JPS62159385A - 磁気ヘツドの浮上量測定装置 - Google Patents
磁気ヘツドの浮上量測定装置Info
- Publication number
- JPS62159385A JPS62159385A JP52486A JP52486A JPS62159385A JP S62159385 A JPS62159385 A JP S62159385A JP 52486 A JP52486 A JP 52486A JP 52486 A JP52486 A JP 52486A JP S62159385 A JPS62159385 A JP S62159385A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- flying height
- electrode
- disk
- capacitance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気ディスク装置のヘッド浮上量測定装置に係
り、特に実際の磁気ディスク装置内でのヘッド挙動の精
度良い測定に好適な検出回路装置に関する。
り、特に実際の磁気ディスク装置内でのヘッド挙動の精
度良い測定に好適な検出回路装置に関する。
ヘッドとディスクの間の静電容量を検出してヘッドの浮
上量を測定する方法は、アイ・イー・イー・イー、トラ
ンザクション オン マグネティックス、セプテンバー
、1971 第418頁から第421頁(I E f
i E 、 Trans、 Magnetics。
上量を測定する方法は、アイ・イー・イー・イー、トラ
ンザクション オン マグネティックス、セプテンバー
、1971 第418頁から第421頁(I E f
i E 、 Trans、 Magnetics。
5ept、、、1971.p418−421及び特開昭
57−60566に記載されているように従来から考え
られていた。
57−60566に記載されているように従来から考え
られていた。
しかし、上述の従来例では、磁気ディスクの表面電位に
よるノイズや、実際の磁気ディスク装置で測定する際の
装置内ノイズ、浮遊容量に対する考慮がなされていない
ため、実際の磁気ディスク装置での浮上量測定は事実上
5行なえなかった。
よるノイズや、実際の磁気ディスク装置で測定する際の
装置内ノイズ、浮遊容量に対する考慮がなされていない
ため、実際の磁気ディスク装置での浮上量測定は事実上
5行なえなかった。
本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決するため
、各種ノイズの影響を極力受けないようにし、また多少
ノイズがあってもヘッド浮上量に関する信号と分離でき
るようにして測定精度及びS/Nを大幅に向上させるこ
とにある。
、各種ノイズの影響を極力受けないようにし、また多少
ノイズがあってもヘッド浮上量に関する信号と分離でき
るようにして測定精度及びS/Nを大幅に向上させるこ
とにある。
磁気ディスク表面は表面電位をもっており、特に塗布型
磁気ディスクではこれが数百ミリボルト程度である。従
ってヘッド浮上量が時間的に変化すると変化電流が発生
し、余分な電圧変化となる。
磁気ディスクではこれが数百ミリボルト程度である。従
ってヘッド浮上量が時間的に変化すると変化電流が発生
し、余分な電圧変化となる。
またこの表面電位はディスク表面の状態に応じて場所に
よって異なった値となっている。このような異なる表面
電位のディスク面の上を電極を備えたヘッドが通過する
と電極に電圧変化を生じてしまう。これらの余分な電圧
変化は、ati・ディスク間の容量を知るために加えて
いる電圧が小さいと、この余分な電圧変化の分だけあた
かも容量が変化したかのように出力してしまう。即ちこ
れらはノイズとなる。これを防ぐには容量を知るために
電極・ディスク間に加えている交流電圧振幅を。
よって異なった値となっている。このような異なる表面
電位のディスク面の上を電極を備えたヘッドが通過する
と電極に電圧変化を生じてしまう。これらの余分な電圧
変化は、ati・ディスク間の容量を知るために加えて
いる電圧が小さいと、この余分な電圧変化の分だけあた
かも容量が変化したかのように出力してしまう。即ちこ
れらはノイズとなる。これを防ぐには容量を知るために
電極・ディスク間に加えている交流電圧振幅を。
表面電位より十分大きくなるように外部から一定の交流
電圧を加え、この交流電圧が電極・ディスク間で形成さ
れる容量と、これに直接に接続した参照容量で分圧され
る値から電極・ディスク間容量を検知する回路構成とす
る。ただしこの時容量変化は分圧交流電圧の振幅変化と
して検出されるので、このまま振幅エンベロープをとり
増幅すると電圧の0レベルから大きくかけ煎れ、オペア
ンプ等の作動範囲を逸脱してしまい、実質的に増幅が困
麺となる。そこで、振幅エンベロープを抽出した後、こ
の信号がOレベル近傍になるように直流オフセットを加
えてから増幅する。さらに配線径路と同一径路をなしヘ
ッドの電極の直前まできているダミー線を設ける。この
ダミー線がひろうノイズは配線径路で発生するノイズと
みなせるので、これをヘッドの電極からの信号からさし
ひくように信号処理を行なう。
電圧を加え、この交流電圧が電極・ディスク間で形成さ
れる容量と、これに直接に接続した参照容量で分圧され
る値から電極・ディスク間容量を検知する回路構成とす
る。ただしこの時容量変化は分圧交流電圧の振幅変化と
して検出されるので、このまま振幅エンベロープをとり
増幅すると電圧の0レベルから大きくかけ煎れ、オペア
ンプ等の作動範囲を逸脱してしまい、実質的に増幅が困
麺となる。そこで、振幅エンベロープを抽出した後、こ
の信号がOレベル近傍になるように直流オフセットを加
えてから増幅する。さらに配線径路と同一径路をなしヘ
ッドの電極の直前まできているダミー線を設ける。この
ダミー線がひろうノイズは配線径路で発生するノイズと
みなせるので、これをヘッドの電極からの信号からさし
ひくように信号処理を行なう。
ヘッドに形成した電極とディスクの間に、ディスクの表
面電位より十分大きい交流電圧が加わるようにすること
により1表面型位の影響をうけにくくなり、電極端面と
ディスクとのすき間に相当する容量のみが検出できるよ
うになる。また参照容量との分圧でとり出した、電極端
面とディスクとのすき間に相当する容量を表すす交流電
圧振幅のエンベロープを抽出し、これに直流オフセット
を加えOレベルまでレベルシフトしてから増幅すること
により検出感度が向上し、後段の信号処理や波形観測が
容易となる。さらにダミー線によるノイズ評価によりS
/Nが向上し、はぼ浮上量に関係する信号のみを取り出
せる。
面電位より十分大きい交流電圧が加わるようにすること
により1表面型位の影響をうけにくくなり、電極端面と
ディスクとのすき間に相当する容量のみが検出できるよ
うになる。また参照容量との分圧でとり出した、電極端
面とディスクとのすき間に相当する容量を表すす交流電
圧振幅のエンベロープを抽出し、これに直流オフセット
を加えOレベルまでレベルシフトしてから増幅すること
により検出感度が向上し、後段の信号処理や波形観測が
容易となる。さらにダミー線によるノイズ評価によりS
/Nが向上し、はぼ浮上量に関係する信号のみを取り出
せる。
以下1本発明の一実施例を説明する。
第1図は、本発明のヘッド側断面図並びに、ヘッドと接
続されたプリアンプ部を示している。図は側断面図であ
り、電極3が2ケ所設けられているが、磁気ヘッド1に
は合計4ケ所に貫通穴をあけそこにステンレス製の丸棒
を樹脂またはガラスなどで埋め込み、ディスク2の対向
面をヘッドのレール面と同一面となるように研磨して電
極3を形成する。6c、6dは1図面には呪われていな
い別の2ケ所の電極に接続されている。これらの電極は
、M n Z nフェライトやアルミナチタンカーバイ
ドなどのような導電性スライダの一部を絶縁分割して形
成したものでもよい。この各電極上端から4チヤネルの
静電容量−電気信号変換回路のプリアンプ部6a〜6d
まで配線する。この配線には極細の同軸ケーブル4を使
うことにより浮遊容量の影響をより小さくできる。また
この配線をなるべく短くするために、静電容量−電気信
号変換回路の第1段部分(プリアンプ部6a〜Ge)を
装置内のヘッド近傍に分難して設置した。またヘッド上
面の電極直前まで引き伸ばしているダミー線5を上記配
線と並列に設け、もう1チヤネルの静電容量−電気信号
変換回路のプリアンプ部6eへ接続する。プリアンプ部
6a〜6eは、第2図のようにヘッドに形成した電極端
面とディスクからなる容量と直列になるように設置した
参照容量7と、この2つの直列容量に加わる振幅・周波
数一定の交流電圧8.及び、この2つの直列容量の分圧
を検出するためのボルテージフォロア9からなっている
。交流電圧8は、Wi極−ディスク間にディスク表面電
位より10倍以上の電圧が加わるように、例えばIMH
zで5ボルトの電圧振幅とする。これは、上述したよう
に、磁気ディスク表面が表面電位をもっており、その影
響によりノイズが生じるのを防ぐためである。プリアン
プ以降は同軸ケーブルにより装置外に配線し、まずバッ
ファアンプ10を経てからエンベロープ抽出回路11に
より振幅のエンベロープのみの信号とする。次におよそ
5ボルト近辺にあるエンベロープ信号を直流オフセット
回路12により0ボルト付近までレベルシフトし、さら
にこのエンベロープの変化分をアンプ13により増幅す
る。さらにこれをローパスフィルタ14に通すことによ
り、エンベロープ抽出後も多少残っている元の高周波波
形(I M Hz )や、語周波ノイズを取り除く。
続されたプリアンプ部を示している。図は側断面図であ
り、電極3が2ケ所設けられているが、磁気ヘッド1に
は合計4ケ所に貫通穴をあけそこにステンレス製の丸棒
を樹脂またはガラスなどで埋め込み、ディスク2の対向
面をヘッドのレール面と同一面となるように研磨して電
極3を形成する。6c、6dは1図面には呪われていな
い別の2ケ所の電極に接続されている。これらの電極は
、M n Z nフェライトやアルミナチタンカーバイ
ドなどのような導電性スライダの一部を絶縁分割して形
成したものでもよい。この各電極上端から4チヤネルの
静電容量−電気信号変換回路のプリアンプ部6a〜6d
まで配線する。この配線には極細の同軸ケーブル4を使
うことにより浮遊容量の影響をより小さくできる。また
この配線をなるべく短くするために、静電容量−電気信
号変換回路の第1段部分(プリアンプ部6a〜Ge)を
装置内のヘッド近傍に分難して設置した。またヘッド上
面の電極直前まで引き伸ばしているダミー線5を上記配
線と並列に設け、もう1チヤネルの静電容量−電気信号
変換回路のプリアンプ部6eへ接続する。プリアンプ部
6a〜6eは、第2図のようにヘッドに形成した電極端
面とディスクからなる容量と直列になるように設置した
参照容量7と、この2つの直列容量に加わる振幅・周波
数一定の交流電圧8.及び、この2つの直列容量の分圧
を検出するためのボルテージフォロア9からなっている
。交流電圧8は、Wi極−ディスク間にディスク表面電
位より10倍以上の電圧が加わるように、例えばIMH
zで5ボルトの電圧振幅とする。これは、上述したよう
に、磁気ディスク表面が表面電位をもっており、その影
響によりノイズが生じるのを防ぐためである。プリアン
プ以降は同軸ケーブルにより装置外に配線し、まずバッ
ファアンプ10を経てからエンベロープ抽出回路11に
より振幅のエンベロープのみの信号とする。次におよそ
5ボルト近辺にあるエンベロープ信号を直流オフセット
回路12により0ボルト付近までレベルシフトし、さら
にこのエンベロープの変化分をアンプ13により増幅す
る。さらにこれをローパスフィルタ14に通すことによ
り、エンベロープ抽出後も多少残っている元の高周波波
形(I M Hz )や、語周波ノイズを取り除く。
この直流オフセット回路12とアンプ13.ローパスフ
ィルタ14を複数組設けると、より観測しやすい波形と
なる。こうして得られた各チャネルの信号はA/D変換
して計算機にとり込むなどして、ダミー線からの出力を
さしひくなどの信号処理15を行なう。
ィルタ14を複数組設けると、より観測しやすい波形と
なる。こうして得られた各チャネルの信号はA/D変換
して計算機にとり込むなどして、ダミー線からの出力を
さしひくなどの信号処理15を行なう。
本発明によれば、センサーが小型化でき実際の装置での
ヘッド浮上量測定に適する静電容量検出方式のヘッド浮
上量測定方法において、実際の装置特有のノイズを極力
低減し、S/Nを向上させることが可能となるので、装
置内で多くの外乱を受ける中でのヘッドのあらゆるモー
ドの浮上量変化が精度よく測定でき、磁気ディスク装置
の信頼性のより正確な評価、設計を可能とする効果があ
る。
ヘッド浮上量測定に適する静電容量検出方式のヘッド浮
上量測定方法において、実際の装置特有のノイズを極力
低減し、S/Nを向上させることが可能となるので、装
置内で多くの外乱を受ける中でのヘッドのあらゆるモー
ドの浮上量変化が精度よく測定でき、磁気ディスク装置
の信頼性のより正確な評価、設計を可能とする効果があ
る。
第1図は電極を形成したヘッドの側断面図と回路への配
線を示し、第2図は静電容量−電気信号変換回路の概略
ブロック図を示している。 1・・・磁気ヘッド、2・・・磁気ディスク、3・・・
電極。 4・・・極細同軸ケーブル、5・・・ダミー線、6・・
・プリアンプ部、7・・・参照容量、8・・・交流電圧
、9・・・ボルテージフォロア、10・・・バッファア
ンプ、11・・・エンベロープ抽出回路、12・・・直
流オフセット回路、13・・・アンプ、14・・・ロー
パスフィルタ、15・・・信号処理。 6 7°リアンフ0 /−5” ・ 4f号231
線を示し、第2図は静電容量−電気信号変換回路の概略
ブロック図を示している。 1・・・磁気ヘッド、2・・・磁気ディスク、3・・・
電極。 4・・・極細同軸ケーブル、5・・・ダミー線、6・・
・プリアンプ部、7・・・参照容量、8・・・交流電圧
、9・・・ボルテージフォロア、10・・・バッファア
ンプ、11・・・エンベロープ抽出回路、12・・・直
流オフセット回路、13・・・アンプ、14・・・ロー
パスフィルタ、15・・・信号処理。 6 7°リアンフ0 /−5” ・ 4f号231
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、1個または複数の電極を形成したヘッドと、この電
極端面とディスクとの間およびこれを直列に接続した参
照容量に交流電圧を加え、2つの容量に対応する電圧分
圧から電極端面とディスクとの間の静電容量を検出する
回路とからなる磁気ヘッド浮上量測定装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の静電容量検出回路にお
いて、放電しない範囲で磁気ディスク表面電位より十分
大きい交流電圧が電極とディスクの間に加わるようにし
、この交流電圧振幅のエンベロープを抽出し、0レベル
まで電圧オフセットを加えた後エンベロープ変化を増幅
することにより静電容量変化を検出する磁気ヘッド浮上
量測定装置。 3、特許請求の範囲第1項記載の静電容量検出回路にお
いて、この回路とヘッドに形成した電極との間をつなぐ
配線と同一径路をなし電極にはつながらないダミー配線
により、この配線径路で発生する電磁気的ノイズを検出
し、これを全体の信号からさしひくことにより浮上量に
関係する信号のみを測定する磁気ヘッド浮上量測定装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52486A JPS62159385A (ja) | 1986-01-08 | 1986-01-08 | 磁気ヘツドの浮上量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52486A JPS62159385A (ja) | 1986-01-08 | 1986-01-08 | 磁気ヘツドの浮上量測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62159385A true JPS62159385A (ja) | 1987-07-15 |
Family
ID=11476154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52486A Pending JPS62159385A (ja) | 1986-01-08 | 1986-01-08 | 磁気ヘツドの浮上量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62159385A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4931887A (en) * | 1988-02-01 | 1990-06-05 | International Business Machines Corporation | Capacitive measurement and control of the fly height of a recording slider |
| KR970071730A (ko) * | 1996-04-30 | 1997-11-07 | 김광호 | 하드 디스크 드라이브에서의 헤드의 플라잉 높이를 감지하는 방법 |
| KR20040019577A (ko) * | 2002-08-28 | 2004-03-06 | 삼성전자주식회사 | 신호 품질 향상 장치 |
| US7286314B2 (en) | 2005-06-15 | 2007-10-23 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Disk drive with localized clearance and contact potential measurement capability |
| US7310197B2 (en) | 2005-06-15 | 2007-12-18 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Simultaneous measurement of contact potential and slider body clearance in a magnetic disk drive |
| US7405896B2 (en) | 2006-04-26 | 2008-07-29 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Method and apparatus for detecting slider/disk fly-height modulation in a hard disk drive |
-
1986
- 1986-01-08 JP JP52486A patent/JPS62159385A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4931887A (en) * | 1988-02-01 | 1990-06-05 | International Business Machines Corporation | Capacitive measurement and control of the fly height of a recording slider |
| KR970071730A (ko) * | 1996-04-30 | 1997-11-07 | 김광호 | 하드 디스크 드라이브에서의 헤드의 플라잉 높이를 감지하는 방법 |
| KR20040019577A (ko) * | 2002-08-28 | 2004-03-06 | 삼성전자주식회사 | 신호 품질 향상 장치 |
| US7286314B2 (en) | 2005-06-15 | 2007-10-23 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Disk drive with localized clearance and contact potential measurement capability |
| US7310197B2 (en) | 2005-06-15 | 2007-12-18 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Simultaneous measurement of contact potential and slider body clearance in a magnetic disk drive |
| US7405896B2 (en) | 2006-04-26 | 2008-07-29 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Method and apparatus for detecting slider/disk fly-height modulation in a hard disk drive |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| SU1015243A1 (ru) | Емкостный измерительный щуп | |
| EP0315854A1 (en) | Measurement method for moisture content in the skin and apparatus therefor | |
| CN1134746C (zh) | 容性的图像测定方法 | |
| CN115128358A (zh) | 电容检测电路、芯片及电子设备 | |
| CN113203792A (zh) | 一种tmr多阵列的深层缺陷弱磁检测装置 | |
| JPS62159385A (ja) | 磁気ヘツドの浮上量測定装置 | |
| US8736996B2 (en) | Implementing channel signal processing assist with ECS contact detection | |
| CN118884054A (zh) | 一种多通道电容信号调理及采集装置 | |
| US5508614A (en) | Non-contact method for testing for MR shield short circuits | |
| JPS5826071B2 (ja) | 符号化された磁気情報を検出するための磁気変換装置およびその製造方法 | |
| US4130844A (en) | Method and means for tracking magnetic tracks | |
| CN107526993A (zh) | 电容式指纹传感器 | |
| JP5311125B2 (ja) | 静電容量式障害物センサ及び当該障害物センサを備えた車両の開閉システム | |
| JP2002022785A (ja) | インピーダンス検出回路及びインピーダンス検出方法 | |
| CN115616357A (zh) | 高压开关柜中多源局部放电检测装置及定位方法 | |
| JPH11328670A (ja) | 磁気ディスクの検査装置及び検査方法 | |
| CN117706301B (zh) | 一种用于交流耐压过程中高压开关柜局部放电定位方法 | |
| CN114487739B (zh) | 电气设备局部放电脉冲测量用干扰信号抑制装置及方法 | |
| CN214607541U (zh) | 轨检小车轨距检测装置 | |
| Clark | An experimental correlation of slider-disk contact detection between piezoelectric and electrical resistance measurements | |
| JP2000163722A (ja) | 磁気ヘッドの検査方法及びその装置 | |
| GB830679A (en) | An apparatus for dielectric sensing of punched records | |
| Qu et al. | Detecting instrument for DC partial discharge within storage capacitor | |
| US20130204590A1 (en) | Spectral simulation method during noise testing for a magnetic head, and noise-testing method for a magnetic head by using the same | |
| KR100443741B1 (ko) | 자계 유도 방식 에 따른 페라이트 코어의 투사율 검출시스템 |