JPS6215216B2 - - Google Patents
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- JPS6215216B2 JPS6215216B2 JP54086866A JP8686679A JPS6215216B2 JP S6215216 B2 JPS6215216 B2 JP S6215216B2 JP 54086866 A JP54086866 A JP 54086866A JP 8686679 A JP8686679 A JP 8686679A JP S6215216 B2 JPS6215216 B2 JP S6215216B2
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 8
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 14
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
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- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S15/00—Systems using the reflection or reradiation of acoustic waves, e.g. sonar systems
- G01S15/88—Sonar systems specially adapted for specific applications
- G01S15/89—Sonar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
- G01S15/8906—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques
- G01S15/8909—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques using a static transducer configuration
- G01S15/8915—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques using a static transducer configuration using a transducer array
- G01S15/8927—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques using a static transducer configuration using a transducer array using simultaneously or sequentially two or more subarrays or subapertures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01S15/8918—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques using a static transducer configuration using a transducer array the array being linear
-
- G—PHYSICS
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- G10K—SOUND-PRODUCING DEVICES; METHODS OR DEVICES FOR PROTECTING AGAINST, OR FOR DAMPING, NOISE OR OTHER ACOUSTIC WAVES IN GENERAL; ACOUSTICS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G10K11/00—Methods or devices for transmitting, conducting or directing sound in general; Methods or devices for protecting against, or for damping, noise or other acoustic waves in general
- G10K11/18—Methods or devices for transmitting, conducting or directing sound
- G10K11/26—Sound-focusing or directing, e.g. scanning
- G10K11/34—Sound-focusing or directing, e.g. scanning using electrical steering of transducer arrays, e.g. beam steering
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、複数個の振動素子において、同時に
使用する振動素子数を繰返しパルスごとに、ある
いは任意の一定周期ごとに変化させて、超音波走
査線密度を向上させるとともに、振動素子数切換
えと同時に焦点の補正を行なう超音波診断装置に
関する。
使用する振動素子数を繰返しパルスごとに、ある
いは任意の一定周期ごとに変化させて、超音波走
査線密度を向上させるとともに、振動素子数切換
えと同時に焦点の補正を行なう超音波診断装置に
関する。
この種の複数個の振動素子を多数備えた探触子
を有する超音波診断装置において、この探触子を
繰返し周期ごとに一定個数の振動素子を順次一個
ずつずらして送受波した場合、指向性中心は振動
素子中心間隔１個分ずつ移動する。このことは超
音波走査線密度が振動素子中心間隔によつて決定
され、よつて、超音波走査線密度を増加するため
には、振動素子幅が小さく、振動素子間の間隔が
できるだけ小さく個数の多い探触子が必要とな
る。しかし、このことは製造上の問題もあり、ま
た装置を大きくし取り扱いにくくし高価なものと
する。
を有する超音波診断装置において、この探触子を
繰返し周期ごとに一定個数の振動素子を順次一個
ずつずらして送受波した場合、指向性中心は振動
素子中心間隔１個分ずつ移動する。このことは超
音波走査線密度が振動素子中心間隔によつて決定
され、よつて、超音波走査線密度を増加するため
には、振動素子幅が小さく、振動素子間の間隔が
できるだけ小さく個数の多い探触子が必要とな
る。しかし、このことは製造上の問題もあり、ま
た装置を大きくし取り扱いにくくし高価なものと
する。
そこで、従来の上記欠点を解決するために、繰
り返し周期ごとに同時に使用する振動素子数を変
えることによつて指向性中心を振動素子中心間隔
の1/2ずつ移動させる技術はすでに知られてい
る。ここで、この方法について、第１図第２図に
よつて説明する。
り返し周期ごとに同時に使用する振動素子数を変
えることによつて指向性中心を振動素子中心間隔
の1/2ずつ移動させる技術はすでに知られてい
る。ここで、この方法について、第１図第２図に
よつて説明する。
第１図において、１は繰り返しパルス発生器２
は振動子制御信号発生器、３は送受信器、４はｎ
個の振動素子を配列した探触子で１個の振動子に
ｎ個の電極を設けたものを使用することもでき
る。５は検波器、６はＢモード用輝度変調電圧発
生器、７は距離方向掃引波発生器、８はビーム位
置指示用電圧発生器、９はＢモード表示器であ
る。
は振動子制御信号発生器、３は送受信器、４はｎ
個の振動素子を配列した探触子で１個の振動子に
ｎ個の電極を設けたものを使用することもでき
る。５は検波器、６はＢモード用輝度変調電圧発
生器、７は距離方向掃引波発生器、８はビーム位
置指示用電圧発生器、９はＢモード表示器であ
る。
次に動作を説明すると、繰り返しパルス発生器
１は診断距離に応じて、一定周波数の繰り返しパ
ルスを発生し、その出力は振動素子制御信号発生
器２に接続され、繰り返しパルスごとに同時に送
受波する振動素子を第２図の如く３個４個という
ように１個ずつ変化させるような信号を発生させ
る。この信号は送受信器３に接続され、各振動素
子ごとに超音波の送受信が行なわれ、検波器５で
検波され、Ｂモード用輝度変調電圧発生器６に接
続される。一方、繰り返しパルス発生器１の出力
は距離方向掃引波発生器７に入力し、繰り返しパ
ルスごとに診断距離に応じた三角波を発生させ
る。また同時にビーム位置指示用電圧発生器８に
も入力し、繰返しパルスごとに動作する振動素子
群のビーム中心に相当する電圧を発生させる。Ｂ
モード用輝度変調電圧発生器６、距離方向掃引発
生器７、ビーム位置指示用電圧発生器８の出力は
Ｂモード表示器９に接続され、第２図に示すよう
な走査が行なわれ、すなわち同時に送受波される
振動素子数をｍ個、ｍ＋１個と逐次変えることに
より、その振動素子群の指向性中心を振動素子中
心間隔の1/2ずつ移動させることができる。よつ
て従来の半分の振動素子数で同じ超音波走査線密
度のＢモード像が得られる。
１は診断距離に応じて、一定周波数の繰り返しパ
ルスを発生し、その出力は振動素子制御信号発生
器２に接続され、繰り返しパルスごとに同時に送
受波する振動素子を第２図の如く３個４個という
ように１個ずつ変化させるような信号を発生させ
る。この信号は送受信器３に接続され、各振動素
子ごとに超音波の送受信が行なわれ、検波器５で
検波され、Ｂモード用輝度変調電圧発生器６に接
続される。一方、繰り返しパルス発生器１の出力
は距離方向掃引波発生器７に入力し、繰り返しパ
ルスごとに診断距離に応じた三角波を発生させ
る。また同時にビーム位置指示用電圧発生器８に
も入力し、繰返しパルスごとに動作する振動素子
群のビーム中心に相当する電圧を発生させる。Ｂ
モード用輝度変調電圧発生器６、距離方向掃引発
生器７、ビーム位置指示用電圧発生器８の出力は
Ｂモード表示器９に接続され、第２図に示すよう
な走査が行なわれ、すなわち同時に送受波される
振動素子数をｍ個、ｍ＋１個と逐次変えることに
より、その振動素子群の指向性中心を振動素子中
心間隔の1/2ずつ移動させることができる。よつ
て従来の半分の振動素子数で同じ超音波走査線密
度のＢモード像が得られる。
更に、最初の繰り返しパルスで送信時に振動素
子を３個、受信時に振動素子を３個使用し、次の
繰り返しパルスでは、送信時に振動素子を３個、
受信時に４個使用することにより、走採線密度を
各振動素子間隔の1/4にする方法もすでに知られ
ている。
子を３個、受信時に振動素子を３個使用し、次の
繰り返しパルスでは、送信時に振動素子を３個、
受信時に４個使用することにより、走採線密度を
各振動素子間隔の1/4にする方法もすでに知られ
ている。
しかし、前述の如く振動素子間隔を変えない
で、走査線密度、すなわち各走査線間隔を密にす
る方法では、超音波送波時毎に同時に使用する振
動素子数が変化し、よつて超音波送波または受波
口径が変化するため、送波または波波される超音
波ビームのパターンが振動素子駆動時毎に変化す
る。
で、走査線密度、すなわち各走査線間隔を密にす
る方法では、超音波送波時毎に同時に使用する振
動素子数が変化し、よつて超音波送波または受波
口径が変化するため、送波または波波される超音
波ビームのパターンが振動素子駆動時毎に変化す
る。
ここで、送波または受波口径の変化によるビー
ムパターンの変化について説明する。
ムパターンの変化について説明する。
一般的に超音波ビームパターンは、振動素子群
の駆動時口径Ｄ、送波超音波波長λ、超音波ビー
ムの焦点Ｆなどによつて決定される。
の駆動時口径Ｄ、送波超音波波長λ、超音波ビー
ムの焦点Ｆなどによつて決定される。
例えば、「凹面振動子による超音波ビーム幅の
作図法」（飯沼ほか、日本超音波医学会講演論文
集、昭和48年11月）によつて、超音波ビームパタ
ーンを求めると、Ｆ＜D2／４λの場合、第３図
のようになる。この図において、ビーム幅が最小
となり、ビーム幅が細くなる位置は送波地点から
深さ方向へX0の距離隔てた位置であり、この時
の口径をＤとし、焦点をＦとする。この距離X0
は、 X0＝１／（１／Ｆ＋２λ／D2） …(1) で求められる。
作図法」（飯沼ほか、日本超音波医学会講演論文
集、昭和48年11月）によつて、超音波ビームパタ
ーンを求めると、Ｆ＜D2／４λの場合、第３図
のようになる。この図において、ビーム幅が最小
となり、ビーム幅が細くなる位置は送波地点から
深さ方向へX0の距離隔てた位置であり、この時
の口径をＤとし、焦点をＦとする。この距離X0
は、 X0＝１／（１／Ｆ＋２λ／D2） …(1) で求められる。
したがつて、同時に使用する振動素子数を変化
させることにより、前記口径Ｄが変化するため、
上記(1)式のX0の値も変化することとなる。すな
わち、各繰返しパルス毎（超音波送波時毎）に同
時に使用する振動素子数を変化させるために、前
記X0の値が変化し、細いビームによるエコー信
号の反射地点が各繰返しパルス毎に異なり方位分
解能が良好な部位が不均一となり、診断を目的と
する部位の解像度が劣化する欠点がある。
させることにより、前記口径Ｄが変化するため、
上記(1)式のX0の値も変化することとなる。すな
わち、各繰返しパルス毎（超音波送波時毎）に同
時に使用する振動素子数を変化させるために、前
記X0の値が変化し、細いビームによるエコー信
号の反射地点が各繰返しパルス毎に異なり方位分
解能が良好な部位が不均一となり、診断を目的と
する部位の解像度が劣化する欠点がある。
例えば、振動素子ピツチを1.5mm、超音波波長
を0.64（周波数＝2.4MHz、音速1530ｍ／sec）、
焦点を送波方向50mm、駆動振動素子数を８個、７
個とした場合、X0値の誤差は約10％程度とな
る。
を0.64（周波数＝2.4MHz、音速1530ｍ／sec）、
焦点を送波方向50mm、駆動振動素子数を８個、７
個とした場合、X0値の誤差は約10％程度とな
る。
このような、X0値の変化は超音波診断装置の
精度が現在より更に向上した場合、前述したビー
ムパターンの変化による解像度の劣化は顕著に表
われる。
精度が現在より更に向上した場合、前述したビー
ムパターンの変化による解像度の劣化は顕著に表
われる。
本発明は上記した欠点を解決するために、繰り
返しパルス毎、または任意一定周期毎に同時に使
用する振動素子数を変化させるとともに、各送波
超音波ビームの焦点を補正する機能を有した超音
波診断装置を提供することを目的とするものであ
る。
返しパルス毎、または任意一定周期毎に同時に使
用する振動素子数を変化させるとともに、各送波
超音波ビームの焦点を補正する機能を有した超音
波診断装置を提供することを目的とするものであ
る。
本発明では、前記(1)式において、同時使用の振
動素子数に従い口径Ｄを変化させた場合、超音波
ビームの最小幅となる位置、すなわち、送波地点
から送波方向への距離X0を一定に保つために、
焦点Ｆを同時に変化させるものである。
動素子数に従い口径Ｄを変化させた場合、超音波
ビームの最小幅となる位置、すなわち、送波地点
から送波方向への距離X0を一定に保つために、
焦点Ｆを同時に変化させるものである。
以下、本発明の焦点補正方法の原理を第４図第
５図を参照して説明する。
５図を参照して説明する。
例えば、振動素子ピツチを1.5mm、超音波波長
を0.64mm（周波数＝2.4MHz、音速1530ｍ／
sec）、焦点を60mm基準振動素子数を８個とした場
合のビームパターンを前記凹面近似法により求め
ると、第４図において一点鎖線のようになり、次
の周期で同時に使用する振動素子数を変化させ、
振動素子を９個とし、焦点の補をしない時のビー
ムパターンを実線で示してある。
を0.64mm（周波数＝2.4MHz、音速1530ｍ／
sec）、焦点を60mm基準振動素子数を８個とした場
合のビームパターンを前記凹面近似法により求め
ると、第４図において一点鎖線のようになり、次
の周期で同時に使用する振動素子数を変化させ、
振動素子を９個とし、焦点の補をしない時のビー
ムパターンを実線で示してある。
この時前述したように振動素子数の変化による
振動素子駆動口径Ｄが変化することによりビーム
幅が最小になる位置（X0の値）が異なつてい
る。そこで、振動素子数９個の場合に各振動素子
の遅延量を調整し、焦点を補正することにより、
振動素子数９個使用時のビームの最小幅位置
（X0の値）を８個の場合と一致させるようにする
ものである。第５図には、基準振動素子数を８個
とし、次に１個減少させ同時駆働の振動素子数を
７個とした場合の状態を示したものであり、振動
素子を１個増加した場合と同様にX0の値が一致
するように焦点を補正するものである。
振動素子駆動口径Ｄが変化することによりビーム
幅が最小になる位置（X0の値）が異なつてい
る。そこで、振動素子数９個の場合に各振動素子
の遅延量を調整し、焦点を補正することにより、
振動素子数９個使用時のビームの最小幅位置
（X0の値）を８個の場合と一致させるようにする
ものである。第５図には、基準振動素子数を８個
とし、次に１個減少させ同時駆働の振動素子数を
７個とした場合の状態を示したものであり、振動
素子を１個増加した場合と同様にX0の値が一致
するように焦点を補正するものである。
一方、広い視野深度に対して、全般的にビーム
幅を細くするには、 Ｆ＝D2／４λ …(2) とすれば良いことが知られている。すなわち、こ
の場合において、同時使用の振動素子数が変化す
ることにより、口径Ｄが変化することになるた
め、焦点Ｆの位置が変化するため、これについて
も前述同様補正するものである。
幅を細くするには、 Ｆ＝D2／４λ …(2) とすれば良いことが知られている。すなわち、こ
の場合において、同時使用の振動素子数が変化す
ることにより、口径Ｄが変化することになるた
め、焦点Ｆの位置が変化するため、これについて
も前述同様補正するものである。
次に本発明の実施例を第６図、第７図、第８図
によつて説明する。
によつて説明する。
第６図において、１０は繰り返しパルス発生
器、１１は同時使用振動素子数および焦点を制御
する制御回路、１２は超音波送信ビームの焦点を
決定する送信用電子フオーカシング回路、１３は
各振動素子に各々接続された各振動素子を駆動す
るパルスを発生する回路群、１４は多数の振動子
を少なくても一列に配列した超音波プローブ、１
５は超音波エコーを増幅する増幅器、１６は受信
エコーの集束点を決定する受信用電子フオーカシ
ング回路、１７は増幅および検波する検波器、１
８は検波器１７により出力される信号をＢモード
の超音波像として表示するための表示部である。
器、１１は同時使用振動素子数および焦点を制御
する制御回路、１２は超音波送信ビームの焦点を
決定する送信用電子フオーカシング回路、１３は
各振動素子に各々接続された各振動素子を駆動す
るパルスを発生する回路群、１４は多数の振動子
を少なくても一列に配列した超音波プローブ、１
５は超音波エコーを増幅する増幅器、１６は受信
エコーの集束点を決定する受信用電子フオーカシ
ング回路、１７は増幅および検波する検波器、１
８は検波器１７により出力される信号をＢモード
の超音波像として表示するための表示部である。
本装置の動作を説明すると、従来技術において
説明したように、走査線密度を増加させるため、
繰り返しパルス毎に同時に駆動する振動素子数を
変化させるため、制御回路１１は繰り返しパルス
毎に使用する振動素子数を変化させる信号をパル
ス発生回路群１３に出力し、また、制御回路１１
は送信用電子フオーカシング回路１２、受信用電
子フオーカシング回路１６に制御信号を送出し同
時に使用する振動素子数に応じ、振動素子数が変
化しても超音波ビームの幅が最小になる位置（前
述のX0の値）が同一になるよう送受信時のビー
ムの焦点を調整するものである。
説明したように、走査線密度を増加させるため、
繰り返しパルス毎に同時に駆動する振動素子数を
変化させるため、制御回路１１は繰り返しパルス
毎に使用する振動素子数を変化させる信号をパル
ス発生回路群１３に出力し、また、制御回路１１
は送信用電子フオーカシング回路１２、受信用電
子フオーカシング回路１６に制御信号を送出し同
時に使用する振動素子数に応じ、振動素子数が変
化しても超音波ビームの幅が最小になる位置（前
述のX0の値）が同一になるよう送受信時のビー
ムの焦点を調整するものである。
この焦点の調整は、送、受信で同一数の振動素
子を使用する場合、同一焦点となるようにすれば
良く、送、受信で使用する振動素子数が異なる場
合、送信用電子フオーカシング回路１２及び受信
用電子フオーカシング回路１６によりそれぞれ前
記送、受信時のX0が一致するように送、受信時
の焦点を調整するものである。
子を使用する場合、同一焦点となるようにすれば
良く、送、受信で使用する振動素子数が異なる場
合、送信用電子フオーカシング回路１２及び受信
用電子フオーカシング回路１６によりそれぞれ前
記送、受信時のX0が一致するように送、受信時
の焦点を調整するものである。
振動素子数の変化に対応し、超音波ビーム幅が
最小となる点の送波地点からの距離X0を変化さ
せるには、 (1)式より、 Ｆ＝１／（１／Ｘ０−２λ／Ｄ２） …(3) となるような焦点にすれば良いことが知られる。
最小となる点の送波地点からの距離X0を変化さ
せるには、 (1)式より、 Ｆ＝１／（１／Ｘ０−２λ／Ｄ２） …(3) となるような焦点にすれば良いことが知られる。
一方、振動素子数の変化に応じて、常に超音波
ビーム幅が最小となる位置（深さ）を全般的に細
くなるようにするために、(2)式の関係式を利用し
たが、この焦点の補正についても、送信用電子フ
オーカシング回路１２、および受信用電子フオー
カシング回路１６で行なうものである。
ビーム幅が最小となる位置（深さ）を全般的に細
くなるようにするために、(2)式の関係式を利用し
たが、この焦点の補正についても、送信用電子フ
オーカシング回路１２、および受信用電子フオー
カシング回路１６で行なうものである。
焦点決定の方法は前述した方法に限定されず診
断目的に応じた焦点とするように送信用電子フオ
ーカシング回路１２、および受信用電子フオーカ
シング回路１６により焦点位置を調整するもので
ある。
断目的に応じた焦点とするように送信用電子フオ
ーカシング回路１２、および受信用電子フオーカ
シング回路１６により焦点位置を調整するもので
ある。
前述した送信用電子フオーカシング回路１２お
よび受信用電子フオーカシング回路１６によつて
行なわれる焦点の補正の具体的説明を第７図を参
照して行なう。送信、受信の電子フオーカシング
回路１２，１６は全く同様な回路構成であるた
め、ここでは送信用電子フオーカシング回路につ
いて説明する。
よび受信用電子フオーカシング回路１６によつて
行なわれる焦点の補正の具体的説明を第７図を参
照して行なう。送信、受信の電子フオーカシング
回路１２，１６は全く同様な回路構成であるた
め、ここでは送信用電子フオーカシング回路につ
いて説明する。
超音波振動素子１９によつて送、受波される超
音波ビームのフオーカシングは各振動素子１９に
接続された各デイレイライン２０（L1〜Ｌo）に
よる遅延量を制御することにより達成される。こ
の遅延量の制御は、デイレイライン２０（L1〜
Ｌo）に所定間隔で接続されている複数のタツプ
２１をデイレイライン２０（L1〜Ｌo）と振動素
子１９の間に接続されたスイツチ素子２２により
所望のタツプ２１を適宜選択、切換えることによ
り行なう。各スイツチ素子２２と各振動素子１９
とは出力線２３で接続されており、また、前記制
御回路１１から各スイツチ素子２２に複数の前記
タツプ数に応じたコントロール線２４が接続され
ている。すなわち、制御回路１１において、同時
に使用する振動素子数が選択されると、それに応
じた前述のフオーカシング補正のための制御信号
がコントロール線２４を介してスイツチ素子２２
に出力され、ここで、所定のタツプが選択され、
目的とする位置に焦点を結ぶようにする。
音波ビームのフオーカシングは各振動素子１９に
接続された各デイレイライン２０（L1〜Ｌo）に
よる遅延量を制御することにより達成される。こ
の遅延量の制御は、デイレイライン２０（L1〜
Ｌo）に所定間隔で接続されている複数のタツプ
２１をデイレイライン２０（L1〜Ｌo）と振動素
子１９の間に接続されたスイツチ素子２２により
所望のタツプ２１を適宜選択、切換えることによ
り行なう。各スイツチ素子２２と各振動素子１９
とは出力線２３で接続されており、また、前記制
御回路１１から各スイツチ素子２２に複数の前記
タツプ数に応じたコントロール線２４が接続され
ている。すなわち、制御回路１１において、同時
に使用する振動素子数が選択されると、それに応
じた前述のフオーカシング補正のための制御信号
がコントロール線２４を介してスイツチ素子２２
に出力され、ここで、所定のタツプが選択され、
目的とする位置に焦点を結ぶようにする。
したがつて、制御回路１１により同時に使用す
る振動素子数を選択し、パルス発生器群１３に対
して各振動素子駆動のための制御信号を出力する
と同時に、送信用電子フオーカシング回路１２に
対しても駆動振動素子数に応じた前述の焦点を補
正するため、振動素子に接続されたデイレイライ
ン２０のタツプ２１を選択切換のための制御信号
をスイツチ素子２２に出力するものである。
る振動素子数を選択し、パルス発生器群１３に対
して各振動素子駆動のための制御信号を出力する
と同時に、送信用電子フオーカシング回路１２に
対しても駆動振動素子数に応じた前述の焦点を補
正するため、振動素子に接続されたデイレイライ
ン２０のタツプ２１を選択切換のための制御信号
をスイツチ素子２２に出力するものである。
この場合、例えば各繰り返しパルス毎に同時使
用する振動素子群及びそれに応じた遅延量を記憶
素子に記憶させておくことも考えられる。
用する振動素子群及びそれに応じた遅延量を記憶
素子に記憶させておくことも考えられる。
その他に、前述の遅延素子としてのデイレイラ
インに変えて、表面波遅延線素子、またはCCD
（Charged Coupled Device）を使用することも
考えられる。この場合、第７図のデイレイライン
２０とスイツチ素子２２をCCD等で置換すれば
良い。
インに変えて、表面波遅延線素子、またはCCD
（Charged Coupled Device）を使用することも
考えられる。この場合、第７図のデイレイライン
２０とスイツチ素子２２をCCD等で置換すれば
良い。
以上述べたように、多数の振動素子を一列に配
列した探触子を用いてＢモード超音波像を映出す
る超音波診断装置において、走査線密度を向上さ
せるため繰り返しパルス毎または任意一定周期毎
に同時使用の振動素子数を変化させた場合、各送
受波時の超音波ビームの口径が変化することによ
つてビームパターンが変化する。これにより、画
質に対して影響を与える超音波ビームの最小幅と
なる位置がずれる欠点を、本発明は、前述の振動
素子数を切換、同時に送受信時の電子フオーカシ
ング回路の遅延量を制御するための制御回路を有
することにより、各繰り返しパルス毎または任意
一定周期毎の同時使用する振動素子の変化に応じ
て、焦点を補正し常に被検査体内の所定位置に超
音波ビームの最小幅部分を合致させることにより
この診断目的位置の解像度を一定に保つものであ
る。
列した探触子を用いてＢモード超音波像を映出す
る超音波診断装置において、走査線密度を向上さ
せるため繰り返しパルス毎または任意一定周期毎
に同時使用の振動素子数を変化させた場合、各送
受波時の超音波ビームの口径が変化することによ
つてビームパターンが変化する。これにより、画
質に対して影響を与える超音波ビームの最小幅と
なる位置がずれる欠点を、本発明は、前述の振動
素子数を切換、同時に送受信時の電子フオーカシ
ング回路の遅延量を制御するための制御回路を有
することにより、各繰り返しパルス毎または任意
一定周期毎の同時使用する振動素子の変化に応じ
て、焦点を補正し常に被検査体内の所定位置に超
音波ビームの最小幅部分を合致させることにより
この診断目的位置の解像度を一定に保つものであ
る。
第１図は従来装置のブロツク図、第２図は走査
線密度向上のための振動素子駆動方法の説明図、
第３図は直線配列群音源のビームパターンの説明
図、第４図、第５図は本発明の原理説明図、第６
図は本発明装置のブロツク図、第７図は本発明の
電子フオーカシング回路の一実施例の構成説明図
である。 １０……繰り返しパルス発生器、１１……制御
回路、１２……送信用電子フオーカシング回路、
１３……駆動パルス発生回路群、１４……超音波
プローブ、１５……増幅器、１６……受信用電子
フオーカシング回路、１７……検波器、１８……
表示部。
線密度向上のための振動素子駆動方法の説明図、
第３図は直線配列群音源のビームパターンの説明
図、第４図、第５図は本発明の原理説明図、第６
図は本発明装置のブロツク図、第７図は本発明の
電子フオーカシング回路の一実施例の構成説明図
である。 １０……繰り返しパルス発生器、１１……制御
回路、１２……送信用電子フオーカシング回路、
１３……駆動パルス発生回路群、１４……超音波
プローブ、１５……増幅器、１６……受信用電子
フオーカシング回路、１７……検波器、１８……
表示部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 複数個の振動素子を配列した探触子と、繰り
返しパルスを発生する回路と、同時駆動振動素子
数および駆動振動素子群の焦点を制御するための
制御回路と、送波時の超音波ビームの焦点を決定
する電子フオーカシング回路と、受波時の超音波
エコーの焦点を決定するための電子フオーカシン
グ回路と、超音波エコーの増幅、検波を行なう回
路と、超音波エコーの強弱を輝度変調し超音波像
として表示するための表示器とを備え、同時に駆
動する振動素子数を任意一定周期毎に変化させる
とともに、その駆動振動素子群による超音波ビー
ムの最小幅となる位置を一定にするように焦点を
変化させることを特徴とする超音波診断装置。 ２ 特許請求の範囲第１項記載の超音波診断装置
において、前記電子フオーカシング回路を振動子
数と同数の遅延素子と、この遅延素子に接続され
た複数のタツプと、前記タツプを選択切換えるた
めの前記振動子数と同数のスイツチ素子によつて
構成し、前記制御回路からの出力信号によつて前
記スイツチ素子を切換駆動することにより遅延量
を調整し、前記同時に駆動する振動素子群による
超音波ビームの最小幅となる位置を一定にするよ
うに焦点を変化させることを特徴とする超音波診
断装置。 ３ 特許請求の範囲第一項記載の超音波診断装置
において、前記フオーカシング回路を振動子数と
同数の電荷結合素子によつて構成し、前記制御回
路からの出力信号によつて前記各電荷結合素子を
制御駆動することにより、前記同時に駆動する振
動子群による超音波ビームの最小幅となる位置を
一定にするように焦点を変化させることを特徴と
する超音波診断装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8686679A JPS5611047A (en) | 1979-07-11 | 1979-07-11 | Ultrasonic diagnosing device |
| US06/165,622 US4332171A (en) | 1979-07-11 | 1980-07-03 | Ultrasonic diagnosis apparatus |
| AU60134/80A AU537818B2 (en) | 1979-07-11 | 1980-07-04 | Ultrasonic diagnosis apparatus |
| DE8080103830T DE3064399D1 (en) | 1979-07-11 | 1980-07-04 | Ultrasonic diagnosis apparatus |
| EP80103830A EP0022966B1 (en) | 1979-07-11 | 1980-07-04 | Ultrasonic diagnosis apparatus |
| CA000355780A CA1145839A (en) | 1979-07-11 | 1980-07-09 | Ultrasonic diagnosis apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8686679A JPS5611047A (en) | 1979-07-11 | 1979-07-11 | Ultrasonic diagnosing device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5611047A JPS5611047A (en) | 1981-02-04 |
| JPS6215216B2 true JPS6215216B2 (ja) | 1987-04-06 |
Family
ID=13898733
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8686679A Granted JPS5611047A (en) | 1979-07-11 | 1979-07-11 | Ultrasonic diagnosing device |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4332171A (ja) |
| EP (1) | EP0022966B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5611047A (ja) |
| AU (1) | AU537818B2 (ja) |
| CA (1) | CA1145839A (ja) |
| DE (1) | DE3064399D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0292710U (ja) * | 1989-01-12 | 1990-07-24 |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56136537A (en) * | 1980-03-29 | 1981-10-24 | Tokyo Shibaura Electric Co | Ultrasonic diagnosis apparatus |
| JPS57161672A (en) * | 1981-03-31 | 1982-10-05 | Fujitsu Ltd | Measuring method utilizing ultrasonic wave |
| JPS57164046A (en) * | 1981-04-01 | 1982-10-08 | Mitsubishi Electric Corp | Ultrasonic diagnostic apparatus |
| JPS57211061A (en) * | 1981-06-22 | 1982-12-24 | Hitachi Ltd | Electron scan type ultrasonic flaw detector |
| JPS58132677A (ja) * | 1982-02-03 | 1983-08-08 | Hitachi Medical Corp | 超音波撮像装置 |
| US4537073A (en) * | 1982-12-24 | 1985-08-27 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho | Inspection method of square billet using electronic scanning |
| JPS6052784A (ja) * | 1983-08-31 | 1985-03-26 | Yokogawa Medical Syst Ltd | 方位角適応型フエ−ズド・アレイ・ソ−ナ− |
| US5301674A (en) * | 1992-03-27 | 1994-04-12 | Diasonics, Inc. | Method and apparatus for focusing transmission and reception of ultrasonic beams |
| JP4176329B2 (ja) * | 2001-06-06 | 2008-11-05 | 三菱重工業株式会社 | 物体探査方法および物体探査装置 |
| US7117743B2 (en) * | 2003-07-31 | 2006-10-10 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Multiple-transducer sensor system and method with selective activation and isolation of individual transducers |
| US9250214B2 (en) | 2013-03-12 | 2016-02-02 | Hexagon Metrology, Inc. | CMM with flaw detection system |
| US11480674B2 (en) * | 2018-07-23 | 2022-10-25 | Koninklijke Philips N.V. | Ultrasound imaging system with transmit apodization |
| JP7828222B2 (ja) * | 2022-04-07 | 2026-03-11 | 富士フイルム株式会社 | 超音波診断装置及びビーム形成方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2345155B2 (de) | 1973-09-07 | 1975-09-25 | Krautkraemer Gmbh, 5000 Koeln | Gruppenweise umgetastete, aus zellenförmig und/oder hierzu senkrechten, streifenförmig angeordneten einzelnen Schwingerelementen bestehendes Ultraschall-Prüfkopfsystem zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung |
| CH608103A5 (ja) | 1975-12-01 | 1978-12-15 | Hoffmann La Roche | |
| DE2628492B1 (de) | 1976-06-25 | 1977-05-26 | Siemens Ag | Geraet zur untersuchung von koerpern durch abtastung mittels ultraschall |
| US4064741A (en) * | 1976-11-22 | 1977-12-27 | Smithkline Instruments, Inc. | Real-time ultrasonic imaging system |
| NL7806362A (nl) * | 1977-07-27 | 1979-01-30 | Siemens Ag | Inrichting voor het onderzoeken van lichamen door af- tasting met ultrageluid. |
| JPS5438693A (en) * | 1977-09-02 | 1979-03-23 | Hitachi Medical Corp | Ultrasonic wave diagnosing device |
| US4140022B1 (en) * | 1977-12-20 | 1995-05-16 | Hewlett Packard Co | Acoustic imaging apparatus |
| US4241610A (en) * | 1979-02-05 | 1980-12-30 | Varian Associates, Inc. | Ultrasonic imaging system utilizing dynamic and pseudo-dynamic focusing |
-
1979
- 1979-07-11 JP JP8686679A patent/JPS5611047A/ja active Granted
-
1980
- 1980-07-03 US US06/165,622 patent/US4332171A/en not_active Expired - Lifetime
- 1980-07-04 DE DE8080103830T patent/DE3064399D1/de not_active Expired
- 1980-07-04 EP EP80103830A patent/EP0022966B1/en not_active Expired
- 1980-07-04 AU AU60134/80A patent/AU537818B2/en not_active Expired
- 1980-07-09 CA CA000355780A patent/CA1145839A/en not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0292710U (ja) * | 1989-01-12 | 1990-07-24 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CA1145839A (en) | 1983-05-03 |
| EP0022966A3 (en) | 1981-04-22 |
| DE3064399D1 (en) | 1983-09-01 |
| AU6013480A (en) | 1981-01-15 |
| AU537818B2 (en) | 1984-07-12 |
| EP0022966B1 (en) | 1983-07-27 |
| EP0022966A2 (en) | 1981-01-28 |
| US4332171A (en) | 1982-06-01 |
| JPS5611047A (en) | 1981-02-04 |
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