JPS62170802A - 光源の光度制御装置 - Google Patents
光源の光度制御装置Info
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- JPS62170802A JPS62170802A JP61012787A JP1278786A JPS62170802A JP S62170802 A JPS62170802 A JP S62170802A JP 61012787 A JP61012787 A JP 61012787A JP 1278786 A JP1278786 A JP 1278786A JP S62170802 A JPS62170802 A JP S62170802A
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- voltage
- luminous intensity
- current
- optical fiber
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ファイババンドルを用いた光源の光度制御装
置に関し、特に反射式微小変位測定器に利用する標準光
源の光度を制御するのに好適な光度制御装置に関するも
のである。
置に関し、特に反射式微小変位測定器に利用する標準光
源の光度を制御するのに好適な光度制御装置に関するも
のである。
一般に、被測対象物の移動距離、変位等を高精度に測定
するには、種々の測定方法が知られているが、光学的な
方法として、光フアイバハンドルを用いた反射式微小変
位測定器が知られている。
するには、種々の測定方法が知られているが、光学的な
方法として、光フアイバハンドルを用いた反射式微小変
位測定器が知られている。
第6図ないし第8図により、従来技術による光ファイバ
バンドルを用いた微不変位測定器を示す。同図において
、lは光ファイババンドルを示し、該光ファイババンド
ル1は所望の長さをもった東線部2を有し、該東線部2
は発光用光ファイバ3と受光用光ファイバ4とが一体的
に東線され、該東線部2の一端側では該発光用光ファイ
バ3、受光用光ファイバ4に分岐している。そして、該
発光用光ファイバ3の一端側は入射部3Aとなって、該
入射部3Aの端面には例えば発光ダイオードからなる発
光器5が設けられ、また受光用光ファイバ4の一端側は
出射部4Aとなって、該出射部4Aの端面には例えばホ
トダイオードからなる受光器6が設けられている。一方
、前記東線部2の他端側はその端面において発光用光フ
ァイバ3、受光用光ファイバ4が露出し、軸中心側に位
置する円形状の投光端面3B、該投光端面3Bの外周に
これと同軸に位置する円環状の受光端面4Bを形成して
いる(第7図参照)。7は前記投光端面3B、受光端面
4Bと所定の距離りをもって対面する被測対象物を示す
。
バンドルを用いた微不変位測定器を示す。同図において
、lは光ファイババンドルを示し、該光ファイババンド
ル1は所望の長さをもった東線部2を有し、該東線部2
は発光用光ファイバ3と受光用光ファイバ4とが一体的
に東線され、該東線部2の一端側では該発光用光ファイ
バ3、受光用光ファイバ4に分岐している。そして、該
発光用光ファイバ3の一端側は入射部3Aとなって、該
入射部3Aの端面には例えば発光ダイオードからなる発
光器5が設けられ、また受光用光ファイバ4の一端側は
出射部4Aとなって、該出射部4Aの端面には例えばホ
トダイオードからなる受光器6が設けられている。一方
、前記東線部2の他端側はその端面において発光用光フ
ァイバ3、受光用光ファイバ4が露出し、軸中心側に位
置する円形状の投光端面3B、該投光端面3Bの外周に
これと同軸に位置する円環状の受光端面4Bを形成して
いる(第7図参照)。7は前記投光端面3B、受光端面
4Bと所定の距離りをもって対面する被測対象物を示す
。
このように構成される光ファイババンドル1を用いて微
小変位を測定するには、発光器5に所定の電流を流して
これを点灯する。これにより、発光器5からの光は発光
用光ファイバ3の入射部3Aに送光され、該光ファイバ
3、東線部2を介してその他端側に位置する投光端面3
Bから被測対象物7に放射される。一方、該被測対象物
7からの反射光は光ファイバ4の他端側に位置する受光
端面4Bに入射され、東線部2、受光用光ファイバ4、
出射部4Aを介して受光器6で受光される。この結果、
受光器6では反射光の強さに応じた電流ICとして変換
され、該電流ICは第8図に示すように被測対象物7と
の間の距離りに応じて所定の特性を有している。
小変位を測定するには、発光器5に所定の電流を流して
これを点灯する。これにより、発光器5からの光は発光
用光ファイバ3の入射部3Aに送光され、該光ファイバ
3、東線部2を介してその他端側に位置する投光端面3
Bから被測対象物7に放射される。一方、該被測対象物
7からの反射光は光ファイバ4の他端側に位置する受光
端面4Bに入射され、東線部2、受光用光ファイバ4、
出射部4Aを介して受光器6で受光される。この結果、
受光器6では反射光の強さに応じた電流ICとして変換
され、該電流ICは第8図に示すように被測対象物7と
の間の距離りに応じて所定の特性を有している。
即ち、第8図かられかるように、光ファイババンドル1
の他端側端面と被測対象物7との間の距離りが零のとき
は電流ICは零であり、距離りの増加と共に電流rc
も増大し、ある距21 D oで電流ICが極大となり
、それ以上では漸次減少するような特性を有している。
の他端側端面と被測対象物7との間の距離りが零のとき
は電流ICは零であり、距離りの増加と共に電流rc
も増大し、ある距21 D oで電流ICが極大となり
、それ以上では漸次減少するような特性を有している。
このような電流特性において、距#Dの変化と電流IC
の変化とが比例する範囲を利用すれば、当該電流Icの
変化から距離りを求めることができる。このため、受光
器6を演算回路(図示せず)に接続し、該演算回路によ
って電流ICの変化を演算することにより、微小変位の
測定を行うことができる。
の変化とが比例する範囲を利用すれば、当該電流Icの
変化から距離りを求めることができる。このため、受光
器6を演算回路(図示せず)に接続し、該演算回路によ
って電流ICの変化を演算することにより、微小変位の
測定を行うことができる。
然るに、電流ICが極大となる所定距離n。
は、光ファイババンドルlの他端側における投光端面3
B、受光端面4Bが構成する相対的位置、形状等の端面
パターン(以下、パターンという)に応じて一定となる
。従って、発光器5の光度が小さくなったり、被測対象
物7からの反射光が減少すると、電流ICがIc’に減
少するが、これら電流ICまたはIC’が極大となる距
離Doの位置は一定であることが知られている。従って
、光ファイババンドルlを利用した反射式微小変位測定
器は、電流ICが極大となる距離DOは機種に応じて固
有の値となるから、当該特性を利用して電流ICの変化
から距離りを容易に求めることができる。
B、受光端面4Bが構成する相対的位置、形状等の端面
パターン(以下、パターンという)に応じて一定となる
。従って、発光器5の光度が小さくなったり、被測対象
物7からの反射光が減少すると、電流ICがIc’に減
少するが、これら電流ICまたはIC’が極大となる距
離Doの位置は一定であることが知られている。従って
、光ファイババンドルlを利用した反射式微小変位測定
器は、電流ICが極大となる距離DOは機種に応じて固
有の値となるから、当該特性を利用して電流ICの変化
から距離りを容易に求めることができる。
しかし、この反面で極大となるときの電流■。
の値は、被測対象物7に応じて異なるから、極大となる
ときの電流ICの値が予め規定した値となるように、発
光器5の光度を調整する必要がある。そして、この光度
調整操作を一般に較正手続と呼んでいる。いま、第8図
に示す特性線図の場合、ある被測対象物について電流特
性がIc′であるときには、発光器5の光度を増大させ
、電流特性が規定の特性Icと一致するように較正手続
すれば、当該電流Icの値から距離りを求めることがで
きる。
ときの電流ICの値が予め規定した値となるように、発
光器5の光度を調整する必要がある。そして、この光度
調整操作を一般に較正手続と呼んでいる。いま、第8図
に示す特性線図の場合、ある被測対象物について電流特
性がIc′であるときには、発光器5の光度を増大させ
、電流特性が規定の特性Icと一致するように較正手続
すれば、当該電流Icの値から距離りを求めることがで
きる。
而して、前述した方法にあっては、被測対象物7の反射
率が常に一定であるとか、または1回の測定毎に較正手
続をすることが容易であるような場合には問題は少ない
。しかし、次々と被測対象物7が変化するようなものを
自動測定する場合にあっては、反射率が一定であること
は期待できず、また較正手続も自動化しなければ、これ
に対処することができないという問題点がある。
率が常に一定であるとか、または1回の測定毎に較正手
続をすることが容易であるような場合には問題は少ない
。しかし、次々と被測対象物7が変化するようなものを
自動測定する場合にあっては、反射率が一定であること
は期待できず、また較正手続も自動化しなければ、これ
に対処することができないという問題点がある。
本発明は前述した問題点に鑑みなされたもので、被測対
象物の反射率が変化した場合には発光器の光度を自動的
に調整して電流特性を規定の特性となるように制御し、
また演算回路に入力すべき電圧特性も規定の特性に維持
しうるようにした光源の光度制御装置を提供することに
ある。
象物の反射率が変化した場合には発光器の光度を自動的
に調整して電流特性を規定の特性となるように制御し、
また演算回路に入力すべき電圧特性も規定の特性に維持
しうるようにした光源の光度制御装置を提供することに
ある。
上記問題点を解決するために、本発明は、一端側が入射
部および第1.第2の出射部となり、他端側の端面が前
記入射部からの光を放射する投光端面となると共に反射
光を入射する第1.第2の受光端面となった光ファイバ
バンドルと、前記入射部に設けられた発光器と、前記第
1.第2の出射部にそれぞれ設けられた第1.第2の受
光器と、該第1.第2の受光器からの出力の和を演算す
る加算手段と、定電圧を発生する定電圧電源手段と、該
定電圧電源手段と加算手段からの出力に基づき前記発光
器を所定の光度に調整する光度調整手段とから構成し、
反射光の増減に拘らず、発光器を所定の光度に維持する
ようにしたことにある。
部および第1.第2の出射部となり、他端側の端面が前
記入射部からの光を放射する投光端面となると共に反射
光を入射する第1.第2の受光端面となった光ファイバ
バンドルと、前記入射部に設けられた発光器と、前記第
1.第2の出射部にそれぞれ設けられた第1.第2の受
光器と、該第1.第2の受光器からの出力の和を演算す
る加算手段と、定電圧を発生する定電圧電源手段と、該
定電圧電源手段と加算手段からの出力に基づき前記発光
器を所定の光度に調整する光度調整手段とから構成し、
反射光の増減に拘らず、発光器を所定の光度に維持する
ようにしたことにある。
以下、本発明の実施例を第1図ないし第5図に基づいて
詳細に述べる。なお、前述した従来技術と同一構成要素
には同一符号を付し、その説明を省略する。
詳細に述べる。なお、前述した従来技術と同一構成要素
には同一符号を付し、その説明を省略する。
第1図において、11は本実施例の光ファイババンドル
を示し、該光ファイババンドル11は所望の長さをもっ
た東線部12を有し、該東線部12は発光用光ファイバ
13、第1の受光用光ファイバ14.第2の受光用光フ
ァイバ15が一体的に東線され、該東線部12の一端側
でこれら各光ファイバ13,14.15に分岐している
。そして、発光用光ファイバ13の一端側は入射部13
Aとなって、該入射部13Aの端面には例えば発光ダイ
オードからなる発光器16が設けられ、また第1.第2
の受光用光ファイバ14゜15の一端側はそれぞれ第1
.第2の出射部14A、15Aとなって、該各出射部1
4A。
を示し、該光ファイババンドル11は所望の長さをもっ
た東線部12を有し、該東線部12は発光用光ファイバ
13、第1の受光用光ファイバ14.第2の受光用光フ
ァイバ15が一体的に東線され、該東線部12の一端側
でこれら各光ファイバ13,14.15に分岐している
。そして、発光用光ファイバ13の一端側は入射部13
Aとなって、該入射部13Aの端面には例えば発光ダイ
オードからなる発光器16が設けられ、また第1.第2
の受光用光ファイバ14゜15の一端側はそれぞれ第1
.第2の出射部14A、15Aとなって、該各出射部1
4A。
15Aの端面には例えばホトダイオードからなる第1.
第2の受光器17.18がそれぞれ設けられている。一
方、前記東線部12の他端側は、その端面において第4
図に示す電流特性を得るように特殊なパターンとなって
いる。即ち、第2図に示すように軸中心側には発光用光
ファイバ13の投光端面13Bと、第2の受光用光ファ
イバ15の第2の受光端面15Bとが一様に混在する円
形状に形成され、該投光端面13Bと第2の受光端面1
5Bの外周側にはこれと同軸に位置する第1の受光用光
ファイバー4による円環状の第1の受光端面14Bが形
成され、これら投光端面13B、第1.第2の受光端面
14B、15Bは被測対象物7と距離りをもって対面し
ている。
第2の受光器17.18がそれぞれ設けられている。一
方、前記東線部12の他端側は、その端面において第4
図に示す電流特性を得るように特殊なパターンとなって
いる。即ち、第2図に示すように軸中心側には発光用光
ファイバ13の投光端面13Bと、第2の受光用光ファ
イバ15の第2の受光端面15Bとが一様に混在する円
形状に形成され、該投光端面13Bと第2の受光端面1
5Bの外周側にはこれと同軸に位置する第1の受光用光
ファイバー4による円環状の第1の受光端面14Bが形
成され、これら投光端面13B、第1.第2の受光端面
14B、15Bは被測対象物7と距離りをもって対面し
ている。
このように構成される光ファイババンドル11は、発光
器16を点灯すると、これからの光は発光用光ファイバ
ー3の入射部13Aに送光され、投光端面13Bから被
測対象物7に放射される。
器16を点灯すると、これからの光は発光用光ファイバ
ー3の入射部13Aに送光され、投光端面13Bから被
測対象物7に放射される。
一方、被測対象物7からの反射光は第1.第2の受光用
光ファイバ14.15の受光端面14B。
光ファイバ14.15の受光端面14B。
15Bに入射され、第1.第2の出射部14A。
15Aで出射される。この結果、第1.第2の受光器1
7,18では反射光の大きさに応じた電流工^ 、IB
として変換され、これら電流14 。
7,18では反射光の大きさに応じた電流工^ 、IB
として変換され、これら電流14 。
rsは第4図に示すように距離りに応じてパターンに対
応した所定の特性を有している。
応した所定の特性を有している。
ここで、各受光器17.18によって得られる電流IA
、IBが極大となる距離りと電流特性曲線は、光ファイ
ババンドル11の他端側端面のパターンによって決定さ
れる。そこで、本実施例の場合、第2図に示す如く前記
他端側端面を、中心側に投光端面13Bと第2の受光端
面15Bとで成形し、その外周側に第1の受光端面14
Bを設けるパターンとすることにより、第3図に示す電
流特性を得ることができる。即ち、第3図において電流
IAが極大となったときの電流値をAP、そのときの距
離をDA 、また電流I8が極大となったときの電流値
をBP、そのときの距離をDBとすると、距離I)A
よりもDBの方を小さく、また電流値AP、BPをほぼ
等しい特性を得ることができる。そして、電流IA、1
.の交点をA3.B3.その点の距離をB3とし、当該
距離D3を挟んで距離DB、DA との間のある距離を
DI、B2.その距離D1.D2での電流値をB1およ
びAI 、B2およびA2とする。
、IBが極大となる距離りと電流特性曲線は、光ファイ
ババンドル11の他端側端面のパターンによって決定さ
れる。そこで、本実施例の場合、第2図に示す如く前記
他端側端面を、中心側に投光端面13Bと第2の受光端
面15Bとで成形し、その外周側に第1の受光端面14
Bを設けるパターンとすることにより、第3図に示す電
流特性を得ることができる。即ち、第3図において電流
IAが極大となったときの電流値をAP、そのときの距
離をDA 、また電流I8が極大となったときの電流値
をBP、そのときの距離をDBとすると、距離I)A
よりもDBの方を小さく、また電流値AP、BPをほぼ
等しい特性を得ることができる。そして、電流IA、1
.の交点をA3.B3.その点の距離をB3とし、当該
距離D3を挟んで距離DB、DA との間のある距離を
DI、B2.その距離D1.D2での電流値をB1およ
びAI 、B2およびA2とする。
このような関係において、電流IA、IB を電圧変換
して電圧VA * ve とし、当該電圧VA 。
して電圧VA * ve とし、当該電圧VA 。
VBを減算または加算すれば第4図に示す如き電圧特性
を得ることができる。即ち、第4図において、電圧VA
かもv8を減算すれば電圧Vl なる特性を得ることが
でき、電圧VA &Vaを加算すれば電圧v2なる特性
を得ることができる。そして、電圧v1の特性は距*
D e とDAの間では負から正に向けて直線的に立上
る電圧特性となり、距離D1 とD2の間ではほぼ直線
的に変化する。
を得ることができる。即ち、第4図において、電圧VA
かもv8を減算すれば電圧Vl なる特性を得ることが
でき、電圧VA &Vaを加算すれば電圧v2なる特性
を得ることができる。そして、電圧v1の特性は距*
D e とDAの間では負から正に向けて直線的に立上
る電圧特性となり、距離D1 とD2の間ではほぼ直線
的に変化する。
従って、この電圧特性を演算回路に入力し、電圧の変化
を演算すれば、微小変位の測定を行うことができる。一
方、電圧v2の特性は距離DBとDA との間ではほぼ
一定な正の電圧特性となっているから、当該電圧特性を
利用して発光器16を制御すれば、該発光器16の光度
を規定値に制御しうる。
を演算すれば、微小変位の測定を行うことができる。一
方、電圧v2の特性は距離DBとDA との間ではほぼ
一定な正の電圧特性となっているから、当該電圧特性を
利用して発光器16を制御すれば、該発光器16の光度
を規定値に制御しうる。
本実施例はこのような点に着目してなされたもので、第
5図によりその具体的回路構成を示す・ 同図において、19は反転入力端子に第1の受光器17
が接続され、該受光器17からの電流1A を電圧−V
A として反転増幅する増幅器、20は該増幅器19の
出力を電圧+VA として反転増幅する増幅器、一方2
1は反転入力端子に第2の受光器18が接続され、該受
光器18からの電流IBを電圧−v8として反転増幅す
る増幅器、22は該増幅器21の出力を電圧+v6とし
て反転増幅する増幅器、23は前記増幅器20の出力側
が非反転入力端子と接続されると共に増幅器22の出力
側が反転入力端子と接続され、■へ−v8の減算処理を
行う減算器で、該減算器23の出力端子23Aからはv
l=v八−VBなる電圧信号を出力する。そして、この
電圧信号は第4図中に示すVlなる電圧特性を有してお
り、当該電圧v1は微小変位を演算する演算回路に入力
される。
5図によりその具体的回路構成を示す・ 同図において、19は反転入力端子に第1の受光器17
が接続され、該受光器17からの電流1A を電圧−V
A として反転増幅する増幅器、20は該増幅器19の
出力を電圧+VA として反転増幅する増幅器、一方2
1は反転入力端子に第2の受光器18が接続され、該受
光器18からの電流IBを電圧−v8として反転増幅す
る増幅器、22は該増幅器21の出力を電圧+v6とし
て反転増幅する増幅器、23は前記増幅器20の出力側
が非反転入力端子と接続されると共に増幅器22の出力
側が反転入力端子と接続され、■へ−v8の減算処理を
行う減算器で、該減算器23の出力端子23Aからはv
l=v八−VBなる電圧信号を出力する。そして、この
電圧信号は第4図中に示すVlなる電圧特性を有してお
り、当該電圧v1は微小変位を演算する演算回路に入力
される。
一方、24は反転入力端子側が前記増幅器19.21の
出力側と接続され、これらからの出力電圧−V八 、−
v8を、■へ十v8として加算処理を行う加算器で、該
加算器24の出力端子24AからはV2 =vA +v
Bなる正の電圧信号を出力する。そして、この電圧信号
は第4図に示すv2なる電圧特性を有している。
出力側と接続され、これらからの出力電圧−V八 、−
v8を、■へ十v8として加算処理を行う加算器で、該
加算器24の出力端子24AからはV2 =vA +v
Bなる正の電圧信号を出力する。そして、この電圧信号
は第4図に示すv2なる電圧特性を有している。
25は発光器16に供給するための負の定電圧を規準電
圧として発生する定電圧電源回路で、該定電圧電源回路
25は例えば定電圧ダイオード26と、負荷となる電圧
調整器27とを含んで構成され、電圧−■を印加するこ
とにより、定電圧ダイオード26に発生した一定電圧は
電圧調整器27によって適宜調整しうるようになってい
る。
圧として発生する定電圧電源回路で、該定電圧電源回路
25は例えば定電圧ダイオード26と、負荷となる電圧
調整器27とを含んで構成され、電圧−■を印加するこ
とにより、定電圧ダイオード26に発生した一定電圧は
電圧調整器27によって適宜調整しうるようになってい
る。
28は非反転入力端子が電圧調整器27と接続された緩
衝器で、該緩衝器28からは電圧調整器27の出力電圧
に対応した増幅率1の負の電圧−Voを出力する。
衝器で、該緩衝器28からは電圧調整器27の出力電圧
に対応した増幅率1の負の電圧−Voを出力する。
29は光度調整回路で、該光度調整回路29は加算器3
0と定電流回路31とから構成されている。ここで、前
記加算器30は反転入力端子側が前述した加算器24、
緩衝器28と接続され、出力端子側から加算器24の出
力電圧+v2と緩衝器28の出力電圧−Vo とを加算
した出力を電圧v3として発生するようになっている。
0と定電流回路31とから構成されている。ここで、前
記加算器30は反転入力端子側が前述した加算器24、
緩衝器28と接続され、出力端子側から加算器24の出
力電圧+v2と緩衝器28の出力電圧−Vo とを加算
した出力を電圧v3として発生するようになっている。
そして、抵抗R1、R2、R3を図示のように設定する
と、電圧v3は となり、抵抗R1=R2とすると、該電圧■3はV3
= −(V2−VO) =K (Vo −V2 ) となる。また、定電流回路31は非反転入力端子が前記
加算器30の出力側と接続された演算増幅器31Aと、
該演算増幅器31Aの出力がベースと接続されると共に
エミッタがその非反転入力端子と接続され、コレクタが
発光器16のカソードと接続されたNPN型トランジス
タ31Bと、抵抗R4とから構成される。そして、加算
器30からの出力電圧v3は定電流回路31に入力され
、16を点灯するようになっている。
と、電圧v3は となり、抵抗R1=R2とすると、該電圧■3はV3
= −(V2−VO) =K (Vo −V2 ) となる。また、定電流回路31は非反転入力端子が前記
加算器30の出力側と接続された演算増幅器31Aと、
該演算増幅器31Aの出力がベースと接続されると共に
エミッタがその非反転入力端子と接続され、コレクタが
発光器16のカソードと接続されたNPN型トランジス
タ31Bと、抵抗R4とから構成される。そして、加算
器30からの出力電圧v3は定電流回路31に入力され
、16を点灯するようになっている。
本実施例はこのように構成されるが、次にその作用につ
いて述べる。
いて述べる。
まず、定電圧電源回路25の電圧調整器27を所定の規
準電圧となるように設定し、該定電圧電源回路25に一
■の電圧を供給する。すると、緩衝器28には電圧調整
器27で設定された負の定電圧−■0を発生する。そし
て、この負の電圧は加算器30に入力されて正の電圧に
変換され、定電流回路31に入力され、トランジスタ3
1Bを流れる電流IOに基づいて発光器16を点灯する
。この際、前記定電圧電源回路25の出力電圧は負の電
圧であるから、電圧調整器27によってこの電圧を増大
させると、発光器16を流れる電流ID も増大するか
ら、該発光器16の光度を増加させることができる。
準電圧となるように設定し、該定電圧電源回路25に一
■の電圧を供給する。すると、緩衝器28には電圧調整
器27で設定された負の定電圧−■0を発生する。そし
て、この負の電圧は加算器30に入力されて正の電圧に
変換され、定電流回路31に入力され、トランジスタ3
1Bを流れる電流IOに基づいて発光器16を点灯する
。この際、前記定電圧電源回路25の出力電圧は負の電
圧であるから、電圧調整器27によってこの電圧を増大
させると、発光器16を流れる電流ID も増大するか
ら、該発光器16の光度を増加させることができる。
次に、光ファイババンドル11の他端側を被測対象物7
と距#Dをもって対面させると、前述したように第1.
第2の受光器17.18は第3図に示す如き電流1八
、Iaが得られる。そして、この電流1八 、IBは増
幅器19と20.21と22をそれぞれ介して、減算器
23によってVl =V4−VBなる演算が行われると
共に、増幅器19.21からの出力は加算器24によっ
て、V2 =V^+VB として加算される。
と距#Dをもって対面させると、前述したように第1.
第2の受光器17.18は第3図に示す如き電流1八
、Iaが得られる。そして、この電流1八 、IBは増
幅器19と20.21と22をそれぞれ介して、減算器
23によってVl =V4−VBなる演算が行われると
共に、増幅器19.21からの出力は加算器24によっ
て、V2 =V^+VB として加算される。
然るに、前記加算器24から操作される電圧v2は正の
電圧であるのに対し、緩衝器28から出力される電圧−
VOは負の電圧である。この結果、光度調整回路29を
構成する加算器30からの出力電圧V3は、加算器24
からの出力電圧■2が増大すると減少し、逆に加算器3
0かもの出力電圧v3は、加算器24からの出力電圧V
2が減少すると増大する。このため、加算器30からの
電圧■3に基づき、当該電圧v3が増大すると定電流回
路31から発光器16に流れる電流工oが大となって該
発光器16の光度を増大させ、逆に当該電圧V3が減少
すると発光器16に流れる電流IDが小となって該発光
器16の光度を減少させる。
電圧であるのに対し、緩衝器28から出力される電圧−
VOは負の電圧である。この結果、光度調整回路29を
構成する加算器30からの出力電圧V3は、加算器24
からの出力電圧■2が増大すると減少し、逆に加算器3
0かもの出力電圧v3は、加算器24からの出力電圧V
2が減少すると増大する。このため、加算器30からの
電圧■3に基づき、当該電圧v3が増大すると定電流回
路31から発光器16に流れる電流工oが大となって該
発光器16の光度を増大させ、逆に当該電圧V3が減少
すると発光器16に流れる電流IDが小となって該発光
器16の光度を減少させる。
かくして、加算器24には定電圧電源回路25で設定さ
れた規準電圧−VOに平衡する電圧■2が自動的に得ら
れ、発光器16の光度は当該規準電圧−VOによって規
定されることになる。即ち、標準光源となる発光器16
の光度は所定の光度となるように制御され、自動的に較
正手続が行われることになる。
れた規準電圧−VOに平衡する電圧■2が自動的に得ら
れ、発光器16の光度は当該規準電圧−VOによって規
定されることになる。即ち、標準光源となる発光器16
の光度は所定の光度となるように制御され、自動的に較
正手続が行われることになる。
以上のようにして、被測対象物7の反射率が変動して受
光器17.18の出力電圧が変動すると、加算器24の
出力電圧v2が変動し、該出力電圧V2が増大したとき
には発光器16の光度を低下させ、該出力電圧v2が減
少したときには発光器16の光度を増大させるように、
所定の規定値に自動的に制御されることになる。一方、
距離りと電圧Vとの関係を示す、減算器23からの出力
電圧■】も、その直線部分が常に規定値を維持するよう
に再現され、反射式微小変位測定器として極めて高精度
な測定を行うことができる。
光器17.18の出力電圧が変動すると、加算器24の
出力電圧v2が変動し、該出力電圧V2が増大したとき
には発光器16の光度を低下させ、該出力電圧v2が減
少したときには発光器16の光度を増大させるように、
所定の規定値に自動的に制御されることになる。一方、
距離りと電圧Vとの関係を示す、減算器23からの出力
電圧■】も、その直線部分が常に規定値を維持するよう
に再現され、反射式微小変位測定器として極めて高精度
な測定を行うことができる。
なお、上記実施例では光ファイババンドル11の他端側
端面のパターンを、第2図に示す如く中心部に投光端面
13Bと第2の受光端面15Bを混在させ、この周囲に
第1の受光端面14Bを設ける構成として述べたが、こ
れに限ることなく矩形状、半円形状等の形状としてもよ
く、適宜の分布、配置関係を採用することができる。ま
た、発光器16として発光ダイオードを例に挙げたが、
ランプその他の種々の光源を用いることができ、−力受
光器17.18もホトダイオードに限ることなくホトト
ランジスタを用いてもよい。さらに、増幅器19〜22
、減算器23、加算器24、定電圧電源回路25、光度
調整回路29等は本発明による光度制御回路の具体例で
あるが、定電圧電源回路の規準電圧と加算器からの出力
電圧に基づいて、発光器の光度を所定値に制御しうるも
のであれば、実施例に限るものでない。さらに、本発明
は微小変位測定器に限ることなく、各種測定器制御装置
、演算器等の光学機−に広く用いることができる。
端面のパターンを、第2図に示す如く中心部に投光端面
13Bと第2の受光端面15Bを混在させ、この周囲に
第1の受光端面14Bを設ける構成として述べたが、こ
れに限ることなく矩形状、半円形状等の形状としてもよ
く、適宜の分布、配置関係を採用することができる。ま
た、発光器16として発光ダイオードを例に挙げたが、
ランプその他の種々の光源を用いることができ、−力受
光器17.18もホトダイオードに限ることなくホトト
ランジスタを用いてもよい。さらに、増幅器19〜22
、減算器23、加算器24、定電圧電源回路25、光度
調整回路29等は本発明による光度制御回路の具体例で
あるが、定電圧電源回路の規準電圧と加算器からの出力
電圧に基づいて、発光器の光度を所定値に制御しうるも
のであれば、実施例に限るものでない。さらに、本発明
は微小変位測定器に限ることなく、各種測定器制御装置
、演算器等の光学機−に広く用いることができる。
本発明に係る光源の光度制御装置は以上詳細に述べた如
くであって、光ファイババンドルに入射する反射光の増
減に拘らず、発光器の光度を定電圧電源回路で設定した
規定値に維持するように構成したから、反射率が変動し
ても標準光源となる発光器の光度を自動的に較正するこ
とができ、これを測定器に用いた場合には高精度な自動
測定を行うことができる。
くであって、光ファイババンドルに入射する反射光の増
減に拘らず、発光器の光度を定電圧電源回路で設定した
規定値に維持するように構成したから、反射率が変動し
ても標準光源となる発光器の光度を自動的に較正するこ
とができ、これを測定器に用いた場合には高精度な自動
測定を行うことができる。
第1図ないし第5図は本発明の実施例に係り、第1図は
反射式微小変位測定器に用いる光ファイババンドルを示
す外観図、第2図は第1図中の他端側端面を示す端面図
、第3図は第1.第2の発光器による検出電流を示す電
流特性線図、第4図は減算器、加算器からの出力電圧を
示す電圧特性線図、第5図は前記測定器の具体的回路図
、紹6図ないし第8図は従来技術に係り、第6図は従来
技術による反射式微小変位測定器に用いる光ファイババ
ンドルの外観図、第7図は第6図中の他端側端面を示す
端面図、第8図は受光器による検出電流を示す電流特性
線図である。 11・・・光ファイババンドル、12・・・束線部、1
3・・・発光用光ファイバ、13A・・・入射部、13
B・・・投光端面、14・・・第1の受光用光ファイバ
、14A・・・第1の出射部、14B・・・第1の受光
端面、15・・・第2の受光用光ファイバ、15A・・
・第2の出射部、15B・・・第2の受光端面、16・
・・発光器、17・・・第1の受光器、18・・・第2
の受光器、19,20,21.22・・・増幅器、23
・・・減算器、24・・・加算器、25・・・定電圧電
源回路、28・・・緩衝器、29・・・光度調整回路、
31・・・定電流回路。
反射式微小変位測定器に用いる光ファイババンドルを示
す外観図、第2図は第1図中の他端側端面を示す端面図
、第3図は第1.第2の発光器による検出電流を示す電
流特性線図、第4図は減算器、加算器からの出力電圧を
示す電圧特性線図、第5図は前記測定器の具体的回路図
、紹6図ないし第8図は従来技術に係り、第6図は従来
技術による反射式微小変位測定器に用いる光ファイババ
ンドルの外観図、第7図は第6図中の他端側端面を示す
端面図、第8図は受光器による検出電流を示す電流特性
線図である。 11・・・光ファイババンドル、12・・・束線部、1
3・・・発光用光ファイバ、13A・・・入射部、13
B・・・投光端面、14・・・第1の受光用光ファイバ
、14A・・・第1の出射部、14B・・・第1の受光
端面、15・・・第2の受光用光ファイバ、15A・・
・第2の出射部、15B・・・第2の受光端面、16・
・・発光器、17・・・第1の受光器、18・・・第2
の受光器、19,20,21.22・・・増幅器、23
・・・減算器、24・・・加算器、25・・・定電圧電
源回路、28・・・緩衝器、29・・・光度調整回路、
31・・・定電流回路。
Claims (2)
- (1)一端側が入射部および第1、第2の出射部となり
、他端側の端面が前記入射部からの光を放射する投光端
面となると共に反射光を入射する第1、第2の受光端面
となった光ファイババンドルと、前記入射部に設けられ
た発光器と、前記第1、第2の出射部にそれぞれ設けら
れた第1、第2の受光器と、該第1、第2の受光器から
の出力の和を演算する加算手段と、定電圧を発生する定
電圧電源手段と、該定電圧電源手段と加算手段からの出
力に基づき前記発光器を所定の光度に調整する光度調整
手段とから構成してなる光源の光度制御装置。 - (2)前記第1、第2の受光器からの出力の差を出力信
号として演算する減算手段を設けてなる特許請求の範囲
(1)項記載の光源の光度制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61012787A JPS62170802A (ja) | 1986-01-23 | 1986-01-23 | 光源の光度制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61012787A JPS62170802A (ja) | 1986-01-23 | 1986-01-23 | 光源の光度制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62170802A true JPS62170802A (ja) | 1987-07-27 |
Family
ID=11815104
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61012787A Pending JPS62170802A (ja) | 1986-01-23 | 1986-01-23 | 光源の光度制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62170802A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6444408U (ja) * | 1987-09-11 | 1989-03-16 | ||
| JP2014529740A (ja) * | 2011-08-26 | 2014-11-13 | クアルコム,インコーポレイテッド | 近接センサの較正 |
-
1986
- 1986-01-23 JP JP61012787A patent/JPS62170802A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6444408U (ja) * | 1987-09-11 | 1989-03-16 | ||
| JP2014529740A (ja) * | 2011-08-26 | 2014-11-13 | クアルコム,インコーポレイテッド | 近接センサの較正 |
| JP2016006423A (ja) * | 2011-08-26 | 2016-01-14 | クアルコム,インコーポレイテッド | 近接センサの較正 |
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