JPS6218290B2 - - Google Patents
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- JPS6218290B2 JPS6218290B2 JP12430780A JP12430780A JPS6218290B2 JP S6218290 B2 JPS6218290 B2 JP S6218290B2 JP 12430780 A JP12430780 A JP 12430780A JP 12430780 A JP12430780 A JP 12430780A JP S6218290 B2 JPS6218290 B2 JP S6218290B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wire electrode
- wire
- workpiece
- guide
- contact
- Prior art date
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
- B23H7/02—Wire-cutting
- B23H7/04—Apparatus for supplying current to working gap; Electric circuits specially adapted therefor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H2500/00—Holding and positioning of tool electrodes
- B23H2500/20—Methods or devices for detecting wire or workpiece position
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はワイヤカツト通電加工装置、特に被加
工物の上下両側に設けたガイドに沿つてワイヤ電
極を被加工物に貫通させて張設し、その被加工物
とワイヤ電極とを相対的に移動させながら、両者
間に放電または電解を発生させて加工するワイヤ
カツト通電加工装置に関するものである。
工物の上下両側に設けたガイドに沿つてワイヤ電
極を被加工物に貫通させて張設し、その被加工物
とワイヤ電極とを相対的に移動させながら、両者
間に放電または電解を発生させて加工するワイヤ
カツト通電加工装置に関するものである。
ワイヤカツト通電加工では加工精度を決定する
要因として、被加工物の取付精度（平行度）、ワ
イヤ電極の垂直度、ワイヤ電極ガイドの設定位置
（被加工物の上下両側に設けたワイヤ電極ガイド
間の距離）等がある。これ等の要因のうち被加工
物の取付精度は比較的容易に調整可能であるが、
ワイヤ電極の垂直度はワイヤが非剛性体であるこ
となどにより、手動ではミクロンオーダーでの位
置決め設定は極めて困難であつたため、ワイヤカ
ツト通電加工の中で最も熟練を必要とし、自動
化・省力化を疎外する要因となつていた。
要因として、被加工物の取付精度（平行度）、ワ
イヤ電極の垂直度、ワイヤ電極ガイドの設定位置
（被加工物の上下両側に設けたワイヤ電極ガイド
間の距離）等がある。これ等の要因のうち被加工
物の取付精度は比較的容易に調整可能であるが、
ワイヤ電極の垂直度はワイヤが非剛性体であるこ
となどにより、手動ではミクロンオーダーでの位
置決め設定は極めて困難であつたため、ワイヤカ
ツト通電加工の中で最も熟練を必要とし、自動
化・省力化を疎外する要因となつていた。
特に、このワイヤ電極の垂直度が不正確な場合
には、第１図に示すように被加工物１０の切断面
が上下面差εからなる傾斜面となり、例えば切抜
け部１２の上面を基準取付面にしてポンチとして
使用した場合、傾斜面１４がダイス切刃部に当た
り、型の寿命の減少あるいは型割れ発生等の問題
も生じてくる。
には、第１図に示すように被加工物１０の切断面
が上下面差εからなる傾斜面となり、例えば切抜
け部１２の上面を基準取付面にしてポンチとして
使用した場合、傾斜面１４がダイス切刃部に当た
り、型の寿命の減少あるいは型割れ発生等の問題
も生じてくる。
そこで、従来のワイヤカツト通電加工装置で
は、ワイヤ電極の垂直度の設定には第２図に示す
ような方式を用いていた。すなわち、被加工物１
０の移動軸（Ｘ軸およびＹ軸）と同一方向の移動
軸１６，１８を持つた上部ガイド２０と固定され
た下部ガイド２２によつて、保持案内されるワイ
ヤ電極２４の垂直度を設定するために被加工物載
置テーブル（不図示）に接触検出器２６，２８を
設けていた。この場合、接触検出器２６，２８の
相関距離Ｄは可能なかぎり大きい方が、ワイヤ電
極の垂直度が高精度に維持される。
は、ワイヤ電極の垂直度の設定には第２図に示す
ような方式を用いていた。すなわち、被加工物１
０の移動軸（Ｘ軸およびＹ軸）と同一方向の移動
軸１６，１８を持つた上部ガイド２０と固定され
た下部ガイド２２によつて、保持案内されるワイ
ヤ電極２４の垂直度を設定するために被加工物載
置テーブル（不図示）に接触検出器２６，２８を
設けていた。この場合、接触検出器２６，２８の
相関距離Ｄは可能なかぎり大きい方が、ワイヤ電
極の垂直度が高精度に維持される。
そして、ワイヤ電極の垂直度の設定は次のよう
にして行なつていた。先ず、被加工物載置テーブ
ルを移動軸１６に沿つて＋Ｘ軸方向に移動させ、
ワイヤ電極２４と接触検出器２６，２８のいずれ
か一方が接触するまで送る。ここで、接触検出器
２６の方に先に接触した場合には、ワイヤ電極２
４が＋Ｘ軸方向に傾いていることになるため、一
担、被加工物載置テーブルを−Ｘ軸方向に戻し、
ワイヤ電極２４と接触検出器２６との接触を解消
した後、上部ガイド２０を移動軸１６に沿つて−
Ｘ軸方向に数ミクロン程度送り、再び被加工物載
置テーブルを＋Ｘ軸方向に送る。以後、接触検出
器２６，２８にワイヤ電極２４が数ミクロンのオ
ーダーで同時に接触するまでの上記の操作を繰返
す。
にして行なつていた。先ず、被加工物載置テーブ
ルを移動軸１６に沿つて＋Ｘ軸方向に移動させ、
ワイヤ電極２４と接触検出器２６，２８のいずれ
か一方が接触するまで送る。ここで、接触検出器
２６の方に先に接触した場合には、ワイヤ電極２
４が＋Ｘ軸方向に傾いていることになるため、一
担、被加工物載置テーブルを−Ｘ軸方向に戻し、
ワイヤ電極２４と接触検出器２６との接触を解消
した後、上部ガイド２０を移動軸１６に沿つて−
Ｘ軸方向に数ミクロン程度送り、再び被加工物載
置テーブルを＋Ｘ軸方向に送る。以後、接触検出
器２６，２８にワイヤ電極２４が数ミクロンのオ
ーダーで同時に接触するまでの上記の操作を繰返
す。
この一連の操作により、ワイヤ電極２４の垂直
度を設定するものであるが、極めて精度良く、ミ
クロンオーダーの位置設定を行なう必要があるた
め、作業者は熟練を要し、また、多大の時間がか
かるためワイヤカツト通電加工の自動化・省力化
の大きな疎外要因となつていた。
度を設定するものであるが、極めて精度良く、ミ
クロンオーダーの位置設定を行なう必要があるた
め、作業者は熟練を要し、また、多大の時間がか
かるためワイヤカツト通電加工の自動化・省力化
の大きな疎外要因となつていた。
本発明は前述した従来の課題に鑑み為されたも
のであり、その目的はワイヤ電極の垂直度の設定
を自動的に高精度に行なうことができるワイヤカ
ツト通電加工装置を提供することにある。
のであり、その目的はワイヤ電極の垂直度の設定
を自動的に高精度に行なうことができるワイヤカ
ツト通電加工装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は、被加工
物載置テーブルの上下両側に設けられたワイヤ電
極のガイドと、このガイドに沿つて張設されたワ
イヤ電極と、上記ガイドの一方または双方を上記
被加工物載置テーブル表面と平行な水平方向に移
動させるガイド駆動手段と、被加工物とワイヤ電
極を相対的に移動させる制御手段と、上記ワイヤ
電極の通る円形穴を有する一の導電性測定治具
と、ワイヤ電極と測定治具との接触を検出する一
の接触検出回路と、上記のガイド駆動手段および
制御手段に制御信号を供給する制御回路と、を備
え、上記ガイド駆動手段によつてワイヤ電極の傾
きを変化させながら、ワイヤ電極が接触しない範
囲の上記円形穴の差しわたしを測定して該差しわ
たし長が最小となるようにワイヤ電極を位置し、
ワイヤ電極の垂直度を自動的に設定することを特
徴とする。
物載置テーブルの上下両側に設けられたワイヤ電
極のガイドと、このガイドに沿つて張設されたワ
イヤ電極と、上記ガイドの一方または双方を上記
被加工物載置テーブル表面と平行な水平方向に移
動させるガイド駆動手段と、被加工物とワイヤ電
極を相対的に移動させる制御手段と、上記ワイヤ
電極の通る円形穴を有する一の導電性測定治具
と、ワイヤ電極と測定治具との接触を検出する一
の接触検出回路と、上記のガイド駆動手段および
制御手段に制御信号を供給する制御回路と、を備
え、上記ガイド駆動手段によつてワイヤ電極の傾
きを変化させながら、ワイヤ電極が接触しない範
囲の上記円形穴の差しわたしを測定して該差しわ
たし長が最小となるようにワイヤ電極を位置し、
ワイヤ電極の垂直度を自動的に設定することを特
徴とする。
以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例を
説明する。第３図は第２図と同一部分に同一符号
に付した本発明ワイヤカツト通電加工装置の１実
施例を示す概略構成図である。第３図において、
被加工物載置テーブル３０にはその直交する側面
に不図示の送りナツトが設けられ、その各送りナ
ツトには送りねじ３２，３４が螺合されている。
送りねじ３２にはＸ軸駆動モータ３６、送りねじ
３４にはＹ軸駆動モータ３８から夫々駆動力が伝
達され、ワイヤ電極２４に対して被加工物載置テ
ーブル３０を相対的に移動させる。上部ガイド２
０にはその直交する側面に不図示の送りナツトが
設けられており、その各送りナツトに送りねじ４
０，４２が螺合されている。そして、送りねじ４
０はＸ軸駆動モータ４４、送りねじ４２はＹ軸駆
動モータ４６によつて駆動され、上部ガイド２０
の位置を変位させてワイヤ電極２４の傾きを変え
るようになつている。本発明において、ワイヤ電
極２４の垂直度を測定するため一の測定治具４８
が設けられ、該測定治具４８は、第４図に示すよ
うに中央に円形穴（以下丸穴と称す）５０を有
し、この丸穴５０に側方からワイヤ電極２４をは
め込むためのスリツト５２が設けられている。こ
の測定治具４８は導電性物質で作られており、第
３図に示すように直接被加工物載置テーブル３０
に直接乗せる他、テーブルに被加工物１０を載置
してその上に乗せてもよい。また、本発明におい
て、ワイヤ電極２４と上記測定治具４８との接触
を電気的に検出するため、一の接触検出回路５４
が設けられ、該接触検出回路５４は電源Ｅ、抵抗
Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３、コンデンサＣ、増幅器Ａとで
構成されている。この接触検出回路５４は前記被
加工物載置テーブル３０・上部ガイド２０のＸ
軸、Ｙ軸方向の移動量を制御する数値制御装置５
６に接続されている。この数値制御装置５６はサ
ーボアンプ５８に接続され、サーボアンプ５８の
出力側は前記駆動モータ３６，３８，４４，４６
に接続されている。
説明する。第３図は第２図と同一部分に同一符号
に付した本発明ワイヤカツト通電加工装置の１実
施例を示す概略構成図である。第３図において、
被加工物載置テーブル３０にはその直交する側面
に不図示の送りナツトが設けられ、その各送りナ
ツトには送りねじ３２，３４が螺合されている。
送りねじ３２にはＸ軸駆動モータ３６、送りねじ
３４にはＹ軸駆動モータ３８から夫々駆動力が伝
達され、ワイヤ電極２４に対して被加工物載置テ
ーブル３０を相対的に移動させる。上部ガイド２
０にはその直交する側面に不図示の送りナツトが
設けられており、その各送りナツトに送りねじ４
０，４２が螺合されている。そして、送りねじ４
０はＸ軸駆動モータ４４、送りねじ４２はＹ軸駆
動モータ４６によつて駆動され、上部ガイド２０
の位置を変位させてワイヤ電極２４の傾きを変え
るようになつている。本発明において、ワイヤ電
極２４の垂直度を測定するため一の測定治具４８
が設けられ、該測定治具４８は、第４図に示すよ
うに中央に円形穴（以下丸穴と称す）５０を有
し、この丸穴５０に側方からワイヤ電極２４をは
め込むためのスリツト５２が設けられている。こ
の測定治具４８は導電性物質で作られており、第
３図に示すように直接被加工物載置テーブル３０
に直接乗せる他、テーブルに被加工物１０を載置
してその上に乗せてもよい。また、本発明におい
て、ワイヤ電極２４と上記測定治具４８との接触
を電気的に検出するため、一の接触検出回路５４
が設けられ、該接触検出回路５４は電源Ｅ、抵抗
Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３、コンデンサＣ、増幅器Ａとで
構成されている。この接触検出回路５４は前記被
加工物載置テーブル３０・上部ガイド２０のＸ
軸、Ｙ軸方向の移動量を制御する数値制御装置５
６に接続されている。この数値制御装置５６はサ
ーボアンプ５８に接続され、サーボアンプ５８の
出力側は前記駆動モータ３６，３８，４４，４６
に接続されている。
なお、上記の接触検出回路５４は電源Ｅで被加
工物載置テーブル３０とワイヤ電極２４の間に電
圧を印加しておき、ワイヤ電極２４と測定治具４
８が接触したとき、被加工物載置テーブル３０よ
り測定治具４８・ワイヤ電極２４の系路で電流が
流れる（従つて、被加工物載置テーブル３０・上
下部ガイド２０，２２は導電体で作られている）
ことで接触検出を行なうもので、従来より通電加
工装置において接触位置決め装置または短絡検出
装置として使用されているものと全く同等のもの
である。
工物載置テーブル３０とワイヤ電極２４の間に電
圧を印加しておき、ワイヤ電極２４と測定治具４
８が接触したとき、被加工物載置テーブル３０よ
り測定治具４８・ワイヤ電極２４の系路で電流が
流れる（従つて、被加工物載置テーブル３０・上
下部ガイド２０，２２は導電体で作られている）
ことで接触検出を行なうもので、従来より通電加
工装置において接触位置決め装置または短絡検出
装置として使用されているものと全く同等のもの
である。
本発明の実施例は以上の構成から成り、以下ワ
イヤ電極２４の垂直出しを行なう手順を第５図の
フローチヤート図に従つて説明する。まず、最初
の時点では被加工物１０・測定治具を貫通して上
部ガイド２０・下部ガイド２２に沿つて張設され
たワイヤ電極２４がどのような状態であるかわか
らない。そこで、そのままの状態で数値制御装置
５６からの制御信号をサーボアンプ５８を介して
Ｘ軸駆動モータ３６に供給し、被加工物載置テー
ブル３０を＋Ｘ軸方向へワイヤ電極２４が測定治
具４８と接触するまで送る。続いて−Ｘ軸方向に
同じくワイヤ電極２４と測定治具４８とが接触す
るまで送り、このとき、ワイヤ電極２４が接触し
ない範囲の丸穴５０のＸ軸方向の差しわたし長φ
０を測定する。
イヤ電極２４の垂直出しを行なう手順を第５図の
フローチヤート図に従つて説明する。まず、最初
の時点では被加工物１０・測定治具を貫通して上
部ガイド２０・下部ガイド２２に沿つて張設され
たワイヤ電極２４がどのような状態であるかわか
らない。そこで、そのままの状態で数値制御装置
５６からの制御信号をサーボアンプ５８を介して
Ｘ軸駆動モータ３６に供給し、被加工物載置テー
ブル３０を＋Ｘ軸方向へワイヤ電極２４が測定治
具４８と接触するまで送る。続いて−Ｘ軸方向に
同じくワイヤ電極２４と測定治具４８とが接触す
るまで送り、このとき、ワイヤ電極２４が接触し
ない範囲の丸穴５０のＸ軸方向の差しわたし長φ
０を測定する。
次いで、Ｘ軸駆動モータ４４に制御信号を供給
して上部ガイド２０を＋△×だけ変位させ、再び
上記と同様の手順でワイヤ電極２４が接触しない
範囲の丸穴５０のＸ軸方向の差しわたし長φ１を
測定する。ここで、上部ガイド２０の変位量＋△
×は設定しようとする垂直度の精度と比較できる
程度の微少量である。
して上部ガイド２０を＋△×だけ変位させ、再び
上記と同様の手順でワイヤ電極２４が接触しない
範囲の丸穴５０のＸ軸方向の差しわたし長φ１を
測定する。ここで、上部ガイド２０の変位量＋△
×は設定しようとする垂直度の精度と比較できる
程度の微少量である。
次に、上記測定した差しわたし長φ０とφ１を
比較し、φ０＞φ１のときは探索方向Ｋを−１と
し、φ０＜φ１のときはＫ＝１とする。φ０＝φ
１のときはすでに垂直であると判断して垂直出し
作業を終了する。φ０≠φ１のときはφｉ＝φ１
として、さらに上部ガイド２０をＫ△×だけ変位
させ、再度ワイヤ電極２４が接触しない範囲の丸
穴５０の差しわたし長を測りφi+1とする。ここ
で、φｉとφi+1とを比較し、φｉ＝φi+1ならば
ワイヤ電極２４は垂直と見なして作業を終了し、
φｉ＞φi+1なら少し行きすぎと見なし、−Ｋ△×
だけ上部ガイド２０を戻し方向に変位させて作業
を終了する。また、φｉ＜φi+1ならばφｉ＝φi+
１として、上部ガイド２０をさらにＫ△×だけ変
位させ、上記と同様にワイヤ電極２４が接触しな
い範囲の丸穴５０の差しわたし長を測定する。こ
のように、上記の操作を繰返しφｉ≧φi+1とな
つたときに作業を終了すれば、ワイヤ電極２４は
Ｘ軸に対し垂直となる。
比較し、φ０＞φ１のときは探索方向Ｋを−１と
し、φ０＜φ１のときはＫ＝１とする。φ０＝φ
１のときはすでに垂直であると判断して垂直出し
作業を終了する。φ０≠φ１のときはφｉ＝φ１
として、さらに上部ガイド２０をＫ△×だけ変位
させ、再度ワイヤ電極２４が接触しない範囲の丸
穴５０の差しわたし長を測りφi+1とする。ここ
で、φｉとφi+1とを比較し、φｉ＝φi+1ならば
ワイヤ電極２４は垂直と見なして作業を終了し、
φｉ＞φi+1なら少し行きすぎと見なし、−Ｋ△×
だけ上部ガイド２０を戻し方向に変位させて作業
を終了する。また、φｉ＜φi+1ならばφｉ＝φi+
１として、上部ガイド２０をさらにＫ△×だけ変
位させ、上記と同様にワイヤ電極２４が接触しな
い範囲の丸穴５０の差しわたし長を測定する。こ
のように、上記の操作を繰返しφｉ≧φi+1とな
つたときに作業を終了すれば、ワイヤ電極２４は
Ｘ軸に対し垂直となる。
ここで、ワイヤ電極２４の丸穴５０内での位置
は任意位置で足りる。そして、該位置でワイヤ電
極２４が接触しない範囲での丸穴５０の差しわた
し長を最大とするように設定すれば良く、必ずし
もワイヤ電極２４を丸穴５０の中心に位置させる
必要はない。
は任意位置で足りる。そして、該位置でワイヤ電
極２４が接触しない範囲での丸穴５０の差しわた
し長を最大とするように設定すれば良く、必ずし
もワイヤ電極２４を丸穴５０の中心に位置させる
必要はない。
第６図は操作手順に従つて変化するワイヤ電極
２４と測定治具４８の丸穴５０との関係を示した
もので、ワイヤ電極２４が被加工物載置テーブル
３０または測定治具４８と垂直になつたときが、
測定される丸穴５０の差しわたし長（ワイヤ電極
の接触しない範囲）が最大になつていることがわ
かる。すなわち、φ１＜φ２＜φ３＞φ４であ
る。
２４と測定治具４８の丸穴５０との関係を示した
もので、ワイヤ電極２４が被加工物載置テーブル
３０または測定治具４８と垂直になつたときが、
測定される丸穴５０の差しわたし長（ワイヤ電極
の接触しない範囲）が最大になつていることがわ
かる。すなわち、φ１＜φ２＜φ３＞φ４であ
る。
従つて、上記のような手順でワイヤの傾きを少
しずつ変化させ、ワイヤ電極２４の接触しない範
囲の丸穴５０の差しわたし長を測定手し、その差
しわたし長最大となつたとき作業を終了するよう
にすれば、ワイヤ電極２４を被加工物載置テーブ
ル３０に対して垂直に張設することができる。
しずつ変化させ、ワイヤ電極２４の接触しない範
囲の丸穴５０の差しわたし長を測定手し、その差
しわたし長最大となつたとき作業を終了するよう
にすれば、ワイヤ電極２４を被加工物載置テーブ
ル３０に対して垂直に張設することができる。
なお、上記の説明ではＸ軸−軸の垂直出しにつ
いて述べたが、Ｙ軸方向の垂直度の設定も上記と
全く同様の手順で行なうことができることは言う
までもない。
いて述べたが、Ｙ軸方向の垂直度の設定も上記と
全く同様の手順で行なうことができることは言う
までもない。
上記において、測定治具４８はある程度の厚み
を持つていた方が垂直度の設定精度上好ましい。
また、丸穴５０の内周面は十分研磨され、測定治
具４８の下面と丸穴５０の内周面の垂直度は十分
精度よく仕上げられていることが必要である。上
記丸穴５０の直径をあらかじめ測つておき、本発
明における垂直度設定操作を開始する際のワイヤ
位置を該丸穴５０の中心線上に位置決めしておけ
ば、垂直度が設定された時点での丸穴５０の直径
の測定値は、丸穴の直径−ワイヤ電極直径となる
はずであるから、測定値がこの計算値よりある値
以上に離れていれば、ワイヤ電極２４に張力がか
かつていない、測定治具４８が傷ついている等の
何かの不都合が発生したことを検出することがで
き、誤操作を未然に防止できる。
を持つていた方が垂直度の設定精度上好ましい。
また、丸穴５０の内周面は十分研磨され、測定治
具４８の下面と丸穴５０の内周面の垂直度は十分
精度よく仕上げられていることが必要である。上
記丸穴５０の直径をあらかじめ測つておき、本発
明における垂直度設定操作を開始する際のワイヤ
位置を該丸穴５０の中心線上に位置決めしておけ
ば、垂直度が設定された時点での丸穴５０の直径
の測定値は、丸穴の直径−ワイヤ電極直径となる
はずであるから、測定値がこの計算値よりある値
以上に離れていれば、ワイヤ電極２４に張力がか
かつていない、測定治具４８が傷ついている等の
何かの不都合が発生したことを検出することがで
き、誤操作を未然に防止できる。
第３図に示した実施例では上部ガイド２０のみ
をＸ軸・Ｙ軸方向に移動可能に構成したが、下部
ガイドまたは上下部ガイドの双方をＸ軸・Ｙ軸方
向に移動可能に構成しても上記と同様の作用効果
が得られるものである。
をＸ軸・Ｙ軸方向に移動可能に構成したが、下部
ガイドまたは上下部ガイドの双方をＸ軸・Ｙ軸方
向に移動可能に構成しても上記と同様の作用効果
が得られるものである。
以上の如く、本発明によれば、従来少なくとも
上下２つの接触検出器を正確な相対位置関係で位
置決めするのが要求されていたのに対し、丸穴を
有する導電性測定治具を１つ利用するだけの極め
て簡単な構成で、ワイヤカツト通電加工における
準備作業の中で最も熟練と時間を必要とし、自動
化・省力化の疎外要因となつていたワイヤ電極の
垂直度の設定を自動的にしかも高精度で行なえる
ようになつたもので、ワイヤカツト通電加工装置
にとつて極めて有効である。また、第２図に示す
従来のワイヤカツト通電加工装置では、ワイヤ電
極の垂直度の設定のために２つの接触検出回路
（接触検出器２６，２８に接続されている）を必
要とするに対し、図示構成の本発明ワイヤカツト
通電加工装置では接触検出回路５４を１つ必要と
するだけで、それだけ構成を簡略化できる効果が
ある。さらに、図示例のように測定治具の一部
に、丸穴に側方からワイヤ電極をはめ込むための
スリツトを設けておけば、ワイヤ電極の垂直出し
作業が終了すると、測定治具のみを取外して直ち
に加工作業を開始できる利点がある。
上下２つの接触検出器を正確な相対位置関係で位
置決めするのが要求されていたのに対し、丸穴を
有する導電性測定治具を１つ利用するだけの極め
て簡単な構成で、ワイヤカツト通電加工における
準備作業の中で最も熟練と時間を必要とし、自動
化・省力化の疎外要因となつていたワイヤ電極の
垂直度の設定を自動的にしかも高精度で行なえる
ようになつたもので、ワイヤカツト通電加工装置
にとつて極めて有効である。また、第２図に示す
従来のワイヤカツト通電加工装置では、ワイヤ電
極の垂直度の設定のために２つの接触検出回路
（接触検出器２６，２８に接続されている）を必
要とするに対し、図示構成の本発明ワイヤカツト
通電加工装置では接触検出回路５４を１つ必要と
するだけで、それだけ構成を簡略化できる効果が
ある。さらに、図示例のように測定治具の一部
に、丸穴に側方からワイヤ電極をはめ込むための
スリツトを設けておけば、ワイヤ電極の垂直出し
作業が終了すると、測定治具のみを取外して直ち
に加工作業を開始できる利点がある。
第１図は傾むいたワイヤ電極による加工状態の
正面図、第２図は従来のワイヤカツト通電加工装
置におけるワイヤ電極の垂直度設定機構部の斜視
図、第３図は本発明ワイヤカツト通電加工装置の
概略図、第４図ａ，ｂは測定治具の平面図・正面
図、第５図は本発明カイヤカツト通電加工装置に
よるワイヤ電極の垂直度設定手順を示すフローチ
ヤート図、第６図はワイヤ電極と測定治具の丸穴
との関係を示す正面図である。 各図中、同一部材には同一符号を付し、１０は
被加工物、２０は上部ガイド、２２は下部ガイ
ド、２４はワイヤ電極、３０は被加工物載置テー
ブル、４８は測定治具、５４は接触検出回路、５
６は数値制御装置、５８はサーボアンプである。
正面図、第２図は従来のワイヤカツト通電加工装
置におけるワイヤ電極の垂直度設定機構部の斜視
図、第３図は本発明ワイヤカツト通電加工装置の
概略図、第４図ａ，ｂは測定治具の平面図・正面
図、第５図は本発明カイヤカツト通電加工装置に
よるワイヤ電極の垂直度設定手順を示すフローチ
ヤート図、第６図はワイヤ電極と測定治具の丸穴
との関係を示す正面図である。 各図中、同一部材には同一符号を付し、１０は
被加工物、２０は上部ガイド、２２は下部ガイ
ド、２４はワイヤ電極、３０は被加工物載置テー
ブル、４８は測定治具、５４は接触検出回路、５
６は数値制御装置、５８はサーボアンプである。
Claims (1)
- １ 被加工物載置テーブルの上下両側に設けられ
たワイヤ電極のガイドと、このガイドに沿つて張
設されたワイヤ電極と、上記ガイドの一方または
双方を上記被加工物載置テーブル表面と平行な水
平方向に移動させるガイド駆動手段と、被加工物
とワイヤ電極を相対的に移動させる制御手段と、
上記ワイヤ電極の通る円形穴を有する一の導電性
測定治具と、ワイヤ電極と測定治具との接触を検
出する一の接触検出回路と、上記のガイド駆動手
段および制御手段に制御信号を供給する制御回路
と、を備え、上記ガイド駆動手段によつてワイヤ
電極の傾きを変化させながら、ワイヤ電極が接触
しない範囲の上記円形穴の差しわたしを測定して
該差しわたし長が最小となるようにワイヤ電極を
位置し、ワイヤ電極の垂直度を自動的に設定する
ことを特徴とするワイヤカツト通電加工装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12430780A JPS5748427A (en) | 1980-09-08 | 1980-09-08 | Wire cutting electric discharge machine |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12430780A JPS5748427A (en) | 1980-09-08 | 1980-09-08 | Wire cutting electric discharge machine |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5748427A JPS5748427A (en) | 1982-03-19 |
| JPS6218290B2 true JPS6218290B2 (ja) | 1987-04-22 |
Family
ID=14882087
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12430780A Granted JPS5748427A (en) | 1980-09-08 | 1980-09-08 | Wire cutting electric discharge machine |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5748427A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH058012Y2 (ja) * | 1985-10-14 | 1993-03-01 | ||
| JPS6399134A (ja) * | 1986-10-16 | 1988-04-30 | Mitsubishi Electric Corp | ワイヤ放電加工装置 |
| JP2667475B2 (ja) * | 1988-11-21 | 1997-10-27 | 日立精工株式会社 | ワイヤ放電加工機の平行度補正方法および装置 |
-
1980
- 1980-09-08 JP JP12430780A patent/JPS5748427A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5748427A (en) | 1982-03-19 |
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