JPS62237332A - 超音波温度計用プロ−ブ - Google Patents
超音波温度計用プロ−ブInfo
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- JPS62237332A JPS62237332A JP8154586A JP8154586A JPS62237332A JP S62237332 A JPS62237332 A JP S62237332A JP 8154586 A JP8154586 A JP 8154586A JP 8154586 A JP8154586 A JP 8154586A JP S62237332 A JPS62237332 A JP S62237332A
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Landscapes
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、特に高温の温度計測に適した超音波温度計用
プローブに関するものである。
プローブに関するものである。
(従来技術とその問題点)
従来、ボイラーあるいは炉内などの高温部の温度計測に
おいては、熱電対あるいは抵抗温度計が一般に使用され
ている。しかし、これらの温度計は、高温にさらされろ
温度感知部の材料が原理的に限定されてしまうため、酸
化その他寿命を縮める原因に対ずろ対策が施しにくく、
長期間の使用には不適当であった。
おいては、熱電対あるいは抵抗温度計が一般に使用され
ている。しかし、これらの温度計は、高温にさらされろ
温度感知部の材料が原理的に限定されてしまうため、酸
化その他寿命を縮める原因に対ずろ対策が施しにくく、
長期間の使用には不適当であった。
これに対し、音波の伝播速度の温度依存性を利用した超
音波温度計は、超音波の伝送ラインを構成する材料が、
測定原理により制約されることがないため高温の温度計
測に有望と考えられろ。この超音波温度計は、例えば第
12図に示すように、プローブ21は伝送中空部3とセ
ンサー中空部4を同軸に設けるとともに、而記センサー
中空部4の断面を伝送中空部3より小さくして、センサ
ー中空部3に送端面6aと終端面7aを形成したもので
ある。また、プローブ21の伝送中空部3の開口端には
、超音波発振回路15および超音波受信回路I6を接続
した超音波の送受信部14を嵌入させ、この送受信部1
4の超音波受信回路16に時間差測定装置(カウンター
)17、さらにこの装置に演算処理回路I8を介して温
度表示部19を接続して構成しである。
音波温度計は、超音波の伝送ラインを構成する材料が、
測定原理により制約されることがないため高温の温度計
測に有望と考えられろ。この超音波温度計は、例えば第
12図に示すように、プローブ21は伝送中空部3とセ
ンサー中空部4を同軸に設けるとともに、而記センサー
中空部4の断面を伝送中空部3より小さくして、センサ
ー中空部3に送端面6aと終端面7aを形成したもので
ある。また、プローブ21の伝送中空部3の開口端には
、超音波発振回路15および超音波受信回路I6を接続
した超音波の送受信部14を嵌入させ、この送受信部1
4の超音波受信回路16に時間差測定装置(カウンター
)17、さらにこの装置に演算処理回路I8を介して温
度表示部19を接続して構成しである。
そして、送受信部14よりパルス状に周期的に超音波を
プローブ21の伝送中空部3.センサー中空部4に向け
て発振して、雨中空部の端面6a。
プローブ21の伝送中空部3.センサー中空部4に向け
て発振して、雨中空部の端面6a。
7aで反射させ、望ましくは、第13図に示すように、
この端面6 a、 7 aからの反射波A、Bを明瞭な
状態で送受信部【4により受信しようとしたものである
。この反射波A、Bが受信されると、これに基いて、時
間差測定装置I7により両端面6a、7aの2カ所から
の反射波の時間差△Lを測定し、演算処理回路I8によ
りこの時間差△tと両端面6 a、 7 a間の距M(
lとからセンサー中空部4内の音波速度を算出するとと
乙に、この音波送度から温度を算出して温度表示部1つ
て温度表示するように構成されている。
この端面6 a、 7 aからの反射波A、Bを明瞭な
状態で送受信部【4により受信しようとしたものである
。この反射波A、Bが受信されると、これに基いて、時
間差測定装置I7により両端面6a、7aの2カ所から
の反射波の時間差△Lを測定し、演算処理回路I8によ
りこの時間差△tと両端面6 a、 7 a間の距M(
lとからセンサー中空部4内の音波速度を算出するとと
乙に、この音波送度から温度を算出して温度表示部1つ
て温度表示するように構成されている。
しかし、実際にはプローブ2Iの中空部3.4内には第
14図に示すような音波の複雑な反射モードが混在し、
しからプローブ21が同一材質、例えばグラファイトで
形成されているため、中空in<3 、4の側壁面8a
部分におけろ反射音のレベルは、端面6 a、 7 a
部分におけろ反射音と同レベルとなる。このため、送受
信部14で受信する音波信号は、例えば第15図のよう
なS/N比の低い信号となってしまう。プローブの寸法
形状、センザ一部の長さあるいは超音波の波長によって
は、S / N比が1より小さくなってしまうことらあ
る。
14図に示すような音波の複雑な反射モードが混在し、
しからプローブ21が同一材質、例えばグラファイトで
形成されているため、中空in<3 、4の側壁面8a
部分におけろ反射音のレベルは、端面6 a、 7 a
部分におけろ反射音と同レベルとなる。このため、送受
信部14で受信する音波信号は、例えば第15図のよう
なS/N比の低い信号となってしまう。プローブの寸法
形状、センザ一部の長さあるいは超音波の波長によって
は、S / N比が1より小さくなってしまうことらあ
る。
そのため、送端面6aと終端面7aとで反射されてくる
音波信号を識別し、時間差△Lを測定することができな
いという問題がある。
音波信号を識別し、時間差△Lを測定することができな
いという問題がある。
(発明の目的)
本発明は、前記従来の問題点に鑑みてなされたしので、
高温において高精度の温度計測を可能にする超音波温度
計用プローブを提供しようとするものである。
高温において高精度の温度計測を可能にする超音波温度
計用プローブを提供しようとするものである。
(発明の構成)
面記目的を達成するために、本発明は、伝送中空部とセ
ンサー中空部を同軸に形成する超音波温度計用プローブ
において、前記センサー中空部の送端面と終端面の超音
波反射率を前記伝送中空部およびセンサー中空部の側壁
面の超音波反射率より大きくなるように形成した。
ンサー中空部を同軸に形成する超音波温度計用プローブ
において、前記センサー中空部の送端面と終端面の超音
波反射率を前記伝送中空部およびセンサー中空部の側壁
面の超音波反射率より大きくなるように形成した。
(実施例)
次に、本発明の一実施例を図面にしたがって説明する。
第1図、第2図は本発明の第1実施例に係る超音波温度
計用プローブIAを示す。
計用プローブIAを示す。
このプローブIAは、プローブ本体2の一端からプロー
ブ本体2の軸方向に形成した伝送中空部3と、この伝送
中空部3と同軸に、かつ断面を伝送中空部3の断面より
小さく形成したセンサー中空部4の双方の中空部内に、
プローブ本体2の材料よりl音波反射率(以下、反射率
という7)が小さい材料からなるパイプ状の部材5を嵌
挿させて形成した乙のである。そして、このように形成
することにより中空部3.4の側壁面の反射率を、セン
サー中空部4の端面6a、7aの部分の反射率より小さ
くしである。
ブ本体2の軸方向に形成した伝送中空部3と、この伝送
中空部3と同軸に、かつ断面を伝送中空部3の断面より
小さく形成したセンサー中空部4の双方の中空部内に、
プローブ本体2の材料よりl音波反射率(以下、反射率
という7)が小さい材料からなるパイプ状の部材5を嵌
挿させて形成した乙のである。そして、このように形成
することにより中空部3.4の側壁面の反射率を、セン
サー中空部4の端面6a、7aの部分の反射率より小さ
くしである。
第3図は、このプローブIAを炉壁13に取付けて、炉
内温度を測定するために、適用した超音波温度計を示し
、内面劣化を防ぐために、プローブ内にArガス等の不
活性ガスが封入され、前記第12図に示す超音波温度計
とはプローブ21とプローブIAとか入れ替った点を除
き、他は実質的に同一であり、互いに対応する部分には
同一番号を付して説明を省略ずろ。
内温度を測定するために、適用した超音波温度計を示し
、内面劣化を防ぐために、プローブ内にArガス等の不
活性ガスが封入され、前記第12図に示す超音波温度計
とはプローブ21とプローブIAとか入れ替った点を除
き、他は実質的に同一であり、互いに対応する部分には
同一番号を付して説明を省略ずろ。
この装置によれば、前述のように中空部3.4内の側壁
面8b部分の反射率が端面6 a、 7 aの反射率に
比較して小さいため、送受信部14から発振された超音
波信号に対応して、端面G a、 7 aから反射され
てくる超音波信号に比べ、側壁面8b部分から反射され
てくる雑・音信号は相対的に小さくなる。したがって、
送受信部14で受信する波形は第4図に示すように、S
/N比が高いものとなり、高精度な温度計測を行うこと
ができる。特に、例えばプローブ本体2の材料をMo、
Wとする一方、部材5としてカーボンフェルト、タング
ステンフィラメント、多孔質焼結体(例、セラミック、
W/Mo製)を用いることによ°す、プローブIAは高
温(2000℃〜24006C)の温度計測に適したも
のとなる。
面8b部分の反射率が端面6 a、 7 aの反射率に
比較して小さいため、送受信部14から発振された超音
波信号に対応して、端面G a、 7 aから反射され
てくる超音波信号に比べ、側壁面8b部分から反射され
てくる雑・音信号は相対的に小さくなる。したがって、
送受信部14で受信する波形は第4図に示すように、S
/N比が高いものとなり、高精度な温度計測を行うこと
ができる。特に、例えばプローブ本体2の材料をMo、
Wとする一方、部材5としてカーボンフェルト、タング
ステンフィラメント、多孔質焼結体(例、セラミック、
W/Mo製)を用いることによ°す、プローブIAは高
温(2000℃〜24006C)の温度計測に適したも
のとなる。
なお、第4図は反射音の検出信号出力の時間変化を示し
、ピークAが送端面6aからの反射音、ピークBが終端
面7aからの反射音を示している。
、ピークAが送端面6aからの反射音、ピークBが終端
面7aからの反射音を示している。
本実施例によると、プローブ本体2の材料の他にそれよ
りも反射率の低い反射防止用の部材5を選定しなければ
ならず、従来方式に比較して材料の選定が一見難しくな
るようにみえる。しかし、プローブ本体2の材料と反射
防止用の部材5との間には、熱電対の組み合せとは異な
り互いに制約条件はないので材料選定のうえで特に障害
とはならない。
りも反射率の低い反射防止用の部材5を選定しなければ
ならず、従来方式に比較して材料の選定が一見難しくな
るようにみえる。しかし、プローブ本体2の材料と反射
防止用の部材5との間には、熱電対の組み合せとは異な
り互いに制約条件はないので材料選定のうえで特に障害
とはならない。
ところで、上記の実施例では、反射率の低い部材5を中
空部3.4内に嵌合するようなパイプとして挿入し、中
空部3.4内の側壁部8b部分での反射を軽減している
が、反射率の低い部材、例えば発心性ベーグライト、デ
ンプン等の糖類を中空部3.4の内側の側壁部にコーテ
ィングし、炭化しても差支えない。また中空部3,4の
内側の側壁部にコーティング以外の何らかの表面処理を
施し反射率を低下させてもよい。
空部3.4内に嵌合するようなパイプとして挿入し、中
空部3.4内の側壁部8b部分での反射を軽減している
が、反射率の低い部材、例えば発心性ベーグライト、デ
ンプン等の糖類を中空部3.4の内側の側壁部にコーテ
ィングし、炭化しても差支えない。また中空部3,4の
内側の側壁部にコーティング以外の何らかの表面処理を
施し反射率を低下させてもよい。
ついで、本発明の他の実施例について説明する。
第5図、第6図は、第2実施例に係るプローブIBを示
し、上記同様プローブ本体2に伝送中空部3とセンサー
中空部4を形成しである。しかし、本実施例では、セン
サー中空部4の送端面6aと終端面7aにプローブ本体
2の材料より反射率の高い材料からなる反射板9.IO
を取付けてセンサー中空部4の送端面6bと終端面7b
を形成しである。例えば、プローブ本体2の材料を黒鉛
、セラミックとして、反射板9.IOの材料を炭化物焼
結体、高融点金属(W、Mo等)とした場合である。
し、上記同様プローブ本体2に伝送中空部3とセンサー
中空部4を形成しである。しかし、本実施例では、セン
サー中空部4の送端面6aと終端面7aにプローブ本体
2の材料より反射率の高い材料からなる反射板9.IO
を取付けてセンサー中空部4の送端面6bと終端面7b
を形成しである。例えば、プローブ本体2の材料を黒鉛
、セラミックとして、反射板9.IOの材料を炭化物焼
結体、高融点金属(W、Mo等)とした場合である。
このように反射率の高い反射板9.10を取付けること
により、中空部3.4内の側壁面8a部分での反射等に
起因する雑音に対し、センサー中空部4の送端面6b、
終端面7bを形成する反射板9゜10で反射する超音波
信号の強さの相対的レベルを上げ、S/N比を高めるよ
うにしたものである。
により、中空部3.4内の側壁面8a部分での反射等に
起因する雑音に対し、センサー中空部4の送端面6b、
終端面7bを形成する反射板9゜10で反射する超音波
信号の強さの相対的レベルを上げ、S/N比を高めるよ
うにしたものである。
本実施例は、プローブ本体2の材料の反射率が比較的小
さい場合に、特に有効である。
さい場合に、特に有効である。
また、本実施例は、S/N比を高めるという本来の効果
の他に加工を容易にするという面でも有利である。すな
わち−通常の穴あけ加工により形成した中空部の底部端
面は平面ではなく円錐形となる。第7図は、プローブ本
体2にこのような形状の中空部3.4を形成した状態を
示し、このままではセンサー中空部4の端面6 a、
7 aから反射音を得ろことは難しい。しかし、この場
合でも、送端面6aおよび終端面7aに反射板9.lO
を取付けることにより、本実施例に係るプローブIBが
形成され、すなわちこの反射板9.10により平面の端
面6 b、 7 bが形成されるので、中空部形なお、
センサー中空部4の送端面6aおよび終端面7aを下面
に加工しておけば、この端面に反射率の高い材料をコー
ティングするなり、あるいはその部分に何らかの表面処
理をするなりして、端面6a、7aでの反射率を高める
ようにしてもよい。
の他に加工を容易にするという面でも有利である。すな
わち−通常の穴あけ加工により形成した中空部の底部端
面は平面ではなく円錐形となる。第7図は、プローブ本
体2にこのような形状の中空部3.4を形成した状態を
示し、このままではセンサー中空部4の端面6 a、
7 aから反射音を得ろことは難しい。しかし、この場
合でも、送端面6aおよび終端面7aに反射板9.lO
を取付けることにより、本実施例に係るプローブIBが
形成され、すなわちこの反射板9.10により平面の端
面6 b、 7 bが形成されるので、中空部形なお、
センサー中空部4の送端面6aおよび終端面7aを下面
に加工しておけば、この端面に反射率の高い材料をコー
ティングするなり、あるいはその部分に何らかの表面処
理をするなりして、端面6a、7aでの反射率を高める
ようにしてもよい。
第9図は、第3実施例に係るプローブICを示し、プロ
ーブ本体2に形成した中空部3.4内に前述のように異
物を挿入するのではなく、中空部3.4内の側壁部8c
に、凹凸を設けたものである。
ーブ本体2に形成した中空部3.4内に前述のように異
物を挿入するのではなく、中空部3.4内の側壁部8c
に、凹凸を設けたものである。
なお、この凹凸の具体的形状は種々のものがあるが、例
えば第10図に示すように側壁面80部分に幅の小さい
環状の溝11を小刻みに多数設けることにより、あるい
は第11図に示すように、小穴12を多数設けることに
より形成できる。そして、これらのいずれの形状のらの
においても、中空部3.4の側壁部80部分からの反射
を抑制できるので、他の実施例と同様に面記送受信部1
4にて反射音を高いS/N比で受信することができる。
えば第10図に示すように側壁面80部分に幅の小さい
環状の溝11を小刻みに多数設けることにより、あるい
は第11図に示すように、小穴12を多数設けることに
より形成できる。そして、これらのいずれの形状のらの
においても、中空部3.4の側壁部80部分からの反射
を抑制できるので、他の実施例と同様に面記送受信部1
4にて反射音を高いS/N比で受信することができる。
−中空部4を断面円形としたが、本考案はこれに限るも
のでなく、この他例えば矩形、楕円形にしてもよい。
のでなく、この他例えば矩形、楕円形にしてもよい。
(発明の効果)
以上の説明より明らかなように、本発明によれば、伝送
中空部とセンサー中空部を同軸に形成する超音波温度計
用プローブにおいて、前記センサー中空部の送端面と終
端面の超音波反射率を前記伝送中空部およびセンサー中
空部の側壁面の超音波反射率より大きくなるように形成
しである。
中空部とセンサー中空部を同軸に形成する超音波温度計
用プローブにおいて、前記センサー中空部の送端面と終
端面の超音波反射率を前記伝送中空部およびセンサー中
空部の側壁面の超音波反射率より大きくなるように形成
しである。
このため、プローブの中空部内の側壁面部分での超音波
の反射による雑音の影響を受けることなく、高精度の温
度計測、特に高温での温度計測が可能となり超音波温度
計の実用化に寄与し得るという効果を奏する。
の反射による雑音の影響を受けることなく、高精度の温
度計測、特に高温での温度計測が可能となり超音波温度
計の実用化に寄与し得るという効果を奏する。
第1図、第2図は本発明に係るプローブの第1実施例の
断面図、一部破断分解斜視図、第3図は第1図のプロー
ブを適用した超音波温度計の機器構成図、第4図は第1
図のプローブを用いたときの超音波の受信信号の一例を
示す図、第5図、第6図は本発明の第2実施例の1断面
図、一部破断分解斜視図、第7図は棒に一般的な穴を形
成した状態を示す断面図、第8図は第7図の棒に適用し
た第2実施例の断面図、第9図は本発明の第3実施例の
端面図、第1O図、第11図は第9図の具体例を示す一
部破断分解斜視図、第12図は従来のプローブを適用し
た超音波温度計の機器構成図、第13図はプローブでの
超音波の受信信号の理想的な状態を示す図、第14図は
従来のプローブでの超音波の反射状態を示すプローブの
断面図、第15図は第14図に示すプローブを用いたと
きの超音波の受信信号の一例を示す図である。 IA、IB、IC・・・プローブ、2・・プローブ本体
、3・・伝送中空部、4・・・センサー中空部、5・・
・パイプ状の部材、6 a、 6 b・・・送端面、7
a、7b・・・終端面、8 a、 8 b、 8 c−
側壁面、9.10−・・反射板、lI−・・溝、12・
・・小穴。
断面図、一部破断分解斜視図、第3図は第1図のプロー
ブを適用した超音波温度計の機器構成図、第4図は第1
図のプローブを用いたときの超音波の受信信号の一例を
示す図、第5図、第6図は本発明の第2実施例の1断面
図、一部破断分解斜視図、第7図は棒に一般的な穴を形
成した状態を示す断面図、第8図は第7図の棒に適用し
た第2実施例の断面図、第9図は本発明の第3実施例の
端面図、第1O図、第11図は第9図の具体例を示す一
部破断分解斜視図、第12図は従来のプローブを適用し
た超音波温度計の機器構成図、第13図はプローブでの
超音波の受信信号の理想的な状態を示す図、第14図は
従来のプローブでの超音波の反射状態を示すプローブの
断面図、第15図は第14図に示すプローブを用いたと
きの超音波の受信信号の一例を示す図である。 IA、IB、IC・・・プローブ、2・・プローブ本体
、3・・伝送中空部、4・・・センサー中空部、5・・
・パイプ状の部材、6 a、 6 b・・・送端面、7
a、7b・・・終端面、8 a、 8 b、 8 c−
側壁面、9.10−・・反射板、lI−・・溝、12・
・・小穴。
Claims (4)
- (1)伝送中空部とセンサー中空部を同軸に形成する超
音波温度計用プローブにおいて、前記センサー中空部の
送端面と終端面の超音波反射率を前記伝送中空部および
センサー中空部の側壁面の超音波反射率より大に形成し
たことを特徴とする超音波温度計用プローブ。 - (2)前記側壁面部に、前記プローブ本体の材料より超
音波反射率が小さい材料を装着して形成したことを特徴
とする特許請求の範囲第1項に記載の超音波温度計用プ
ローブ。 - (3)前記端面部に、前記プローブ本体の材料より超音
波反射率が大きい材料を装着して形成したことを特徴と
する特許請求の範囲第1項に記載の超音波温度計用プロ
ーブ。 - (4)前記側壁面部を、凹凸を設けて形成したことを特
徴とする特許請求の範囲第1項に記載の超音波温度計用
プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8154586A JPS62237332A (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 超音波温度計用プロ−ブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8154586A JPS62237332A (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 超音波温度計用プロ−ブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62237332A true JPS62237332A (ja) | 1987-10-17 |
Family
ID=13749260
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8154586A Pending JPS62237332A (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 超音波温度計用プロ−ブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62237332A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01304334A (ja) * | 1988-06-01 | 1989-12-07 | Babcock Hitachi Kk | 高温流体の温度計測装置 |
| JP2014505912A (ja) * | 2010-10-28 | 2014-03-06 | ヘレーウス エレクトロ−ナイト インターナシヨナル エヌ ヴイ | 無線式ランス |
| CN107835306A (zh) * | 2017-10-27 | 2018-03-23 | 努比亚技术有限公司 | 一种温度检测方法、终端和计算机可读存储介质 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56141554A (en) * | 1980-04-08 | 1981-11-05 | Toshiba Corp | Measuring method for modulus of elasticity |
| JPS5750653A (en) * | 1980-09-12 | 1982-03-25 | Natl Res Inst For Metals | Test piece for ultrasonic flaw detection |
-
1986
- 1986-04-08 JP JP8154586A patent/JPS62237332A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56141554A (en) * | 1980-04-08 | 1981-11-05 | Toshiba Corp | Measuring method for modulus of elasticity |
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| CN107835306A (zh) * | 2017-10-27 | 2018-03-23 | 努比亚技术有限公司 | 一种温度检测方法、终端和计算机可读存储介质 |
| CN107835306B (zh) * | 2017-10-27 | 2021-04-16 | 努比亚技术有限公司 | 一种温度检测方法、终端和计算机可读存储介质 |
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