JPS62229529A - アイパタ−ン検出回路 - Google Patents
アイパタ−ン検出回路Info
- Publication number
- JPS62229529A JPS62229529A JP7031786A JP7031786A JPS62229529A JP S62229529 A JPS62229529 A JP S62229529A JP 7031786 A JP7031786 A JP 7031786A JP 7031786 A JP7031786 A JP 7031786A JP S62229529 A JPS62229529 A JP S62229529A
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- Japan
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- signal
- eye pattern
- output
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- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、コンパクトディスクの光ピックアップからの
特定長さのアイパターンの終端を検出する回路に関する
ものである。
特定長さのアイパターンの終端を検出する回路に関する
ものである。
（従来の技術）
近年、光を用いてディスクに触れることなく音を再生す
るディジタルオーディオディスク、すなわちコンパクト
ディスクが出現しており、このコンパクトディスクの良
否を判別する検査装置も出現している。
るディジタルオーディオディスク、すなわちコンパクト
ディスクが出現しており、このコンパクトディスクの良
否を判別する検査装置も出現している。
さて、このようなコンパクトディスクにおいて、光ピッ
クアップから得られる出力信号はアイパターンとげばれ
る。アイパターンは、コンパクトディスクに刻まれた９
８ｉ類（基準のパルス幅の３倍から１１倍までの９種類
）の長さの情報に応じたアナログ信号である。そしてこ
れら９種類の４２号は通常１３〜１１冨という形で区別
されている。
クアップから得られる出力信号はアイパターンとげばれ
る。アイパターンは、コンパクトディスクに刻まれた９
８ｉ類（基準のパルス幅の３倍から１１倍までの９種類
）の長さの情報に応じたアナログ信号である。そしてこ
れら９種類の４２号は通常１３〜１１冨という形で区別
されている。
コンパクトディスクの規格の内にＩ３とＩ＋’１につい
ての規格もあり、検査装置はこの■３と１曙１の波形パ
ターンを油出し、その波高値を求める必要がある。
ての規格もあり、検査装置はこの■３と１曙１の波形パ
ターンを油出し、その波高値を求める必要がある。
しかしながら、■３〜Ｉ＋＋のパターンは第４図に示す
ようにランダムに発生するが、このようなアイパターン
からＩ３とｒ＋＋の波形を抽出する適切な方法が従来は
なく、一応次のような方法によってパターン抽出を行っ
ている。すなわち、ある一定区間のアイパターンをアナ
ログ・ディジタル（Ａ／Ｄ）変換器でディジタル値に変
換して取り込んでおき、後でこのデータを演算してＩ３
やＩ＋＋のパターンを認識するという手法を使っている
。
ようにランダムに発生するが、このようなアイパターン
からＩ３とｒ＋＋の波形を抽出する適切な方法が従来は
なく、一応次のような方法によってパターン抽出を行っ
ている。すなわち、ある一定区間のアイパターンをアナ
ログ・ディジタル（Ａ／Ｄ）変換器でディジタル値に変
換して取り込んでおき、後でこのデータを演算してＩ３
やＩ＋＋のパターンを認識するという手法を使っている
。
しかし、この方式ではＡ／Ｄ変Ｍｋ器のメモリにある程
度の大きさを必要とし、また余分なデータの中から必要
なパターンを抽出するためにデータの演粋処理に時間が
かかるという問題があった。
度の大きさを必要とし、また余分なデータの中から必要
なパターンを抽出するためにデータの演粋処理に時間が
かかるという問題があった。
本発明の目的は、この様な問題点を解消するもので、光
ピックアップｈ目らの信号をその都度弁別してＩ３ある
いはＩＩ＋等の目的とする波形が来たときにそれを検出
し、波形記憶装置等へ目的とする波形のみを１１込ませ
るために用いられる適切な信号（目的の波形の終端のタ
イミングを表す信号）を発生することができるアイパタ
ーン検出回路を提供することにある。
ピックアップｈ目らの信号をその都度弁別してＩ３ある
いはＩＩ＋等の目的とする波形が来たときにそれを検出
し、波形記憶装置等へ目的とする波形のみを１１込ませ
るために用いられる適切な信号（目的の波形の終端のタ
イミングを表す信号）を発生することができるアイパタ
ーン検出回路を提供することにある。
（問題点を解決づるための手段）
この様な目的を達成するために本発明では、コンパクト
ディスクの光ピックアップからの信号に対しである直流
レベルを定め、このレベルを横切った時点で第１のカウ
ンタを動作させ、このカウンタが動作しているときに再
び信号が逆方向から横切った時をもって当該アイパター
ンの終端と判断し、そのタイミングを表す信号を発生さ
せるよ・うにしたことを特徴とする。
ディスクの光ピックアップからの信号に対しである直流
レベルを定め、このレベルを横切った時点で第１のカウ
ンタを動作させ、このカウンタが動作しているときに再
び信号が逆方向から横切った時をもって当該アイパター
ンの終端と判断し、そのタイミングを表す信号を発生さ
せるよ・うにしたことを特徴とする。
（実施例）
以下図面を用いて本発明を訂しく説明する。Ｍ１図は本
発明に係るアイパターン検出回路の一実施例を承り要部
構成図で、ある。図において、１は比較器、２は第１の
カウンタ、３は第１のフリップフロップ（以下ＦＦと略
称する）、４は第２の力ｆクンタ、５はインバータ、６
はアンドグー１−１７は第２のＦＦである。
発明に係るアイパターン検出回路の一実施例を承り要部
構成図で、ある。図において、１は比較器、２は第１の
カウンタ、３は第１のフリップフロップ（以下ＦＦと略
称する）、４は第２の力ｆクンタ、５はインバータ、６
はアンドグー１−１７は第２のＦＦである。
比較器１は、入力されるアイパターン信号の大きさＶ、
を基準電圧ＶＳと比較するもので、Ｖｔ≧Ｖｓの時ＨＩ
ＧＨレベル信号（以下ＨＩＧＨレベル信号を” ｌ−１
”と略す）を、Ｖ＋ ＜Ｖｓの時ＬＯＷレベル信号（以
下ＬＯＷレベル信号をＩＩ Ｌ ＩＩと１８丈）を出力
する。なお、通常は入力されるアイパターン信号は直流
分をカットした交流信号で与えられるようにしておき、
基準電圧Ｖｓは零電位とする。
を基準電圧ＶＳと比較するもので、Ｖｔ≧Ｖｓの時ＨＩ
ＧＨレベル信号（以下ＨＩＧＨレベル信号を” ｌ−１
”と略す）を、Ｖ＋ ＜Ｖｓの時ＬＯＷレベル信号（以
下ＬＯＷレベル信号をＩＩ Ｌ ＩＩと１８丈）を出力
する。なお、通常は入力されるアイパターン信号は直流
分をカットした交流信号で与えられるようにしておき、
基準電圧Ｖｓは零電位とする。
第１のカウンタ２は、プリセットが可能なカウンタで、
基準のクロックを計数する。ただし、比較器１の出力信
号がロード信号となり、入力が制御される。すなわち、
比較器１の出力がＨ信号のときはクロック入力が可能と
なり、し信号のときは入力が禁止される。
基準のクロックを計数する。ただし、比較器１の出力信
号がロード信号となり、入力が制御される。すなわち、
比較器１の出力がＨ信号のときはクロック入力が可能と
なり、し信号のときは入力が禁止される。
第１のＦＦ３は、この第１のカウンタのポロー（Ｚ ’
％をクロックとして受け、それが到来するとＱ出力がＩ
Ｉ Ｈ１１となる。
％をクロックとして受け、それが到来するとＱ出力がＩ
Ｉ Ｈ１１となる。
第２のカウンタ４も、プリセットが可能なカウンタで、
前記基準クロックを計数する。このカウンタのロード信
号としては、第１のＦＦ３のＱ出力が用いられる。そし
て、このカウンタ４から出るボロー信号により第１の「
Ｅ：３がリセットされる。
前記基準クロックを計数する。このカウンタのロード信
号としては、第１のＦＦ３のＱ出力が用いられる。そし
て、このカウンタ４から出るボロー信号により第１の「
Ｅ：３がリセットされる。
ゲート６ではインバータ５を介して与えられる比較器１
の出力信号と第１のＦＦ３のＱ出力とのアンド（論理積
）をとり、その出力はクロック入力として第２のＦＦ７
に供給される。第２のＦＦ７はそのクロックの立上がり
でＱ出力がトじとなる。
の出力信号と第１のＦＦ３のＱ出力とのアンド（論理積
）をとり、その出力はクロック入力として第２のＦＦ７
に供給される。第２のＦＦ７はそのクロックの立上がり
でＱ出力がトじとなる。
このような構成における動作を第２図のタイムチャー１
・を自照して次に説明する。コンパクトディスクのアイ
パターンは種々の理由によりそのパルス幅が変動する。
・を自照して次に説明する。コンパクトディスクのアイ
パターンは種々の理由によりそのパルス幅が変動する。
今、例えばＩ、十の波形について、第２図の（イ）に示
すように比較電圧Ｖｓを閾値として、そのパルス幅がｔ
ｓであり、±Δｔの変動があるものとする。そこで予め
、第１のカウンタ２には（ｔｓ−Δｔ ） ／ ｊ Ｃ
Ｌの値をプリセットし、第２のカウンタ４には２Δｔ
／′ｔ ｃ、をプリセラ］・シておく（ここに、ｔｃｔ
、はカウンタに入力されるＷＱｔクロックＣＬＫの周期
である）。
すように比較電圧Ｖｓを閾値として、そのパルス幅がｔ
ｓであり、±Δｔの変動があるものとする。そこで予め
、第１のカウンタ２には（ｔｓ−Δｔ ） ／ ｊ Ｃ
Ｌの値をプリセットし、第２のカウンタ４には２Δｔ
／′ｔ ｃ、をプリセラ］・シておく（ここに、ｔｃｔ
、はカウンタに入力されるＷＱｔクロックＣＬＫの周期
である）。
コンパクトディスクから出力されるアイパターン信号が
比較器１に入力されると、比較電圧Ｖｓと比較される。
比較器１に入力されると、比較電圧Ｖｓと比較される。
その出力は第１のカウンタ２のロード信号として入力さ
れ、比較器の出力が第２図の（ロ）に示すように′Ｈ°
°になると、カウンタ１でＳ１数が始まる〈同図の（ハ
））。第１のカウンタは、アイパターンの最小区間（時
間幅：ｔ３−△ｔ）の終点までカウントすると、オーバ
ーフローを起こし、同図（ニ）に示すようにボロー信号
を出力する。これを受けて第１のＦＦ３のＱ出力が”１
１″となる。
れ、比較器の出力が第２図の（ロ）に示すように′Ｈ°
°になると、カウンタ１でＳ１数が始まる〈同図の（ハ
））。第１のカウンタは、アイパターンの最小区間（時
間幅：ｔ３−△ｔ）の終点までカウントすると、オーバ
ーフローを起こし、同図（ニ）に示すようにボロー信号
を出力する。これを受けて第１のＦＦ３のＱ出力が”１
１″となる。
第１のＦＦ３のＱ出力は第２のカウンタ４のロード信号
となっており、このＦＦ３のＱ出力が”１１″になると
第２のカウンタ４は第２図（ホ）に示すようにカウント
を開始する。カウント動作はアイパターンの最大区間（
時間幅：ｔ３＋Δｔ）の終点まで続く。この期間中にお
いてアイパターンが閾値（Ｖｓ ）より小さくなると第
１の比較器の出力信号は°′Ｌ″となる。ゲート６にお
いて、−インバータ５で反転された前記第１の比較器の
出力信号と、第１のＦＦ３のＱ出力（このときには１−
１ ”である）とのアンドがとられ、これが第２のＦＦ
７に入力される。したがって、第２のにＦ７のＱ出力は
、第２図（ロ）に示すように第１の比較器の出力信号は
ＩＴ Ｌ ＩＩとなったとき同図（ト〉のようにＩＩ
ＨＩＩとなる。このようにしてＩ、パターンの終端を検
出することができる。
となっており、このＦＦ３のＱ出力が”１１″になると
第２のカウンタ４は第２図（ホ）に示すようにカウント
を開始する。カウント動作はアイパターンの最大区間（
時間幅：ｔ３＋Δｔ）の終点まで続く。この期間中にお
いてアイパターンが閾値（Ｖｓ ）より小さくなると第
１の比較器の出力信号は°′Ｌ″となる。ゲート６にお
いて、−インバータ５で反転された前記第１の比較器の
出力信号と、第１のＦＦ３のＱ出力（このときには１−
１ ”である）とのアンドがとられ、これが第２のＦＦ
７に入力される。したがって、第２のにＦ７のＱ出力は
、第２図（ロ）に示すように第１の比較器の出力信号は
ＩＴ Ｌ ＩＩとなったとき同図（ト〉のようにＩＩ
ＨＩＩとなる。このようにしてＩ、パターンの終端を検
出することができる。
このようなアイパターン抽出回路は、例えば第３図に示
すように波形記憶装置に接続して使用される。このよう
なシステムにおける波形記憶装置２０では、一定長計１
−タバッフｑ夕にアイパターンデータ（アイパターンを
サンプリングし、これをＡ／Ｄ５６換したデータ）を時
系列的に読込んでいて、外部トリガ（ＥＸＴ ＴＲＩ
Ｇ）が与えられたときこの読込みを停止してレジスタ内
のデータを所定のメモリ領域に取込むようになっている
。したがって、外部トリがか与えられたときは１度当該
アイパターンの終端を読み取った時点であり、当該アイ
パターンがレジスタがら所定のメモリ領域に由込まれる
。なお、レジスタから当該アイパターンのみ抽出してメ
モリに取込むに際しては当該アイパターンの始まりを知
る必要があるが、これは、例えばアイパターンがルベル
を横切る時すなわち零の時であることがら零データを検
出することにより知ることができる。
すように波形記憶装置に接続して使用される。このよう
なシステムにおける波形記憶装置２０では、一定長計１
−タバッフｑ夕にアイパターンデータ（アイパターンを
サンプリングし、これをＡ／Ｄ５６換したデータ）を時
系列的に読込んでいて、外部トリガ（ＥＸＴ ＴＲＩ
Ｇ）が与えられたときこの読込みを停止してレジスタ内
のデータを所定のメモリ領域に取込むようになっている
。したがって、外部トリがか与えられたときは１度当該
アイパターンの終端を読み取った時点であり、当該アイ
パターンがレジスタがら所定のメモリ領域に由込まれる
。なお、レジスタから当該アイパターンのみ抽出してメ
モリに取込むに際しては当該アイパターンの始まりを知
る必要があるが、これは、例えばアイパターンがルベル
を横切る時すなわち零の時であることがら零データを検
出することにより知ることができる。
＜ｒ Ｊ） 、実施例ではＩ３のアイパターンについて
説明したが、他の種類例えばＩＩｓ等についても同様に
抽出することができ・る。その場合には対象とするパル
ス幅に応じてカウンタ２及び４のプリセット値を与えて
おく必要がある。
説明したが、他の種類例えばＩＩｓ等についても同様に
抽出することができ・る。その場合には対象とするパル
ス幅に応じてカウンタ２及び４のプリセット値を与えて
おく必要がある。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、次のよ・うな効
果がある。すなわち、コンパクトディスクのある特定の
アイパターンを抽出する場合当該アイパターンを読み終
わった時点でアイパターンの終端を表す信号が１９られ
るので、この信号により波形記憶装置の読込みを中止し
て当該波形データのみメモリｅｌ込めば良く、このため
メモリ量が少なくてすみ、かつ波形探索の処理が不要で
あり、検査ＢＳ闇を大幅に短縮しく（する装置を実現す
ることができる。
果がある。すなわち、コンパクトディスクのある特定の
アイパターンを抽出する場合当該アイパターンを読み終
わった時点でアイパターンの終端を表す信号が１９られ
るので、この信号により波形記憶装置の読込みを中止し
て当該波形データのみメモリｅｌ込めば良く、このため
メモリ量が少なくてすみ、かつ波形探索の処理が不要で
あり、検査ＢＳ闇を大幅に短縮しく（する装置を実現す
ることができる。
第１図は本発明に係るアイパターン検出回路の一実施例
を示す要部構成図、第２図は動作説明のためのタイムチ
ャート、第３図は本発明の応用例を示す図、第４図は出
力されるパルス列とそのアイパターンの様子を示す図で
ある。 １・・・比較器、２・・・第１のカウンタ、３・・・第
１のＦＦ、４・・・第２のカウンタ、５・・・インバー
タ、６・・・ゲート、７・・・第１のＦＦ、１０・・・
アイパターン抽出回路、２ｏ・・・波形記憶装置。
を示す要部構成図、第２図は動作説明のためのタイムチ
ャート、第３図は本発明の応用例を示す図、第４図は出
力されるパルス列とそのアイパターンの様子を示す図で
ある。 １・・・比較器、２・・・第１のカウンタ、３・・・第
１のＦＦ、４・・・第２のカウンタ、５・・・インバー
タ、６・・・ゲート、７・・・第１のＦＦ、１０・・・
アイパターン抽出回路、２ｏ・・・波形記憶装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 コンパクトディスクの光ピックアップからの信号を所定
のレベルと大小比較する比較器と、基準クロックの計数
により時間計測ができ、入力される当該アイパターン信
号が所定のレベルを横切つたときに計数動作が開始され
、対象とするアイパターン信号の最小の時間幅の時間だ
け計数するとオーバーフロー信号を発生するように構成
された第１のカウンタと、 前記第１のカウンタよりオーバーフロー信号が出力され
た後、前記比較器の出力に基づき当該アイパターンの終
端のタイミングを表す信号を得る検出信号手段と を具備したことを特徴とするアイパターン検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7031786A JPH07105048B2 (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | アイパタ−ン検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7031786A JPH07105048B2 (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | アイパタ−ン検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62229529A true JPS62229529A (ja) | 1987-10-08 |
| JPH07105048B2 JPH07105048B2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=13427952
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7031786A Expired - Lifetime JPH07105048B2 (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | アイパタ−ン検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07105048B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01264635A (ja) * | 1988-04-15 | 1989-10-20 | Sharp Corp | 光ピックアップの変位修正サーボ装置 |
| US7123846B2 (en) * | 2001-07-18 | 2006-10-17 | Nec Corporation | Optical receiving device, waveform optimization method for optical data signals, and waveform optimization program for optical data signals |
| JP2007040742A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Yokogawa Electric Corp | ジッタ測定装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013038768A1 (ja) | 2011-09-12 | 2013-03-21 | 三洋電機株式会社 | 太陽電池及びその製造方法 |
-
1986
- 1986-03-28 JP JP7031786A patent/JPH07105048B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01264635A (ja) * | 1988-04-15 | 1989-10-20 | Sharp Corp | 光ピックアップの変位修正サーボ装置 |
| US7123846B2 (en) * | 2001-07-18 | 2006-10-17 | Nec Corporation | Optical receiving device, waveform optimization method for optical data signals, and waveform optimization program for optical data signals |
| JP2007040742A (ja) * | 2005-08-01 | 2007-02-15 | Yokogawa Electric Corp | ジッタ測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07105048B2 (ja) | 1995-11-13 |
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