JPS6215Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6215Y2 JPS6215Y2 JP1440681U JP1440681U JPS6215Y2 JP S6215 Y2 JPS6215 Y2 JP S6215Y2 JP 1440681 U JP1440681 U JP 1440681U JP 1440681 U JP1440681 U JP 1440681U JP S6215 Y2 JPS6215 Y2 JP S6215Y2
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- JP
- Japan
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- laser
- recording
- focus
- focus servo
- disk
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- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は光デイスク記録装置に係り、特に光デ
イスクのフオーカスサーボに関するものである。
イスクのフオーカスサーボに関するものである。
従来光学式デイスクの記録に於ててはレーザを
記録信号で周波数変調してデイスク原盤等に記録
しているがデイスク原盤上に正しく光点を結ぶ様
なフオーカスサーボを行う必要がある。
記録信号で周波数変調してデイスク原盤等に記録
しているがデイスク原盤上に正しく光点を結ぶ様
なフオーカスサーボを行う必要がある。
然し、レーザでの記録時にはデイス原盤のホト
レジスト等が溶融して反射光を取り出すことが出
来なくなるためフオーカスサーボが行なえなくな
る。このためフオーカスサーボ用の補助レーザを
用いるものが提案されている。
レジスト等が溶融して反射光を取り出すことが出
来なくなるためフオーカスサーボが行なえなくな
る。このためフオーカスサーボ用の補助レーザを
用いるものが提案されている。
然し、この構造のものは光学系が複雑化して精
度がとりにくくなる欠点を有していた。又補助レ
ーザを用いずスポツトが穿たれるまでの反射光を
取り出してフオーカスサーボするものもあるが記
録周波数やデイスク盤との相対速度の違いにより
誤差が大きくなり、精度がとれない欠点を有す
る。
度がとりにくくなる欠点を有していた。又補助レ
ーザを用いずスポツトが穿たれるまでの反射光を
取り出してフオーカスサーボするものもあるが記
録周波数やデイスク盤との相対速度の違いにより
誤差が大きくなり、精度がとれない欠点を有す
る。
本考案に上述の如き欠点を除去した光デイスク
記録装置を提供するものであり、補助用のレーザ
を用いず記録用レーザの反射光を用いてフオーカ
スサーボを行なうようにした光デイスク記録装置
を得んとするものである。
記録装置を提供するものであり、補助用のレーザ
を用いず記録用レーザの反射光を用いてフオーカ
スサーボを行なうようにした光デイスク記録装置
を得んとするものである。
このため本考案に於ては記録用レーザの出力を
記録に供する時間以外のカツトされている区間を
再生時と同じ出力で出力して、その時のフオーカ
スサーボ誤差出力のみ取り出すようにしたもので
ある。
記録に供する時間以外のカツトされている区間を
再生時と同じ出力で出力して、その時のフオーカ
スサーボ誤差出力のみ取り出すようにしたもので
ある。
以下、本考案の詳細を第１図乃至第４図につい
て説明する。第１図は記録系を示すもので、デイ
スク１の上面にスポツト２を結ばせるためにレザ
ーダイオード等の光発光手段３よりのレーザはビ
ームスプリツタ４、対物レンンズ５を通過させ、
デイスク１で反射した反射光はビームスプリツタ
４からシリンドカルレンズ６を通してフオトタイ
オード等の光受光素子の受光面に焦点を結ぶよう
に成される。
て説明する。第１図は記録系を示すもので、デイ
スク１の上面にスポツト２を結ばせるためにレザ
ーダイオード等の光発光手段３よりのレーザはビ
ームスプリツタ４、対物レンンズ５を通過させ、
デイスク１で反射した反射光はビームスプリツタ
４からシリンドカルレンズ６を通してフオトタイ
オード等の光受光素子の受光面に焦点を結ぶよう
に成される。
第２図Ａ〜Ｃは受光素子７の受光面に結ばれた
反射スポツト状態を示すもので受光素子は４つに
分割され、相対向する電極は互に接続され、接続
されたペアの出力は差動増巾器８等に加えられ、
誤差動増巾器の出力によりフオーカス制御電圧が
取り出される。即ち第２図Ａではスポツト２はデ
イスクに近すぎて＋Ｖの出力が取り出され、第２
図Ｃでは遠すぎて−Ｖの出力が増動増巾器より取
り出されている。第２図ｂは焦点位置が正しく合
つた場合で出力は雰Ｖである。
反射スポツト状態を示すもので受光素子は４つに
分割され、相対向する電極は互に接続され、接続
されたペアの出力は差動増巾器８等に加えられ、
誤差動増巾器の出力によりフオーカス制御電圧が
取り出される。即ち第２図Ａではスポツト２はデ
イスクに近すぎて＋Ｖの出力が取り出され、第２
図Ｃでは遠すぎて−Ｖの出力が増動増巾器より取
り出されている。第２図ｂは焦点位置が正しく合
つた場合で出力は雰Ｖである。
上述の各出力はデイスクとスポツトとの高低に
比例すると共にレーザの反射光の強さにも比例す
るため通常は記録用変調器の影響を受けてサーボ
の利得か変化する問題を発生した、そこで本考案
では第３図に示すように検出回路を構成した。即
ち、先づ第４図イに示す記録変調パルスを端子
T1に加えて混合回路９に加える。該混合回路に
は再生時と同等のレーザ出力を得るようにバイア
ス電圧〓を端子T3に加えて第４図ロに示す重畳
波形を得て、該重畳波形をレーザタイオード等の
光発光素子１０に加える。かくすることでデイス
ク原盤１上には第４図イのパルスに対応したレー
ザ出力で孔明けが成される。端子T2には第４図
ニのフオーカス信号検出入力が加えられてサンプ
ルホールド回路１１に加えられる。
比例すると共にレーザの反射光の強さにも比例す
るため通常は記録用変調器の影響を受けてサーボ
の利得か変化する問題を発生した、そこで本考案
では第３図に示すように検出回路を構成した。即
ち、先づ第４図イに示す記録変調パルスを端子
T1に加えて混合回路９に加える。該混合回路に
は再生時と同等のレーザ出力を得るようにバイア
ス電圧〓を端子T3に加えて第４図ロに示す重畳
波形を得て、該重畳波形をレーザタイオード等の
光発光素子１０に加える。かくすることでデイス
ク原盤１上には第４図イのパルスに対応したレー
ザ出力で孔明けが成される。端子T2には第４図
ニのフオーカス信号検出入力が加えられてサンプ
ルホールド回路１１に加えられる。
該サンプルホールド回路１１には記録変調パル
スをを位相反転回路１２で反転した信号が与えら
れている。
スをを位相反転回路１２で反転した信号が与えら
れている。
上述の構成でデイスク面の変位（上下変動）が
第４図ハに示す如くなつているとすれば、端子
T2に加えられたフオーカス信号検出入力の波形
（第４図ニは記録変調パルスがない場合はバイア
ス電圧Ωに対応した第４図ニのａの如くなり、記
録変調パルスがあると反射は一層大きくなつて第
４図２のｂの如くなる。次にデイスク原盤が焼け
て孔が穿たれるつれて反射信号が無くなり第４図
ニのＣに示すように雰になる。ここで変調パルス
（第４図イ）を位相反転しサンプルパルスとし、
第４図ニに示すフオーカス信号検出入力をサンプ
ルすると記録変調パルスに対応したフオーカス信
号（第４図ニのｂ，ｃ）が除去され第４図ホに示
す信号が得られるので孔の有無に関係ないフオー
カス検出信号が端子T4に得られる。
第４図ハに示す如くなつているとすれば、端子
T2に加えられたフオーカス信号検出入力の波形
（第４図ニは記録変調パルスがない場合はバイア
ス電圧Ωに対応した第４図ニのａの如くなり、記
録変調パルスがあると反射は一層大きくなつて第
４図２のｂの如くなる。次にデイスク原盤が焼け
て孔が穿たれるつれて反射信号が無くなり第４図
ニのＣに示すように雰になる。ここで変調パルス
（第４図イ）を位相反転しサンプルパルスとし、
第４図ニに示すフオーカス信号検出入力をサンプ
ルすると記録変調パルスに対応したフオーカス信
号（第４図ニのｂ，ｃ）が除去され第４図ホに示
す信号が得られるので孔の有無に関係ないフオー
カス検出信号が端子T4に得られる。
本考案はは上述の如く構成させたので、記録パ
ルスの変調にかかわらず常に一定のフオーカス該
差信号を取り出すことが出来るためにに上記信号
を用いて特別のフオーカス用レーザを用いること
なく安定なフオーカスサーボを行い得る。又上記
実施例に於いてはレーザ源として半導体レーザを
用いたがガスレーザと変調器により構成されたも
のを用いてもよい。即ち変調器がオン．オフ的な
スイツチンを行なうものであれば変調器の前のレ
ーザビームを２つに分け一方に変調をかけた後混
合するようにすればよいことは明かである。
ルスの変調にかかわらず常に一定のフオーカス該
差信号を取り出すことが出来るためにに上記信号
を用いて特別のフオーカス用レーザを用いること
なく安定なフオーカスサーボを行い得る。又上記
実施例に於いてはレーザ源として半導体レーザを
用いたがガスレーザと変調器により構成されたも
のを用いてもよい。即ち変調器がオン．オフ的な
スイツチンを行なうものであれば変調器の前のレ
ーザビームを２つに分け一方に変調をかけた後混
合するようにすればよいことは明かである。
第１図は従来のフオーカスサーボの光学系を示
す図、第２図Ａ，Ｂ，Ｃは第１図のフオーカス面
の形状を表す平面図、第３図は本考案の系統図、
第４図は第３図の波形説明図である。 図中１はデイスク、３光発光手段、４はビーム
スプリツタ、５は対物レンズ、６はシリンドカル
レンズ、７は受光素子、８は差動増巾器、９は混
合回路、１０は光発光素子、１１はサンプルホー
ルド回路である。
す図、第２図Ａ，Ｂ，Ｃは第１図のフオーカス面
の形状を表す平面図、第３図は本考案の系統図、
第４図は第３図の波形説明図である。 図中１はデイスク、３光発光手段、４はビーム
スプリツタ、５は対物レンズ、６はシリンドカル
レンズ、７は受光素子、８は差動増巾器、９は混
合回路、１０は光発光素子、１１はサンプルホー
ルド回路である。
Claims (1)
- １つのレーザ発光部よりのレーザを変調してデ
イスクに記録すると共に該記録用レーザを用いて
フオーカスサーボを行う様にした光デイスク記録
装置に於いて、レーザ記録部以外の区間でもフオ
ーカスサーボを行うにたるバイアス発光する様に
なす手段と該レーザ記録部以外の区間のフオーカ
ス検出信号を取り出してフオーカスサーボを行う
手段とより成る光デイスク記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1440681U JPS6215Y2 (ja) | 1981-02-05 | 1981-02-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1440681U JPS6215Y2 (ja) | 1981-02-05 | 1981-02-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57129237U JPS57129237U (ja) | 1982-08-12 |
| JPS6215Y2 true JPS6215Y2 (ja) | 1987-01-06 |
Family
ID=29812454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1440681U Expired JPS6215Y2 (ja) | 1981-02-05 | 1981-02-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6215Y2 (ja) |
-
1981
- 1981-02-05 JP JP1440681U patent/JPS6215Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57129237U (ja) | 1982-08-12 |
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