JPS6224256Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6224256Y2 JPS6224256Y2 JP1983175489U JP17548983U JPS6224256Y2 JP S6224256 Y2 JPS6224256 Y2 JP S6224256Y2 JP 1983175489 U JP1983175489 U JP 1983175489U JP 17548983 U JP17548983 U JP 17548983U JP S6224256 Y2 JPS6224256 Y2 JP S6224256Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- optical system
- reflecting
- semi
- optical axis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は光学系を用いた測定装置に於ける光路
調節機構に関するものである。
調節機構に関するものである。
(従来技術)
2点間の水平距離を精密に測定するには種々な
方法がとられている。その中で顕微鏡等の光学系
を用いたものが簡便であり、多く利用されてい
る。この光学系を用いる測定方法は光学系によつ
て検体の像と測距用の目盛とが同時に観察できる
ようになつており、この目盛を使つて所望の2点
間の距離を計測するものである。
方法がとられている。その中で顕微鏡等の光学系
を用いたものが簡便であり、多く利用されてい
る。この光学系を用いる測定方法は光学系によつ
て検体の像と測距用の目盛とが同時に観察できる
ようになつており、この目盛を使つて所望の2点
間の距離を計測するものである。
この様な光学系を用いた測定方法では、検体の
表面に凹凸があり、測定する2点間に高低差があ
る場合、測定点の一方に焦点を合せると他方の測
定点の焦点が外れてしまい、測定が困難なものと
なり、さらにこの高抵差が光学系の焦点深度を大
きく上廻る場合、焦点が外れた方の測定点は完全
に見えなくなつてしまい、測定不能となる欠点を
有するものであつた。この傾向は高倍率の光学系
による精密測定に於てより著るしく現われる。
表面に凹凸があり、測定する2点間に高低差があ
る場合、測定点の一方に焦点を合せると他方の測
定点の焦点が外れてしまい、測定が困難なものと
なり、さらにこの高抵差が光学系の焦点深度を大
きく上廻る場合、焦点が外れた方の測定点は完全
に見えなくなつてしまい、測定不能となる欠点を
有するものであつた。この傾向は高倍率の光学系
による精密測定に於てより著るしく現われる。
(考案の目的)
本考案は上述のような従来の問題点に鑑み、検
体から光学系までの光路を調節して高抵差のある
2つの測定点の焦点を同時に合せることを可能と
する光路調節機構の提供を目的とするものであ
る。
体から光学系までの光路を調節して高抵差のある
2つの測定点の焦点を同時に合せることを可能と
する光路調節機構の提供を目的とするものであ
る。
(考案の構成)
すなわち、本考案は、光学系の光軸上に配置さ
れた1対のハーフミラーより成り、その一方が前
記光軸に対して+45゜の傾斜角を、また他方が−
45゜の傾斜角をもつて配置され、互の端部が所定
の間隔で離間されている半透過鏡機構と、1対の
反射面を有し、この反射面の夫々が前記半透過鏡
機構の各ハーフミラーに平行となるように前記半
透過鏡機構の側方に配置され、前記光軸に対して
直角方向に移動可能に構成された反射鏡機構と、
この反射鏡機構の移動を制御する駆動機構とによ
つて光路調節機構を構成し、高い方の測定点から
光学系までの光路を半透過鏡機構と反射鏡機構と
によつて迂回させることによつて前述の目的を達
成せんとするものである。
れた1対のハーフミラーより成り、その一方が前
記光軸に対して+45゜の傾斜角を、また他方が−
45゜の傾斜角をもつて配置され、互の端部が所定
の間隔で離間されている半透過鏡機構と、1対の
反射面を有し、この反射面の夫々が前記半透過鏡
機構の各ハーフミラーに平行となるように前記半
透過鏡機構の側方に配置され、前記光軸に対して
直角方向に移動可能に構成された反射鏡機構と、
この反射鏡機構の移動を制御する駆動機構とによ
つて光路調節機構を構成し、高い方の測定点から
光学系までの光路を半透過鏡機構と反射鏡機構と
によつて迂回させることによつて前述の目的を達
成せんとするものである。
(実施例)
次に本考案の実施の一例を図面を参照しながら
説明する。
説明する。
図面は本考案の一実施例の慨略構成図である。
同図に於て、1は光学系、2は半透過鏡機構、3
は反射鏡機構、4は駆動機構であり、5は検体で
ある。光学系1は例えば内部に測距用の目盛を備
えた顕微鏡であつて、1枚のレンズで代表させて
示している。11はこの光学系1の光軸である。
同図に於て、1は光学系、2は半透過鏡機構、3
は反射鏡機構、4は駆動機構であり、5は検体で
ある。光学系1は例えば内部に測距用の目盛を備
えた顕微鏡であつて、1枚のレンズで代表させて
示している。11はこの光学系1の光軸である。
半透過鏡機構2は1対のハーフミラー21,2
2を光学系1の光軸11上に互に直交させて配置
したものである。即ち、一方のハーフミラー21
は前記光軸11に対して+45゜の傾斜角をもつて
配置され、また他方のハーフミラー22は光軸1
1に対して−45゜の傾斜角をもつて配置されてい
る。これら両ハーフミラー21,22は、その近
接側の端部に於て所定の間隔Dだけ離間されてい
る。この間隔Dには、例えばハーフミラー21,
22のガラス部分の厚さの2倍程度より大きな値
が設定される。
2を光学系1の光軸11上に互に直交させて配置
したものである。即ち、一方のハーフミラー21
は前記光軸11に対して+45゜の傾斜角をもつて
配置され、また他方のハーフミラー22は光軸1
1に対して−45゜の傾斜角をもつて配置されてい
る。これら両ハーフミラー21,22は、その近
接側の端部に於て所定の間隔Dだけ離間されてい
る。この間隔Dには、例えばハーフミラー21,
22のガラス部分の厚さの2倍程度より大きな値
が設定される。
反射鏡機構3は互に直交する1対の反射鏡3
1,32によつて形成され、前記半透過鏡機構2
の側方に配置されている。即ち、反射鏡31は前
記ハーフミラー21と、また反射鏡32はハーフ
ミラー22と夫々平行となるように対向配置され
ている。この反射鏡機構3は図面に矢印Xで示す
前記光学系1の光軸11に対して直角な方向へ移
動可能な構成となつている。駆動機構4は、前述
の反射鏡機構3を保持するホルダー41と、この
ホルダー41に回動自在に取付けられたねじ42
と、このねじ42に固着された撮み43と、この
ねじ42が螺合する固定板44とによつて構成さ
れ、撮み43を回動させることで反射鏡機構3の
矢印X方向の移動を制御するものである。
1,32によつて形成され、前記半透過鏡機構2
の側方に配置されている。即ち、反射鏡31は前
記ハーフミラー21と、また反射鏡32はハーフ
ミラー22と夫々平行となるように対向配置され
ている。この反射鏡機構3は図面に矢印Xで示す
前記光学系1の光軸11に対して直角な方向へ移
動可能な構成となつている。駆動機構4は、前述
の反射鏡機構3を保持するホルダー41と、この
ホルダー41に回動自在に取付けられたねじ42
と、このねじ42に固着された撮み43と、この
ねじ42が螺合する固定板44とによつて構成さ
れ、撮み43を回動させることで反射鏡機構3の
矢印X方向の移動を制御するものである。
次に、この様に構成された光路調節機構の使用
方法を、高低差Hの凹凸を有する検体5の低位面
にあけられた孔51の周縁の点Aと高位面にあけ
られた孔52の周縁の点Bとの水平距離の計測を
例に説明する。
方法を、高低差Hの凹凸を有する検体5の低位面
にあけられた孔51の周縁の点Aと高位面にあけ
られた孔52の周縁の点Bとの水平距離の計測を
例に説明する。
先ず、この光路調節機構を光学系1に取り付け
て検体5の上方に配置する。次に、光学系を調整
して検体5の孔51の上縁に焦点を合せる。次
に、駆動機構4の撮み43を回動させて反射鏡機
構3を矢印X方向へ移動させて孔52の上縁にも
焦点が合うようにする。孔52の上縁に焦点が合
つた状態に於てはハーフミラー21と反射鏡31
あるいはハーフミラー22と反射鏡32との水平
距離は検体5の凹凸の高低差Hの半分になつてい
る。ここで点Aと点Bとに目盛を合せて両者の水
平距離Lを計測する。
て検体5の上方に配置する。次に、光学系を調整
して検体5の孔51の上縁に焦点を合せる。次
に、駆動機構4の撮み43を回動させて反射鏡機
構3を矢印X方向へ移動させて孔52の上縁にも
焦点が合うようにする。孔52の上縁に焦点が合
つた状態に於てはハーフミラー21と反射鏡31
あるいはハーフミラー22と反射鏡32との水平
距離は検体5の凹凸の高低差Hの半分になつてい
る。ここで点Aと点Bとに目盛を合せて両者の水
平距離Lを計測する。
この時、点Bを出た光は、その一部が破線で示
す如くハーフミラー21を透過し、さらにその一
部がハーフミラー22を透過して光学系1に達す
るが、この光は焦点を結ばないため測定には影響
しない。さらに、点Aを出てハーフミラー21で
反射された光は、たとえ反射鏡31および32で
反射されてハーフミラー22を介して光学系1ま
で達しても焦点を結ぶことはなく、測定に影響を
与えることはない。
す如くハーフミラー21を透過し、さらにその一
部がハーフミラー22を透過して光学系1に達す
るが、この光は焦点を結ばないため測定には影響
しない。さらに、点Aを出てハーフミラー21で
反射された光は、たとえ反射鏡31および32で
反射されてハーフミラー22を介して光学系1ま
で達しても焦点を結ぶことはなく、測定に影響を
与えることはない。
また、前述のハーフミラー21と22との近接
側端部に於ける間隔Dの離間部分は解像力の低下
を防止するために作用する。即ち、ハーフミラー
21と22との近接側の端部を離間させること
で、ハーフミラー21のガラス部分の中で乱反射
した点Aおよび点Bからの光がその端部からハー
フミラー22のガラス部分の中に迷い込むのを防
止し、この迷光に起因する解像力の低下を防止し
ている。
側端部に於ける間隔Dの離間部分は解像力の低下
を防止するために作用する。即ち、ハーフミラー
21と22との近接側の端部を離間させること
で、ハーフミラー21のガラス部分の中で乱反射
した点Aおよび点Bからの光がその端部からハー
フミラー22のガラス部分の中に迷い込むのを防
止し、この迷光に起因する解像力の低下を防止し
ている。
以上、図示の実施例に基いて詳細に説明した
が、本考案はこれにのみ限定されるものではな
く、例えば、反射鏡機構に1対の反射鏡に代えて
プリズムを用いてもよく、また駆動機構も例え
ば、ホルダーと固定板との間にスプリングを介在
させ、ホルダーを常時押圧することでガタツキの
無い駆動機構を実現できる等、その他にも種々な
バリエーシヨンを含むものである。
が、本考案はこれにのみ限定されるものではな
く、例えば、反射鏡機構に1対の反射鏡に代えて
プリズムを用いてもよく、また駆動機構も例え
ば、ホルダーと固定板との間にスプリングを介在
させ、ホルダーを常時押圧することでガタツキの
無い駆動機構を実現できる等、その他にも種々な
バリエーシヨンを含むものである。
(考案の効果)
本考案は上述の如く構成され、駈動機構によつ
て反射鏡機構の移動を制御することで光路長の調
節を可能としたことによつて凹凸のある検体の高
低差のある2点に同時に焦点合せが可能となり、
さらにハーフミラーの近接側の端部を所定の間隔
で離間させているため、迷光に起因する解像力の
低下も防止できる等の優れた効果を有するもので
ある。
て反射鏡機構の移動を制御することで光路長の調
節を可能としたことによつて凹凸のある検体の高
低差のある2点に同時に焦点合せが可能となり、
さらにハーフミラーの近接側の端部を所定の間隔
で離間させているため、迷光に起因する解像力の
低下も防止できる等の優れた効果を有するもので
ある。
図面は本考案の一実施例の概略構成図である。
1……光学系、11……光軸、2……半透過鏡
機構、21,22……ハーフミラー、3……反射
鏡機構、31,32……反射鏡、4……駆動機
構、5……検体。
機構、21,22……ハーフミラー、3……反射
鏡機構、31,32……反射鏡、4……駆動機
構、5……検体。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 光学系の光軸上に配置された1対のハーフミ
ラーより成り、その一方が前記光軸に対して+
45゜の傾斜角を、また他方が−45゜の傾斜角を
もつて配置され、互の端部が所定の間隔で離間
されている半透過鏡機構と、1対の反射面を有
し、この反射面の夫々が前記半透過鏡機構の各
ハーフミラーに平行となるように前記半透過鏡
機構の側方に配置され、前記光軸に対して直角
方向に移動可能に構成された反射鏡機構と、こ
の反射鏡機構の移動を制御する駆動機構とを備
えたことを特徴とする光路調節機構。 (2) 反射鏡機構の1対の反射面にプリズムを用い
たことを特徴とする実用新案登録請求の範囲第
1項記載の光路調節機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17548983U JPS6082615U (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | 光路調節機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17548983U JPS6082615U (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | 光路調節機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6082615U JPS6082615U (ja) | 1985-06-07 |
| JPS6224256Y2 true JPS6224256Y2 (ja) | 1987-06-20 |
Family
ID=30381790
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17548983U Granted JPS6082615U (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | 光路調節機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6082615U (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS527746A (en) * | 1975-07-09 | 1977-01-21 | Canon Inc | Multifocal-point microscope |
| JPS5838765B2 (ja) * | 1976-04-14 | 1983-08-25 | キヤノン株式会社 | 多重焦点顕微鏡 |
-
1983
- 1983-11-15 JP JP17548983U patent/JPS6082615U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6082615U (ja) | 1985-06-07 |
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