JPS6226830A - Chip bonding equipment - Google Patents
Chip bonding equipmentInfo
- Publication number
- JPS6226830A JPS6226830A JP60165132A JP16513285A JPS6226830A JP S6226830 A JPS6226830 A JP S6226830A JP 60165132 A JP60165132 A JP 60165132A JP 16513285 A JP16513285 A JP 16513285A JP S6226830 A JPS6226830 A JP S6226830A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor chip
- substrate
- chip
- mounting table
- bonding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は半導体チップのパッド部と回路基板のリード部
を直接接続するチップボンディング装置に関するもので
ある。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a chip bonding apparatus for directly connecting pads of a semiconductor chip and leads of a circuit board.
従来の技術
チップボンディング装置は、その特徴である生産性と接
続強度の信頼性の点で有利であり実用化されようとして
いるが、位置合せが困難であるため透明基板を対象とす
るか、又はパッド間隔の大きい半導体ベレットを対象と
するものであるため、セラミック等の基板と、パッド間
隔の小さい半導体チップに対応可能な装置が要求されて
いる。Conventional technology chip bonding equipment is advantageous in terms of productivity and reliability of connection strength, and is about to be put into practical use, but because alignment is difficult, it is difficult to target transparent substrates or Since the target is a semiconductor bullet with a large pad spacing, there is a need for a device that can handle ceramic substrates and semiconductor chips with a small pad spacing.
以下図面を参照しながら、従来のチップボンディング装
置の一例について説明する。An example of a conventional chip bonding apparatus will be described below with reference to the drawings.
第4図は従来のチップボンディング装置の構成を示すも
のである。図において、1は半導体チップであり、回路
面が下になるようにトレイ2に並べられ、位置決め装置
3によって任意の位置に位置決めされる。4と6は吸着
コレットであり、移送アーム6に上下方向摺動自在に取
りつけられ、バネ7の力で下方向に押し付けられている
。8は基板9の位置決め装置であり、基板押え1oによ
って、基板9を固定している。11は基板9上に形成さ
れた回路パターンである。12は吸着コレット5が移送
アーム6によって動く軌跡を示したものである。13は
中間規正台であり、規正ツメ14.15が配設されてい
る。FIG. 4 shows the configuration of a conventional chip bonding apparatus. In the figure, semiconductor chips 1 are arranged on a tray 2 with their circuit surfaces facing down, and positioned at arbitrary positions by a positioning device 3. Reference numerals 4 and 6 denote suction collets, which are attached to the transfer arm 6 so as to be slidable in the vertical direction, and are pressed downward by the force of a spring 7. 8 is a positioning device for the substrate 9, and the substrate 9 is fixed by a substrate holder 1o. 11 is a circuit pattern formed on the substrate 9. 12 shows a trajectory along which the suction collet 5 moves by the transfer arm 6. Reference numeral 13 denotes an intermediate regulating stand, on which regulating claws 14 and 15 are provided.
以上のように構成されたチップボンディング装置につい
て以下その動作を説明する。The operation of the chip bonding apparatus configured as described above will be described below.
トレイ2に回路面を下に整列して配置された半導体チッ
プ1は、位置決め装置3によって吸着コレット4の中心
の真下に位置決めされる。次に吸着コレット4は移送ア
ーム6が下降することによって下降し、半導体チップ1
の裏面に吸着コレット4の先端部が接した位置で下降を
停止する。次に、吸着コレットの下表面に形成された吸
着穴を真空にすることによって半導体チップ1を吸着す
る。同時に、中間規正台13上に載置され、外周を規正
された半導体チップ1を、吸着コレット5が吸着コレッ
ト4と同じ動作を行ない吸着する。The semiconductor chips 1 arranged on the tray 2 with their circuit surfaces facing down are positioned directly below the center of the suction collet 4 by the positioning device 3. Next, the suction collet 4 is lowered by the lowering of the transfer arm 6, and the semiconductor chip 1
The descent stops at the position where the tip of the suction collet 4 touches the back surface of the collet. Next, the semiconductor chip 1 is suctioned by vacuuming the suction hole formed on the lower surface of the suction collet. At the same time, the suction collet 5 performs the same operation as the suction collet 4 and suctions the semiconductor chip 1 placed on the intermediate adjustment table 13 and having its outer circumference regulated.
次に移送アーム6は軌跡12の如く動作し、吸着コレッ
ト4は中間規正台13上に、吸着コレット5は基板9上
に位置する。この時、基板9は位置決め装置8こよって
、吸着プレット6のセンターライン上に被接合箇所が位
置するように位置決めされ、次に移送アーム6は下降す
る。この時、吸着コレット5に吸着された半導体チップ
1は、バネ7の力でリード11に接合される。次に各々
のコレット4,5は真空を解除し、軌跡12の如く上昇
する。中間規正台13上の半導体チップ1は規正ツメ1
4.15によって外周を位置規正される。上記動作によ
ってボンディングの1サイクルを終了する。Next, the transfer arm 6 moves along a trajectory 12, and the suction collet 4 is positioned on the intermediate regulating table 13, and the suction collet 5 is positioned on the substrate 9. At this time, the substrate 9 is positioned by the positioning device 8 so that the part to be joined is located on the center line of the suction plet 6, and then the transfer arm 6 is lowered. At this time, the semiconductor chip 1 attracted by the attraction collet 5 is joined to the leads 11 by the force of the spring 7. Each collet 4, 5 then releases the vacuum and rises as per trajectory 12. The semiconductor chip 1 on the intermediate regulating stand 13 is the regulating claw 1
The position of the outer circumference is regulated by 4.15. The above operation completes one cycle of bonding.
発明が解決しようとする問題点
しかしながら上記のような構成では、フェノ・に構成さ
れた各素子を分離後トレイに整列収納する必要があるた
め、半導体チップにキズ、ワレ等の不良が発生し、又コ
スト的にも不利である。半導体チップの位置規正は外周
を基準として行われるため、ウェハーに形成された各素
子をダイシングマシン等によって分割する時、回路パタ
ーンと切断部との位置ズレが発生した場合半導体チップ
のパッド部分に対して正確な位置規正を行なうことが出
来ない。又このような方法でボンディングした場合、接
合強度はバネ圧による加圧力のみであるため弱く、超音
波圧着、加熱圧着等の別工程が必要となる。中間規正台
上でプリヒートすることは可能であるが、移送中に温度
が下り、温度変化による寸法変化が発生し、又所定の温
度で圧着することが困難であった。さらに半導体チップ
はトレイの中と中間規正台上で回路形成面を下面として
保持するため、回路形成面に発生したキズ等により不良
が発生する確率が高いという問題点を有していた。Problems to be Solved by the Invention However, in the above-described configuration, it is necessary to arrange and store the elements configured in a phenolic manner on a tray after separating them, which causes defects such as scratches and cracks on the semiconductor chip. It is also disadvantageous in terms of cost. The position of a semiconductor chip is adjusted based on the outer periphery, so when dividing each element formed on a wafer using a dicing machine, etc., if there is a misalignment between the circuit pattern and the cutting part, the pad part of the semiconductor chip will be adjusted. Therefore, accurate position adjustment cannot be performed. Furthermore, when bonding is performed by such a method, the bonding strength is weak because it is only applied by the spring pressure, and separate processes such as ultrasonic pressure bonding and heat pressure bonding are required. Although it is possible to preheat on an intermediate standard table, the temperature drops during transfer, dimensional changes occur due to temperature changes, and it is difficult to press-bond at a predetermined temperature. Furthermore, since the semiconductor chips are held with the circuit forming surface facing downward in the tray and on the intermediate holder, there is a problem in that there is a high probability that defects will occur due to scratches or the like occurring on the circuit forming surface.
本発明は上記欠点に鑑み、半導体チップをトレイにつめ
かえることなく、チップのベッド部分と基板のリード部
を高精度に位置合せ可能とし、さらに接続強度も安定し
て得られるチップボンディング装置を提供するものであ
る。In view of the above-mentioned drawbacks, the present invention provides a chip bonding device that enables highly accurate alignment of the bed portion of the chip and the lead portion of the board without repacking the semiconductor chip into a tray, and also provides stable connection strength. It is something to do.
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するために本発明のチップボンディン
グ装置は、回路形成面を上面として平面状に配設された
半導体チップを分離移送する移送手段と、移送された半
導体チップを載置する載置台と、前記半導体チップの位
置検出を行なう第1の位置検出手段と、前記載置台上の
半導体チップと対向するよって配置された回路基板の位
置検出を行なう第2の位置検出装置と、前記チップ及び
基板を各々位置決めする第1及び第2の位置決め装置と
、前記半導体チップ及び基板回路を接続する接続手段と
を備えたものである。Means for Solving the Problems In order to solve the above-mentioned problems, the chip bonding apparatus of the present invention includes a transfer means for separating and transferring semiconductor chips arranged in a plane with the circuit forming surface as the upper surface, and A mounting table on which a semiconductor chip is placed, a first position detecting means for detecting the position of the semiconductor chip, and a second position detecting means for detecting the position of a circuit board placed opposite to the semiconductor chip on the mounting table. The semiconductor device includes a position detection device, first and second positioning devices that respectively position the chip and the substrate, and connection means that connects the semiconductor chip and the substrate circuit.
作 用
半導体チップの回路形成面を上面として配設することに
よって回路面に発生する不良を防止し、半導体チップの
パッド部と基板回路のリード部を位置検出後位置合せす
ることによって高精度に位置合せ可能とするとともに、
超音波ボンディング。By arranging the semiconductor chip with the circuit forming surface facing upward, defects that occur on the circuit surface are prevented, and by aligning the pad part of the semiconductor chip and the lead part of the circuit board after position detection, it is possible to position the semiconductor chip with high precision. In addition to making it possible to match,
Ultrasonic bonding.
熱圧着等の接続手段を設けることによって、安定した接
続強度を得ることが可能となる。By providing a connection means such as thermocompression bonding, it becomes possible to obtain stable connection strength.
実施例
以下、本発明の一実施例のチップボンディング装置につ
いて、図面を参照しながら説明する。EXAMPLE Hereinafter, a chip bonding apparatus according to an example of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明の基本構成を示すもの・であシ、第2図
は本発明の装置12よシ位置決めした状態を示す図であ
る。第1図及び第2図において、16は半導体チップで
あり、粘着性フィルム17に回路形成面の裏面が保持さ
れている。18は前記粘着性フィルム17を保持するウ
ニ・・リングであり、位置決め装置19によって任意の
位置に位置決めされる。2oは吸着コレットであり、先
端部に真空穴21を有している。22は載置台であり、
先端部に半導体チップ16を加熱するためのヒーター2
4が埋め込まれている。さらに半導体チップ1eを確実
に保持するための真空穴24を有している。25はガイ
ドであシ、載置台22を矢印A方向に摺動可能に保持す
る。26は前記載置台22を任意の位置に位置決めする
位置決め装置である。FIG. 1 shows the basic configuration of the present invention, and FIG. 2 shows a state in which the device 12 of the present invention is positioned. In FIGS. 1 and 2, 16 is a semiconductor chip, and the back surface of the circuit-forming surface is held by an adhesive film 17. A ring 18 holds the adhesive film 17, and is positioned at an arbitrary position by a positioning device 19. 2o is a suction collet, which has a vacuum hole 21 at its tip. 22 is a mounting table;
Heater 2 for heating the semiconductor chip 16 at the tip
4 is embedded. Furthermore, it has a vacuum hole 24 for securely holding the semiconductor chip 1e. A guide 25 holds the mounting table 22 so as to be slidable in the direction of arrow A. Reference numeral 26 denotes a positioning device for positioning the mounting table 22 at an arbitrary position.
27は20の吸着コレットを軌跡28にそって移送する
移送アームである。29はコレット2oを下方向に保持
するバネである。3oは回路基板であり、接合部になる
リード31が形成されている。27 is a transfer arm that transfers 20 suction collets along a trajectory 28. 29 is a spring that holds the collet 2o downward. 3o is a circuit board, on which leads 31, which serve as bonding parts, are formed.
32は前記基板30を任意の位置に位置決めする位置決
め装置であり、基板30と位置決め装置32は基板ガイ
ド33によって固定されている。34及び35はそれぞ
れ載置台上の半導体チップ16と基板3oの位置検出を
行なう位置検出装置である。32 is a positioning device that positions the substrate 30 at an arbitrary position, and the substrate 30 and the positioning device 32 are fixed by a substrate guide 33. Reference numerals 34 and 35 indicate position detection devices for detecting the positions of the semiconductor chip 16 and the substrate 3o on the mounting table, respectively.
以上のように構成されたチップボンディング装置につい
て、以下その動作を説明する。The operation of the chip bonding apparatus configured as described above will be described below.
粘着性フィルムシート1了に半導体チップ16の裏面を
保持し、ウェハーに形成された回路パターンを各素子毎
に分離、エキスバンドした状態で配置され、位置決め装
置19によって、吸着コレット2oの中心線上に半導体
チップ16の中心が位置するように位置決めされる。次
に移送アーム27は軌跡28の如く下降し、コレット2
0先端と半導体チップ16とが接触した状態で真空穴2
を真空引きする。吸着を確認すると移送アーム27は軌
跡28の通9半導体チップ16を移送し、載置台22上
に半導体チップ16を載置した状態で吸着コレラ)20
の真空を解除する。真空を解除した移送アーム2アは第
1図の位置まで復帰する。The back side of the semiconductor chip 16 is held on the adhesive film sheet 1, and the circuit pattern formed on the wafer is separated and expanded into each element, and the positioning device 19 positions the semiconductor chip 16 on the center line of the suction collet 2o. It is positioned so that the center of the semiconductor chip 16 is located. Next, the transfer arm 27 descends as shown in the trajectory 28, and the collet 2
0 and the semiconductor chip 16 are in contact with each other in the vacuum hole 2.
Vacuum. When the suction is confirmed, the transfer arm 27 transfers the semiconductor chip 16 along a trajectory 28, and with the semiconductor chip 16 placed on the mounting table 22, the adsorption cholera) 20
release the vacuum. After releasing the vacuum, the transfer arm 2a returns to the position shown in FIG.
載置台22上の半導体チップ1θの裏面を真空穴24を
介して真空引きし載置台22上で半導体チップ16を保
持する。載置台22に埋設された加熱手段(図示せず)
によって半導体チップ1eは加熱された状態となる。載
置台22上の半導体チップ16の位置検出を位置検出装
置34によって行ない、基準位置との位置ズレ量を位置
決め装置26によって補正する。一方、基板3oの位置
検出は位置検出装置35にて行ない、位置検出装置35
と基板3Qの位置ズレを検出し、さらに位置検出装置3
4及び35のあらかじめ定められた距離Bを補正して第
2図の如く載置台22上の半導体チップ16と基板が対
向する状態に位置合せされる。対向した状態で載置台は
矢印Aの方向に上昇し、第3図の如く基板30のリード
部分31と半導体チップ16のパッド部分16Aを接合
する。The back surface of the semiconductor chip 1θ on the mounting table 22 is evacuated through the vacuum hole 24, and the semiconductor chip 16 is held on the mounting table 22. Heating means (not shown) buried in the mounting table 22
As a result, the semiconductor chip 1e is in a heated state. The position of the semiconductor chip 16 on the mounting table 22 is detected by the position detection device 34, and the amount of positional deviation from the reference position is corrected by the positioning device 26. On the other hand, the position of the substrate 3o is detected by the position detection device 35.
Detects the positional deviation of the board 3Q and the position detection device 3
By correcting the predetermined distance B of 4 and 35, the semiconductor chip 16 on the mounting table 22 and the substrate are aligned so as to face each other as shown in FIG. The mounting table rises in the direction of arrow A in the opposed state, and joins the lead portion 31 of the substrate 30 and the pad portion 16A of the semiconductor chip 16 as shown in FIG.
この時の加圧力はチップサイズ、パッド数により異なる
が10047’〜50o1程度であり、加熱温度は15
0’(:〜2o○℃である。以上の動作で1工程を完了
し接続を終了する。The pressing force at this time varies depending on the chip size and the number of pads, but is about 10047' to 50o1, and the heating temperature is 15
0' (: ~2o○C.) With the above operation, one process is completed and the connection is terminated.
以上のように本実施例によれば、基板とウェハー状に配
置された半導体チップを対向して配設することによって
、半導体チップをトレイに詰め替える必要がないためト
レイ詰め替えの工程が不要となシ、又詰め替え時に発生
する不良(ワレ、欠け、キズ等)を防ぐことが可能とな
る。基板と半導体チップを各々の位置検出装置で検出補
正するため載置台では従来行っていた外周の位置規正ツ
メが不用となり、外周規正時に発生する不良を防止する
ことが可能となるCさらに前記検出装置によって半導体
チップと基板リード部を高精度に位置合せ、接続するこ
とが可能となる。又ヒーターと埋め込んだ載置台が直接
ボンディングツールとなるため、半導体チップの加熱温
度を安定してコントロールすることが可能となる。As described above, according to this embodiment, by arranging the substrate and the semiconductor chips arranged in the form of a wafer so as to face each other, there is no need to repack the semiconductor chips into the tray, thereby eliminating the need for the step of refilling the tray. Also, it is possible to prevent defects (cracks, chips, scratches, etc.) that occur during refilling. Since the position of the substrate and the semiconductor chip is detected and corrected by the respective position detection devices, the mounting table does not require the conventional position adjustment claws on the outer periphery, making it possible to prevent defects that occur when adjusting the outer periphery. This makes it possible to align and connect the semiconductor chip and the substrate lead portion with high precision. Furthermore, since the heater and the embedded mounting table serve as direct bonding tools, it is possible to stably control the heating temperature of the semiconductor chip.
なお、上記実施例において、接続手段としてヒーターを
用いたが、超音波振動子又は両者を併用してもよい。又
半導体チップを回路形成面を上向゛きにしてトレイに整
列配置にも対応可能である。In the above embodiments, a heater was used as the connection means, but an ultrasonic transducer or both may be used in combination. It is also possible to arrange the semiconductor chips in a row on a tray with the circuit forming surface facing upward.
発明の効果
以上のように本発明は、半導体チップの回路形成面と基
板を対向するように配置し、半導体チップと基板の各々
の位置検出装置を設け、かつ位置ズレ量を補正する位置
決め装置を設けることにより、従来の工程に比べてトレ
イへの詰め替え工程が不要となり、その工程に関係する
不良を防止することが可能となシ、さらに半導体チップ
と基板の位置検出2位置合せを各々行なうため、高精度
の位置合せ、接続をすることが可能となる。又載置台を
直接ボンディングツールとするため、加熱、超音波振動
等の接続手段を容易に付加することができる。Effects of the Invention As described above, the present invention arranges a circuit forming surface of a semiconductor chip and a substrate so as to face each other, provides a position detection device for each of the semiconductor chip and the substrate, and includes a positioning device for correcting the amount of positional deviation. By providing this, the process of refilling the tray is not required compared to the conventional process, and it is possible to prevent defects related to that process.Furthermore, it is possible to detect the position of the semiconductor chip and the board. , it becomes possible to perform highly accurate alignment and connection. Furthermore, since the mounting table is directly used as a bonding tool, connection means such as heating and ultrasonic vibration can be easily added.
同装置の位置合せ後の状態を示す正面図、第3図はリー
ド部と半導体チップを接続した状態を示す要部正面図、
第4図は従来例の構成を示す一部断面正面図である。
16・・・・・・半導体チップ、2o・・・・・・吸着
コレット、22・・・・・・載置台、3o・・・・・・
基板、34.35・・・・・・位置検出装置、26.3
2・・・・・・位置決め装置。
代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名34
、35−−− in 、ta’出11第3図
第4図
イーーー+蝉イネ騰9フ゛
2−−Ll、イ
q−−一基林
t3−−− y M規正官A front view showing the state of the device after alignment; FIG. 3 is a front view of main parts showing a state where the lead part and the semiconductor chip are connected;
FIG. 4 is a partially sectional front view showing the configuration of a conventional example. 16... Semiconductor chip, 2o... Adsorption collet, 22... Placement table, 3o...
Board, 34.35...Position detection device, 26.3
2...Positioning device. Name of agent: Patent attorney Toshio Nakao and 1 other person34
, 35--in, ta'out 11 Fig. 3 Fig. 4 E-+ Cicada rising 9 ph 2--Ll, Iq--Ikibayashi t3--- y M regulation officer
Claims (1)
段と、移送された半導体チップを載置する載置台と、こ
の載置台上の半導体チップの位置検出を行なう第1の位
置検出装置と、前記載置台上の半導体チップと対向する
ように配置された回路基板の位置検出を行なう第2の位
置検出装置と、前記載置台及び回路基板を各々位置決め
する第1及び第2の位置決め装置と、位置合せ後の前記
半導体チップ及び回路基板を接続する接続手段とを備え
たチップボンディング装置。a transfer means for separating and transferring semiconductor chips arranged in a planar manner; a mounting table for placing the transferred semiconductor chips; a first position detection device for detecting the position of the semiconductor chips on the mounting table; a second position detection device that detects the position of a circuit board placed to face the semiconductor chip on the writing table; first and second positioning devices that respectively position the placement table and the circuit board; A chip bonding apparatus comprising a connecting means for connecting the semiconductor chip and the circuit board after bonding.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60165132A JPS6226830A (en) | 1985-07-26 | 1985-07-26 | Chip bonding equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60165132A JPS6226830A (en) | 1985-07-26 | 1985-07-26 | Chip bonding equipment |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6226830A true JPS6226830A (en) | 1987-02-04 |
Family
ID=15806506
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60165132A Pending JPS6226830A (en) | 1985-07-26 | 1985-07-26 | Chip bonding equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6226830A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH027535A (en) * | 1988-06-27 | 1990-01-11 | Nec Corp | Die bonding device |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59186333A (en) * | 1983-04-07 | 1984-10-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Bonding apparatus |
-
1985
- 1985-07-26 JP JP60165132A patent/JPS6226830A/en active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59186333A (en) * | 1983-04-07 | 1984-10-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Bonding apparatus |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH027535A (en) * | 1988-06-27 | 1990-01-11 | Nec Corp | Die bonding device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4607779A (en) | Non-impact thermocompression gang bonding method | |
| US5427301A (en) | Ultrasonic flip chip process and apparatus | |
| JP3778941B2 (en) | Connected multiple microelectronic devices with lead deformation | |
| JPH04230050A (en) | Apparatus and method for passive alignment, fixing method of object, method and apparatus for alignment of object, and batch manufacturing method | |
| CN101361165A (en) | spin chip attach | |
| JP2010041001A (en) | Bonding apparatus, correcting-quantity calculating method thereof, and bonding method | |
| CN119446996A (en) | Electronic component bonding device | |
| TWI810522B (en) | Wafer bonding apparatus, peeling jig, and manufacturing method of semiconductor device | |
| JPS6226830A (en) | Chip bonding equipment | |
| JPH05208390A (en) | Suction nozzle | |
| JPS6245146A (en) | Jig and alignment supply device having this jig | |
| CN103258768B (en) | Correction target jig and semiconductor-fabricating device | |
| JPS6224635A (en) | Flip chip bonder | |
| US5661090A (en) | Process and apparatus for manufacturing ceramic semiconductor packages | |
| US6168971B1 (en) | Method of assembling thin film jumper connectors to a substrate | |
| US20020125303A1 (en) | Bonding method and apparatus | |
| JPS59186334A (en) | Bonding apparatus | |
| JPH08139096A (en) | Electronic component, electronic component mounting method, and electronic component mounting apparatus | |
| TW560235B (en) | Retractable vacuum tube for positioning electronic components on printed circuit boards | |
| JPS59186333A (en) | Bonding apparatus | |
| JP2003218138A (en) | Hot bonding method, bonding device, and calibration method in hot bonding | |
| JPH08148529A (en) | IC chip mounting apparatus and mounting method | |
| JPS61289638A (en) | Bonding unit | |
| JPS61182239A (en) | Bonding device for semiconductor substrate | |
| JP2003086612A (en) | Die bonding method |