位置を占める同期化さ
れたパターンと、前記Ｎ半径のＰに関して、所定の円周
上の偏位を備えた共通の回転中心から始まる少なくとも
１つの他の組の半径と、隣接したトラック要素の前記組
の中で前記スポットの半径方向の移動の標識を検出すべ
く、前記トラックの基準表面を横断づ゛るＪ：うに走査
する焦点を有するり一ド光スポットと光学的にくり返し
て相７Ｊｉｆ′ｌ用するようになっている特別のパター
ンの半径方向の配列からなる少なくとも１つの他の絹の
半径上の目盛りとを右し前記゛Ｙ径方向の配列は、前記
スポラ１−が前記半径方向の配列を走査すると別の態様
においては、本発明は、ディスク状のデータ記憶媒体を
利用するＪ：うに構成された光走査デバイスにある。こ
のデータ記憶媒体は、基準面と、該基準面上の−組みの
隣接トラックエレメントと、該トラックエレメントの各
湾曲軸と、該軸上の事前書込みパターンと、該事前書込
みパターンと互い違いになる前記軸上にデータを記憶す
べく予定された領域と、前記湾曲軸の共通の回転中心と
、前記パターンが横たわる前記共通の回転中心から出発
し、等角度で分離され、前記軸と共に交点の位置をそれ
ぞれ規定するＮ本の半径からなる第１の組と、前記交点
の位置を占める同期化パターンと、前記Ｎ本の半径の中
のＰに対する周辺部の所定の分枝と共に前記回転中心か
ら出発する半径の少なくとも１つの他の組と、隣接トラ
ックエレメントの前記組内で焦点合せされた読み取り光
のスポットが半径方向に変位したことを示ず信号を検出
すべく、１ｍｍヒトラック横断して前記基準面を走査す
る前記スポットと光学的に且つ繰返して相互に作用する
ように構成された特定のパターンを半径方向に配置され
ており、前記少なくとも１つの他の組の前記半径上にあ
る目盛イ」きスケールとからなり、前記スポットが前記
半径方向の配列を走査する際に、前記半径方向の配列が
前記目盛り付きスケールに対する前記スポットの瞬間的
位置を規定し、前記デバイスは焦点合せされた走査光の
スポットを前記基準面上に投射するように構成された光
学ヘッドと、アクセスモータと、前記トラックエレメン
トを横断する光路に沿って前記光のスポットを動かすべ
く、前記アクセスモータによって駆動される手段と、航
記光のスポットによって照らされる前記１面から反射さ
れる一 光のうちいくつかを回収するように構成された前記光学
ヘッドと協動する光検出手段と、前記光検出手段から電
気信号を受信すべく接続されており、情報アクセス動作
に関する情報をアドレスする前記アクセスモーフ用の制
御手段とからなり、前記制御手段は、前記光のスポット
の運動が継続的に複数の前記トラックエレメントに及ぶ
場合に、複数の半径をもつ前記目盛り付きスケールと相
互に作用する前記光のスポットに応答して前記光のスポ
ットを半径方向に限定する少なくとも−っのディジタル
値を生ずるように構成されたサンプリング手段からなり
、前記少なくとも一つのディジウル値は、前記目盛付き
スケールを特徴づける数で面記先のスポットの半径方向
の位置を表ねり絶対量を割ることによって得られる剰余
を少なくとも表わす。

その他の目的と効果は、添付図面と関連して考察したは
場合に、本発明の具体例に関づる以下の記載から明らか
になろう。また、新規な特徴は特許請求の範囲に詳細に
指摘される。

好適具体例 第１図に示す光ディスク１は、その基準表面２が半径方
向及び周辺方向に二重に再分的に分割されている。半径
方向の再分分割は、環状領域に同心的円形要素又は連続
的な螺旋曲線のターンからなるトラックを書入れること
で達成される。この第１のグｉＭの再分的配置は、第１
図において基準面２の上に描かれた鎖線軸線３で示され
る。この複数の曲線からなる第１７レイは共通中心Ｏを
右し、ディスク１０回転用スピンドル（不図示）の回転
軸４ど理想的には一致づる。ディスク１は例えば、矢印
５の方向に一定の速度で回転する。領域の第２の再分的
配置は図面において実線で示した等角分配半径６のＮ本
のセットからなる。従ってディスク１はＮレクタに区画
された記憶平面を有し、各セクタはデークが蓄積されか
つ光スポット７によって中心付けられる方法で走査され
る多数の曲った位置を右づ゛る。光スポット７は光ヘッ
ド８によって形成され、ヘッドは例えば半径ρの方向に
平行移動が可能である。光ヘッドは同様にトラックを横
切る円形弧に沿って移動可能であり、ただ本図では簡単
のため光ヘッド８がリニアアクセス・モータ９を介して
半径方向に移１１１１する場合のみを図示した。

ディスクの各々の曲ったセグメント３は、当該セクタの
中に含まれておりかつランク番号を付したセクタを設計
することによりアクセス可能である。ランク番号は同一
ターンの中では総ての曲ったセグメントに関して同一で
、特定の半径に沿って１つのターンから次のターンに移
行する際に１単位変化する。アドレスＣをもつターンを
走査すべく走査光スポット７を適用するには、モータ９
をアクセス制御回路１０を介して作動する。アクセスは
走査光スポット７がディスクの所定位置に載置された時
に始まり、原則的には光スポットが行き先アドレスＣに
到達した時に終了する。一般的方式では、光学ヘッドは
光スポット７が所望トラック要素の上に中心合わせされ
る前に停止し、それから光スボッ１−７の微細移動は例
えば、光ヘッド８に内蔵されたビーム偏向器に基づいて
操作される微細移動モータを介して実施される。

この場合光ヘッドの半径方向運動はアクセスの下地の段
階とも考えられ、微細アクセス装置機能が走査光スポッ
トの位置ぎめ終了のための所要時間を減少させるべくで
きるだけ正確でなければならない。

第２図を参照すると曲線１１０は、時刻０とｔ３との間
の走査光スポット７の半径方向移動りを表わず。この曲
線の時刻ｔ２とｔ３との間の部分は、光学ヘッド８の光
偏向器により実施された段階の微細移動による微細アプ
ローチを示す。時刻Ｏからｔ２にわたる曲線部分は下地
のアクセスを示す。

曲線１１０によって示される移動法則を１ｕるために、
第２は限定的曲線１２０によって光学ヘッドの半径方向
速度の変化をも図示し、更にこのモータ９により与えら
れた限定的曲線から、時刻Ｏからｔｌまでの一定加速度
γをまたｔ２からｔ３までの符号が変った加速度をも表
示している。第２図に示した移動りは、光学ヘッドの光
偏向器が作用していない場合に１ｇられた走査光スポッ
ト７の移動の絶対値を示している。

制御回路１０は加速及びブレーキのみを制御することで
正確な移動を達成し得ない。それは得られる弾道的機能
がＩ？！擦の彩管を受【プ従って疑似の変位であること
による。従ってアクセスモーフ制御装置へのフィードバ
ックを備えた光学ヘッド移動測定用装置を設けると便利
である。第１図において、これは光センサ１１，１２を
介して達成され、これらは光学式尺度１５の目盛１３．
１４を検知づる。センサ１１，１２によって発生された
電気信号は制御回路１０で処理され、光ヘッド８の移動
の幅と符号を表わす信号を発生する。この種の回路は周
知であるが、二つの大きな欠点を有する。その１つは目
盛１３と１４は増分（間隙）Ｐをもち、移動の符号を示
すためこの増分の四分の−だけずれている。ディスク上
のトラック要素は異なった増分をもち、それは尺度の増
分と【よ正確な相関を保持していない。他の欠点はディ
スクの一心が、尺度と１−ラック要素のアレイとの間に
相対的移動を生ずる魚である。

これらの欠点を軽減すべく、走査光スボッ１−とディス
ク１によって担持される連続溝との相互作用の適用が考
えられ、それは走査光スポットの半径方向移動によって
生ずる渦との交差数のカウンブングーダウン力つンテン
グによって規定しようというものである。

より正確に述べると、ディスクが回転している時は半径
方向のアクセスは軌１１６を生じ、これは基準表面２の
上の書込みと軸線３との交差である。

これらの交差は第１図においてはドツトで示された箇所
で生ずる。

光学ヘッドがディスクの上に光スポット７を集光する対
物レンズの光軸上に設けられた光電セルを用いて、基準
表面２の発光部分７からの偏光を解析する場合は、第３
図に示されるような電気信号Ｒ（ｔ）が得られる。もし
溝がトラック間でギャップよりも光学的により明るいな
らば、信号Ｒ（ｔ）の最大値は溝との交基数を示し、よ
り早いヘッド移動速度はより相互に接近した形を示すだ
ろう。

しかしながら信号Ｒ（ｔ）は、ディスクの外側縁部へ向
かうものと中心部へ向かうトラック交差とを区別するの
には不十分である。

連続溝の中に蓄積されたデータへの自動アクセス用軌首
が、トムソン−ブランド（Ｔｌｌ０Ｈ３ＯＮ−ＢｎＡＮ
ＤＴ　）の名儀で、１９７７年７月　１日付はフランス
特許出願７７２０３７３号に開示されている。

本装冒の基本的機能が第４図に示される。本図の上部分
は、４つの等間隔溝３と走査光スポット７の軌１１Ｇを
有するディスク部分の軸関係（ρ。

ｔ）を示す。これら２つの変数は相互に接線方向速度に
より関係づけられるので、ρ軸は遠心的な半径方向移動
を、またｔ軸は接線方向の又は経過時間を示す。

本Ｒ（ｔ）状態図は第３図と同じ息味を右するが、溝が
交差する点において付加的電気信号１（ｔ）が生じ、考
えを規定する点においてなお問題がある。

この目的のため光学ヘッド８は第２の光感応装置を含み
、これは隣接の２つのセルをらち、それを分離する導線
は対物レンズの光軸の上に位費される。これらのセルは
微分増幅器の補償〜争−令崎入力に接続され、増幅器は
信号１　ｆｔ）を進出する。

しきい値検出回路が、信号Ｒ（ｔ）を矩形波形Ｓ　（ｔ
）に変換し、ゼロ交差点でスイッチされる別のしきい値
検出回路が、信号Ｉ　（ｔ）から矩形正方波信号Ｓ’　
［）を導く。カウンターダウンカウンタ回路が、信号Ｓ
　（ｔ）の各遷移に対応するクロック入力パルスを受信
する。しかしその増加及び減少は補助信号Ｃ／Ｄにより
決定され、補助信号の論理状態は排他的ＯＲ論理ゲート
出力でその２つの入力信号Ｓ　（ｔ）とＳ’　（ｔ）を
受信するようなものである。カウンターダウンカウンタ
の指ｆｉＮは第４図の下に示すように変化し、これは正
確に軌道４を再生ずることが知られる。前述の特許出願
に引用した装置の他の特徴は用いられない。しかしそれ
らは特に螺旋トラックの場合に各ターンにおけるカウン
タの繰上げに関連しては適用される。

第１図に示したディスクの区画方式に戻ると、そのサン
プリング技術は、基準面２が平坦表面で光を均一に反射
するという像に基づき、対応の予書込みであるパターン
に沿って実施できる。それは次にｌ−ラックが予め書き
込まれたパターンのグループが半径６のごく近辺に存在
することにより十分具体化され、かつパターンが走査光
スポット７にだけ相互作用をすることで実現される。

アクセス制御’２１１が実？１的に半径６に限定したデ
ィスク上の予め書き込みした情報に基づくと仮定すると
、アクセス装置による軌、ｉ１６の知識ＬＪ　ｌノｌ　
Ｌが半径６と交差する点１ｑ限定されＪ：う。第１図で
それを４角で示すと、これらの交差点は軸線３との交差
点程ではないにせよしばしば現われる。また光スポット
は横切る１〜ラツク要素を何し、その要素は（？在が検
出されないまでも連続する点の間にある。データ蓄積媒
体を読取るサンプリング方式の７Ｊ！識は、溝の存在や
データを書くために予備したセグメントの認知を必要と
しない。それは従って空白でただ予め書き込まれたパタ
ーンのみをもつ未書込みディスクにとって全く便利であ
り、すべての場合サンプリングモード・アクセス制御は
、蓄積データとか下にある′＆続溝との光相互作用がな
く、また仮にあったにしても便利である。

本発明によればサンプリングモード・アクセス方法の実
施は、十分な正確度の同期が、クロック信号とＮ個の等
角間隔半径の第１フアミリとの月明的出会いに達成され
ているという前提がある。

そのような同期はその分野にいおては、ディスク１逼こ
予め出き込まれた情報の１部をなす同期化フラグ手段の
方式で達成される。

ディスクの基準面での光の集束も既知の装置で実施され
るが、それに関してはここでは省略する。

ナンブリング七−ド・アクセス制御に割当てられたザブ
ーファミリのＰ半径から得た１ｙンブルの短朋のヤＩＦ
８が与えられるとすると、走査光スポットがこのサブー
ファミリの半径とどこで出会うとしても、この性格は光
感応電気信号にとっては重要である。

実際的にはこの条件は、サンプリングモード・アクセス
に割当てられた特定パターンが、予め規定された値の感
知信号を発生するために走査光スポットと相互作用する
ことを意味し、換言すれば走査光スポットが基準面の完
全平坦部分に当った際に１９られるものとは異なる。パ
ターンが走査光スポットにり大ぎい場合は縁端での相互
作用でだけこの相違が生ずることは明らかであり、ただ
しき光の波面の変更以外の原因である場合は上記のよう
ではない。パターン間の異常に大ぎいスペースは、走査
光スポットの瞬間位置に対して規定されない値を生ずる
。

サンプリングモード・アクレスの場合は、ディスクの基
準面に軸線３に関係した半径方向目盛手段を設ける必要
があり、そのような目盛手段の要素は連続してサンプリ
ングした半径のグループを占有する。連続溝を用いる解
決法は、単一でかつ極めて基本的な目盛の法則を適用で
きるので、これは本発明の１つの利点である。

口（８の名え方に対しては、２つの渫へレベルが適応で
きる。Ｊ：り基本的な方のレベルはγイスクの１つの半
径に沿って周期的スケールを再生することからなり、非
常に近接した半径に沿って周期的スケールは同様の一般
性をｂつが、この二重スケールに沿った移動方向の指示
を与えるべく直角べｔ相の中に片寄りを設ける。もし第
２のスケールが、感知されるべき光を微分的に解明する
光感用装置の選択は次の事尖、即らもし軌道がこれら半
径とに因る。

卑へのｂう１つのより複雑なレベルは、半径に沿う各々
の位置に絶対値を割当てる非周期スケールを設けるもの
である。この場合はスケールはコード化されたアドレス
ひ表示され、スケールはよ存し得、ｉ！１２に説明され
るであろう。

第５図は第１図のディスクの基準面２の１部の等１’！
観寮図で、軸線ｘ、ｙ、ρの系が関与している。半径ρ
とＸ軸は基準面を規定し、またｙ軸はディスクの回転軸
４と平行である。データ領域１７が、複数の隣接１〜ラ
ツク要素の軸線３で中心付けられた点線輪郭で表示され
る。これらデータ領ｌ或１１は半径ρから走査方向Ｘへ
と延伸し、その前にはザンブリング半径ρａとρｂ上に
２つの整列を形成する予め書き込まれたパターン１８が
ある。半径ρａ上に中心をもつパターン１８の半径方向
配列は、走査光スポット７との相互反応により平面（ｙ
、ρ）上に描かれた会弦曲線で示される電気読出し信号
を発生する。同様のただし、半径ρｂの配列は、走査光
スポット７と相互作用し、平面（ρ×）上に描かれた正
弦曲線で丞される電気読出し信号を発生する。二つの円
関数１９，２０はベクｌ−ルの成分を示し、それの（ｘ
、ｙ）面への投影がＯＭである。このベクトルは走査光
スポットの半径ρに沿う進行を完全に示しており、その
端部は螺旋２１を形成し、その線はねじの回転から得ら
れるものに相当する傾斜スケールを描く。光スポットの
移動をベクトルＯＭの回転へ転写している場合のパター
ン１８ににり与えられるこの描像は、０〜３６０°間で
規定されるベクトルＯＭの角ψが分っても位置工の絶対
的指標を提用するものではなく、ψはただ１つの切断部
分に過ぎない。信号が進行の連続性を追跡するに十分な
ほど相互に接近した間隙でサンプル化されるならば、第
５図のパターンはトラックの信頼できるカウンテングー
ダウンカウンテングを提供する。第５図に示された配置
の利点は、それが］・ラック要素に沿って殆んどスペー
スを占めない点で、トラック交差に関連する情報を￥す
るべく二つの反復のサンプリングに作用するのに十分だ
からである。この解決法の欠点は不確実な分解能過程の
体用であって、それは二つの連続したサンプリングの間
で半径方向の移行が、蚤の変化が表示するベクトルＯＭ
の１つの回転よりも多く対応するかもしれぬことである
。

第５図に示された解決法の特定の利点は、パターン１８
が１ナンブリングモード・アクセスを達成するのに用い
られ、かつトラック要素の次のものを入手する点である
。第５図に示づ゛ように半径ρａに中心をしめるパター
ン１８は軸線３に対して正の片寄りをもち、一方半径ρ
ｂに中心をしめるパターン１８は同一幅に対し負の片寄
りを右する。この配列において片寄りがトラック′２！
素の増分Ｐの８分の１であるとすると、半径ρａ１ρｂ
に沿って得られるリンプルは正確に走査光スポット７の
中心と被走査１〜ラツク要素の軸線３との間隔を決定ず
べく必要なサンプルと同じものになる。

（以ド余白） このようなパターン１８の二重使用に適した子書込みパ
ターンの一形態例を第６図に示す。

この図には２つのトラックエレメントの軸線３りの追跡
とカウンティング−ダウンカウンティングによるアクセ
スとを達成するために使用されるパターンの両側に存在
する境界線２４の間に斜線部分で示されている。

ここでらパターン１８は第５図と同様に、転写単位とし
て選択された長さしの１．５倍に等しい走査方向測定長
さを有する。中央のパターン２３はパターン１８と同じ
長さを有し、末端パターン２２と協働してトラック走査
速度を同期する。そのためにはパターン２２及び２３の
走査を特徴付ける遷移が読み取り信号に含まれ得る他の
総ての遷移に対して識別され得るように２つの特定距離
２．５Ｌ及び６．５Ｌを選択する。半径ρａ及びｐｂ上
でのサンプリングは、アクセス段階とその次の段階、即
ち光スポットがアクセスの行なわれたトラックエレメン
トに従って再び移動しなければならない段階で、パター
ン２２及び２３の適切な走査に依存して同期するクロッ
ク信号によって制御される。

第７図はサンプリングモードアクセス走査装置をブロッ
ク図で示している。光スポット７でディスクｌを走査し
た時に発生する電気信号Ｓは光学ヘッド３０を介して識
別回路２８に送られ、この回路；よパターン２２及び２
３の構成を識別してクロック２９の同期信号を送出する
。信号Ｓはまたサンプリング回路２５にも送られる。こ
の回路はクロック２９によって制御され、データ領域１
７に書き込まれたデータＤと走査中のトラックエレメン
トの特定アドレスＡとを他から分離する。

信号Ｓは更に、半径ρａ及びρｂとの合致に対応するサ
ンプルａ及びｂを取得すべく、やはりクロック２９によ
って制御される別のサンプリング回路２６にも送られる
。これらのサンプルはアクセスを制御する計算回路３２
の入力ではディジタル形態で存在し、公知のようにトラ
ックエレメント３からの走査光スポット７の径方向距離
を測定するメモリ付き比較回路３１の入力ではアナログ
形態で存在する。光学ヘッド３０には走査光スポットを
偏向させる装置２７が組み込まれており、この装置は第
２図のごときトラックスキッピングによるアクセスを終
了させるのに使用される。トラックスキッピングは計算
回路３２に与えられたセットポイント値Ｃへの最終的ア
プローチに必要なトラックスキッピング命令を回路３２
から受容する制御回路３３によって制御される。走査光
スポットがセットポイントＣにより指定されたトラック
エレメントを読みに来ると、前記計算回路はアクセスの
完了を指示する信号ＳＴを送出する。アクセス期間以外
の時点では、回路３１によって発生する径方向距離信号
が２つのスイッチに１及びに２を介して偏向装置２７に
移送され、その結果読み取り光スポット７が所定トラッ
クを追跡することになる。スイッチに２は回路３３の制
御下でトラックスキッピングが行なわれる海に一時的に
開放される（その結果、点線で示した接続線３６がこれ
ら２つの回路を接続する）。大まかなアクセスの段階で
はスイッチに１によって偏向装置２７が制御ライン０に
接続され、その結果中立位置にロックされる。第７図で
はこの中立状態を点線の接続線３７で示した。大まかな
アクセス段階は計算回路３２によって制御される。この
回路はディジタル化されたサンプルａ及びｂを受容し、
出発地アドレスＡと到着地セットポイントＣとに基づい
て、アクセスモータ３４に与えられるべき制御信号を規
定する。前記モータは鎖線３５で示されている結線によ
って光学ヘッドを移動させ、出発点を到着点から分離す
るトラックエレメントを横断させる。−例として、ピッ
チ１．６μｍ１巻き数３０，０００の螺旋トラックを有
し且つ１，２００回転回転受回転する直径３００ｍｍの
ディスクは５０ｋｌｌｚの周波数でサンプリングされる
。これはディスク１回転当戸こり２．５００対のパター
ン１８に相当する。従って予書込みパターンを第６図の
ごとく構成し且つＬの平均値を１ミクロンに等しい長さ
とすれば、子書込み情報によって取られる一回転につい
ての量は２３．７５ｎ＋ｍを超えることはない。この値
はＩ巻きの長さに比べればわずかである。

以上本発明の第１具体例の概要を説明してきたが、ここ
で計算回路３２によるサンプルａ及びｂの処理法をより
詳細に説明する必要がある。

第５図は、通常アクセス時には可動部材の絶対位置を時
間の関数として表す関数Φ（ｔ）が存在することを示し
ている。この関数は限定された数の子書込みパターンか
ら比較的正確に総合され、第２図のごとき機械的法則に
従う変化を表す。

第８図のグラフに示したように、実線曲線で表されてい
る法則Φ（１）は時点ｔ２、Ｌ１及ｏ＠ｔｏでサンプリ
ングされ、期間τは時間単位として問題なく選択される
。この法則はベクトルＯＭの回転が読み取りヘッドの径
方向移動に対応する第５図の具体例を使用した場合に角
度の測定に使用される。サンプリング時点ｔ２及びｔｌ
でのベクトル回転の絶対値をΦ２及びΦ１とし、これら
の値がアクセスの初期条件に基づいて反復ディジタル処
理により得られるとすれば、これら時点間での移動速度
ＶはΦ１とΦ２との差によって簡単に示されること−に
なる。

最終サンプリング時点１＝１０ではφ０　＝　ＭＯＤ　
［Φ０゜２π：としてΦ０を求めなければならない。記
号ＭＯＤはΦＯを２πで割り算した時の残りφ０を与え
ろモジュロ関数（ｍｏｄｕｌｏ　「ｕｎｃｔｉｏｎ）を
表す。第８図から明らかなように直線外挿法が有効であ
れば、従って可動部材が加速νを受けなければ、時点ｔ
ｏでの速度はやはりＶであるが、前記加速が正確にはシ
ーΔＶで示されることから、時点ｔｏでの値は実際には
Φ０てあって直線外挿された値Ｘではない。

従って下記の方程式が成り立つ。

■＝Φ１−Φ２；ｘ＝Φｌ＋Ｖ：　Δｖ＝ΦＯ−Ｘこの
式から、Φ０＝Ｘ＋ΔＶが導かれる。

ｍ（ｕ）＝ＭＯＤ［ｕ−＋π、　２πニーｒｒとし、且
つ一πくΔＶ〈＋πという条件を課せば、ΔＶ＝ｍ（ｕ
）（φ０−ｘ）となり、これからΦＯ＝　Ｘ＋　ｍ（ｕ
）（φ０−ｘ）が導かれる。

この方程式は前述の想定のもと、即ちテストのバリデー
ションを行ない且つ実際に生じる加速を考慮した場合に
は、Φ０をサンプルφ０と値Ｘを与える直線外挿法とで
簡単に更新できることを示している。

前述の数学的考察から明らかなように、周期関数の総合
に基づいてサンプリングモードアクセスを行なえば可動
部材の絶対位置が得られ、２πでの割り算による残りの
反復処理によってモジュロ関数の不明確性が解消される
。

本発明は、純粋に周期的であって規則的サンブリングに
係わる径方向機能の使用には限定されないが、この種の
機能を第４図の具体例にできるだけ類似させ゛て第９図
に示しｆこ。

第５図に堰づき、第６図のパターン１８は寸法と径方向
間隔とを適切に選択すればパターンの径方向幅とパター
ン相互間の間隔とに適合する直径を持つ読み取り光スポ
ットによって半径ρａ及びρｂ上で走査される時に円関
数を発生させるものと想定した。この種の変化は実際に
は数パーセントの正確さで容易に得られる。データタン
ジェント関数に基づく三角法計算からは非対称的鋸歯タ
イプのサンプル化法則が得られる。

第９図は軸系（ρ、１）の表面Σの一部分を示している
。この部分は半径ρｌ、ρ２及びρ３に係わり、これら
の半径上で鋸歯関数Ｆ（ρ）のサンプリングが行なわれ
、この関数の正の値φ１．φ２．φ３がサンプルとなる
。

軌道ＴＩは低速アクセスを示す。この軌道上を右方に移
動４−る時には、最後に得たサンプルφ２をその前のサ
ンプルφｌから差し引くことによって走査速度Ｖ１２が
得られる。第９図ではこの引き算はベクトルφ１の作用
線上でのベクトルφ２の水平方向並進移動によって示さ
れている。この軌道がいずれのトラック軸とら交差しな
ければ、力作式Ｖｉｊ−φｊ−φｉを適用するだけで十
分である。前記軌道上を逆方向に移動する場合は、最後
のサンプルがφ１であり、速度Ｖ２１が方程式■ｊ１−
φｉ−φｊによって得られる。この式は負の結果を示し
、従って移動か左方向に行なわれろことを示す。サンプ
ルの時間的配列を遵守すればこれらの方程式は等価にな
り、関数Ｆ（ρ）か軸系ρ。

Ｆ（ρ）の単一傾斜直線であればトラックと交差する場
合にも使用できる。関数Ｆ（ρ）の周期性は速度計算を
より困難にする。

これを明らかにすべく、第９図に別の軌道Ｔ２をも示し
た。この軌道を左から右に描くとトラックとの交差が２
回生じ、次いで１回生じる。

この場合も３つのサンプル化値φ１．φ２及びφ３を煮
察するが、これらの値は今度は関ＩＰ（ρ）の同一の鋸
歯上には位置しない。速度Ｖ１２及びＶ２１の正確な測
定はφｌを含む傾斜の点線部分ＡＢに基づく。サンプル
φ２に代えてＢＣの測定値に該当する値を使用すれば、
水平線ＢＤと斜線ＣＥとを引くことによって速度Ｖ１２
及びＶ２１を図形的に構成することができる。問題はφ
２が与えられているとしてＢＣを求めろことにある。関
数Ｆ（ρ）の変化範囲が（０゜２π）であればＢＣはφ
２を２にπだけ増加したものに等しい。ｋ−＋２はサン
プリングφ１とサンブリンクφ２との間にトラックとの
交差が２度存在することを意味する。

第９図から、サンプルφ２及びφ３からの速度Ｖ２３及
びＶ３２の計算には別の値ｋが１つ必要とされることが
わかる。これは、これら２つのサンプリングの間ではト
ラックとの交差が１度しか存在しないためである。

サンプルモードアクセスは定義上２つのサンプリングの
間に生じる事件は無視するため、適切な基準に従ってパ
リデートされた整数値−ｎ１１９、−２−１．Ｏｌｌ、
２．、、＋ｎによってトラックとの交差回数を代数的に
表すような変数ｋを総合する必要がある。変数にの符号
はトラック交差数計数変数Ｎが動作Ｎ＝Ｎ＋ｋによって
新しいサンプルが得られる毎に更新され得るように、交
差の方向を表す。

変数にのバリデーションの基準はディスク上で軌道を描
く速度を変化させる能力に関連する。この能力は実際に
はアクセスモータが光学ヘッドに伝達し得る加速によっ
て制限される。ディスクの回転を特徴付ける偏心は軌道
の揺れを生起させるが、これは軌道を描く時には無視さ
れた二次的効果にすぎない。

第９図では軌道Ｔ２が持続時間τの径方向前進ＧＣを示
す折れ線で示されている。このＧＣはその前又は後の同
一持続時間の径方向前進Ｃ１ｌとは異なる。

光学ヘッドが左から右へ移動する場合はヘッドが減速シ
ー１１Ｊを受けたと言える。Ｊは減速が生じなかった場
合の半径ρ３上の到達位置である。

非限定的具体例として、軌道Ｔ２が右から左へ描かれ、
変数にのバリデーションの基準が値φ３及びφ２と値φ
１及びφ２とを順次使用して行なった速度推算の比較に
基づくものと仮定する。第９図は速度Ｖ３２の計算がφ
３及びφ２が既知であること、並びに先にパリデートさ
れた値ｋ　−−１に基づくことを示している。この計算
を速度Ｖ２１の計算に関連付けるべく、ベクトルＶ２１
を有する垂直線上に先に計算した値Ｖ３２を表す長さく
Ｊ、即ちφ２−φ３−２πを配置した。

点にの周りには端子り及びＭとの間の間隔を、ＧＬ−４
３２−１π及びＧＭ＝Ｖ３２−πのように符号で示した
。πは鋸歯Ｆ（ρ）の１７２の高さを表す。変数ｋに値
−２を与えて計算した速度ベクトルＶ２１の先端Ｅは間
隔り、〜１内に存在する。これはそのバリデーションテ
ストを構成する。これに対し、φ２及びφ１と別の変数
にの選択とから得られるＶ２１の値は間隔１、Ｍの外に
おかれろ。第９図では＋２πだけオフセットした図形構
成によって得られる点Ｒ及びＳが夫々値に＝−１及びに
＝−３を用いて行なった速度計算の特徴をなす。従って
テストの非実行はＶ３２の計算からＶ２１の計算に移る
時に変数ｋを変えなければならないことを意味する。変
数にの変化の大きさ及び方向は軌道と移動方向とに依存
するが、先にパリデートした値から出発すればテストが
パリデートされるまでこの変数を一単位ずつ繰り返し増
分することができる。間隔±πを選択すればｋの単一の
値のみがパリデートされ得る。従ってｋの正しい決定は
、速度が穏健に変化するという想定に基づくことになる
。これを第９図に点線の軌道Ｔ２変化部分と、点Ｅに対
する間隔ＬＭの再調心を表す図形構成とで示した。この
図から明らかなようにＷＥは加速であり、テストによっ
てパリデートされた値ｋが現実に対応するためにはこの
加速か値πを越えてはならない。

以上の説明から明らかなように、変数にの決定法は第１
０図のフローチャートによって表すことができる。ここ
で使用する変数は下記の通りである。

−トラックと交差数カウンタの指示数値Ｎ１−速度Ｖ、 一交差量：ｋ。

一速度の差Δ■、 一人力値ａ　ｉ、ｂ　ｉ。

一角度φ、 一先行サンプリングに対応する角度φ−工。

このフローチャートは、セットポイントＣによって定め
られたトラックエレメント３に読み取り光スポット７を
合致させるための１つ以上のモータを操作することによ
ってセットポイントＣからのアクセスを制御するのに使
用される一般的な且つ従来のフローチャートに組み込む
ためのモジュールである。前述の諸変数を第１０図の下
方に示した。

このフローチャートは規則的間隔τで得られるディジタ
ル化サンプルａｔ及びｂｉの導入操作を含む。

これらの値は対応表又は三角法計算によって変敗φを更
新するのに使用される変数ａ及びｂに与えられる。変数
φ−１及びφと、先の計算でパリデートされた変数にと
は第１テスト−π〈ΔＶ〈＋πを行なうための速度Ｖの
変化ΔＶを計算するのに使用される。バリデーションの
場合にはこの第１テストによって変数Ｖ、Ｎ及びφ−１
の更新が開始される。更新が完了すると全体的アクセス
フローチャートに戻る。テストがパリデートされなけれ
ば、それは変数ｋを一単位増加又は減少しなければなら
ないことを意味する。その選択は第１テストがパリデー
トされるまで繰り返し機能し得る２つのループにつなが
る第２テスト Δｖ〉０によって決定される。勿論、このフローチャー
トは読み取りエラーに対する事前防備として、より多数
のサンプルを考慮するように調整することらできる。

前記テストは固定境界線」π及び−πを特徴とするが、
これらの境界線はアクセス時に生じる加速に応じて移動
させるようにすることらできる。速度Ｖの更新はＩＥｆ
竜的である。ただしこれを知ることは、径方向制御の安
定性及び円のひずみの測定に関して育用である。

このフローチャートは初期化動作は含まない。

なぜならこれらの動作は主フローチャートによって制御
されるからである。これらの初期化動作はアクセス開始
時に変数Ｖ及びｋにゼロ値を与えることからなる。変数
Ｎにはトラック追跡ループの開放時に出発位置を規定す
る値ＮＯを与え得る。

ここまでの説明において、ディスクの半径に沿ってサン
プル化された目盛はそれぞれ正弦曲線的及び余弦曲線的
なものとされている。

この場合、関数Ｆ（ρ）の値はサンプル対（ａ　ｉ　。

ｂｉ）から、演算φ−ａｒ−ｃ　　ｔａｎ　　ｂ／ａに
よって演鐸される。言うまてもなく、走査光スポットの
半径方向位置に割り当てられたパターンの半径方向配置
は、例えば表によって規定される適当な対応規則が値の
決定のために適用される場合鋸歯形関数Ｆ（ρ）の取得
を妨げない円関数とは異なる周期的法則を発生し得る。

附設形の周期関数Ｆ（ρ）の使用も本発明の範囲内であ
る。第１１図は、附設形関数の具現に基づくカウントア
ップーカウンＩ〜ダウンの一プロセスを非限定的な具体
例によって示す。

この図は第１０図に関連し、ディスクΣの、３本の半径
ρ１、ρ２及びρ３の部分を示している。

３本の半径ρ１、ρ２及びρ３に沿ｔて、予書込みパタ
ーンが配置されている。

等間需に位置する複数個のトラックエレメントの組を、
半径ρ１、ρ２及びρ３に対する垂直線で示す。Ｉ・ラ
ックエレメントは１６個ずつパケッｌ−にまとめられ、
第１１図ではより明瞭となるように、上記１６個のエレ
メントのうち両端の４個のニレメンＩ・を実線で、また
中央のエレメントを点線で示す。即ち、ステップＰのパ
ゲッ１〜は４個のエレメントの組四つから成ることが知
見され、これらのエレメントの組は半径ρ１、ρ２及び
ρ３のいずれかの側に伸長するパターンの組み合わせに
よって互いに区別され得る。用いられるパターンは例え
ばトラックエレメントに中心を合わせて各半径ρ１、ρ
２及びρ３沿いに配置され、その際例えば左から４藺の
上側パターンが４個のエレメントの第一の組を示し、続
いてパターンの全くの不在が４個のエレメントの第二の
組を示し、更に次の４個の下側パターンが４個のエレメ
ントの第三の組を示し、最後に４個の上側パターン及び
４個の下側パターンが４ｆ［！］のニレメンＩ・の第四
の組を符号化する。パターン列は、対応する読み取り信
号のレベルが平滑な領域の走査において得られるレベル
より低くなるような寸法を有しなければならない。

平滑な領域の走査において得られるレベルを閾値回路を
用いて隔離することによって、パターンの最上列の半径
ρ１に沿った走査は図示した波形ｂ（ρ）を生成し、一
方パターンの最下列の走査は波形ａ（ρ）を生成する。

波形Ｆ（ρ）は、下表によるような波形ａ（ρ）及びｂ
（ρ）から推論される場合第１１図に示した形態を取る
。

去− ａ　　　　ｂ　　　　ｃ １　　　０　　２７０’ １　　　１　　　１８０’ ０　　　１　　　９０’ ０　　　　　０　　　　　０″′ Ｆの値は、４個のトラックの組の通過に関し度数で表さ
れた１／４回転の概念を表すべく選択される。

第１１図は右から左へ走査する軌道Ｔを示し、この軌道
Ｔはサンプル化時点ｔ３、ｔ２及びｔｌにおいて半径ρ
３、ρ２及びρ１と連続的に遭遇する。こうして、トラ
ックエしメントのパゲッＩ・を横切る速度に値Ｖ３２を
割り当てるのに用いられるサンプルφ３及びφ２がｔｌ
られる。

測定方法は先に述べたものと実質的に異ならず、特にパ
クットの境界（縦の一点鎖ｔａ＞が時点ｔ３及びｔ２間
で横切られていることが適当に勘案され、このことは、
この場合には＋１である変数にの値と関連する。上記を
、階段形量数の点線で示した延長部によって図示する。

サンプルφ２及びφ１を用いて速度Ｖ２１の新たな測定
が値に＝ｏに対応して実施され、上記値には時点ｔ２及
びｔｌ間での走査が境界を一切横切らずに、完全にパゲ
ット内部で行なわれたことを示している。

第１１図に示さなかったが、パターンはトラックニレメ
ン１〜の方向において読み取り光スポットの寸法より大
きい長さを有し得る。

この種の構成が用いられる場合、パターンをその周囲か
ら識別するのが幾分困難となる恐れがある。

ここで、パターンのサンプル化には通常、読み取り光ス
ポットによるパターンの走査を表す信号部分より広いか
あるいは狭いサンプリング窓が用いられることも特に指
摘されるべきである。上記窓が狭い場合、サンプリング
されたレベルはパターンを有しない領域の走査を表すレ
ベルから区別されるものとする。

他方、窓がパターンに比較して広い場合は、サンプル化
された信号は１対の遷移的レベル変化を含み、これらの
変化は光スポットがパターンの前縁及び後縁に遭遇した
ことを印付ける。サンプリング窓内で上記二つの変化が
確認されれば、窓の中程で転送されるレベルがディスク
の空白の領域を表すレベルに等しいままであったとして
も、パターンの存在が結論付けられ得る。連続する２個
のパターンの存在を認識するには、両パターンの相互作
用を完全に捕捉するべく偏心し合った２個のサンプリン
グ窓を設置しなければならない。２個のパターンが十分
な間隔を有せずに連続する場合は外側の縁部のみが認識
され、通常パターンに関連するレベル変化は同じ窓の中
に同時に存在せず、その結果型なり合った２個のパター
ンが存在すると結論１寸けられ得る。従って、半径方向
目盛を創出するために、生起し得る四つの事例を区別す
ることが可能である。

上述の諸具体例では二つのパターン列が用いられ、これ
らのパターン列には走査光スポット７が、目盛を規定す
る二つの周期的な、互いに対して直角位相を取る半径方
向法則を得るべく連続的に当てられる。

上記法則はサンプル化によって得らｆしるので、アクセ
スを絶対的に規定するのに回帰的方法を用いることが必
要となる。アクセス手続きの間のディジタル変数更新は
、トラック交差をカランＩ・する演算に対応する。

各半径に関して設定されるべき法則の数を減少すること
によって上記のような関数化を免れ得、即ち例えば唯一
つの法則を、１個の中心セルを有する光センサシステム
並びに２個のハーフセルを有する光センサシステムを光
ヘツド内に用いて読み取る。この場合、唯一つの周期的
法則を創出するパターンは互いに対して直角位相を取る
２個の信号を発生し、また該パターンはトラックの軸線
３に中心を合わせられ得る。

トラック走査方向における占有スペースを最小化するた
めに、１本の１〜ラツク軸線から次の軸線まで多くの異
なる値を取り得るサンプルをもたらすパターンの幅並び
にパターン同士の間隔が半径方向目盛に用いられ得るこ
とが既に示さｉ″Ｌでいる。

パターンの形状が不規則である場合はサンプリング処理
用のアルゴリズムを用いるのが好ましく、このアルゴリ
ズムは連続する３個あるいは４個のサンプルに適用され
、それによって基準から外れたいかなる異常値にも外挿
法が適用され得る。

第１１図は、時間を掛けすぎずにパケットレベルでカウ
ントアツプ−カウントダウンに よって、階段形周期関数のレベルの符号化に二エレメン
トの法則が用いられ得ることを示す。この方法はパター
ン中の欠陥によって損なわれにくく、かつパターン列を
トラック走査方向においてより広いかあるいは狭い半径
方向ベルトで置き換えることを可能にしさえする。

より大きいスペースが用いられ、従って個々の半径に関
してより多数のサンプルが取得されることによって目盛
はより綱かくされ得、最終的な分析によれば、サンプル
１ヒのためのアクセス法は７飛ぶような（ｏｎ　ｔｂｅ
　ｒ　ｌｙ）　”絶対アドレス読み取りの概念を用いる
ことにより簡略化される。

第１２図は、階段形の目盛関数Ｆ（ρ）を示す．実線４
０は細かい目盛を規定し、−力点線４１の方は分解能が
上記目盛の１７４でしかない別の目盛を規定する。細か
い目盛４０がよりＩＩＩい方の目盛の各ステップに三つ
のレベルを加え、上記狙い方の目盛は３個のステップを
周期とする、第１１図の目盛にあらゆる点で類似の微分
目盛をもたらす。線４０及び４１が、ディスク上での絶
対的な半径方向位置ρの読み取りを可能にする、規則的
に増大する関数を表すことに留意されたい。

第１２図の下方部分は、ディスク１の基準表面２の一部
を示す。複数本のｍ線はトラック間軸線を表す．サンプ
ル化半径ρ１及びρ２は互いに対して平行に離隔して位
置し、その際１サンプリング周期τは半径ρ１とρ２と
の間隔に対応する。

ディスク上での半径方向目盛を実現するために、半径ρ
１及びρ２周囲にまとまって等間隔に位置する複数本の
半径に分配して予め書き込まれた２個のパターン４２が
用いられる．第１２図では、上記のような半径のうちの
５本が半径ρ１及びρ２に平行なパターン４２の線によ
って規定されている。

パターン４２は上記線上に、第１２図中央部分に示した
特定コードに従って配置される。コードは各列に、Ｉ・
ラックに関連する５ビツトのアドレスを含む。このアド
レスは第１２図下方部分に、パターン４２の不在が二進
値”　ｏ　”を表し、パターン４２の存在が二進値”　
１　”を表すことによって具現されている．各５ピツ１
ーアドレスの全体は、階段形量数４０の値を示す．点線
で示した長方形４３は、１智段形関数４１の値を規定す
るより大きい桁の３個のビットから成るアドレス部分を
囲んでいる．より小さい桁の２個のビットは、関数４１
を関数４０に変換するのに用いられる周期関数の値を表
すアドレス部分を構成する。

第１２図に示したような符号化は特定的に選択され、そ
の結果コードの連続する２列に含まれるアドレスは、１
ビツトを反転させるだけで互いに相違する。より正確に
言えば、最上行にモジュール“０１″を左から右へ繰り
返して、かつ繰り返す度に反転させて書き込むことによ
って構成され得る鏡面対称型二進コードが得られる。上
から二番目の行にはモジュール゛’００１１”について
上記と同じ手続きを用い、以下同様に実施する，Ｆ（ρ
ンの値を、それぞれａ。、ａｌｌ　−　、、・・・・・
・、ａｊ、・・・・・・、ａ２、ａｌ、ａｏと表される
ｎ＋１ビットのアドレスから決定するのに、次の方程式
が用いられる。

第１３図に、５ビツトのアドレスに関する上記方程式を
示す。各二進加算器４４はアドレス４６に含まれたビッ
ト値を受は取り、より大きい桁のビット値の和に加算す
る。各加算器４４の出力に現れる結果は図示した重みに
割り当てられて、回路４５によって互いに加算され、回
路４５はＦ（ρ）の適当な値を発生する。

第１２図に示した方法の一利点は、１個のトラックエレ
メントから次のトラックニレメン１−への移行によって
アドレス全体のうちの１ビツトしが変更されないことで
ある。第１２図に示した軌道Ｔに関し、走査光スポット
７はサンプル化半径ρ１に、該半径ρ１が２個のトラッ
クエレメント１７にまたがる地点で遭遇することが知見
される。この走査段階で読み収られるアドレスをＦ（ρ
）における長方形４６、即ちρダイアダラムによって示
すが、より小さい桁のビットは安定的な方法では読み取
られ得す、なぜなら軌道における僅かな変移も上記ビッ
トの１個が別様に読み取られる事態を惹起するのに十分
だからである。このサンプル１ヒは長方形４７あるいは
長方形４日も良好に示し得るが、長方形４７あるいは４
８のＦ〈ρ）の値への影うは（’Ａがてしかない。より
小さい桁のビットか則かい目盛を周期的にもたらすこと
は既に知見され、これに関してサンプルの処理がアクセ
スに関する絶対的な指示のＷｔ？％を可能にすることが
判明している。また第１２図からは、より大きい桁のビ
ットを含むアドレス部分が軌道の何かな移動に対しては
安定であることも知見される。上記アドレス部分から絶
対的な変位の概念がおおよそ得られ、なぜならこのアド
レス部分は階段形の単調な関数を表すからである。軌道
Ｔのサンプル化半径ρ２との３ｆｆ遇のし方について考
慮しても、同様の結論に達する。

ここまでの工明は、各１へラックニレメンＩ・に鏡面対
称型二進コードのアドレスを割り当てることによって、
前記アドレスのより小さい桁のビットが重視されればさ
れるほどより相かいステップの絶対目盛が得られること
を示している。即ち、同じアドレスを用いた場合、より
大きい桁のビットが重視されるにつれ増大する周期全体
にわたってより細かい周期的目盛が得られる。これら二
つの方法は、アクセス特性の変化のし方に応じ任意の比
率で組み合わせられ得る。トラックエレメントの絶対的
なアドレス指定を規定する予２込みパターンの使用は、
ディスク上でより多くのスペースを必要とする。

第一の選択はディスクの完全な１回転に関し限られた数
のサンプル化半径を設定することであり、前記半径は各
々１回転につき２５０回サンプル１ヒされる１５ビット
の完全なアドレスを含む。このアドレスは、アクセス速
度が緩やかである時、即ちアクセスの開始時及び終了時
に全体が読み取られ得る。アクセスの際にアドレスが部
分的に読み取られることによって、アクセスモーフのた
めの関数化条件が決定され得る。

第二の選択はトラックエレメントに完全なアドレスの一
部を該アドレスのその他の部分より狭い間隔で配置する
ことで、この場合少なくとも２種のサンプリングレート
を用いることが必要となる。

例えば、より小さい桁のビットによって構成されたアド
レス部分をより狭い間隔で配置することが、アクセスが
継続される間中適用可能な周期的目盛関数を得るために
選択され得る。より大きい桁のビットによって構成され
たアドレス部分はより広い間隔で配置され、その結果ア
クセスはアドレス全体の確認によって終了され得る。

完全なアドレスのより大きい桁のピッ１％　’３安定的
に、かつ頻繁に読み取ることによってアクセスの制御を
達成することが問題である場合、別の方法も実施され得
、その際横断速度が漸減する結果として最終的な読み収
りはほぼ完全となる。

最終的な分析によれば、互いに対して直角位相を取る周
期関数に基づく目盛と、鏡面対称型二進コートの絶対的
アドレスの存在に基づく目盛との間に根本的な相違は無
い。

（以下余白） 前記の記載において半径方向目盛の合成がアクセス用特
定パターンの半径方向寸法に依存しトラックエレメント
に沿ったパターンの長さは特に重要でないことが理解さ
れよう。絶対アドレスはピットセルシーケンスに内包さ
れてもよく、その内容は該ビットセルを読取り光スポッ
トで走査することによって多少とも完全に検出される。

サンプリング技術の少なからず重要な１つの利点は、ト
ラックエレメントに沿ったパターンの長さから種々のパ
ターンを識別し得ることである。

従って半径方向目盛はこのパラメータに基づいてもよい
。但し、連続溝ディスクの場合を除く。この技術は既に
非整数距離２．５Ｌ及び６．５Ｌが定義された第６図に
示すような同期パターンの形成に適用されている。

アクセスパターンの持続時間のコード化システムの採用
も本発明の範囲内に包含される。

第１４図はρ、Ｌ軸系を示す。ｔは経過時間であり、ト
ラック軸線３に沿った移動距離として示される。

この軸系で、隣接トラックエレメントは予書込みパター
ン１８を含む領域に図示される。左縁の線ＦＣはパター
ン１８の前縁の包路線を形成し、右縁の別の線ＦＤはパ
ターン１８の後縁包絡線を形成する。半径ρは読取り光
スポット７によるパターン走査のための時間基準を示す
。線ＦＧ及びＦＤは半径方向目盛を設定すべく機能する
関数を示すと考えてよい。

線ＦＧが半径なので間隔ＴＧはトラックエレメント毎に
変化しない。他方、線ＦＤはディスク半径に対して一定
の角度を成すので間隔ＴＤは直線状に変化する。

走査光スポット７が軌道Ｔを追跡するときに、光学相互
作用によって曲線５０で示される光感知信号５（ｔ）が
発生する。該曲線はパターン１８の検出に対応する凹状
領域をもつ。

この領域外の信号５（ｔ）のレベルは、走査光スポット
がディスク１の基準表面２の平滑部を照明するので最大
である。凹部５０の底部はこのレベルより十分に低く線
５１で示す検出閾値上り低い。従って、信号５（ｔ）が
閾値５１より低くなる時点ｔＧと閾値上り高くなる時点
ｔＤとを検出することか可能である。

半径ρで定義される基準時点でカウンタをトリガすると
、カウンタの経時的表示Ｃを示す階段法則５２が得られ
る。従って時点ＴＧ及びＴＤでのカウンタ表示を記録す
ることが可能である。換言すれば光スポット７と線ＦＣ
及びＦＤの交差に対応するサンプルＣＧ及びＣＤを得る
ことが可能である。アクセス用の目盛を設定せしめる関
数を発生するようにパターン１８の位置及び長さを調整
し得る。

サンプリング精度は、カウンタの分解能とパターン１８
の検出に関する軽度の変動（４１ｕｃｔｕａｔ４ｏｎ）
とに左右される。

この変動は第１５図に示される。第１５図は軸ｐＸ系で
信号Ｓ（【）の減衰が開始又は終了するときの走査光ス
ポット７の位置を示す。線５３は光スポット７の中心の
幾何学的軌跡であり、半径方向に分離されたパターン１
８の場合、線５３は軽度の変動を生じ、時間ｔＧとｔＤ
との測定がある程度不正確になる。パターン１８が第１
５図の右側部分に示すように１つのパターンとして結合
すると線５３の変動は生じない。

後者の場合、第１４図の信号５（ｔ）は点線曲線５５で
示す２つの凹部を含む。これら遷移を検出することによ
って時点ｔＧ及びｔＤが正確に測定できる。曲線５５の
平坦域の縁端は第１５図の線５４に対応し、線５４はパ
ターン１８の縁端５６に関する線５３の像である。

キなと サンプルＣＧ及びＣＤの採取に関しては、第７図の幾つ
かの素子を含む第１６図を参照するとよい。光、学ヘッ
ド３０は回路２８に読取信号５（ｔ）を送出する。

回路２８は同期パターンを識別しクロック２９を同期す
る。

クロック２９は第１４図のアクセスパターン１８の走査
に対応する時間範囲を包含するに十分な持続時間をらっ
ザンブリングバルスを送出する。このパルスは窓を定義
し、サンプリング回路５７を制御する。サンプリング回
路５７はアクセスパターンとの相互作用を含む部分を信
号５（ｔ）から分離する。この部分は閾値回路５９に伝
送され、該閾値回路はサンプリング回路６０に選択パル
スを送出することによって時点ｔＣ及びｔＤを検出する
。

回路６０は、識別回路２８からクロックパルスと帰零パ
ルスとを受信するカウンタ５８の表示Ｃをサンプリング
する。これらパルスは第１４図の基準半径ρの先スポッ
ト７による走査と一致する。

サンプルＣＧ及びＣＤの処理は前記の記載と同様に行な
われる。サンプルＣＧ及びＣＤは直角位相の２つの周期
関数に属すると想定し得る。また、ＣＧとＣＤとを部分
アドレスとする反復アドレシングによってトラックエレ
メントのパケットＰのグループＧを計数するためにサン
プルＣＧが階段関数から得られたサンプルであり、サン
プルＣＤが鋸歯関数から得られたサンプルであると考え
てもよい。

第１７図は位置及び長さが均一でない特定パターン１８
によってアクセス用半径方向目盛を生成するための予書
込み情報の１つの例を示す。

第１７図は連続する２つの半径ρ１．ρ２を実際の間隔
にかかわりなく示す。図中の中断領域がデータ領域であ
ると想定する。半径方向でディスクは軸線３をもつ１６
個のトラックエレメントのグループＧに分割されている
。グループＧ内のトラックニレ。

メントは各々が４つのエレメントを含むパケットＰを形
成する。第１７図ではアクセス用特定パターン１８が台
形輪郭の領域６１に設けられている。各台形輪郭の左辺
はディスクの半径に沿って配向され、４つのトラックエ
レメントを含む各パケットには基準半径６２に対する左
縁のオフセットを示す値ＴＧが割当てられる。各台形輪
郭の右辺はディスクの半径に対して傾斜しており、各パ
ケットを構成すＸ　ｋ　−ｙ　、す々ルメ゛ノドの区々
には半径６３に対する右端のオフセットを示す値ＴＤが
割当てられる。パターンのこの配列によって、２つの階
段関数即ち周期４ｐの１つの階段関数と周期１６ｐの１
つの階段関数とによる目盛か形成される。ｐはトラック
エレメントの増分を示す。第１７図によれば、アクセス
用特定パターン１８が同期パターン６６．６７と結合し
、該同期パターンは軸線３に存在するパターンストリー
ム中で識別されるべく所定の時間間隔ＴＡ及びＴＢをも
つ。走査光スポットが軸線３に対して傾斜した軌道Ｔを
追跡するときにも走査光スポットとの交差時点を正確に
決定するために、パターン６６の縁端は基準半径６２．
６３に位置合わせされている。

第１７図は更に、半径６４と６５との間に含まれた範囲
をサンプリングすることによってトラック追跡機能を実
行すべく、トラックエレメントの軸線３に対してオフセ
ットしたパターン６８．６９を含む予書込み情報を示す
。

第１７図の具体例で台形輪郭６【の左辺は担い目盛とし
て機能し右辺は精密目盛として機能する。２つの目盛は
必ずしも共通台形輪郭内部に結合されていなくてもよい
。異なる台形パターンによって包囲されたパターンＩ８
かトラックエレメントに沿って配列されているとき、２
つの目盛が交互に配置されればよい。

第１８図は未発明の予書込みパターンの別の具体例を示
す。例えば８個のトランクエレメント１７を含むトラッ
クエレメントパケットＰが第１８図に示されている。ト
ラックエレメントの軸線３は間隔ｐずつ離間している。

更に、図の上部に先行パケットの最終エレメントが示さ
れており、下部に後続パケットの最初のエレメントが示
されている。パケットＰは、例えば８つのグループを形
成し、従って子書込みパターン構成の半径方向のＪ周期
は６４向の間隔ｐに等しい。また予書込みパターン１８
．６６か存在する第１８図の中央領域の両側に点線で囲
まれたデータ領域が図示されている。半径ρ及び軸線３
に袖合わせされたパターン６６：よ一定の長さをらち、
それらの縁端は半径に沿って（ケ置合イつり・されてい
る。本文中で「長さ」なる用語は、＄＋ｂ　Ｌ’ｌ　３
が実際には湾曲していることに留ひす−・きであるから
角度範囲の概念を含む。

これらに密化すると、各パターン６６が２つのパターン
１８の間に存在し、軸線３に軸合わせされたその内側縁
端が半径６２及び６３に位置合わＵ・されていることが
理解されよう。第１８図は中央バク−７６６の前縁がそ
の右側に位置するパターン１８の前縁から２．５Ｕだけ
Ｍｒ？ｊ！Ｉ、ていることを示す。同様にパターン６６
の後縁は左側のパターン１８の後縁から２．５Ｕだけ離
間している。

記号Ｕはデータ記憶用特定パターンの位置検出に役立つ
トラックに沿った基準長さを示す。従って第１８図に示
す組み合わせ１８−６６−１８を使用しないとトラック
走査によってパターンの相同縁端間の距Ｍ２．５Ｕを与
えることができない。従ってこの組み合わせは、連続パ
ターン６６．６７によって得られた第１７図と同じ特性
をもつ同期デバイスを形成する。

本発明によれば、パターン１８は、パターンの外側縁端
の位置を変調することによって第１８図で得られた半径
方向目盛を設定すべく機能する。この変調は、第１４図
の如き包絡線ＦＧ及びＦＤを生成するが、第１８図では
このために使用されるパターン１８の縁端がトラック軸
線３に対して半径方向にオフセットしている。この違い
は、アクセス機能に必要な周期的目盛の設定を阻止する
ことなくトラック追跡機能と同期機能とを実行するとい
う利点を与える。この機能を最高度に発揮できるように
本発明では、少なくとも１つの軸合わせされた部分と１
つのオフセット部分とを含むパターン１８の使用を提案
している。この結果、アクセス機能とトラック追跡機能
とを実行するために同じパターン本伸田オ乙？ＮＲｒｆ
ｆｉとＭｌ・゛枯蓼ｈＮ島られ紙間様の考察から、全長
にわたってオフセットした予書込みパターンを用いこれ
らの機能を結合してらよい。

第１９図はデータ領域１７によって隔てられた２つの領
域にパターンを配列することによってスペースを節約す
る具体例を示す。予書込みパターンによって占有された
領域の周期的位置検出をより明らかにするためにトラッ
クエレメントの軸線３はジクザクに２つに折り畳まれて
いる。第１９図の上部に示す奇数ランクの部分は目盛１
０１に基づいて互いに２．５Ｕだけ離間した２つの同期
パターン６６．６７で始まる。パターン６６．６７の後
に適当な間隔だけ離間してオフセットパターン１８が続
く。このパターンの前縁及び後縁は左側に点線で示す４
つの半円と右側に点線で示す４つの半円とによって示さ
れる４つの位置を占有し得ろ。従ってパターン１８は、
１つのパケットを形成する１６個のトラックエレメント
を互いから識別すべく使用されるアドレンング配列であ
る。第１９図の下部に示す偶数ランク部分もパターン１
８を含み、このパターンは２５６個のトラックエレメン
トから成る１グループを形成する１６個のエレメントパ
ケットをアドレスすへく機能し得る。このようなグルー
プがディスクの有効領域内で周期的に反復される。第１
９図ではパターン１８が、軸線３に対する読取り光スポ
ットの偏心度を決定すべく使用されるオフセットεＧと
εＤとを交互にもつ。

従って、偏心度の測定に割当てられるパターン対のサン
プリング周波数は、同期パターン６６．６７のサンプリ
ング周波数に比較して【／２の値に低減している。

第２０図の配列では、第９図の２つのパターン１８が２
つのデータブロック１７を隔てる区間に集合しているの
で走査光スポットの偏心度を２倍の頻度でサンプリング
する。この構成は前記の構成よりもやや小型化されてい
るが、トラック追跡とアクセス目盛とに対してより高い
サンプリング周波数を与える。

絶対型又は周期型の半径方向目盛用に特定された予書込
みパターンを備えたディスクは極めて多様な構成をらっ
ことができ、前記のごとく多少とも頻繁なサンプリング
を行う。トラックが連続であるという観念に固執しなけ
れば、トラックアクセスの処理動作が、読取りスポット
によるディスク走査の追跡、集束及び同期における処理
動作と同種の処理になるので操作が極めて簡単になる。

サンプリングか十分に頻繁でさえあれば、完全に満足す
べき実用精度で明確に移動を測定し得ることが理解され
よう。簡単な形状の予書込みパターンを選択ししかも高
い情報容量の維持が可能である。更に、このような情報
容量が、ディスク上の極めて小さい占有スペースで得ら
れることが理解されよう。アクセス用に特定された予書
込みパターンの形成は、ディスクの光学的書込みに先行
する段階で行なわれてもよく又は書込みを行う後処理段
階で行なわれてもよい。この場合、ユーザーデータとの
違いは、ディスク上での位置及び該位置を条件付ける情
報源のみに関して存在する。このような事情から、ディ
スクに対するユーザーデータの書込みに先行する全ての
操作が本発明の予書込みに包含されると考えてよい。同
様に、この結果を得るために特に構成されたパターンは
、本文中で適当な構成を示唆しなかった別のタスクに割
当てられたときにも、アクセス用の特定パターンである
。

前記の記載では、整数の１／２の距離の使用に基づく同
期パターンの識別のための技術に関して説明したが、本
発明はこの特定例に限定はされない。

同様に、走査光スポットは、パターンの輪郭の完全に内
部に存在するか完全に外部に存在するかにかかわりなく
同様の方法でパターンと光学相互シａｉ＋；日プ＋Ｌ訊
ＪｒｒｆＩ偽〃七柄トＡ　集央小棋へ　手査光スポット
によるパターンの検出ミスが生じないように、パターン
の完全サンプリングの代わりに限界サンプリングを使用
する。

【図面の簡単な説明】

第１図はデータ記憶媒体の光学走査デバイスの部分等角
投影図、第２図は説明ダイヤグラム、第３図は交差トラ
ックを含む走査中の電気読取信号の説明図、第４図は連
続トラックエレメント交差に基づくカウントアツプ−カ
ウントダウン技術の説明図、第５図はサンプリングモー
ドアクセスに適した予書込みパターンを使用するデバイ
スの部分等角投影図、第６図は本発明の予書込み情報の
第１具体例の説明図、第７図は本発明の光学走査デバイ
スのブロック図、第８図は説明ダイヤグラム図、第９図
はサンプリングモードアクセスに基づく光学走査デバイ
スの機能の説明図、第１Ｏ図はアクセス中に採取された
サンプルの処理方法を示す流れ図、第１１図はトラック
エレメントのバケツトによるアクセスに基づく光学走丘
デバイスの機能の説明図、第１２図は絶対アドレシング
モードとサンブリングモードアクセス中でのその使用方
法とを示す説明図、第１３図は復号回路の説明図、第１
４図は本発明の予書込みパターンの変形具体例の説明図
、第１５図は説明ダイヤグラム、第１６図は位置又は長
さに関してコード化されたパターンから得られたディジ
タルサンプルの検出回路のブロック図、第１７図はトラ
ックエレメントパケットグループから成る予書込み情報
の１つの例を示す説明図、第１８図は第１７図に示す予
書込み情報の変形具体例の説明図、第１９図及び第２０
図は本発明の予書込み情報の別の具体例の説明図である
。 １・・・・・・光学ディスク、２・・・・・・基準表面
、７・・・・・・光スポット、１０・・・・・・制御手
段、１７・・・・トラックエレメント、１８・・・・・
・予書込みパターン、２６・・・・・・サンプリング手
段、３０・・・・・・光検出手段。 ｓ兵

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）ディスクの形状をしたデータ記憶媒体であって、
   基準表面と、前記基準表面上の一組の隣接トラックエレ
   メントと、前記隣接トラックエレメントの夫々の曲った
   軸線と、前記軸線上の予書込みパターンと、前記予書込
   みパターンと互い違いの前記軸線上にデータを記憶する
   ために予約された領域と、前記曲った軸線の共通回転中
   心と、前記パターンが置かれている前記共通回転中心か
   ら生起すると共に等角に分割されており、かつ夫々が前
   記軸線と共に交差個所を規定する第１組のＮ個の半径と
   、前記交差個所を占有する同期パターンと、前記Ｎ個の
   半径のＰに関して前記所定の周方向オフセットを伴なっ
   て前記共通回転中心から生起する少なくとも一つの他の
   組の半径と、前記トラックの横方向基準面を走査する読
   取り焦点スポットの半径方向変位の符号を前記隣接トラ
   ックエレメントの組の中において検出するために、光学
   的にかつ繰り返して前記スポットと相互に作用し合うよ
   うに適合されており、特定のパターンの半径配置から構
   成される前記少なくとも一つの他の組の上の目盛とから
   なり、前記半径配置は、前記スポットが前記半径配置を
   走査する時前記目盛りに関して前記スポットの瞬時の位
   置を規定することを特徴とするデータ記憶媒体。 （２）前記目盛が、前記配置の半径方向走査によって、
   間に実質的な位相差がある同周期の２つの周期的関数を
   発生するように適合されている特許請求の範囲第１項に
   記載のデータ記憶媒体。 （３）前記関数が、前記特定のパターンの列を半径方向
   に走査することによって発生される特許請求の範囲第２
   項に記載のデータ記憶媒体。 （４）前記関数が、前記特定のパターンの２つの列を半
   径方向に走査することによつて発生される特許請求の範
   囲第２項に記載のデータ記憶媒体。 （５）前記２つの列のうち第１の列の特定のパターンが
   前記曲つた軸心の夫々に関して所定のオフセットを描き
   、前記２つの列のうち第２の列の特定のパターンが、同
   一寸法であるが前記第１の列の符号と反対の符号である
   オフセットを描く特許請求の範囲第４項に記載のデータ
   記憶媒体。 （６）パターンの半径配置は、反射した二進コードでそ
   の絶対位置を示すディジタル・アドレスを前記軸心の交
   差において規定する特許請求の範囲第１項に記載のデー
   タ記憶媒体。 （７）前記ディジタル・アドレスは相互に明瞭に区別さ
   れ、ディジタル・アドレスの数は前記軸線の数に等しい
   特許請求の範囲第６項に記載のデータ記憶媒体。 （８）前記トラックエレメントはパケットのグループに
   分けられ、前記軸線と交差するパターンの前記半径方向
   配列によつて規定されるディジタル・アドレスはパケッ
   ト内で同一であり、１つのパケットとこのパケットに隣
   接するパケットの間では異なつている特許請求の範囲第
   １項に記載のデータ記憶媒体。 （９）前記パケットはグループを形成し、複数の前記グ
   ループは前記トラックエレメントを含む環状の領域に半
   径方向に配列されている特許請求の範囲第８項に記載の
   データ記憶媒体。 （１０）パターンの前記半径方向の配列は段階状機能を
   表わし、その連続的な値は、前記軸線の方向に測定され
   て基準半径に関して前記パターンの端部の関連した位置
   に関係している特許請求の範囲第１項に記載のデータ記
   憶媒体。 （１１）前記段階機能は周期的である前記第１０項に記
   載のデータ記憶媒体。 （１２）少なくとも前記端部の１つは前記基準半径に関
   して複数の子め設定された位置を占有し得る特許請求の
   範囲第１０項に記載のデータ記憶媒体。 （１３）複数のパターンは前記軸線に割当てられた前記
   段階機能の値を規定すべく、前記軸線の１つに連続的に
   出合うように採用されている 特許請求の範囲第１０項に記載のデータ記憶媒体。 （１４）前記パターンは心合わせ部分と前記軸線に関し
   てオフセットした部分とからなる特許請求の範囲第１項
   に記載のデータ記憶媒体。 （１５）前記ディジタル・アドレスは前記軸線方向の順
   にパターンの夫々の配列によつて表わされている少なく
   とも２つの部分からなる特許請求の範囲第６項に記載の
   データ記憶媒体。 （１６）前記第２の組の前記半径が周方向にオフセット
   していることに関連して前記第１の組の半径は等角度的
   に間隔をおかれている特許請求の範囲第１項に記載のデ
   ータ記憶媒体。 （１７）前記半径の組は同数の半径からなる特許請求の
   範囲第１６項に記載のデータ記憶媒体。 （１８）基準表面と、前記基準表面上の一組の隣接トラ
   ックエレメントと、前記隣接トラックエレメントの夫々
   の曲った軸線と、前記軸線上の予書込みパターンと、前
   記予書込みパターンと互い違いの前記軸線上にデータを
   記憶するために予約された領域と、前記曲った軸線の共
   通回転中心と、前記パターンが置かれている前記共通回
   転中心から生起すると共に等角に分割されており、かつ
   夫々が前記軸線と共に交差個所を規定する第１組のＮ個
   の半径と、前記交差個所を占有する同期パターンと、前
   記Ｎ個の半径のＰに関して前記所定の周方向オフセット
   を伴なって前記共通回転中心から生起する少なくとも一
   つの他の組の半径と、前記トラックの横方向基準表面を
   走査する読取り焦点スポットの半径方向変位の符号を前
   記隣接トラックエレメントの組の中において検出するた
   めに、光学的にかつ繰り返して前記スポットと相互に作
   用し合うように適合されており、特定のパターンの半径
   配置から構成される前記少なくとも一つの他の組の上の
   目盛りとからなり、前記半径配置は、前記スポットが前
   記半径配置を走査する時前記目盛りに関して前記スポッ
   トの瞬時の位置を規定しており、さらに、前記基準表面
   上に走査光焦点スポットを投影するように適合された光
   学ヘッドを、アクセスモータと、前記トラックエレメン
   トが横切る通路に沿つて前記光スポットを移動すべく前
   記アクセスモータによって駆動される手段と、前記光ス
   ポットに照射される前記基準表面から反射した前記光の
   いくつかを回収するように適合された前記光学ヘッドと
   協働する光学感知手段と、前記光学感知手段から電気信
   号を受容すべく接続されると共に情報アクセス操作に関
   する情報をアドレスする、前記アクセスモータの制御手
   段とからなり、前記制御手段は、その動きが複数の前記
   トラックエレメントに連続的にまたがる時に、半径方向
   に前記光スポットを位置させる少なくとも１個のディジ
   タル値を、半径を運ぶ前記目盛と交差する前記光スポッ
   トに応答して創出するように適合されたサンプル手段を
   含み、前記少なくとも１個のディジタル値は、前記目盛
   を特徴づける数によって前記光スポットの半径方向位置
   を示す絶対値を分割することによつて創出された少なく
   とも残りの部分を示すことを特徴とするディスクの形状
   をしたデータ記憶媒体を使用するように適合した光学走
   査装置。 （１９）前記デイジタル値が、前記絶対値と一致してお
   り、前記特徴数が単１である特許請求の範囲第１８項に
   記載の光走査装置。 （２０）前記特徴数が単１ではなく、且つ前記目盛の増
   分を表わしている特許請求の範囲第１８項に記載の光走
   査装置。 （２１）前記増分が前記トラックエレメントの増分と同
   じである特許請求の範囲第２０項に記載の光走査装置。 （２２）前記増分が隣り合う複数のトラックエレメント
   を包含する特許請求の範囲第２０項に記載の光走査装置
   。 （２３）前記サンプリング手段が、前記電気信号から生
   じる一対のサンプルを獲得するための手段と、前記同期
   パターンの走査に同期するサンプリング制御手段と、前
   記一対のサンプルをディジタル化するための手段と、前
   記一対のサンプルから前記ディジタル値を決定するため
   の手段とを有する特許請求の範囲第１８項に記載の光走
   査装置。 （２４）前記ディジタル値が成分としての前記一対のサ
   ンプルを有したベクトル角である特許請求の範囲第２３
   項に記載の光走査装置。 （２５）前記サンプリング手段は、前記特定のパターン
   の縁に出合う前記走査光スポットに対応する遷移部を包
   囲する電気信号の部分を獲得する手段と、前記同期化パ
   ターンの走査に基づいて同期化されるサンプリング制御
   手段と、前記制御手段によって初期化される計数手段と
   、少なくとも前記遷移部の一つと一致する前記ディジタ
   ル値を獲得し、前記計数手段によって与えられる指示を
   形成する手段とからなる特許請求の範囲第１８項に記載
   の光学的走査装置。 （２６）前記遷移部の複数は前記特定のパターンの先導
   端と後続端とへの出合の特徴を示すディジタル値を与え
   る特許請求の範囲第１８項に記載の光学的走査装置。 （２７）前記サンプリング手段は、前記同期化パターン
   の走査と同期化され、反射２進符号の制御サンプリング
   におけるアドレスに基づいて前記ディジタル値を表わす
   べく構成されたサンプルを獲得する手段からなる特許請
   求の範囲第１８項に記載の光学的走査装置。（２８）前
   記ディジタル値は、少なくとも前記アドレスの一部の判
   読から生じる特許請求の範囲第２７項に記載の光学的走
   査装置。 （２９）前記アドレスの複数部は前記軸線に沿つて不連
   続位置でサンプルされる特許請求の範囲第２７項に記載
   の光学的走査装置。 （３０）選択されたアドレスの複数部は、他の部分より
   もより度々サンプルされる特許請求の範囲第２９項に記
   載の光学的走査装置。 （３１）前記サンプリング手段は、前記特定のパターン
   の縁に出合う前記走査線スポットに基づいて前記ディジ
   タル値を獲得する手段を含み、前記の如き出合は、前記
   同期化パターンの走査によつつて生成された同期化パル
   スに対して決定されたオフセツトを特徴付けるサンプリ
   ング時に生じるべく構成されている特許請求の範囲第１
   ８項に記載の光学的走査装置。 （３２）直線外挿と先にサンプルされたディジタル値の
   考慮とによって、新しい絶対値の大きさが有効化され前
   の値に与えられるように前記ディジタル値を処理する手
   段を有する特許請求の範囲第１８項に記載の光学的走査
   装置。 （３３）前記サンプリング手段は、制御トラック追跡に
   用いられるサンプルを与える特許請求の範囲第１８項に
   記載の光学的走査装置。 （３４）前記サンプリング手段は、同期化パターンの識
   別に有用な遷移部を与える特許請求の範囲第１８項に記
   載の光学的走査装置。