JPS62259423A - 薄膜作製装置 - Google Patents
薄膜作製装置Info
- Publication number
- JPS62259423A JPS62259423A JP9559486A JP9559486A JPS62259423A JP S62259423 A JPS62259423 A JP S62259423A JP 9559486 A JP9559486 A JP 9559486A JP 9559486 A JP9559486 A JP 9559486A JP S62259423 A JPS62259423 A JP S62259423A
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- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- electrode
- ultraviolet light
- window
- bias voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)発明の利用分野
本発明は光化学気相反応生成物薄膜を基板上に作製する
装置に関するものである。
装置に関するものである。
(ロ)従来技術
近年、非単結晶珪素半導体用または、パッシベーション
用薄膜作製方法において、光化学気相反応(以下光CV
D法)が注目されている。
用薄膜作製方法において、光化学気相反応(以下光CV
D法)が注目されている。
この光CVD法を用いた薄膜作製に使用される、従来の
装置は、紫外光の透過窓を有する反応容器内に被膜形成
基板を配置して、減圧下にて薄膜作製用気体を導入し、
紫外光透過窓を通して導入された紫外光により、反応容
器内で光化学気相反応を起し、その反応生成物薄膜を基
板上に被着させるようになっている。そして、紫外光の
透過窓としては石英ガラスや、フン化リチウム、フン化
マグネシュウムなどの紫外光を透過し易い材料で作られ
ている。
装置は、紫外光の透過窓を有する反応容器内に被膜形成
基板を配置して、減圧下にて薄膜作製用気体を導入し、
紫外光透過窓を通して導入された紫外光により、反応容
器内で光化学気相反応を起し、その反応生成物薄膜を基
板上に被着させるようになっている。そして、紫外光の
透過窓としては石英ガラスや、フン化リチウム、フン化
マグネシュウムなどの紫外光を透過し易い材料で作られ
ている。
また、薄膜の生成速度を増すために、反応容器内に薄膜
作製用気体と一緒に、水銀を添加する水銀増感法や、大
面積の薄膜形成を可能とするため、紫外光源室を減圧と
し、紫外光透過窓を大きくする工夫もされている。
作製用気体と一緒に、水銀を添加する水銀増感法や、大
面積の薄膜形成を可能とするため、紫外光源室を減圧と
し、紫外光透過窓を大きくする工夫もされている。
ところで、この光CVD法は紫外光透過窓を通して反応
容器内に紫外光を導入するため、被膜形成基板上だけで
なく、該透過窓上にも薄膜が形成されるため、紫外光導
入直後は充分な量の紫外光が窓より基板に照射されてい
るが、薄膜が透過窓上に形成されてゆくに従がい、紫外
光の透過量が減少してゆき、最後には基板上に薄膜が形
成されなくなってしまうという問題があった。
容器内に紫外光を導入するため、被膜形成基板上だけで
なく、該透過窓上にも薄膜が形成されるため、紫外光導
入直後は充分な量の紫外光が窓より基板に照射されてい
るが、薄膜が透過窓上に形成されてゆくに従がい、紫外
光の透過量が減少してゆき、最後には基板上に薄膜が形
成されなくなってしまうという問題があった。
また、この問題の解決法の1つとして、透過窓の反応容
器側にオイルをコーテングすることが提案されているが
、オイルの成分が光化学気相反応時に形成膜中にとり込
まれ膜質を悪くするという問題があった。
器側にオイルをコーテングすることが提案されているが
、オイルの成分が光化学気相反応時に形成膜中にとり込
まれ膜質を悪くするという問題があった。
(ハ)発明の目的
本発明は、これらの問題を解決するものである。
すなわち、オイル等を塗布せずに紫外光透過窓上に、反
応生成物薄膜を形成させない光CVD装置を提供するも
のである。
応生成物薄膜を形成させない光CVD装置を提供するも
のである。
(ニ)発明の構成
本発明は、紫外光の透過窓を有する反応容器と、前記反
応容器を減圧状態に排気する手段と、前記反応容器に薄
膜作製用気体を導入する手段と、前記気体を活性化させ
る紫外光源を有する薄膜作製装置において、前記紫外光
透過窓上に設けられた第1の電極と、前記第1の電極と
間を隔てて設けられた第2の電極との間に、反応生成物
が固体となるイオン種を、紫外線透過窓より遠ざける向
きのバイアス電圧を印加する手段を有することを特徴と
する薄膜作製装置であります。
応容器を減圧状態に排気する手段と、前記反応容器に薄
膜作製用気体を導入する手段と、前記気体を活性化させ
る紫外光源を有する薄膜作製装置において、前記紫外光
透過窓上に設けられた第1の電極と、前記第1の電極と
間を隔てて設けられた第2の電極との間に、反応生成物
が固体となるイオン種を、紫外線透過窓より遠ざける向
きのバイアス電圧を印加する手段を有することを特徴と
する薄膜作製装置であります。
すなわち、反応気体中に含まれる反応生成物が固体とな
るような、イオン種または若干の電荷を帯びた活性種を
、第1の電極と第2の電極間に印加するバイアス電圧に
より、紫外光透過窓より遠ざけることを特徴とするもの
であります。
るような、イオン種または若干の電荷を帯びた活性種を
、第1の電極と第2の電極間に印加するバイアス電圧に
より、紫外光透過窓より遠ざけることを特徴とするもの
であります。
当然のことながらこのバイアス電圧は、光化学気相反応
時の反応容器内圧力における放電開始電圧より低い値で
ある。
時の反応容器内圧力における放電開始電圧より低い値で
ある。
また、第1の電極と第2の電極は、アルミニューム、モ
リブデン、タングステン、ステンレス、白金、銅、クロ
ム、銀、マグネシューム、ニッケル。
リブデン、タングステン、ステンレス、白金、銅、クロ
ム、銀、マグネシューム、ニッケル。
亜鉛、コバルト、鉄、インジウム、より使用する反応性
気体に応じて選ばれた金属またはそれらの合金よりなる
ものであり、開口率90%以上を有する格子状またはく
し状の電極が好ましかった。
気体に応じて選ばれた金属またはそれらの合金よりなる
ものであり、開口率90%以上を有する格子状またはく
し状の電極が好ましかった。
以下に実施例を示す。
実施例1゜
第1図に本発明の装置の概略を示す。
反応容器(1)内に、設けられた第2の電極(2)は基
板加熱用ヒータと基板支持体とを兼ねている。
板加熱用ヒータと基板支持体とを兼ねている。
紫外光源としては、低圧水銀ランプ(6)を用い、紫外
光源室α〔は減圧にして、紫外光透過窓の石英ガラス板
(5)を介して反応室と隣り合っている。
光源室α〔は減圧にして、紫外光透過窓の石英ガラス板
(5)を介して反応室と隣り合っている。
紫外光透過窓上の第1の電極(4)はニッケルを用い、
該窓上全面に蒸着後、線巾50μm開口率90%となる
ように格子状にバターニングを施した物を用いた。該窓
の大きさは300mX 300mmで厚さ約3鶴であっ
た。また第1の電極(4)と第2の電極(2)間に、バ
イアス電圧を加えられるように印加用電源aυが設けで
ある。ナア′、哨+g7:′+a、石英ガ”y入(r)
t ’f;−7i+(at +il 準tt IJfa
t++3゜この装置を用い、光CVD法により窒化珪素
薄膜の作製を試みた。以下にその条件を示す。
該窓上全面に蒸着後、線巾50μm開口率90%となる
ように格子状にバターニングを施した物を用いた。該窓
の大きさは300mX 300mmで厚さ約3鶴であっ
た。また第1の電極(4)と第2の電極(2)間に、バ
イアス電圧を加えられるように印加用電源aυが設けで
ある。ナア′、哨+g7:′+a、石英ガ”y入(r)
t ’f;−7i+(at +il 準tt IJfa
t++3゜この装置を用い、光CVD法により窒化珪素
薄膜の作製を試みた。以下にその条件を示す。
ガス流量 5izHa 10 SCCMN H
35005CCM Nt 500 SCCM 反応圧力 400 Pa 基板温度 300℃ この時第1の電極(4)と第2の電極(2)間隔は約5
0nでバイアス電圧は、例えばイオン化したSiが窓側
へ近づかないように第1の電極(4)側を負極性とし、
0.30.60Vとした。その時の薄膜の膜厚と反応時
間の関係を第2図に示す。曲線■はOV時の結果であり
、反応時間60分で約1000人程度で、それ以上は厚
く膜がつかない傾向が見られる。これは紫外光透過窓(
5)にも膜が形成されるため、反応気体を十分に分解さ
せるだけの量の紫外光が透過してこないことを示してい
る。
35005CCM Nt 500 SCCM 反応圧力 400 Pa 基板温度 300℃ この時第1の電極(4)と第2の電極(2)間隔は約5
0nでバイアス電圧は、例えばイオン化したSiが窓側
へ近づかないように第1の電極(4)側を負極性とし、
0.30.60Vとした。その時の薄膜の膜厚と反応時
間の関係を第2図に示す。曲線■はOV時の結果であり
、反応時間60分で約1000人程度で、それ以上は厚
く膜がつかない傾向が見られる。これは紫外光透過窓(
5)にも膜が形成されるため、反応気体を十分に分解さ
せるだけの量の紫外光が透過してこないことを示してい
る。
一方、本発明のバイアス電圧を30V(曲線α3)、6
0V(曲線α0)と加えた場合は、時間とともに成膜速
度が遅くなる傾向は見られるが曲線@と較べて、明らか
に速くまた厚い膜を形成することが可能であり、また限
界膜厚も曲線C141の場合、OV(曲線a2)と較べ
て約3倍程度の3000人にまで達している。
0V(曲線α0)と加えた場合は、時間とともに成膜速
度が遅くなる傾向は見られるが曲線@と較べて、明らか
に速くまた厚い膜を形成することが可能であり、また限
界膜厚も曲線C141の場合、OV(曲線a2)と較べ
て約3倍程度の3000人にまで達している。
またこれらの成膜後、第1および第2の電極間に放電開
始電圧以上の電圧を印加し、エツチングガスを反応室に
導入すると、反応室内のクリーニングを同−装Will
成にて行なえるという利点がある。
始電圧以上の電圧を印加し、エツチングガスを反応室に
導入すると、反応室内のクリーニングを同−装Will
成にて行なえるという利点がある。
実施例2゜
次に実施例1と同じ装置を用い、アモルファスシリコン
膜の作製を行った。
膜の作製を行った。
薄膜生成用気体としてHeベースの10%S i z
Hbを20SCCM流しその他の実験条件は実施例1と
全く同じであった。本実施例の場合バイアス電圧は0■
と25Vで行った。その結果を第3図に示す。OVの場
合は曲線αつのように反応開始後、約10分で完全に膜
厚が増えなくなっていたが、本発明のように25Vのバ
イアス電圧を第1と第2電極間に加えた場合、曲′aQ
*のように10分をすぎても膜厚は増加しつづけ、60
分で約1000人まで達している。
Hbを20SCCM流しその他の実験条件は実施例1と
全く同じであった。本実施例の場合バイアス電圧は0■
と25Vで行った。その結果を第3図に示す。OVの場
合は曲線αつのように反応開始後、約10分で完全に膜
厚が増えなくなっていたが、本発明のように25Vのバ
イアス電圧を第1と第2電極間に加えた場合、曲′aQ
*のように10分をすぎても膜厚は増加しつづけ、60
分で約1000人まで達している。
なお、本発明は実施例のみに限定されるものではない。
また、実施例1.2では第2電極として基板支持体を兼
ねているが、特にこの構成に限定されることはない。
ねているが、特にこの構成に限定されることはない。
(ホ)効果
本発明の構成をとることにより、従来の光CVD装置と
比較して膜の成膜速度および限界膜厚が約3倍程度に向
上することになった。
比較して膜の成膜速度および限界膜厚が約3倍程度に向
上することになった。
また、従来装置のように紫外光透過窓上にオイル等を塗
布しないため、成膜された薄膜中に不純物が混入せず、
良好な膜質が得られる。
布しないため、成膜された薄膜中に不純物が混入せず、
良好な膜質が得られる。
また、第1の電極と第2の電極間に放電開始電圧以上の
電圧を印加し、反応ガスとしてエツチングを用いた場合
、反応室のエツチングを同一装置構成で行なえるという
利点もある。
電圧を印加し、反応ガスとしてエツチングを用いた場合
、反応室のエツチングを同一装置構成で行なえるという
利点もある。
第1図は本発明の装置を示す。
第2図、第3図は本発明により得られた薄膜の膜厚と反
応時間の関係を示す。 1・・・・反応室 2・・・・第2の電極(基板支持体) 4・・・・第1の電極 5・・・・紫外光透過窓 6・・・・紫外光源 0 /θ 2ρ 〆θ成濃峙
r5電(副
応時間の関係を示す。 1・・・・反応室 2・・・・第2の電極(基板支持体) 4・・・・第1の電極 5・・・・紫外光透過窓 6・・・・紫外光源 0 /θ 2ρ 〆θ成濃峙
r5電(副
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、紫外光の透過窓を有する反応容器と、前記反応容器
を減圧状態に排気する手段と前記反応容器に薄膜作製用
気体を導入する手段と、前記気体を活性化させる紫外光
源を有する薄膜作製装置において、前記紫外光透過窓上
に設けられた第1の電極と前記第1の電極と間を隔てて
設けられた第2の電極との間に、バイアス電圧を印加す
る手段を有することを特徴とする薄膜作製装置。 2、特許請求の範囲第1項において、前記紫外光透過窓
上に設けられた第1の電極は、開口率90%以上を有し
、くし状または格子状にパターニングされていることを
特徴とする薄膜作製装置。 3、特許請求の範囲第2項において、前記パターニング
された第1の電極はアルミニューム、モリブデン、タン
グステン、ステンレス、白金、銅、クロム、銀、マグネ
シューム、ニッケル、亜鉛、コバルト、鉄、インジウム
より使用する反応性気体に応じて選ばれた金属またはそ
れらの合金よりなることを特徴とする薄膜作製装置。 4、特許請求の範囲第1項において、前記第2の電極は
薄膜を被着する基板の支持体であることを特徴とする薄
膜作製装置。 5、特許請求の範囲第1項において、前記第1の電極と
第2の電極間に印加するバイアス電圧は、薄膜作製時の
反応容器内圧力における放電破壊電圧以下であることを
特徴とする薄膜作製装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9559486A JPS62259423A (ja) | 1986-04-24 | 1986-04-24 | 薄膜作製装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9559486A JPS62259423A (ja) | 1986-04-24 | 1986-04-24 | 薄膜作製装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62259423A true JPS62259423A (ja) | 1987-11-11 |
Family
ID=14141894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9559486A Pending JPS62259423A (ja) | 1986-04-24 | 1986-04-24 | 薄膜作製装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62259423A (ja) |
-
1986
- 1986-04-24 JP JP9559486A patent/JPS62259423A/ja active Pending
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