JPS6218862B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6218862B2 JPS6218862B2 JP56144712A JP14471281A JPS6218862B2 JP S6218862 B2 JPS6218862 B2 JP S6218862B2 JP 56144712 A JP56144712 A JP 56144712A JP 14471281 A JP14471281 A JP 14471281A JP S6218862 B2 JPS6218862 B2 JP S6218862B2
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- JP
- Japan
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- component
- time
- approximation
- components
- light
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N2021/6417—Spectrofluorimetric devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6445—Measuring fluorescence polarisation
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、螢光偏光測定装置に係り、特に反応
の経時変化を測定し、該測定値より一定時間後の
値を外挿するのに好適な機能を有する装置に関す
る。
の経時変化を測定し、該測定値より一定時間後の
値を外挿するのに好適な機能を有する装置に関す
る。
経時的に変化する反応においては、目的とする
測定時間において直接測定値が得られない場合が
ある。
測定時間において直接測定値が得られない場合が
ある。
例えば、反応停止直前の測定値を求めたいが、
反応を停止させるために試料を測定部から取り出
さなければならない場合、同一試料にて、二つ以
上の現象を同一時刻に測定しなければならない場
合、反応液中のある成分を過するが、過の中
間時間における測定値を必要とする場合等があ
る。これらの測定においては、ある限られた時間
の測定値から近似を行い、目的とする測定時間で
の値を算出することが一般的に行われている。
反応を停止させるために試料を測定部から取り出
さなければならない場合、同一試料にて、二つ以
上の現象を同一時刻に測定しなければならない場
合、反応液中のある成分を過するが、過の中
間時間における測定値を必要とする場合等があ
る。これらの測定においては、ある限られた時間
の測定値から近似を行い、目的とする測定時間で
の値を算出することが一般的に行われている。
特に本発明に係る螢光偏光測定の場合には、同
一試料に対して垂直偏光成分と水平偏光成分を別
別に測定しなければならず、目的とする時間に両
者の成分を同時に測定することはできない。従つ
て測定値による近似（外挿）を行い目的とする時
間での値を求めなければならない。
一試料に対して垂直偏光成分と水平偏光成分を別
別に測定しなければならず、目的とする時間に両
者の成分を同時に測定することはできない。従つ
て測定値による近似（外挿）を行い目的とする時
間での値を求めなければならない。
従来一般的に行われていた方法は、アナログ記
録計に記録されたデータに直線定規を外挿し、直
線近似を行つていた。ところが物質の経時変化特
に生体関連物質の変化は単一の物質の直線的な変
化よりも、複数の物質の総合された変化が生じる
ため、観測される反応過程は、曲線的に反応が進
行する場合が多い。
録計に記録されたデータに直線定規を外挿し、直
線近似を行つていた。ところが物質の経時変化特
に生体関連物質の変化は単一の物質の直線的な変
化よりも、複数の物質の総合された変化が生じる
ため、観測される反応過程は、曲線的に反応が進
行する場合が多い。
曲線的に反応が進行している場合に、直線近似
を行うことは、誤差の原因となる。また曲線定規
を使用したとしても、反応曲線の曲率と定規を合
致させることは、非常に困難である。また測定者
がマニユアルに近似を行うことは、個人者が伴い
近似値のバラツキが生じ不正確である。
を行うことは、誤差の原因となる。また曲線定規
を使用したとしても、反応曲線の曲率と定規を合
致させることは、非常に困難である。また測定者
がマニユアルに近似を行うことは、個人者が伴い
近似値のバラツキが生じ不正確である。
本発明は上述した従来技術のもつ欠点を解決し
反応に即した近似を行い、かつ近似によつて得ら
れた値から、螢光偏光測定における偏光度を求め
ようとするものである。
反応に即した近似を行い、かつ近似によつて得ら
れた値から、螢光偏光測定における偏光度を求め
ようとするものである。
本発明の目的は、生体関連物質の反応過程の近
似を効果的に行うことにより、該近似によつて得
られた外挿値から、誤差を僅少にした螢光偏光度
を得る装置を提供するにある。
似を効果的に行うことにより、該近似によつて得
られた外挿値から、誤差を僅少にした螢光偏光度
を得る装置を提供するにある。
本発明は、生体関連物質の反応が直線的または
曲線的に進行することを実験的に確認し、この反
応に即した近似を行い、かつ曲線近似のみの場合
曲率が強調され誤差が拡大されることを、解消す
るために、直線近似と曲線近似の組み合わせを行
うようにしたことにある。こうした近似により、
目的とする螢光偏光度を求める。
曲線的に進行することを実験的に確認し、この反
応に即した近似を行い、かつ曲線近似のみの場合
曲率が強調され誤差が拡大されることを、解消す
るために、直線近似と曲線近似の組み合わせを行
うようにしたことにある。こうした近似により、
目的とする螢光偏光度を求める。
第１図に本発明による実施例の機能系統図を示
す。
す。
光源１から発した白色光は励起側分光器２によ
つて、単色光に分光されたのち励起側偏光子３で
偏光され、測定キユベツト４に照射される。測定
キユベツト内の試料は、励起されて螢光を発す
る。該螢光は、螢光側偏光子７を通過し螢光側分
光器８に導びかれる。螢光側分光器に入射した光
は、指定の螢光波長の単色光に分光され、該単色
光のみ光検知器９に到達する。
つて、単色光に分光されたのち励起側偏光子３で
偏光され、測定キユベツト４に照射される。測定
キユベツト内の試料は、励起されて螢光を発す
る。該螢光は、螢光側偏光子７を通過し螢光側分
光器８に導びかれる。螢光側分光器に入射した光
は、指定の螢光波長の単色光に分光され、該単色
光のみ光検知器９に到達する。
試料を測定キユベツトに入れ、該キユベツトを
測光位置にセツトし、測定を開始すると制御部１
２からの制御信号により、パルスモータ１３が動
作し、励起側偏光子は垂直成分の励起光のみ通過
させるようにセツトされる。
測光位置にセツトし、測定を開始すると制御部１
２からの制御信号により、パルスモータ１３が動
作し、励起側偏光子は垂直成分の励起光のみ通過
させるようにセツトされる。
他方、螢光側偏光子は制御部からの指令信号に
より、パルスモータ１４が動作し、これによつて
駆動される。この駆動は、一定時間間隔にて90゜
回転が、間欠的に繰り返し行われる。
より、パルスモータ１４が動作し、これによつて
駆動される。この駆動は、一定時間間隔にて90゜
回転が、間欠的に繰り返し行われる。
すなわち励起された試料から発した螢光は、偏
光励起光に対して、直交する成分の光と、平行な
成分の光に分別されて、光検知器に到達する。
光励起光に対して、直交する成分の光と、平行な
成分の光に分別されて、光検知器に到達する。
光検知器で検知された光信号は、電気信号に変
換され、前置増幅器１０を経て、Ａ／Ｄ変換器１
１によりデイジタル信号に変換される。
換され、前置増幅器１０を経て、Ａ／Ｄ変換器１
１によりデイジタル信号に変換される。
垂直な成分の光及び平行な成分の光は、それぞ
れＡ／Ｄ変換器により、デイジタル信号に変換さ
れた後、メモリー部１５に記憶される。一定時間
測定が行われると、制御部の指令により過が行
われる。測定キユベツト４に収容されていた試料
は、過部６を通り、ここで粒子等の成分は別
され、溶液のみが測定キユベツト５に回収され
る。過液が収容された測光キユベツト２が、前
記測光キユベツト１に代つて測光位置に移動し、
過液の螢光強度の測定が行われる。
れＡ／Ｄ変換器により、デイジタル信号に変換さ
れた後、メモリー部１５に記憶される。一定時間
測定が行われると、制御部の指令により過が行
われる。測定キユベツト４に収容されていた試料
は、過部６を通り、ここで粒子等の成分は別
され、溶液のみが測定キユベツト５に回収され
る。過液が収容された測光キユベツト２が、前
記測光キユベツト１に代つて測光位置に移動し、
過液の螢光強度の測定が行われる。
ここで、過を行つている時間の中間の時刻
（第２図、第３図に示すＴf）までは反応が進行し
ていたと考えられる。しかしながら時刻Ｔfにお
いて、実際に測定を行うことは不可能である。従
つて本発明請求範囲に述べる通り、ある限られた
時間内の測定値に基づいて近似を行い、時刻Ｔf
に対する外挿を行う。
（第２図、第３図に示すＴf）までは反応が進行し
ていたと考えられる。しかしながら時刻Ｔfにお
いて、実際に測定を行うことは不可能である。従
つて本発明請求範囲に述べる通り、ある限られた
時間内の測定値に基づいて近似を行い、時刻Ｔf
に対する外挿を行う。
具体的には、メモリー部に記憶された垂直成分
の光信号のデータ及び平行成分の光信号のデータ
を用いて、演算部１４により近似式の作成を行
う。
の光信号のデータ及び平行成分の光信号のデータ
を用いて、演算部１４により近似式の作成を行
う。
本測定における測定例を第２図、第３図に示
す。実線で示したものが、実際に測定されたデー
タであり、点線で示したものが近似式によつて得
られた直線または曲線である。
す。実線で示したものが、実際に測定されたデー
タであり、点線で示したものが近似式によつて得
られた直線または曲線である。
反応は必ずしも直線的に進行する場合だけでな
く、曲線を描く場合が多い。従つて本発明におい
ては、垂直成分、平行成分の両成分ともに、直線
近似を行う場合と曲線近似を行う場合及び一方の
成分は直線近似を行い、他方の成分は曲線近似を
行う三者を実施し、実測に即した近似を行わせる
ようにした。特に第３図に示すように、平行成分
の光信号が直線近似にフイツトし、垂直成分の光
信号が曲線近似にフイツトすることは、実測デー
タとして観測される。こうした実測例において、
両成分ともに直線近似または、曲線近似のみを行
なうことは、外挿値の誤差を拡大することにな
る。
く、曲線を描く場合が多い。従つて本発明におい
ては、垂直成分、平行成分の両成分ともに、直線
近似を行う場合と曲線近似を行う場合及び一方の
成分は直線近似を行い、他方の成分は曲線近似を
行う三者を実施し、実測に即した近似を行わせる
ようにした。特に第３図に示すように、平行成分
の光信号が直線近似にフイツトし、垂直成分の光
信号が曲線近似にフイツトすることは、実測デー
タとして観測される。こうした実測例において、
両成分ともに直線近似または、曲線近似のみを行
なうことは、外挿値の誤差を拡大することにな
る。
更に本発明においては、下記の演算式により螢
光偏光度：Ｐの演算を行う。
光偏光度：Ｐの演算を行う。
Ｐ＝（Ｉ⊥（Ｔ）−Ｉ⊥(F)）−（Ｉ（Ｔ）−Ｉ(F)）×Ｇ／（Ｉ⊥（Ｔ）−Ｉ⊥(F)）＋（Ｉ（Ｔ）−Ｉ
(F)）×Ｇ ここで Ｉ⊥（Ｔ）：垂直成分のＴfにおける近似値 Ｉ（Ｔ）：平行成分のＴfにおける近似値 Ｉ⊥(F)：過溶液の垂直成分の螢光偏光強度 Ｉ(F)：過溶液の平行成分の螢光偏光強度 Ｇ：励起側偏光子を水平にした時に得られる装置
定数である。
(F)）×Ｇ ここで Ｉ⊥（Ｔ）：垂直成分のＴfにおける近似値 Ｉ（Ｔ）：平行成分のＴfにおける近似値 Ｉ⊥(F)：過溶液の垂直成分の螢光偏光強度 Ｉ(F)：過溶液の平行成分の螢光偏光強度 Ｇ：励起側偏光子を水平にした時に得られる装置
定数である。
上式によつて求められる螢光偏光度：Ｐは、Ｉ
⊥（Ｔ）及びＩ（Ｔ）が誤差をもつ場合は、当
然誤差を生じる。また外挿近似値、Ｉ⊥（Ｔ）及
びＴ（Ｔ）が実際の反応から、かけはなれた値
を近似した場合には、Ｐの値も実際の反応に即さ
ないものとなる。
⊥（Ｔ）及びＩ（Ｔ）が誤差をもつ場合は、当
然誤差を生じる。また外挿近似値、Ｉ⊥（Ｔ）及
びＴ（Ｔ）が実際の反応から、かけはなれた値
を近似した場合には、Ｐの値も実際の反応に即さ
ないものとなる。
本発明における表示部１７には、得られた３種
類の近似値及び、各々の螢光偏光度Ｐが印字され
る。
類の近似値及び、各々の螢光偏光度Ｐが印字され
る。
本発明により下記の効果が得られる。
１ 従来行われていた用手法による近似（直線定
規による直線外挿）のもつ特長を生かし、かつ
曲線を描く反応曲線を直線近似した場合の誤差
を低減し、外挿値の精度の向上をはかる。
規による直線外挿）のもつ特長を生かし、かつ
曲線を描く反応曲線を直線近似した場合の誤差
を低減し、外挿値の精度の向上をはかる。
２ 直線近似のみによる外挿近似だけでなく、曲
線近似及び、直線近似と曲線近似の組み合わせ
による近似を行うことにより、実際の反応に即
応した近似が可能となる。
線近似及び、直線近似と曲線近似の組み合わせ
による近似を行うことにより、実際の反応に即
応した近似が可能となる。
３ いちいち測定者が、手で近似を行う煩雑さが
解消され、測定者による個人差がなくなる。
解消され、測定者による個人差がなくなる。
４ 本発明における実施例で述べたように、一方
の成分が直線的に変化し、他方の成分が曲線的
に変化する場合には、本発明は極めて有効であ
る。
の成分が直線的に変化し、他方の成分が曲線的
に変化する場合には、本発明は極めて有効であ
る。
５ 直線近似、曲線近似及び両者の組み合わせに
よつて得られた外挿値から、螢光偏光度：Ｐの
値を演算、表示することにより研究者に、反応
の過程を数値的に情報として提供することが、
可能となる。
よつて得られた外挿値から、螢光偏光度：Ｐの
値を演算、表示することにより研究者に、反応
の過程を数値的に情報として提供することが、
可能となる。
第１図は、本発明の一実施例の機能系統図であ
り、第２図および第３図は、本発明の一実施例の
近似法の説明図である。 １……光源、３，７……偏光子、４，５……キ
ユベツト、９……検知器、１６……演算部。
り、第２図および第３図は、本発明の一実施例の
近似法の説明図である。 １……光源、３，７……偏光子、４，５……キ
ユベツト、９……検知器、１６……演算部。
Claims (1)
- １ 時間的に変化する物質を測光用キユベツトに
入れ、該キユベツトの懸濁状態の試料液と該試料
液のろ液に偏光した励起光を照射して、前記物質
が放射する螢光を、平行偏光成分と垂直偏光成分
とに分けて、両成分の光強度を計測する装置にお
いて、両成分のある限られた時間内の測定値よ
り、一方の成分においては近似直線を作成し、他
方の成分においては近似曲線を作成し、一定時間
後の値を読み出す機能とを備え、上記試料液の上
記両成分に関する上記一定時間後の値および上記
ろ液の上記両成分の光強度から螢光偏光度を求め
ることを特徴とした螢光偏光測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56144712A JPS5847238A (ja) | 1981-09-16 | 1981-09-16 | 螢光偏光測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56144712A JPS5847238A (ja) | 1981-09-16 | 1981-09-16 | 螢光偏光測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5847238A JPS5847238A (ja) | 1983-03-18 |
| JPS6218862B2 true JPS6218862B2 (ja) | 1987-04-24 |
Family
ID=15368530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56144712A Granted JPS5847238A (ja) | 1981-09-16 | 1981-09-16 | 螢光偏光測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5847238A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55109950A (en) * | 1979-02-17 | 1980-08-23 | Japan Spectroscopic Co | Measuring instrument for polarized fluorescence |
-
1981
- 1981-09-16 JP JP56144712A patent/JPS5847238A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5847238A (ja) | 1983-03-18 |
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