JPS6219695A - 核沸騰空洞を有する伝熱素子 - Google Patents
核沸騰空洞を有する伝熱素子Info
- Publication number
- JPS6219695A JPS6219695A JP61110986A JP11098686A JPS6219695A JP S6219695 A JPS6219695 A JP S6219695A JP 61110986 A JP61110986 A JP 61110986A JP 11098686 A JP11098686 A JP 11098686A JP S6219695 A JPS6219695 A JP S6219695A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cavity
- heat transfer
- foil
- transfer element
- nucleate boiling
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F28—HEAT EXCHANGE IN GENERAL
- F28F—DETAILS OF HEAT-EXCHANGE AND HEAT-TRANSFER APPARATUS, OF GENERAL APPLICATION
- F28F13/00—Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing
- F28F13/18—Arrangements for modifying heat-transfer, e.g. increasing, decreasing by applying coatings, e.g. radiation-absorbing, radiation-reflecting; by surface treatment, e.g. polishing
- F28F13/185—Heat-exchange surfaces provided with microstructures or with porous coatings
- F28F13/187—Heat-exchange surfaces provided with microstructures or with porous coatings especially adapted for evaporator surfaces or condenser surfaces, e.g. with nucleation sites
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F28—HEAT EXCHANGE IN GENERAL
- F28F—DETAILS OF HEAT-EXCHANGE AND HEAT-TRANSFER APPARATUS, OF GENERAL APPLICATION
- F28F3/00—Plate-like or laminated elements; Assemblies of plate-like or laminated elements
- F28F3/02—Elements or assemblies thereof with means for increasing heat-transfer area, e.g. with fins, with recesses, with corrugations
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W40/00—Arrangements for thermal protection or thermal control
- H10W40/70—Fillings or auxiliary members in containers or in encapsulations for thermal protection or control
- H10W40/73—Fillings or auxiliary members in containers or in encapsulations for thermal protection or control for cooling by change of state
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/072—Connecting or disconnecting of bump connectors
- H10W72/07251—Connecting or disconnecting of bump connectors characterised by changes in properties of the bump connectors during connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/20—Bump connectors, e.g. solder bumps or copper pillars; Dummy bumps; Thermal bumps
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は伝熱装置に関連し、さらに具体的には改良した
核沸騰表面を有するひれ構造体に関する。
核沸騰表面を有するひれ構造体に関する。
本発明は特に電子素子の冷却を意図しているが、他の応
用にも有用である。
用にも有用である。
B、従来技術
本発明は広く伝熱装置に有用であるが、特定の回路パッ
ケージの場合について考察する。半導体チップは回路の
配線の一部を含む絶縁体のチップ・キャリア上に取付け
られていて、この全体が絶縁液体を保持する包囲体もし
くはカバーと共に組立てられている。熱はチップから液
体へと流れ、液体から雰囲気もしくは水源に伝えられる
。成る回路パッケージでは熱はチップから核沸騰と呼ば
れる機構によって絶縁(誘電性)液体に伝達されている
。
ケージの場合について考察する。半導体チップは回路の
配線の一部を含む絶縁体のチップ・キャリア上に取付け
られていて、この全体が絶縁液体を保持する包囲体もし
くはカバーと共に組立てられている。熱はチップから液
体へと流れ、液体から雰囲気もしくは水源に伝えられる
。成る回路パッケージでは熱はチップから核沸騰と呼ば
れる機構によって絶縁(誘電性)液体に伝達されている
。
核沸騰については米国特許第4050507号に詳細に
説明されているが、用語を明確にするためにその説明を
簡単に行う。絶縁液体が沸騰によって蒸気に変る時は、
発熱体からの熱は液体の分子間結合を破壊し、近くの分
子の圧力に抗して進む。「核形成」なる用語は核形成位
置で蒸気の泡が形成されて成長する事を意味している。
説明されているが、用語を明確にするためにその説明を
簡単に行う。絶縁液体が沸騰によって蒸気に変る時は、
発熱体からの熱は液体の分子間結合を破壊し、近くの分
子の圧力に抗して進む。「核形成」なる用語は核形成位
置で蒸気の泡が形成されて成長する事を意味している。
核形成位置は通常気体もしくは蒸気の泡を捕獲するが、
これ等の泡は核形成に必要な温度を下げる。本発明の装
置及び上記米国特許の装置では、核形成位置は発熱体の
表面中の空洞によって形成されている。
これ等の泡は核形成に必要な温度を下げる。本発明の装
置及び上記米国特許の装置では、核形成位置は発熱体の
表面中の空洞によって形成されている。
上記米国特許の第1図は異なる値の熱フラツクス及び超
過温度で生ずる熱伝達の異なるモードを示している(超
過温度とは発熱素子の温度と絶縁液体の飽和温度の差の
事である)。核沸騰は温度をわずか増加するだけで熱束
の大きな増大を処理出来る事をこの図は示している。熱
伝達はより低温では対流によって生じ、より高温では膜
沸騰と呼ばれる機構によって生ずる。
過温度で生ずる熱伝達の異なるモードを示している(超
過温度とは発熱素子の温度と絶縁液体の飽和温度の差の
事である)。核沸騰は温度をわずか増加するだけで熱束
の大きな増大を処理出来る事をこの図は示している。熱
伝達はより低温では対流によって生じ、より高温では膜
沸騰と呼ばれる機構によって生ずる。
この特許の第12図は所望の核沸騰用の空洞を示してい
るが、これによって本明細書のための用語の一部を説明
する。実際の装置では境界がはっきりしないが、空洞の
内部壁の名称をあたかもこれ等の壁が別個の素子から形
成されているかの様に名付けておく方が都合がよい。好
ましい伝熱素子では、これ等の名称は製造の方法の特定
段階でも対応して使用される。用語を確定するために、
伝熱素子は核沸騰表面が水平で絶縁液体と接する様に上
方に面しているものとする。空洞の上部は核沸騰表面内
にある(第12図では、最上部は表面上に小さな縁が出
ている)。
るが、これによって本明細書のための用語の一部を説明
する。実際の装置では境界がはっきりしないが、空洞の
内部壁の名称をあたかもこれ等の壁が別個の素子から形
成されているかの様に名付けておく方が都合がよい。好
ましい伝熱素子では、これ等の名称は製造の方法の特定
段階でも対応して使用される。用語を確定するために、
伝熱素子は核沸騰表面が水平で絶縁液体と接する様に上
方に面しているものとする。空洞の上部は核沸騰表面内
にある(第12図では、最上部は表面上に小さな縁が出
ている)。
空洞の底部はこの表面から離れている。空洞は水差し状
をなし狭い入口と、入口の下の広い主空洞より成る。主
空洞の側面は空洞を形成する方法により、略円筒をなし
ていて、主空洞は略予定の直径を有する。第12図で入
口から予定の直径になる迄外側に朝顔状に開いている空
洞の表面は天井と呼んでいる。第12図ではこの表面は
凹面をなしている。空洞の底部の略水平な表面は床と呼
ばれる。伝熱素子はもちろんその核沸騰表面を任意の方
向に向ける様に配置する事が出来、その、ときも同じ用
語を使用する。上記特許の第2図及び第3図は核沸騰位
置の蒸気泡の成長を示している。
をなし狭い入口と、入口の下の広い主空洞より成る。主
空洞の側面は空洞を形成する方法により、略円筒をなし
ていて、主空洞は略予定の直径を有する。第12図で入
口から予定の直径になる迄外側に朝顔状に開いている空
洞の表面は天井と呼んでいる。第12図ではこの表面は
凹面をなしている。空洞の底部の略水平な表面は床と呼
ばれる。伝熱素子はもちろんその核沸騰表面を任意の方
向に向ける様に配置する事が出来、その、ときも同じ用
語を使用する。上記特許の第2図及び第3図は核沸騰位
置の蒸気泡の成長を示している。
気泡は空洞中に存在する。それは絶縁液体が溶解した気
体を含み、装置の通常の動作中に蒸気が形成されるから
である。この特許は又蒸気泡を補充して絶縁液体中に注
入出来る事を示している。しかしながら、蒸気もしくは
気泡は空洞から失われ、この消失によって核沸騰表面は
より効果的でなくなる。泡の消失は絶縁液体が空洞を充
填するという見方をすると最も良く理解されよう。本発
明の目的の一つは液体が充填されない空洞を有する核沸
騰表面を与える事にある。
体を含み、装置の通常の動作中に蒸気が形成されるから
である。この特許は又蒸気泡を補充して絶縁液体中に注
入出来る事を示している。しかしながら、蒸気もしくは
気泡は空洞から失われ、この消失によって核沸騰表面は
より効果的でなくなる。泡の消失は絶縁液体が空洞を充
填するという見方をすると最も良く理解されよう。本発
明の目的の一つは液体が充填されない空洞を有する核沸
騰表面を与える事にある。
液体が空洞を充填出来るかどうかは部分的に表面張力及
び液体の湿潤性に依存する。液体が空洞表面を濡らすと
、液体が空洞を充填する。湿潤性がないと、液体は気体
もしくは蒸気泡と接触する。
び液体の湿潤性に依存する。液体が空洞表面を濡らすと
、液体が空洞を充填する。湿潤性がないと、液体は気体
もしくは蒸気泡と接触する。
この特許の第4図は表面張力の一般的効果を示し、第5
図及び第6図は絶縁液体が空洞を充填する有様を示して
いる。液体の湿潤性は小滴の液体と平らな基板とのなす
接触角として数値的に表わされる。例えば湿潤性の高い
液体は基板上に拡がって膜になり、基板の表面と膜の表
面間の角度は180゜に近づく。湿潤性の液体は略o0
の接触角で、1点で基板と接触する球になる傾向がある
。典型的な絶縁(誘電性)液体は接触角が小さく1、従
って容易に空洞を充填する。第12図の空洞中では、入
口が狭いので充填が制限される。
図及び第6図は絶縁液体が空洞を充填する有様を示して
いる。液体の湿潤性は小滴の液体と平らな基板とのなす
接触角として数値的に表わされる。例えば湿潤性の高い
液体は基板上に拡がって膜になり、基板の表面と膜の表
面間の角度は180゜に近づく。湿潤性の液体は略o0
の接触角で、1点で基板と接触する球になる傾向がある
。典型的な絶縁(誘電性)液体は接触角が小さく1、従
って容易に空洞を充填する。第12図の空洞中では、入
口が狭いので充填が制限される。
液体が空洞中に拡がる時に、その液体が表面で上記角度
を越えて流れる様に々つている場合にも充填が阻止され
る。液体が空洞を充填するかどうかを計算する解析では
、この径路における角度が接触角と組合わされる。第1
2図の空洞の形状は入口と側壁間の表面が凸面で入口か
ら側面に対して外側に下向きに開いているよりも、凹面
で外側に上向きに開いている方が充填の阻止率が改善さ
れる事がわかっている。この形状は、液体が空洞を満た
すために流れなければならない経路に270゜以上の角
度を与える。この様な形状の空洞は略カージオイド(心
臓形)をなすと云われる。
を越えて流れる様に々つている場合にも充填が阻止され
る。液体が空洞を充填するかどうかを計算する解析では
、この径路における角度が接触角と組合わされる。第1
2図の空洞の形状は入口と側壁間の表面が凸面で入口か
ら側面に対して外側に下向きに開いているよりも、凹面
で外側に上向きに開いている方が充填の阻止率が改善さ
れる事がわかっている。この形状は、液体が空洞を満た
すために流れなければならない経路に270゜以上の角
度を与える。この様な形状の空洞は略カージオイド(心
臓形)をなすと云われる。
従来の技術は薄い金属箔中に小さ々穴を形成し、この金
属箔を折たたんで2層にしている。2つの箔の部分の穴
が一致する個所を除いて、各穴は他の箔の孔のおいてい
ない表面によって裏打ちされる。従って、2つの箔の部
分は多くの小さな外側に面した空洞を有する。
属箔を折たたんで2層にしている。2つの箔の部分の穴
が一致する個所を除いて、各穴は他の箔の孔のおいてい
ない表面によって裏打ちされる。従って、2つの箔の部
分は多くの小さな外側に面した空洞を有する。
C1発明が解決しようとする問題点
本発明の目的はカルジオイド(心臓形)型の核沸騰用空
洞に有する新しい改良伝熱素子を与えることにある。
洞に有する新しい改良伝熱素子を与えることにある。
本発明の他の目的は製造が容易な伝熱素子を与えること
にある。
にある。
尚、この製造方法及び装置に使用する技術の一部はこの
分野で一般に知られているものである。
分野で一般に知られているものである。
D8問題点を解決するための手段
核沸騰表面に有する改良伝熱素子は各々新規な方法で形
成した穴を有する2枚の薄い金属箔を層状に重ねて形成
する。既に説明した通シ、箔の外方に面する表面を外側
と呼び、内方に面する表面を内側と呼ぶ。層化段階の前
に箔を用意する際に、2つの部分貫通穴を形成する。こ
の時大きな直径の部分穴を内側の表面に与えて伝熱素子
の主空洞を形成し、小さな直径の部分穴を外側の表面に
与えて、伝熱素子の核沸騰空洞の入口にする。小さな方
の第12図に示した様に略円筒状をなしている。最初に
形成した段部の上部が空洞の天井を形成する。
成した穴を有する2枚の薄い金属箔を層状に重ねて形成
する。既に説明した通シ、箔の外方に面する表面を外側
と呼び、内方に面する表面を内側と呼ぶ。層化段階の前
に箔を用意する際に、2つの部分貫通穴を形成する。こ
の時大きな直径の部分穴を内側の表面に与えて伝熱素子
の主空洞を形成し、小さな直径の部分穴を外側の表面に
与えて、伝熱素子の核沸騰空洞の入口にする。小さな方
の第12図に示した様に略円筒状をなしている。最初に
形成した段部の上部が空洞の天井を形成する。
この天井は凸状をなし、空洞に導入する液体の通路に9
0°よりも大きな角度を与える。2つの箔の内側どうし
を重ねると、6箔の内側の表面が他の箔の空洞の床にな
る。
0°よりも大きな角度を与える。2つの箔の内側どうし
を重ねると、6箔の内側の表面が他の箔の空洞の床にな
る。
本発明の好ましい方法の一つの実施例では、第1及び第
2の欠き込み穴を一回の押抜き(ポンチ)動作で形成し
、他の好ましい方法では第1及び第2の欠き込みを別個
に形成する。
2の欠き込み穴を一回の押抜き(ポンチ)動作で形成し
、他の好ましい方法では第1及び第2の欠き込みを別個
に形成する。
伝熱素子の一つの実施例では、次にリボン状の箔をロゼ
ツト状に内側にたたみ、ベースから延出する一連の密な
間隔のひれ(フィン)にする。この構造はひれの線に直
角な方向に容易に膨張可能である。ひれの表面の方向に
熱膨張可能にするためにはペースに小さな切込みを与え
る。
ツト状に内側にたたみ、ベースから延出する一連の密な
間隔のひれ(フィン)にする。この構造はひれの線に直
角な方向に容易に膨張可能である。ひれの表面の方向に
熱膨張可能にするためにはペースに小さな切込みを与え
る。
この構造体をさらに改良するために、ひれを熱膨張係数
の異なる2つの箔で形成し、バイメタル効果によって、
ひれが熱せられる時にひれがたわむ様にする。この効果
で温度が上昇した時ひれが扇状に開く様に制御出来、従
って沸騰液体の循環をよシ良くする事が出来る。ひれの
温度が降下すると、ひれは互にまとまる様に傾き、冷却
剤の循環を減らして、関連する部品の過冷却を防止する
。
の異なる2つの箔で形成し、バイメタル効果によって、
ひれが熱せられる時にひれがたわむ様にする。この効果
で温度が上昇した時ひれが扇状に開く様に制御出来、従
って沸騰液体の循環をよシ良くする事が出来る。ひれの
温度が降下すると、ひれは互にまとまる様に傾き、冷却
剤の循環を減らして、関連する部品の過冷却を防止する
。
E、実施例
E −(1) 核沸騰空洞(第1図)核沸騰空洞の一
般的形状については既に説明した。第1図は沸騰する液
体(図示されず)に面する表面1411を有する箔12
11の一部を示す。核沸騰空洞15は一般に円筒状の側
壁18を有する主空洞17及び一般に円筒状の側壁20
を有する入口19を有する。側壁18及び20間で空洞
は凸状の天井21によって囲まれている。箔12aの表
面22gは内側の表面を示し、その表面は第2の箔12
bの内側の表面22bに面している。
般的形状については既に説明した。第1図は沸騰する液
体(図示されず)に面する表面1411を有する箔12
11の一部を示す。核沸騰空洞15は一般に円筒状の側
壁18を有する主空洞17及び一般に円筒状の側壁20
を有する入口19を有する。側壁18及び20間で空洞
は凸状の天井21によって囲まれている。箔12aの表
面22gは内側の表面を示し、その表面は第2の箔12
bの内側の表面22bに面している。
表面22bけ空洞15の床23をなしている。
本発明の多くの応用の場合、箔12bは外側の表面14
bに開いていて類似の核沸騰空洞を有する。見方を変え
ると、第1回の素子12bは任意の伝熱素子を表わし、
これに取付けつる箔12aは核沸騰表面もしくは空洞1
5のための床25を与える適切な構造体とみなす事が出
来る。
bに開いていて類似の核沸騰空洞を有する。見方を変え
ると、第1回の素子12bは任意の伝熱素子を表わし、
これに取付けつる箔12aは核沸騰表面もしくは空洞1
5のための床25を与える適切な構造体とみなす事が出
来る。
E−(2) 製造方法・・・・序章
本発明の伝熱素子の製造方法の一つの実施例では、主空
洞17を第1の段階で形成し、他の実施例では主空洞及
び入口を単一段階で形成する。第2A、B、C,D、
E図は2段階を使用する方法、第5図は一つの段階を使
用する方法を示している。
洞17を第1の段階で形成し、他の実施例では主空洞及
び入口を単一段階で形成する。第2A、B、C,D、
E図は2段階を使用する方法、第5図は一つの段階を使
用する方法を示している。
第2図及び第5図の方法は共にそれぞれの方法で有用な
特徴がある。核沸騰空洞の物理的構造はあたかも主空洞
17と入口19が別個の段階で形成した個別のものであ
るかの様に説明した方が便利である。
特徴がある。核沸騰空洞の物理的構造はあたかも主空洞
17と入口19が別個の段階で形成した個別のものであ
るかの様に説明した方が便利である。
E−(3) 第2A乃至第2E図に示した製造方法及
び伝熱素子 第2E図は2つの層状にした箔12a、12bの側面図
であり、第1図の構造の説明によって明らかなものであ
る。第2A図乃至第2D図は単一の箔を折たたんで第2
E図の2層構造体を形成する製造段階を示す。
び伝熱素子 第2E図は2つの層状にした箔12a、12bの側面図
であり、第1図の構造の説明によって明らかなものであ
る。第2A図乃至第2D図は単一の箔を折たたんで第2
E図の2層構造体を形成する製造段階を示す。
参照番号12.14及び22(添字のない)は個々の箔
の用語の番号に対応して夫々折たたまない箔、外側の表
面及び内側の表面を示している。
の用語の番号に対応して夫々折たたまない箔、外側の表
面及び内側の表面を示している。
破線が箔の端面を通って延び、箔を折たたんで第1図の
個別の箔12a及び12bを形成する点を示している。
個別の箔12a及び12bを形成する点を示している。
第2E図では、この破線は2つの内側の表面22a、2
2b(第1図)の合する表面と一致する。
2b(第1図)の合する表面と一致する。
第2A図の折たたむ前の箔12は熱伝導率の良い銅もし
くはアルミニウムもしくは他の金属もしくは金属合金の
シートである。好ましい箔は又押抜きが容易で、曲げや
すく、容易に最終の折たたんだひれ形にする事の出来る
ものである。箔の厚さは約0.1乃至a2mmである。
くはアルミニウムもしくは他の金属もしくは金属合金の
シートである。好ましい箔は又押抜きが容易で、曲げや
すく、容易に最終の折たたんだひれ形にする事の出来る
ものである。箔の厚さは約0.1乃至a2mmである。
第2B図は内側の表面22からポンチ動作を行って第2
E図の仕上げ製品中の主空洞17となる穴を形成した後
の箔12を示す。図面には2.3個の穴しか示されてい
ない。穴は略円筒状の側壁1日を有し、・第1図に関連
して説明した凸型の天井21を有する。ポンチ動作によ
って穴17から材料が変位し、穴の上の点63で箔は外
側に丸屋根を形成する。ポンチ動作については第3図に
関連して詳細に説明する。第2C図は箔の外側の表面1
4と主空洞17の天井21間に第2の穴19を形成した
後の箔を示す。穴(入口)19は空洞の天井21の凸型
の形状を保持するか増強する任意の技術、好ましくはポ
ンチ、機械的切削もしくはレーザ切削によって形成され
る。第2C図の構造体は穴を第2B図及び第2C図で示
した様に2段階で形成するか、後に説明する様に一工程
で形成するかどうかに拘らず形成出来る事に注意された
い。
E図の仕上げ製品中の主空洞17となる穴を形成した後
の箔12を示す。図面には2.3個の穴しか示されてい
ない。穴は略円筒状の側壁1日を有し、・第1図に関連
して説明した凸型の天井21を有する。ポンチ動作によ
って穴17から材料が変位し、穴の上の点63で箔は外
側に丸屋根を形成する。ポンチ動作については第3図に
関連して詳細に説明する。第2C図は箔の外側の表面1
4と主空洞17の天井21間に第2の穴19を形成した
後の箔を示す。穴(入口)19は空洞の天井21の凸型
の形状を保持するか増強する任意の技術、好ましくはポ
ンチ、機械的切削もしくはレーザ切削によって形成され
る。第2C図の構造体は穴を第2B図及び第2C図で示
した様に2段階で形成するか、後に説明する様に一工程
で形成するかどうかに拘らず形成出来る事に注意された
い。
第2D図は箔を折たたむ工程を、第2E図は内側の表面
22aと22bを接触した完成されたひれ構造体を示し
ている。内側の表面22aと22bは密接させて、1つ
の空洞から他の空洞へと液体、気体もしくは蒸気が移動
するのを実質的に防止する様なひれ構造体を形成するの
が好ましい。尚、核沸騰空洞を相互接続して、液体もし
くは空気が空洞間を移動出来る様にする構造体が提案さ
れているが、第2A図乃至第2E図に示した製造方法及
び構造体は空洞間に所望の程度の連続を与える様に容易
に適合出来る。
22aと22bを接触した完成されたひれ構造体を示し
ている。内側の表面22aと22bは密接させて、1つ
の空洞から他の空洞へと液体、気体もしくは蒸気が移動
するのを実質的に防止する様なひれ構造体を形成するの
が好ましい。尚、核沸騰空洞を相互接続して、液体もし
くは空気が空洞間を移動出来る様にする構造体が提案さ
れているが、第2A図乃至第2E図に示した製造方法及
び構造体は空洞間に所望の程度の連続を与える様に容易
に適合出来る。
E −(4) ポンチ及びダイ°ス型・・・・第3図
第3図はポンチ26が箔の内側の表面22に面し、ダイ
ス型27が箔の外側の表面14に面した第1図の箔12
を示している。適切なポンチ技術は一般に知られていて
、ポンチの部材は概略的に示されている。ポンチ及びダ
イス型はそれ等と箔中に形成した穴の表面間の関係を示
す様に図面中では位置付けられているが、その位置はポ
ンチ動作後にダイス型及びポンチが後退したところに対
応している。
第3図はポンチ26が箔の内側の表面22に面し、ダイ
ス型27が箔の外側の表面14に面した第1図の箔12
を示している。適切なポンチ技術は一般に知られていて
、ポンチの部材は概略的に示されている。ポンチ及びダ
イス型はそれ等と箔中に形成した穴の表面間の関係を示
す様に図面中では位置付けられているが、その位置はポ
ンチ動作後にダイス型及びポンチが後退したところに対
応している。
ポンチ26は台29を有し、台29は夫々側壁181、
”主空洞の天井22及び側壁の入口19を形成する表面
31.52及び33を有する。ダイス型27は空洞の入
口から除去される材料(図示されず)を受取る開孔54
を有し、排出器55がポンチ動作の終りに材料を排出す
る。ダイス型は円錐状のくぼみ36を有し、材料が主空
洞の領域から追出される時に、箔が円錐状の縁58をな
して変位する様になっている。
”主空洞の天井22及び側壁の入口19を形成する表面
31.52及び33を有する。ダイス型27は空洞の入
口から除去される材料(図示されず)を受取る開孔54
を有し、排出器55がポンチ動作の終りに材料を排出す
る。ダイス型は円錐状のくぼみ36を有し、材料が主空
洞の領域から追出される時に、箔が円錐状の縁58をな
して変位する様になっている。
第2図の方法のためのポンチは第3図に示した、ポンチ
を簡単にしたものであり、入口19の表面20を形成す
る部分33がなく、凹形の円錐として形成した表面52
が第2B図の未完成の天井21に対応するものである。
を簡単にしたものであり、入口19の表面20を形成す
る部分33がなく、凹形の円錐として形成した表面52
が第2B図の未完成の天井21に対応するものである。
E−(5) 回路パッケージ・・・・第4図第4図は
第2E図と部分的に同じであるが、さらに箔12a、1
2bが波状に連絡して曲げられて、シリコンチップ(図
示されず)の様な発熱体、もしくは等価であるが中間の
熱伝達物体42に取付けるためのペース41をなす箔の
介在単層によって隔てられた一連のひれを示している。
第2E図と部分的に同じであるが、さらに箔12a、1
2bが波状に連絡して曲げられて、シリコンチップ(図
示されず)の様な発熱体、もしくは等価であるが中間の
熱伝達物体42に取付けるためのペース41をなす箔の
介在単層によって隔てられた一連のひれを示している。
金属のひれをシリ真ンチツプに取付ける際に通常行われ
ている様に、モリプデ/のバッド42をはんだ45によ
ってチップに取付ける(モリブデン及びケイ素は熱膨張
係数が略等しく、モリブデンのパツドは箔が膨張しても
チップに影響を与えない)。
ている様に、モリプデ/のバッド42をはんだ45によ
ってチップに取付ける(モリブデン及びケイ素は熱膨張
係数が略等しく、モリブデンのパツドは箔が膨張しても
チップに影響を与えない)。
図面の平面に垂直な熱膨張の差を解消するために、図面
の平面の左右方向に向う微細な溝をベース41中に形成
する。図面の平面の左右方向の熱膨張の差は折たたまれ
たひれ構造体が解消する。
の平面の左右方向に向う微細な溝をベース41中に形成
する。図面の平面の左右方向の熱膨張の差は折たたまれ
たひれ構造体が解消する。
E−(6) 温度調節ひれ構造体・・・・第5A図、
第5B図 第5A図及び第5B図は第4図のモリブデンのパッド4
2及びはんだ45の外に通常のチップ48、チップ・キ
ャリア49及びチップ上の導電性パッドとチップ・キャ
リア上のパッドを電気的及び機械的に相互接続するはん
だボール50を示している(図では薄いパッドは示して
いない)。図示していない包囲体の中に絶縁(誘電性)
液体51が含まれている。伺、選択的には、障壁52が
チップ48を絶縁液体から分離している。障壁は可撓性
の金属もしくは高分子材料で形成出来る。
第5B図 第5A図及び第5B図は第4図のモリブデンのパッド4
2及びはんだ45の外に通常のチップ48、チップ・キ
ャリア49及びチップ上の導電性パッドとチップ・キャ
リア上のパッドを電気的及び機械的に相互接続するはん
だボール50を示している(図では薄いパッドは示して
いない)。図示していない包囲体の中に絶縁(誘電性)
液体51が含まれている。伺、選択的には、障壁52が
チップ48を絶縁液体から分離している。障壁は可撓性
の金属もしくは高分子材料で形成出来る。
第5A図はチップの背部で平行に背面に垂直に延びるひ
れを示し、第5B図は拡がったひれを示している。絶縁
液体51はポンプもしくは温度差によってひれの間を循
環するが、第5B図の末広がυになったひれの配列では
循環と冷却率が増大する。第2E図及び第4図の折たた
みひれ構造体は任意の適切な間隔で固定出来、冷却の量
が選択出来る。異なる電力で動作し、従って冷却の要件
も異なるいくつかのチップを含む回路パッケージでは、
高い電力のチップのひれはより離して固定し、低い電力
のチップのひれは互に接近して固定して、低電力のチッ
プを過度に冷却する事なく高い電力のチップを十分冷却
する。
れを示し、第5B図は拡がったひれを示している。絶縁
液体51はポンプもしくは温度差によってひれの間を循
環するが、第5B図の末広がυになったひれの配列では
循環と冷却率が増大する。第2E図及び第4図の折たた
みひれ構造体は任意の適切な間隔で固定出来、冷却の量
が選択出来る。異なる電力で動作し、従って冷却の要件
も異なるいくつかのチップを含む回路パッケージでは、
高い電力のチップのひれはより離して固定し、低い電力
のチップのひれは互に接近して固定して、低電力のチッ
プを過度に冷却する事なく高い電力のチップを十分冷却
する。
第5A図及び第5B図は又自己調節的な伝熱素子を与え
るバイメタルひれ構造体を示す。代表的なひれ58,5
9及び60においては、2つの箔は単一のシートを折た
たんで形成したものではなく、熱膨張係数の異なる個別
の材料から形成する。適切な金属は軟鋼及びモリブデン
であり、箔には膨張係数の高低に対応し、12c及び1
2mと記号が付されている。層12c及び12mは、例
えばはんだ付けもしくは接着剤によって適切に層状にさ
れる。温度が増加するとバイメタル構造体は膨張係数が
低い方の箔12mの方に曲る。箔は中心線62のまわり
に対称に配列されているので、ひれは第5B図に示した
様に末広がシになる。第5B図に示した様に隣接するひ
れもしくは隣接するひれの組は屈曲度が異なる様に形成
され、外側のひれは中心線62に近いひれよりも多ぐ曲
る様になっている(もし各ひれを同じて形成すると、ひ
れは等しい角度だけ曲り、第5B図に示した様に拡がっ
た状態にはなるが互にもう少し接近した状態になる9、
)。
るバイメタルひれ構造体を示す。代表的なひれ58,5
9及び60においては、2つの箔は単一のシートを折た
たんで形成したものではなく、熱膨張係数の異なる個別
の材料から形成する。適切な金属は軟鋼及びモリブデン
であり、箔には膨張係数の高低に対応し、12c及び1
2mと記号が付されている。層12c及び12mは、例
えばはんだ付けもしくは接着剤によって適切に層状にさ
れる。温度が増加するとバイメタル構造体は膨張係数が
低い方の箔12mの方に曲る。箔は中心線62のまわり
に対称に配列されているので、ひれは第5B図に示した
様に末広がシになる。第5B図に示した様に隣接するひ
れもしくは隣接するひれの組は屈曲度が異なる様に形成
され、外側のひれは中心線62に近いひれよりも多ぐ曲
る様になっている(もし各ひれを同じて形成すると、ひ
れは等しい角度だけ曲り、第5B図に示した様に拡がっ
た状態にはなるが互にもう少し接近した状態になる9、
)。
回路パッケージの一実施例では、ひれけ層12C及び1
2mの一方もしくは両方を順次異なる材料で形成する。
2mの一方もしくは両方を順次異なる材料で形成する。
回路パッケージの他の実施例では層12e及び12mの
厚さの比を変化させる。即ち中心線に近いひれの高い膨
張係数の層12cは厚くし、外側に近いひれの低い膨張
係数の層12mは薄くする。
厚さの比を変化させる。即ち中心線に近いひれの高い膨
張係数の層12cは厚くし、外側に近いひれの低い膨張
係数の層12mは薄くする。
E −(ハ 他の実施例
第4図の繰返しひれ構造体は多くの応用例に有用である
。例えば、ベース41は梯騰すべき液体を運ぶパイプの
内部もしくは沸騰すべき液体中に浸漬されるパイプの外
側に取付ける事が出来る。
。例えば、ベース41は梯騰すべき液体を運ぶパイプの
内部もしくは沸騰すべき液体中に浸漬されるパイプの外
側に取付ける事が出来る。
F0発明の効果
本発明によれば、製造が容易な核沸騰空洞を有する改善
された新規な伝熱素子が与えられる。
された新規な伝熱素子が与えられる。
第1図は本発明に従う核沸騰空洞を有する2つの層状に
した箔より成る伝熱素子の断面図である。 第2A図、第2B図、第2C図、第2D図及び第2E図
は核沸騰空洞を形成し、箔を折まげて第1″図の層状伝
熱素子を形成するための一連の製造工程の箔の断面図で
ある。第3図はポンチ、ダイス型及び完成した伝熱構造
体の核沸騰空洞となる穴を打抜いた箔の断面図である。 第4図は核沸騰箔を使用したひれ構造体の断面図である
。第5A図及び第5B図は第1図の核沸騰表面を有する
ひれを使用した、夫々冷却液の流れを減少するためにひ
れの間隔が密でアシ、冷却液の流れを増大さすためにひ
れの間隔を離した回路パッケージの断面図である。 12 m、 12 bam*a箔、14 a、 1
4 b**++a冷却液に接する外側の表面、15・・
・・核沸騰空洞、17・・・・主空洞、18・・・・空
洞の円筒壁、19・・・・入口、20・・・・入口の側
壁、21・・・・天井、22a、22b・・・・箔の内
側の表面、23・・・・床、26・・・・ポンチ、27
・・・・ダイス型、29・・・・台、54・・・・開孔
、35・・・・排出器、41・・・・ベース、42・・
e@パッド、45−・・・はんだ、48・・・・チップ
、49・・・・チップ・キャリア、50・・・・はんだ
ボール、51・・・・絶縁液体、52・・・・障壁、5
8.59.60Φφ・・ひれ。 出願人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・浄乃ン第1図 箪4図 ひれ橋造体
した箔より成る伝熱素子の断面図である。 第2A図、第2B図、第2C図、第2D図及び第2E図
は核沸騰空洞を形成し、箔を折まげて第1″図の層状伝
熱素子を形成するための一連の製造工程の箔の断面図で
ある。第3図はポンチ、ダイス型及び完成した伝熱構造
体の核沸騰空洞となる穴を打抜いた箔の断面図である。 第4図は核沸騰箔を使用したひれ構造体の断面図である
。第5A図及び第5B図は第1図の核沸騰表面を有する
ひれを使用した、夫々冷却液の流れを減少するためにひ
れの間隔が密でアシ、冷却液の流れを増大さすためにひ
れの間隔を離した回路パッケージの断面図である。 12 m、 12 bam*a箔、14 a、 1
4 b**++a冷却液に接する外側の表面、15・・
・・核沸騰空洞、17・・・・主空洞、18・・・・空
洞の円筒壁、19・・・・入口、20・・・・入口の側
壁、21・・・・天井、22a、22b・・・・箔の内
側の表面、23・・・・床、26・・・・ポンチ、27
・・・・ダイス型、29・・・・台、54・・・・開孔
、35・・・・排出器、41・・・・ベース、42・・
e@パッド、45−・・・はんだ、48・・・・チップ
、49・・・・チップ・キャリア、50・・・・はんだ
ボール、51・・・・絶縁液体、52・・・・障壁、5
8.59.60Φφ・・ひれ。 出願人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ
・浄乃ン第1図 箪4図 ひれ橋造体
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (a)外側の表面及び内側の表面を有し、上記内側の表
面に向つて開き、伝熱素子中に主空洞を形成する大きな
直径の複数の穴と、上記外側の表面に向つて開き伝熱素
子中の核沸騰空洞の入口を形成する小さな直径の穴を有
する金属箔と、 (b)上記箔の内側の表面に取付けて、上記内側の表面
に向つて開いた穴をふさぎ、これによつて核沸騰空洞の
床を形成する熱伝導性材料の基板とより成る、 核沸騰空洞を有する伝熱素子。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US75621985A | 1985-07-18 | 1985-07-18 | |
| US756219 | 1985-07-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6219695A true JPS6219695A (ja) | 1987-01-28 |
| JPH0565795B2 JPH0565795B2 (ja) | 1993-09-20 |
Family
ID=25042522
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61110986A Granted JPS6219695A (ja) | 1985-07-18 | 1986-05-16 | 核沸騰空洞を有する伝熱素子 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0209630B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6219695A (ja) |
| CA (1) | CA1234641A (ja) |
| DE (1) | DE3672537D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008090726A1 (ja) * | 2007-01-24 | 2008-07-31 | Nec Corporation | 熱交換装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110167323B (zh) * | 2019-06-18 | 2024-10-22 | 先歌国际影音股份有限公司 | 一种可伸展于空中散热的散热元件及散热器 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5276762A (en) * | 1975-12-23 | 1977-06-28 | Hitachi Cable Ltd | Heat-transfer wall by ebullition |
| JPS57120094A (en) * | 1980-12-02 | 1982-07-26 | Imi Marston Ltd | Heat exchanger |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4050507A (en) * | 1975-06-27 | 1977-09-27 | International Business Machines Corporation | Method for customizing nucleate boiling heat transfer from electronic units immersed in dielectric coolant |
| JPS5811101B2 (ja) * | 1977-11-25 | 1983-03-01 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 半導体の表面処理方法 |
| JPS5487959A (en) * | 1977-12-19 | 1979-07-12 | Ibm | Base plate for cooling |
-
1986
- 1986-02-28 DE DE8686102647T patent/DE3672537D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-02-28 EP EP86102647A patent/EP0209630B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-03-04 CA CA000503287A patent/CA1234641A/en not_active Expired
- 1986-05-16 JP JP61110986A patent/JPS6219695A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5276762A (en) * | 1975-12-23 | 1977-06-28 | Hitachi Cable Ltd | Heat-transfer wall by ebullition |
| JPS57120094A (en) * | 1980-12-02 | 1982-07-26 | Imi Marston Ltd | Heat exchanger |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008090726A1 (ja) * | 2007-01-24 | 2008-07-31 | Nec Corporation | 熱交換装置 |
| JPWO2008090726A1 (ja) * | 2007-01-24 | 2010-05-13 | 日本電気株式会社 | 熱交換装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0209630A2 (en) | 1987-01-28 |
| JPH0565795B2 (ja) | 1993-09-20 |
| DE3672537D1 (de) | 1990-08-16 |
| CA1234641A (en) | 1988-03-29 |
| EP0209630A3 (en) | 1987-09-16 |
| EP0209630B1 (en) | 1990-07-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6544815B2 (en) | Panel stacking of BGA devices to form three-dimensional modules | |
| TW490817B (en) | A semiconductor device, an interposer for the semiconductor device, and a method of manufacturing the same | |
| US6032362A (en) | Method for producing a heat spreader and semiconductor device with a heat spreader | |
| JP5975449B2 (ja) | シリコンを使用するチップレベル熱放散 | |
| US8963323B2 (en) | Heat-transfer structure | |
| US6622786B1 (en) | Heat sink structure with pyramidic and base-plate cut-outs | |
| JP2019021923A (ja) | 半導体パッケージの製造方法 | |
| CN109427702A (zh) | 散热器件和方法 | |
| US20060108671A1 (en) | Semiconductor package including die interposed between cup-shaped lead frame and lead frame having mesas and valleys | |
| JPH10510096A (ja) | 順応性熱コネクタ、その製造および使用方法並びにその集成体 | |
| JP2005516402A (ja) | 側面に電気接続を有する半導体ダイを使用する半導体ダイパッケージ | |
| WO1996016532A9 (en) | Compliant thermal connectors, methods and assemblies | |
| JPH0234183B2 (ja) | ||
| US10192804B2 (en) | Bump-on-trace packaging structure and method for forming the same | |
| US6506627B1 (en) | Semiconductor device, tab tape for semiconductor device, method of manufacturing the tab tape and method of manufacturing the semiconductor device | |
| US20060110856A1 (en) | Method of fabricating semiconductor package including die interposed between cup-shaped lead frame having mesas and valleys | |
| JP7563986B2 (ja) | 埋め込みパッケージにおける応力緩衝層 | |
| JP2009054731A (ja) | 放熱部付き金属ベースプリント基板及びその製造方法 | |
| US7183493B2 (en) | Electronic assembly having multi-material interconnects | |
| US4709754A (en) | Heat transfer element with nucleate boiling surface and bimetallic fin formed from element | |
| JP2005347313A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPS6219695A (ja) | 核沸騰空洞を有する伝熱素子 | |
| WO2006058030A2 (en) | Semiconductor package including die interposed between cup-shaped lead frame and lead frame having mesas and valleys | |
| CN113921473B (zh) | 封装结构和封装结构制造方法 | |
| TWI254432B (en) | Solid cooling structure and formation thereof with integrated package |