JPS62215855A - Apparatus for inspecting printed circuit board - Google Patents
Apparatus for inspecting printed circuit boardInfo
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- JPS62215855A JPS62215855A JP61059694A JP5969486A JPS62215855A JP S62215855 A JPS62215855 A JP S62215855A JP 61059694 A JP61059694 A JP 61059694A JP 5969486 A JP5969486 A JP 5969486A JP S62215855 A JPS62215855 A JP S62215855A
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、基板の両面をIa像して、この基板の表面に
取りfNJ’ tノられた部品と、鬼面に取り付けられ
た部品とを同時に検査する基板検査装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention provides an Ia image of both sides of a board, and a part attached to the surface of the board and a part attached to the surface of the board. The present invention relates to a board inspection device that performs simultaneous inspection.
(従来の技術)
プリン]−阜仮に抵抗器や半導体素子等の各種チップ部
品をマウントするときにおいて自動マウント5A置を用
いた場合、マウント後においてマウントデータどうりに
部品がマウントされていないことがある。(Prior art) - If an automatic mount 5A position is used when mounting various chip parts such as resistors and semiconductor elements, the parts may not be mounted according to the mount data after mounting. be.
このため、このような自動マウン1−装冒等を用いる場
合には、マウント後にプリント基板をチェックして、こ
のプリント基板上の正規の位置に正当なチップ部品が正
しい姿勢(位置、方向)でマウントされているかどうか
、また脱落がないかどうかを検査する必要がある。For this reason, when using such automatic mounting, the printed circuit board is checked after mounting to ensure that the correct chip components are in the correct position and orientation (position, direction) on the printed circuit board. You need to check whether it is mounted or not and whether it has fallen off.
しかしこのような検査を従来と同じように人手による目
視検査で行なっていたのでは、検査ミスの発生を完全に
無くすことができず、また検査速度を高めることができ
ないという問題がある。However, if such an inspection is performed by manual visual inspection as in the past, there are problems in that the occurrence of inspection errors cannot be completely eliminated and the inspection speed cannot be increased.
そこで、近年、この種の検査を自動釣に行なうことがで
きるプリント基板の自動検査装置が各メーカから種々提
案されている。Therefore, in recent years, various manufacturers have proposed various automatic inspection devices for printed circuit boards that can automatically perform this type of inspection.
第8図は、このような自動検査装置の一例を示すブロッ
ク図である。FIG. 8 is a block diagram showing an example of such an automatic inspection device.
この図に示す自動検査装置は、部品1が実装された被検
査プリント基板2−2を[1するTV力メラ3と、キー
ボード8から入力されたデータ、つまり第9図に示すよ
うに基準基板となる基を隻プリント基板2−1の種類等
に関するデータおよびこの基準プリント基板2−1上に
載っている各部品1の種類、配量位置、取付は姿勢、形
状等に関するデータおよびこれらの各部品1の検査処理
手順等に関する情報(データ)を記憶する記憶部4と、
この記憶部4に記憶されている情報と前記TVカメラ3
からの画像によって示される情報とを比較して前記被検
査プリン1一基板2−2上に全ての部品1が有るかどう
か、またこれらの部品1が位置ずれ等を起こしているか
どうかを判定する判定回路5と、この判定回路5の判定
結束を表示したり、プリントアラ1−シたりするモニタ
6とを備えて構成されている。The automatic inspection device shown in this figure has a TV camera 3 that inspects a printed circuit board 2-2 to be inspected on which a component 1 is mounted, and data input from a keyboard 8, that is, a reference board as shown in FIG. Data regarding the type of the base printed circuit board 2-1, data regarding the type, dispensing position, mounting position, shape, etc. of each component 1 mounted on this reference printed circuit board 2-1, and data regarding each of these. a storage unit 4 that stores information (data) regarding inspection processing procedures for the component 1;
The information stored in this storage unit 4 and the TV camera 3
By comparing the information shown by the image from It comprises a judgment circuit 5 and a monitor 6 for displaying the judgment results of the judgment circuit 5 and for printing the print schedule.
(弁明が解決しようとする問題点)
ところでこの種の自動検査装置においては、被検査プリ
ント基板2−2を検査する場合、この被検査プリン1〜
基板2−2の一面のみを搬像して、この面に載せられた
部品1のみを検査するように構成されていたので、この
被検査プリント基板2−2が両面実装基板であるときに
は、一方の面上に取り(=itづられている部品1の検
査処理が終った後に、この被検査プリン1へ基板2−2
を裏返して、他方の面上に取り付【)られている部品1
の検査処理を行なわなければならなかった。(Problem to be solved by the explanation) By the way, in this type of automatic inspection equipment, when inspecting the printed circuit board 2-2 to be inspected,
Since the configuration was such that only one surface of the board 2-2 was imaged and only the component 1 placed on this surface was inspected, when the printed circuit board 2-2 to be inspected was a double-sided mounting board, one After the inspection process of the part 1 which is taken on the surface of
Flip over the part 1 attached to the other side.
inspection process had to be carried out.
このため、従来の自動検査装置においては、このような
両面実装基板を検査するときに、検査時間が長くなると
いう問題があった。For this reason, in conventional automatic inspection apparatuses, when inspecting such double-sided mounting boards, there has been a problem that the inspection time becomes long.
本発明は上記の事情に鑑み、液検査プリント基板上の両
面に部品が実装されている場合にも、この被検査プリン
ト基板を寝返すことなくその両面に取り付けられている
部品を一度に検査することができ、これによってその処
理時間を短くすることができる基板検査装置を提供する
ことを目的としている。In view of the above-mentioned circumstances, the present invention is designed to test components mounted on both sides at once without turning over the printed circuit board to be inspected, even when components are mounted on both sides of the printed circuit board for liquid inspection. It is an object of the present invention to provide a substrate inspection apparatus that can shorten the processing time.
(問題点を解決するための手段)
上記問題点を解決するために本発明によるM仮検査8置
は、基板を画像して得られたデータを処理して前記基板
上の部品を検査する基板検査装置において、前記基板の
両面を撮像する撮像部と、この撮像部によって得られた
前記基板の両面画像情報を処理して前記基板の表面にあ
る部品と裏面にある部品とを検査する処理部とを備えた
ことを特徴としている。(Means for Solving the Problems) In order to solve the above problems, the M temporary inspection system according to the present invention is a board that inspects components on the board by processing data obtained by imaging the board. In the inspection device, an imaging unit that captures images of both sides of the board, and a processing unit that processes the double-sided image information of the board obtained by the imaging unit to inspect components on the front side and parts on the back side of the board. It is characterized by having the following.
(実施例)
第1図は本発明による基板検査装置の第一実施例を示す
ブロック図である。(Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a board inspection apparatus according to the present invention.
この図に示す基板検査装置は、基準プリント基板1O−
1(または、被検査プリント基板1O−2)の両面を同
時に搬像することにより、この基準プリント基板1O−
1(または、被検査プリント基板1O−2)の各面に各
々取り付Cプられている各部品1l−1a〜1l−na
(または部品1l−1b〜1l−nb>を一度に処理す
るようにしたものであり、X−Yテーブル部12と、撮
像部13と、処理部14とを備えている。The board inspection apparatus shown in this figure has a reference printed circuit board 1O-
1 (or the printed circuit board to be inspected 1O-2) at the same time, this reference printed circuit board 1O-
1 (or the printed circuit board to be inspected 1O-2).
(or components 1l-1b to 1l-nb) at one time, and includes an X-Y table section 12, an imaging section 13, and a processing section 14.
X−Yテーブル部12は、前記処理部14からの制御イ
5″;″、に基づいて1」準プリント基板1O−1(ま
たは、被検査プリン1〜基板10−2>のX軸方向位置
およびY軸方向位置を決めるものであり、第2図に示す
如くX軸方向位置決め部15と、Y軸方向位置決め部1
6と、基板保持部17とを備えている。The X-Y table section 12 determines the X-axis position of the semi-printed circuit board 1O-1 (or the board to be inspected 1 to 10-2) based on the control from the processing section 14. and determines the position in the Y-axis direction, and as shown in FIG.
6 and a substrate holding section 17.
X軸方向位置決め部15は、前記処理部14からのX方
向制御信号に基づいて動作するX軸周パルスモータ20
と、このX軸周パルスモータ20によって駆動される2
つの駆動プーリ21a、21bと、これらの各駆動プー
リ21a、21bと平行に配置される従動プーリ22a
、22bと、これら各従動プーリ22a、22bと前記
各駆動プーリ21a、21bとの間に各々掛けられるノ
ンスリップベルト23a、23bと、これらの各ノンス
リップベルト23a、23b上の同じ位置に固定される
スライドブロック24a、24bと、これらの各スライ
ドブロック24a、24bをX軸方向に移動自在にガイ
ドするスライド軸25 a 。The X-axis direction positioning section 15 includes an X-axis circumferential pulse motor 20 that operates based on the X-direction control signal from the processing section 14.
and 2 driven by this X-axis circumferential pulse motor 20.
two driving pulleys 21a, 21b, and a driven pulley 22a arranged parallel to each of these driving pulleys 21a, 21b.
, 22b, non-slip belts 23a, 23b, which are hung between each of the driven pulleys 22a, 22b and each of the drive pulleys 21a, 21b, and a slide fixed to the same position on each of these non-slip belts 23a, 23b. Blocks 24a, 24b and a slide shaft 25a that guides these slide blocks 24a, 24b movably in the X-axis direction.
25bとを備えており、前記処理部14からのX方向制
御信号に基づいて基板保持部17のX軸方向位置を決め
る。25b, and determines the position of the substrate holding section 17 in the X-axis direction based on the X-direction control signal from the processing section 14.
またY軸方向位置決め部16はその両端が前記各スライ
ドブロック24a、24b上に各々固定されるガイドレ
ール26と、ボールネジ機構18のナツトが嵌入された
状態で前記ガイドレール26に移動自在に取り付けられ
るスライドブロック29と、前記ガイドレール26の上
面一端に固定され、前記処理部14からのY方向制御信
号に基づいて前記ボールネジ機構18のネジ軸を回転駆
動し、前記スライドブロック29のY軸方向位置を決め
るY軸用パルスモータ27とを備えており、前記処理部
14からのY方向制御信号に基づいて基板保持部17の
Y軸方向位置を決める。Further, the Y-axis direction positioning part 16 is movably attached to the guide rail 26 with its both ends fixed on the respective slide blocks 24a and 24b, and the nut of the ball screw mechanism 18 is fitted. A slide block 29 is fixed to one end of the upper surface of the guide rail 26, and rotates the screw shaft of the ball screw mechanism 18 based on a Y-direction control signal from the processing section 14, thereby controlling the position of the slide block 29 in the Y-axis direction. The Y-axis pulse motor 27 determines the position of the substrate holding section 17 in the Y-axis direction based on the Y-direction control signal from the processing section 14.
基板保1.′1部17は前記スライドブロック29に固
定されるホルダ31と、このホルダ31に装着されたl
t%1プリント基板1O−1(または被検査プリント
基板1O−2)をこのホルダ31に固定させるチャック
機構30とを備えて構成されており、この基板保持部1
7にセットされた基準プリン1〜塁板10−1 (また
は被検査プリント基板1O−2)は前記X軸方向位置決
め部15と、Y軸方向位置決め部16とによってそのX
−Y方向位置が決められた後、その表面および裏面が撮
像部13によって撮像される。Board protection 1. '1 part 17 includes a holder 31 fixed to the slide block 29 and a latch attached to this holder 31.
t%1 printed circuit board 1O-1 (or the printed circuit board to be inspected 1O-2) is fixed to this holder 31.
The reference printed circuit board 1 to the base board 10-1 (or the printed circuit board to be inspected 1O-2) set at
After the -Y direction position is determined, the front and back surfaces are imaged by the imaging unit 13.
搬像部13は前記基板保持部17の上方に配置される上
部TVカメラ32と、この上部T V jjメラ32の
レンズfiQ面に、これと同軸的に設けられる上部リン
グ照明装置33と、前記基板保持部17の下方に配置さ
れる下部TVカメラ34と、この下部TVカメラ34の
レンズ前面に、これと同軸的に設けられる下部リング照
明装置35と、これら上部TVカメラ32〜下部リング
照明装買35を支持するアングル36とを備えており、
前記基板保持部17にセットされて、位置出しされた基
準プリント基板10−1 (または、被検査プリント基
板10−2>は前記上部リング照明装着33と、下部リ
ング照明装置35によってその表面と、裏面とが照明さ
れながら前記上部TVカメラ32と、下部TVカメラ3
4とによってその両面が11像され、この撮像動作によ
り得られた上面側画像信号と、下面側画像信号とが処理
部14へ供給される。The image carrying section 13 includes an upper TV camera 32 disposed above the substrate holding section 17, an upper ring illumination device 33 disposed coaxially with the lens fiQ surface of the upper TV camera 32, and the above-mentioned. A lower TV camera 34 disposed below the substrate holder 17, a lower ring illumination device 35 coaxially provided in front of the lens of the lower TV camera 34, and a lower ring illumination device 35 arranged from the upper TV camera 32 to the lower ring illumination device. It is equipped with angle 36 that supports buy 35,
The reference printed circuit board 10-1 (or the printed circuit board to be inspected 10-2) set and positioned in the board holder 17 is illuminated by the upper ring illumination mounting 33 and the lower ring illumination device 35, and the surface thereof is The upper TV camera 32 and the lower TV camera 3 are illuminated while the back side is illuminated.
4, both surfaces are imaged 11 times, and the upper surface side image signal and lower surface side image signal obtained by this imaging operation are supplied to the processing section 14.
処理部14はティーチングモードのとき、前記搬像部1
3から供給される上面側画像信号、下面側画像信号(前
記基準プリント基板10−1の上面側画像信号、下面側
画像信号)から前記基準プリント基板10−1の両面に
ある各部品1l−1a〜1l−naのパラメータを抽出
して判定データファイルを作成し、また検査モードのと
ぎ、前記陽像部13から供給される上面側画像信号、下
面側画像信号(前記被検査プリント基板10−2の上面
側画像化@5下面側画像信号)から前記被検査プリント
基板10−2の両面にある各部品1l−1b〜1l−n
bのパラメータを抽出して被検査データファイルを作成
するとともに、この被検査データファイルと11部記判
定データファイルとを比較して、この比較結果から前記
各部品1l−1b〜1l−nbの脱落1位置ずれ等を検
出するものであり、上部へ/D変換部42と、下部A/
D変換部43と、メモリ44と、ティーチングテーブル
45と、画像処理部46と、X−Yステージコント0−
547と、CRT表示器48と、プリンタ49と、キー
ボード50と、11部(MAIN−CPU)51とを備
えている。When the processing section 14 is in the teaching mode, the processing section 14
From the upper side image signal and lower side image signal (upper side image signal and lower side image signal of the reference printed circuit board 10-1) supplied from 3 to each component 1l-1a on both sides of the reference printed circuit board 10-1. ~1l-na parameters are extracted to create a determination data file, and when the inspection mode is turned off, the upper side image signal and the lower side image signal (the printed circuit board 10-2 to be inspected) supplied from the positive image section 13 are extracted. Each component 1l-1b to 1l-n on both sides of the printed circuit board 10-2 to be inspected from the upper surface side image @5 lower surface side image signal)
A parameter b is extracted to create a data file to be inspected, and this data file to be inspected is compared with the 11th section judgment data file, and based on the comparison result, it is determined whether each of the parts 1l-1b to 1l-nb is missing. 1 positional shift, etc., and connects the upper/D converter 42 and the lower A/D converter 42.
D conversion unit 43, memory 44, teaching table 45, image processing unit 46, and XY stage control 0-
547, a CRT display 48, a printer 49, a keyboard 50, and an eleventh section (MAIN-CPU) 51.
上部A/D変換部42は前記撮像部13がら上面側画像
信号を供給されたとぎに、これをA/D変換(アナログ
・デジタル変換〉して上面側画像データを作成し、これ
を制御部51へ供給する。When the upper A/D converter 42 is supplied with the upper side image signal from the imaging section 13, it performs A/D conversion (analog-to-digital conversion) to create upper side image data, which is then sent to the control section. 51.
また、下部A/D変換部43は前記上部A/D変換部4
2と同様に構成されるものであり、前記照像部13から
下面側画像信号を供給されたときに、これをA/D変換
して下面側画像データを作成し、これを制御部51へ供
給する。Further, the lower A/D converter 43 is connected to the upper A/D converter 4.
2, when the lower side image signal is supplied from the imaging section 13, it A/D converts this to create lower side image data, and sends this to the control section 51. supply
またメモリ44は、RAM (ランダム・アクセス・メ
モリ)等を備えて構成されるものであり、前記制御部5
10作業エリアとして使われる。Further, the memory 44 includes a RAM (random access memory), etc., and is configured by the control unit 5.
10 will be used as a work area.
また画像処理部46は前記制御i11部51を介して上
面側画像データ、下面側画像データを供給されたとき、
これら上面側画像データおよび下面側画像データを2値
化して各部品画像毎にラベル(識別番号)を付すもので
あり、ここで11られたラベル付きの各部品画像は前記
制御部51へ供給される。Further, when the image processing section 46 is supplied with the upper surface side image data and the lower surface side image data via the control i11 section 51,
These upper surface side image data and lower surface side image data are binarized and a label (identification number) is attached to each component image, and each component image with the label 11 is supplied to the control section 51. Ru.
またテイーヂングテーブル45は、フロッピーディスク
装置等を備えており、ティーチング時において前記制御
部51から判定データファイル等を供給されたとぎに、
これを記憶し、また検査時において、前記制御部51が
転送要求を出力したとぎ、この要求に応じて判定データ
ファイル等を読み出して、これを制御部51などへ供給
する。Furthermore, the teaching table 45 is equipped with a floppy disk device, etc., and upon being supplied with a judgment data file etc. from the control section 51 during teaching,
This is stored, and when the control section 51 outputs a transfer request during inspection, the judgment data file and the like are read out in response to this request and supplied to the control section 51 and the like.
またX−YステージコントO−ラ47は前記制御部51
と前記X−Yテーブル部12とを接続するインタフェー
ス等を備えて構成されるものであり、前記制御部51の
出力に基づいて前記X−Yテーブル部12を制御する。Further, the X-Y stage controller O-ra 47 is connected to the control section 51.
and the X-Y table section 12, and controls the X-Y table section 12 based on the output of the control section 51.
またCRT表示皿48はブラウン管(CRT)を喝えて
おり、前記制御部51から画像データ。Further, the CRT display plate 48 displays a cathode ray tube (CRT), and receives image data from the control section 51.
判定結果、キー人力データ等を供給されたとき、これを
画面上に表示させる。When the judgment result, key human power data, etc. are supplied, this is displayed on the screen.
またプリンタ49は、前記制御部51から判定結果等を
供給されたとき、これを予め決められた91式(フォー
マツ1−)でプリントアウトする。Further, when the printer 49 is supplied with the determination result etc. from the control section 51, it prints it out in a predetermined format 91 (format 1-).
またキーボード50は操作情報や前記基準プリント基板
10−1に関するデータ、この基準プリント基板10−
1上にある部品1l−1a〜1l−naに関するデータ
等を入力するのに必要な各種キーを備えており、このキ
ーボード50から入力された情報やデータ等は制御部5
1へ供給される。The keyboard 50 also provides operational information, data regarding the reference printed circuit board 10-1, and data on the reference printed circuit board 10-1.
The keyboard 50 is equipped with various keys necessary for inputting data, etc. related to the parts 1l-1a to 1l-na on the keyboard 50, and the information and data entered from the keyboard 50 are transferred to the control unit 5.
1.
制御部51は、マイクロプロセッサ等を備えており、次
に述べるように動作する。The control unit 51 includes a microprocessor and the like, and operates as described below.
まず、新たな被検査プリント基板10−2を検査すると
きには、制御部51は第3図(A)に示すようにメイン
フローチャートのステップST1で第3図(B)のフロ
ーチャートで示されるティーチングルーチン52を呼び
出し、このティーチングルーチン52のステップST2
でX−Yテーブル部12の基板保持部17に基準プリン
ト基板10−1がセットされるまで待つ。First, when inspecting a new printed circuit board 10-2 to be inspected, the control unit 51 executes the teaching routine 52 shown in the flowchart of FIG. 3(B) in step ST1 of the main flowchart as shown in FIG. 3(A). Step ST2 of this teaching routine 52 is called.
Wait until the reference printed circuit board 10-1 is set on the board holding section 17 of the X-Y table section 12.
そしてX−Yテーブル部12の基板保持部17に基準プ
リント基板10−1がセットされれば、制御部51は前
記ステップST2からステップST3へ分岐し、ここで
X−Yテーブル部12を制御して上部TVカメラ32の
下方に基準プリント基板10−1のII像エリア53−
18 (第4図参照)を配置させる。このとき、下部T
Vカメラ34の上方に前記撮像エリア53−1 aの裏
面が位置する。When the reference printed circuit board 10-1 is set on the board holding section 17 of the X-Y table section 12, the control section 51 branches from step ST2 to step ST3, where it controls the X-Y table section 12. II image area 53- of the reference printed circuit board 10-1 is located below the upper TV camera 32.
18 (see Figure 4). At this time, the lower T
The back surface of the imaging area 53-1a is located above the V-camera 34.
この後、制御部51はステップST4で上部TVカメラ
32と、下部TVカメラ34とを動作させて、前記基準
プリント基板10−1の撮像エリア53−1a部分の表
面側と、裏面側とを各々撮像させるとともに、これによ
って冑られた上面側画像信号と下面側画像信号とを上部
A/D変換器42と、下部A/D変換器43とで各々A
/D変換させて、このA/D変換結果(基準プリント基
板10−1の両面画像データ)をメモリ44にリアルタ
イムで記憶させる。After that, in step ST4, the control unit 51 operates the upper TV camera 32 and the lower TV camera 34 to respectively capture the front side and the back side of the imaging area 53-1a portion of the reference printed circuit board 10-1. In addition to capturing an image, the resulting upper surface side image signal and lower surface side image signal are converted into A/D converters 42 and 43, respectively.
A/D conversion is performed, and this A/D conversion result (both-side image data of the reference printed circuit board 10-1) is stored in the memory 44 in real time.
次いで、制御部51はステップST5で前記メモリ44
から基準プリント基板10−1の両面画像データを読み
出し、これを画像処理部46に供給して2値化させると
ともに、この2tjri化処理によって得られた各部品
1l−1a〜1l−ia(2≦i≦n)の部品画像毎に
ラベルを伺けさせる。Next, the control unit 51 stores the memory 44 in step ST5.
The double-sided image data of the reference printed circuit board 10-1 is read out from , and is supplied to the image processing unit 46 to be binarized, and each part 1l-1a to 1l-ia (2≦ A label is displayed for each component image (i≦n).
次いで、制御部51はステップST6で前記画像処理部
46によ・つて得られたラベル付きの各部品画像を取り
込み、各部品11 1a〜1l−iaの位29色、形状
、形態等のパラメータを抽出するとともに、ステップS
T7でこれらの各パラメータから各部品1l−1a〜1
i−iaに関する判定データを作成する。Next, in step ST6, the control unit 51 takes in each labeled part image obtained by the image processing unit 46, and sets parameters such as color, shape, form, etc. for each part 11 1a to 1l-ia for 29 places. In addition to extracting, step S
From each of these parameters at T7, each part 1l-1a ~ 1
Create judgment data regarding i-ia.
この後、制御部51はステップST8で各部品1i−1
a〜1l−iaの全てについて判定データが得られたか
どうかをチェックし、部品1l−1a〜1l−iaの全
てについて判定データが117られるまで、前記ステッ
プST6〜ステップST8を繰り返し実行する。After this, the control unit 51 controls each component 1i-1 in step ST8.
It is checked whether judgment data have been obtained for all parts a to 1l-ia, and steps ST6 to ST8 are repeatedly executed until judgment data 117 has been obtained for all parts 1l-1a to 1l-ia.
そして、これら各部品1l−1a〜1l−iaの全てに
ついて判定データが1iIられたとき、制Oa部51は
前記ステップST8からステップST9へ分岐し、ここ
で基準プリン1〜基板10−1の全@像1リア53−1
a〜53−maについて処理が終了したかどうかをチ
ェックする。When the determination data for all of these parts 1l-1a to 1l-ia have been determined, the control Oa section 51 branches from step ST8 to step ST9, where all of the reference printer 1 to board 10-1 are determined. @Statue 1 rear 53-1
It is checked whether the processing for a to 53-ma has been completed.
そして、まだ処理されていない撮像エリアが残っていれ
ば、制御部51はこのステップST9から前記ステップ
ST3へ戻り、上述した動作を繰り返す。If there remains an unprocessed imaging area, the control unit 51 returns from step ST9 to step ST3 and repeats the above-described operation.
そして、1ffilElエリア53−1〜53−maの
全てについて処理が終了したとき、制御部51は前記ス
テップST9からステップ5T10へ分岐し、ここで前
記各部品1l−1a〜1l−naについての各判定デー
タから被検査プリント基板10−2を検査するのに必要
な判定1−タフアイルを作成し、これをティーチングテ
ーブル45に記憶さゼた後、このティーチングルーチン
52を終了する。Then, when the processing is completed for all of the 1ffilEl areas 53-1 to 53-ma, the control unit 51 branches from step ST9 to step 5T10, and here, each judgment for each of the parts 1l-1a to 1l-na is performed. After creating a judgment 1-tough aisle necessary for inspecting the printed circuit board 10-2 to be inspected from the data and storing it in the teaching table 45, this teaching routine 52 is ended.
また、このティーチングルーチン52が終了して、検査
モードにされれば、制御部51はメインフローチャー1
−のステップ5T11で第3図(C)のフローチャー1
・で示される検査ルーチン54を呼び出し、この検査ル
ーチン54のステップ5T12でティーチングテーブル
45やキーボード50からその日の日付データ、被検査
プリント基板10−2のIDナンバ(識別番号)を取り
込むとともに、ティーチングテーブル45から判定デー
タファイルを読み出して、これらをメモリ44に記憶さ
せる。Further, when this teaching routine 52 is finished and the inspection mode is set, the control section 51 starts the main flowchart 1.
- in step 5T11 of flowchart 1 of FIG. 3(C).
In step 5T12 of this inspection routine 54, the date data of the day and the ID number (identification number) of the printed circuit board 10-2 to be inspected are imported from the teaching table 45 and the keyboard 50. The judgment data file is read from 45 and stored in memory 44.
次いで、制御部51はステップ5T13でX−Yテーブ
ル部12の基板保持部17に被検査プリント基板10−
2がセットされるまで待つ。Next, in step 5T13, the control section 51 places the printed circuit board 10- to be inspected on the board holding section 17 of the X-Y table section 12.
Wait until 2 is set.
そして、X−Yテーブル部12の基板保持部17に被検
査プリント基板10−2がセットされれば、制御部51
は前記ステップ5T13からステップ5T14へ分岐し
、ここでX−Yテーブル部12を制御して上部TVカメ
ラ32の下方に被検査プリント基板10−2の画像エリ
ア53−1b(第5図参照)を配置させる。このとき、
下部TVカメラ34の上方に前記[11エリア53−1
bの裏面が位置する。When the printed circuit board 10-2 to be inspected is set on the board holding section 17 of the X-Y table section 12, the control section 51
The process branches from step 5T13 to step 5T14, where the X-Y table section 12 is controlled to display the image area 53-1b (see FIG. 5) of the printed circuit board 10-2 under inspection under the upper TV camera 32. have it placed. At this time,
Above the lower TV camera 34, the [11 area 53-1
The back side of b is located.
この後、制御部51はステップ5T15で上部TVカメ
ラ32と、下部TVカメラ34とを動作させて、前記被
検査プリント基板10−2のRaエリア53−1 b部
分の表面側と、裏面側とを各々に1像させるとともに、
これによって得られた上面側画像信号と、下面側内B4
信号とを上部A/D変換器42と、下部A/D変換器4
3とで各々A/D変換させて、このA/D変換結果(被
検査プリント基板10−2の両面画像データ)をリアル
タイムでメモリ44に記憶さける。After that, in step 5T15, the control unit 51 operates the upper TV camera 32 and the lower TV camera 34 to detect the front side and the back side of the Ra area 53-1b portion of the printed circuit board 10-2 to be inspected. At the same time as giving each person an image of
The upper surface side image signal obtained by this and the lower surface side inner B4
The signal is sent to the upper A/D converter 42 and the lower A/D converter 4.
3 and A/D conversion is performed on each of them, and the A/D conversion results (both-side image data of the printed circuit board 10-2 to be inspected) are stored in the memory 44 in real time.
次いで、制御部51はステップ5T16で前記メモリ4
4から被検査プリント基板10−2の両面画像データを
読み出し、これを画像処理部46に供給して2値化させ
るとともに、この2値化処理によって得られた各部品1
l−1b〜1l−ib(2≦i≦n)の部品画像毎にラ
ベルを付けさせる。Next, the control unit 51 stores the memory 4 in step 5T16.
The double-sided image data of the printed circuit board 10-2 to be inspected is read out from 4 and supplied to the image processing section 46 to be binarized, and each component 1 obtained by this binarization processing is
A label is attached to each part image of 1-1b to 11-ib (2≦i≦n).
次いで、制御部51はステップ5T17で前記画像処理
部16によって得られたラベル付きの各部品画像を取り
込み、各部品1l−1b〜1l−ibの位巴1色、形状
、形態等のパラメータを抽出させるとともに、これらの
各パラメータに基づき、部品1l−1b〜1l−ibの
全てについて被検査データを作成する。Next, in step 5T17, the control unit 51 imports each labeled component image obtained by the image processing unit 16, and extracts parameters such as color, shape, form, etc. of each component 1l-1b to 1l-ib. At the same time, data to be inspected is created for all of the parts 11-1b to 11-ib based on each of these parameters.
この後、制御部51はステップ5T18で前記メモリ4
4から判定データファイル中の画像エリア53−1aに
関する各判定データを読み出すとともに、これらの各判
定データと前記各被検査データとを各々比較して、被検
査プリント基板1〇−2上の部品11−1 b〜1l−
ibが欠落1位置ずれ等を起こしているか否かを判定し
、この判定結果をメモリ44に記憶させる。After this, the control unit 51 performs the memory 4 in step 5T18.
4, each judgment data regarding the image area 53-1a in the judgment data file is read out, and each of these judgment data is compared with each of the above-mentioned data to be inspected. -1 b~1l-
It is determined whether or not ib has caused a dropout, a position shift, etc., and the result of this determination is stored in the memory 44.
この後、制御部51はステップST19から前記ステッ
プST14へ戻り、被検査プリント基板10−2の画像
エリア53−2b 〜53−mbについて上述した処理
を順次実行する。Thereafter, the control section 51 returns from step ST19 to step ST14, and sequentially executes the above-described processing for the image areas 53-2b to 53-mb of the printed circuit board 10-2 to be inspected.
そして、@像エリア53−1 b 〜53−mbの全て
について処理が終了したとき、制御部51は前記ステッ
プ5T19からステップ5T20へ分岐し、ここでメモ
リ44に記憶されている各部品1l−1b〜1l−nb
の判定結果を読み出して、これをCRT表示器48に表
示させたり、プリンタ49からプリントアウトさせたり
する。Then, when the processing has been completed for all of the @image areas 53-1b to 53-mb, the control section 51 branches from step 5T19 to step 5T20, and here, each part 1l-1b stored in the memory 44 is processed. ~1l-nb
The determination result is read out and displayed on the CRT display 48 or printed out from the printer 49.
このようにこの実施例においては、Bt準プリンIへ基
板1O−1(または被検査プリント基板1O−2)の各
面を上部TVカメラ32と、下部TVカメラ34とによ
って同時に撮像させるようにしているので、その両面に
部品1l−1a〜1l−na(または、部品11−1
b 〜11−nb)が実装されている基準プリント基板
1O−1(または、被検査プリント基板1O−2)を高
速で処理することができる。In this embodiment, images of each surface of the Bt semi-printed board 1O-1 (or the printed circuit board 1O-2 to be inspected) are simultaneously captured by the upper TV camera 32 and the lower TV camera 34. Therefore, parts 1l-1a to 1l-na (or parts 11-1
The reference printed circuit board 1O-1 (or the printed circuit board to be inspected 1O-2) on which the test circuit boards 10-1 and 11-nb) are mounted can be processed at high speed.
また、上Jした実施例においては、上部TVカメラ32
と、下部TVカメラ34とを用いて基準プリント基板1
O−1(または、被検査プリント基板1O−2)の両面
画像データを17でいるが、第6図または第7図に示す
如く1つのTVカメラ60によって基準プリント基板1
O−1(または、被検査プリント・基板1O−2)の両
面画像データを得るようにしても良い。In addition, in the above embodiment, the upper TV camera 32
and the lower TV camera 34.
The double-sided image data of the printed circuit board 10-1 (or the printed circuit board to be inspected 10-2) is recorded at 17, and as shown in FIG. 6 or 7, the reference printed circuit board 1 is
It is also possible to obtain image data on both sides of O-1 (or printed circuit board 1O-2 to be inspected).
この場合、第6図に示す撮像部13−2はTVカメラ6
0ど、このTVカメラ6oのレンズ+’+N面に回転自
在に配置される切換ミラー61と、基板保持部17にセ
ットされた基準プリント基板1O−1(または、被検査
プリント基板10−2>の上面光学像を前記切換ミラー
61まで導く2つの上部ミラー62.63と、前記基準
プリン+−m板1O−1(または、被検査プリント基1
i10−2)の下面光学像を前記切換ミラー61まで導
く2つの下部ミラー64.65と、前記TVカメラ60
〜下部ミラー65および上部リング照明装置33゜下部
リング照明装置35を支持するアーム66とを備えてお
り、切換ミラー61の角度を切換えることにより前記基
準プリント丼板1O−1(または、被検査プリント基板
1O−2)の上面側と下面側とをTVカメラ60によっ
て順次撮像し、この搬像動作により得られた上面側画像
信号と、下面側画像信号とを時分割で出力する。In this case, the imaging unit 13-2 shown in FIG.
0, a switching mirror 61 rotatably arranged on the lens +'+N surface of this TV camera 6o, and a reference printed circuit board 1O-1 (or a printed circuit board to be inspected 10-2) set in the board holding section 17. Two upper mirrors 62 and 63 that guide the upper surface optical image to the switching mirror 61 and the reference print +-m board 1O-1 (or the print board to be inspected 1
i10-2) two lower mirrors 64 and 65 that guide the lower optical image to the switching mirror 61, and the TV camera 60.
~ a lower mirror 65, an upper ring illumination device 33°, and an arm 66 that supports the lower ring illumination device 35, and by switching the angle of the switching mirror 61, the reference print bowl plate 1O-1 (or the print to be inspected) The upper surface side and the lower surface side of the substrate 1O-2) are sequentially imaged by the TV camera 60, and the upper surface side image signal and the lower surface side image signal obtained by this image carrying operation are output in a time-sharing manner.
また第7図に示す撮像部13−3が、第6図に示す1l
lti部13−2と異なる点は、切換ミラー61に代え
て、固定式の三角ミラー7oを設けたことである。Further, the imaging section 13-3 shown in FIG. 7 is connected to the 1l shown in FIG.
The difference from the lti section 13-2 is that a fixed triangular mirror 7o is provided in place of the switching mirror 61.
このように構成することにより、この撮像部13−3で
は、TVカメラ60によつ′C阜基準リント塁板1O−
1(または、被検査プリント基板1O−2)の上面側と
下面側とを一度にR像することとができる。With this configuration, the imaging unit 13-3 allows the TV camera 60 to capture the reference lint base plate 1O-
1 (or the printed circuit board 1O-2 to be inspected) can be R-imaged at the same time on the upper surface side and the lower surface side.
(発明の効果)
以上説明したJ、うに本発明によれば、被検査プリント
基板上の両面に部品が実装されている場合にも、この被
検査プリント基板を裏返すことなく、その両面に取り付
けられている部品を一度に検査することができ、これに
よってその処理時間を短くすることができる。(Effects of the Invention) According to the present invention described above, even when components are mounted on both sides of a printed circuit board to be inspected, they can be mounted on both sides without turning over the printed circuit board to be inspected. parts can be inspected at once, thereby reducing processing time.
第1図は本発明によるM板検査装置の第1実施例を示す
ブロック図、第2図は第1図に示すX−Yテーブル部の
一構成を示す斜視図、第3図(A)は同実施例の動作例
を説明するためのメインフローチャート、第3図(B)
は同実施例のティーチングルーチン例を示すフローチャ
ート、第3図(C)は同実施例の検査ルーチン例を示す
フローチャート、第4図は同実施例の基準プリント基板
に対して設定される撮像エリアの一例を示す模式図、第
5図は同実施例の被検査プリント基板に対して設定され
る撮像エリアの一例を示す模式図、第6図は本発明の第
2実施例を説明するための側面図、第7図は本゛発明の
第3実施例を説明するための側面図、第8図は従来の自
動検査装置の一例を示すブロック図、第9図はこの自動
検査装置の検査基準となる基準プリント基板の一例を示
す側面図である。
10−1・・・基板(基準プリント基板)、10−2・
・・基板(被検査プリント基板)、1l−1a〜11−
n a ・・・部品、11−1 b 〜11− n
b・gtS品、12・・・X−Yテーブル部、13・・
・岡像部、14・・・処理部。
特許出願人 立石電機株式会社
代理人 弁理士 吉倉哲二(他1名)
第4図
第5図
第6図
第7図FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the M plate inspection device according to the present invention, FIG. 2 is a perspective view showing a configuration of the X-Y table section shown in FIG. 1, and FIG. Main flowchart for explaining an operation example of the embodiment, FIG. 3(B)
3(C) is a flowchart showing an example of a teaching routine in the same embodiment, FIG. 3(C) is a flowchart showing an example of an inspection routine in the same embodiment, and FIG. A schematic diagram showing an example, FIG. 5 is a schematic diagram showing an example of the imaging area set for the printed circuit board to be inspected in the same embodiment, and FIG. 6 is a side view for explaining the second embodiment of the present invention. 7 is a side view for explaining the third embodiment of the present invention, FIG. 8 is a block diagram showing an example of a conventional automatic inspection device, and FIG. 9 is a diagram showing the inspection standard of this automatic inspection device. FIG. 2 is a side view showing an example of a reference printed circuit board. 10-1... Board (reference printed circuit board), 10-2...
... Board (printed circuit board to be inspected), 1l-1a to 11-
n a ... parts, 11-1 b ~ 11- n
b・gtS product, 12...X-Y table part, 13...
・Okazobe, 14...Processing department. Patent applicant: Tateishi Electric Co., Ltd. Agent Patent attorney: Tetsuji Yoshikura (1 other person) Figure 4 Figure 5 Figure 6 Figure 7
Claims (1)
の部品を検査する基板検査装置において、前記基板の両
面を撮像する撮像部と、この撮像部によつて得られた前
記基板の両面画像情報を処理して前記基板の表面にある
部品と裏面にある部品とを検査する処理部とを備えたこ
とを特徴とする基板検査装置。In a board inspection apparatus that processes data obtained by imaging a board to inspect components on the board, an imaging unit that takes images of both sides of the board, and both sides of the board obtained by the imaging unit are provided. A board inspection apparatus comprising: a processing section that processes image information to inspect components on the front surface and components on the back surface of the board.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61059694A JPS62215855A (en) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | Apparatus for inspecting printed circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61059694A JPS62215855A (en) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | Apparatus for inspecting printed circuit board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62215855A true JPS62215855A (en) | 1987-09-22 |
Family
ID=13120570
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61059694A Pending JPS62215855A (en) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | Apparatus for inspecting printed circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62215855A (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02114155A (en) * | 1988-10-24 | 1990-04-26 | Rhythm Watch Co Ltd | Inspection of soldering of printed circuit board |
| JP2003014654A (en) * | 2001-06-27 | 2003-01-15 | Ngk Spark Plug Co Ltd | Substrate inspection method and inspection apparatus, and method for manufacturing electronic device product |
| JP2006184022A (en) * | 2004-12-24 | 2006-07-13 | Saki Corp:Kk | Appearance inspection device |
| JP2006184021A (en) * | 2004-12-24 | 2006-07-13 | Saki Corp:Kk | Appearance inspection device |
| KR101472623B1 (en) * | 2012-04-30 | 2014-12-24 | 삼성전기주식회사 | Surface mounting technology system and method of surface mounting technology |
-
1986
- 1986-03-18 JP JP61059694A patent/JPS62215855A/en active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02114155A (en) * | 1988-10-24 | 1990-04-26 | Rhythm Watch Co Ltd | Inspection of soldering of printed circuit board |
| JP2003014654A (en) * | 2001-06-27 | 2003-01-15 | Ngk Spark Plug Co Ltd | Substrate inspection method and inspection apparatus, and method for manufacturing electronic device product |
| JP2006184022A (en) * | 2004-12-24 | 2006-07-13 | Saki Corp:Kk | Appearance inspection device |
| JP2006184021A (en) * | 2004-12-24 | 2006-07-13 | Saki Corp:Kk | Appearance inspection device |
| KR101472623B1 (en) * | 2012-04-30 | 2014-12-24 | 삼성전기주식회사 | Surface mounting technology system and method of surface mounting technology |
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