JPS62167486A - Ｃａｎ型ｉｃ用自動検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 童ｊユ２氷訪 本発明は、ＣＡＮ型ＩＣの電気的特性検査を合理的に行
うＣＡＮ型Ｉ型用Ｃ用自動検査装置する。

従来夏伎五 市販のＩＣ用自動検査装置は、ＩＣ供給部に収容された
被測定ＩＣを検査部へ移動し、そこでテスタとの間で電
気的特性試験を行い、その判別信号をテスタより受け、
ＩＣを前もって設定された収納部へ分類・収納するよう
になっている。

きｌ（りｎ７シよ゛と　るロー、屯 ＣＡＮ型ＩＣでは、メタルケースの一端部から複数本の
リードピンが突出しているが、このリードピンの多くは
製造、顕送工程で曲がり、中にはリードピン同士が接触
するほどに曲がったものが現れるため、前述した従来の
ＩＣ用自動検査装置はＣＡＮ型ＩＣの検査には適用でき
ず、それ故、ＣＡＮ型ＩＣの検査は手作業により１つず
つ行っており、大量の検査には多大の時間を必要とした
。

本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、Ｃ，
ＡＮ型ＩＣの供給から排出までの一連の電気的特性検査
を自動的に行うＣＡＮ型ＩＣ用自動検査装置を提供する
ことを目的とする。

ｒ４　　占を１ン　るための　− 前記目的を達成するため、本発明は、ＣＡＮ型ＩＣ″ｈ
＜滑降する第１傾斜通路およびその延長上に位置する第
２傾斜通路と、第１ｆｔＱ斜通路のＣＡＮ型ＩＣを第２
傾斜通路に移送する回転テーブルと、この回転テーブル
との間でＣＡＮ型ＩＣを挟むゲート部材と、検査に際し
てＣＡＮ型ＩＣのピン番指示突片を位置決めする第１ス
トッパと、ＣＡＮ型ＩＣのり−ドピン同士が接触するの
を防止するピン間隙保持部材と、検査後のリードピンが
ピン間隔保持部材と共に上昇するのを防止する第２スト
ッパと、電気的特性検査を行うプローブとを備えている
。

１且 ＣＡＮ型ＩＣはそのリードピンを上に、メタルケースを
下にして第１傾斜通路上に一列状態に並べられる。そし
て先頭のＣＡＮ型ＩＣから１個ずつ回転テーブルにより
移送され第２傾斜通路に滑入する。その後、ＣＡＮ型Ｉ
Ｃのメタルケースの外周部がゲート部材に受け止められ
回転テーブルとゲート部材との間に挟まれて回転する。

このとき、ＣＡＮ型ＩＣのピン番指示突片が第１ストッ
パに受け止められ、ＣＡＮ型ＩＣの各リードピンが所定
位置にセントされる。次にピン間隙保持部材がＣＡＮ型
ＩＣのリードピン群の中に上方から挿入され、リードピ
ンの先端が外方へ押し広げられた状態で、各リードピン
にそれぞれのプローブが側方から押しつけられ電気的特
性検査が行われる。その後、プローブが後退し、ピン間
隙保持部材が上昇する。このとき、リードピンがピン間
隙保持部材と一緒に上昇しようとすれば、そのり一ドピ
ンの先端が第２ストッパに当たってその上昇を阻止され
る。さらにＣＡＮ型ＩＣはゲート部材が開けられること
により第２　（ｔｑ斜通路を滑降して出て行く。

災止皿 第３図は検査の対象となるＯＰアンプ等のＣＡＮ型ＩＣ
（以下、単にｒｃと称する）１０を示すもので、メタル
ケースＬＯａの一端側には同心円上で等ピッチで位置す
る複数本のリードピン１０ｂが突出し、かつメタルケー
ス１０ａのリードピン突出＋！Ｉ１１にあるフランジ１
０ｃの外周にはピン番指示突片１０ｄが形成されている
。

第１図は本発明の一実施例にかかるＣＡＮ型ＩＣ用自動
検査装置の一部破断側面図である。

このＣＡＮ型ＩＣ用自動検査装置は水平線に対してα度
（例えば３５°）だけ傾斜し図示しない昇降装置により
矢印Ａ、力方向斜めに昇降する下部ブロック２０と、同
じくα゛顛斜て定位置で作動する上部ブロック３０とに
大別することができる。

まず下部ブロック２０を説明する。

前述の図示しない昇降装置に支持される架台４０はベー
ス４０ａとその上部の面板４０ｂとをステー４００によ
り連結してなる。前述のα度で（項斜する第１傾斜通路
５０は、面板４０ｂの一例部に連結したＩＣスティック
５０ａとその先端で面板４０ｂの上面に凹溝状に形成さ
れたＩＣ供給口５０ｂとからなっている。第１傾斜通路
５０の先端延長通路として前述のα度で傾斜する第２傾
斜通路６０は面板４０ｂの上面に凹溝状に形成されてい
る。第１傾斜通路５０のＩＣ供給口５０’ｂと第２傾斜
通路６０との間に形成された丸孔６１には前述のα度で
傾斜する回転テーブル６２が挿入され、かつ回転テーブ
ル６２の上面には、ＩＣ供給口５０ｂからのＩＣｌ０が
滑入する傾斜凹部６２ａが形成されている。回転テーブ
ル６２の駆動装置７０はエアシリンダ７０ａ　と、この
エアシリンダ７０ａに支持されたランク７０ｂ　と、こ
のランク７０ｂがかみ合うビニオン７０ｃからなり、こ
のピニオン７０Ｃは回転テーブル６２の下方へ突出した
回転軸６３に取りつけられている。第２傾斜通路６０の
入口近傍に設けられた丸孔７１にはローラからなるゲー
ト部材７２が挿入され、このゲート部材７２は面板４０
ｂ下に配置されたエアシリンダ７３に支持されている。

上記面板４０ｂの上面には、さらに、回転テーブル６２
とゲート部材７２に挟まれて回転するＩＣｌ０のピン番
指示突片１０ｄが当たる第１ストッパ（第２図）７４が
設けられている。なお、回転テーブル６２とゲート部材
７２の外周部は、ＩＣｌ０のメタルケース１０ａを確実
に回転させるため、ゴム輪６２ｂ　、７２ａにより形成
されている。

次に上部ブロック３０を説明する。

回転テーブル６２とゲート部材７２に挟まれて回転する
ＩＣｌ０の中心線上には、下向に先細りとなったコーン
形のピン間隙保持部材８０が配置されている。このピン
間隙保持部材８０は固定台８１に取りつけられたエアシ
リンダ８２に支持され、かつピン間隙保持部材８０の外
周には、固定台８１に支持されたスリーブ状の第２スト
ッパ８３がピン間隙保持部材８０を取り囲むように配置
されている。ピン間隙保持部材８０の周りには、ＩＣｌ
０のり−ドピン１０ｂと同数のプローブ８４が放射状（
第４図）に配置されている。各プローブ８４は、固定台
８１に取りつけられたそれぞれのエアシリンダ８５に支
持されてピン間隙保持部材８０の半径方向に移動自在で
ある。

次に前記構成によるＩＣ検査方法を述べる。

■　第１図および第５図のように、ＩＣｌ０のメタルケ
ース１０ａはＩＣスティック５０ａにその上端５０Ｃ側
から順次挿入され、自重により矢印Ｂ方向に斜めに滑降
し、−列状態に並べられる。このとき、ＩＣｌ０のリー
ドピン１０ｂはＩＣスティック５０ａの上方に突出して
いる。またＩＣスティック５０ａ内を滑降した先頭のＩ
Ｃｌ０のメタルケース１０ａはＩＣ供給口５０ｂから回
転テーブル６２の傾斜凹部６２ａに進入して停止する。

■　エアシリンダ（第２図）７０ａが作動してこれによ
りラック７０ｂとピニオン７０ｃを介して回転軸６３つ
まり回転テーブル６２が第２図において反時計方向に半
回転し、傾斜凹部６２ａが第２傾斜通路６０の入口（上
端部）に一致する。このとき、傾斜凹部６２ａ内のＩＣ
ｌ０のメタルケース１０ａは丸孔６１の円周面６１ａに
案内されて第２１填料通路６０の入口に到達し、傾斜凹
部６２ａから自重により第２傾斜通路６０に屑入し、ゲ
ート部材７２に受け止められる。

また前記のように回転テーブル６２が回転したとき、Ｉ
Ｃ供給口５０ｂ内にある次のＩＣｌ０のメタルケース１
０ａは、回転テーブル６２の外周面つまりゴム輪６２ｂ
に受け止められて待機する。

■　エアシリンダ７０ａの作動により回転テーブル６２
が逆方向（第２図において時計方向）に半回転する。そ
の結果、ＩＣｌ０のメタルケース１０ａの外周面が回転
テーブル６２とゲート部材７２のゴム輪６２ｂ　、７２
ａ間に挟まれてＩＣ中心軸を中心に回転する。このとき
、ピン番指示突片１０ｄが第１ストツバ７４に当たり、
ゴム輪６２ｂがメタルケース１０の外周部をすべること
によりＩＣｌ０の回転がやみ、各リードピン１０ｂの位
置決めが行われる。また、回転テーブル６２が逆方向に
半回転し終わったとき、その傾斜四部６２ａが再びＩＣ
供給口５０ｂに一致することにより、ＩＣ供給口５０ｂ
に待機している先頭のＩＣ１０のメタルケース１０ａが
■で述べたように回Φ云チーフルロ２の（項斜凹部６２
ａに自重により滑入する。

■　図示しない昇降装置により下部ブロック２０が第１
図の矢印Ａ、方向へ斜めに上昇し、回転テーブル６２と
ゲート部材７２に挟まれているＩＣｌ０のり−ドピン１
０ｂ群がプローブ８４群の中央部に挿入され（第６図）
、各リードピン１０ｂが所定のプローブ８４と対向する
。

■　第６図において、エアシリンダ８２の作動によりピ
ン間隙保持部材８０が第１図の矢印Ａ２方向に斜めに下
降しＩＣｌ０のリードピン１０ｂ群の中央部に挿入され
る（第７図）。このときリードピン１０ｂが曲がってい
るならば、その曲がったり−ドピンｌｏｂの先端はピン
間隙保持部材８０により外方へ押しやられ、リードピン
１０ｂ同士の接触が防止される。

■　第６図において、各エアシリンダ８５の作動により
、それぞれのプローブ８４の先端部が矢印Ｃ１方向に前
進し所定のリードピン１０ｂの根元部に押しつけられる
（第７図、第８図）。この場合、リードピン１０ｂが曲
がっていても、その根元部の曲が２つによる位置ずれは
極めて小さいので、プローブ８４はリードピン１０ｂに
着実に接触する。また、上記のように各プローブ８４を
ＩＣｌ０の周囲からそれぞれのリードピン１０ｂに当て
つける場合には、複数本のリードピンＩＯｂの同心円上
での設定ピンチが異なっても、各位置でリードピン１０
ｂとプローブ８４との対向間隔（ＩＣ半径の間隔）が変
わるだけであるから、機構の変更を伴うことなくそれに
対処することができる。

■　各プローブ８４を通して各リードピン１０ｂに電圧
が印加され、電気的特性検査が行われる。

■　第７図において、各エアシリンダ８５が作動して、
プローブ８４が矢印Ｃ２方向に後退しり−ドピン１０ｂ
から離れる。

■　第７図において、エアシリンダ８２の作動によりピ
ン間隙保持部材８０が上昇しり−ドピン１０ｂ群の中か
ら抜き取られる。このとき、リードピン１０ｂがピン間
隙保持部材８０に付いて上がろうとしても、そのリード
ピンｔａｂの先端部が第２ストッパ８３の下端面に当た
って受け止められることにより、リードピン１０ｂはピ
ン間隙保持部材８０と一緒に上がることはできず、いわ
ゆる、ふり落とされることになる。

［相］　第１図において、図示しない前述の昇降装置に
より下部ブロック２０が矢印Ａ、方向に斜めに下降し元
の状態に戻る。

■　第１において、エアシリンダ７３の作動により、ゲ
ート部材７２が下降し第２傾斜通路６０下に没する。

これによりゲート部材７２と回転テーブル６２間に挟ま
れていたｒｃｉｏが第２傾斜通路６０をさらに自重で滑
降してこの第２傾斜通路６０から、■で述べた電気的特
性検査にしたがって作動するＩＣ選別装置（図示せず）
に入り、このＩＣ選別装置により良・不良品に選別され
次の工程に送り出される。

以下、■の工程に戻り同じサイクルがくり返し行われる
。

なお、前記実施例では、下部ブロック２０を昇降するよ
うにしたが、下部ブロック２０を定位置にセントし、上
部ブロック３０を昇降するようにしてもよい。また、回
転テーブル６２によるＩＣｌ０の供給および回転は、回
転テーブル６２の正転、逆転により行ったが、回転テー
ブル６２の一方向への回転により行うこともできる。

倉匪互泣果 本発明のＣＡＮ型Ｉ型用Ｃ用自動検査装置れば、ＣＡＮ
型ＩＣを１つずつ検査部に送り、そこでＩＣのリードピ
ンの位置決めとリードピン同士の接触を防止して正確な
電気的特性検査を行い、良・不良品品選別装置へ送り出
すという一連の検査工程を自動化できるという効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例にががるＣＡＮ型Ｉ型用Ｃ用
自動検査装置部破断側面図、第２図は第１図のＳ−Ｓ線
矢視図、第３図はＣＡＮ型ＩＣの斜視図、第４図はプロ
ーブ部の平面図、第５図はＣＡＮ型ＩＣをＩＣステイン
クに装着した状態の正面図、第６図は検査部の一部切欠
正面図、第７図は第６図に対する動作図、第８図はプロ
ーブをリードピンに押しつけた状態の平面図である。 １０・・・ＣＡＮ型■Ｃ１１０ａ　・・・メタルケース
、１０ｂ　　・・・リードピン、１０ｄ　　・・・ピン
番指示突片、５０・・・第１傾斜通路、６０・・・第２
傾斜通路、６２・・・回転テーブル、７２・・・ゲート
部材、７４・・・第１ストッパ、８０・・・ピン間隙保
持部材、８３・・・第２ストッパ、８４・・・プローブ
。 特許出願人　株式会社　島津製作所 代理人　弁理士　　大　西　孝　治 第３図 第６図 第４図 第５図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）ＣＡＮ型ＩＣをそのリードピンを上にメタルケー
   スを下にして一列状態に並べかつ滑降させる第１傾斜通
   路と、この第１傾斜通路の先端延長通路として前記ＣＡ
   Ｎ型ＩＣを更に滑降させる第２傾斜通路と、第１傾斜通
   路内の先頭のＣＡＮ型ＩＣを受け入れた後回転移送して
   第２傾斜通路へ滑入させる回転テーブルと、第２傾斜通
   路に滑入したＣＡＮ型ＩＣを受け止めると共に回転テー
   ブルとの間で前記メタルケースの外周部を挟んで回転さ
   せるゲート部材と、その回転時にＣＡＮ型ＩＣのピン番
   指示突片を受け止めて位置決めする第１ストッパと、そ
   の位置決め状態で前記リードピン群の中へ上方から挿入
   されるピン間隙保持部材と、このピン間隙保持部材の周
   りから各リードピンに押しつけられるプローブと、この
   プローブによる検査後、前記ピン間隙保持部材と共にリ
   ードピンが上昇するのを阻止する第２ストッパとを備え
   、前記プローブによる検査後、前記ゲート部材を開ける
   ようにしたことを特徴とするＣＡＮ型ＩＣ用自動検査装
   置。