JPS6227520B2 - - Google Patents
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- JPS6227520B2 JPS6227520B2 JP53082671A JP8267178A JPS6227520B2 JP S6227520 B2 JPS6227520 B2 JP S6227520B2 JP 53082671 A JP53082671 A JP 53082671A JP 8267178 A JP8267178 A JP 8267178A JP S6227520 B2 JPS6227520 B2 JP S6227520B2
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- JP
- Japan
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- tube voltage
- imaging
- ray
- setting
- fluoroscopy
- Prior art date
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- X-Ray Techniques (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、Ｘ線テレビジヨン（以下「テレビジ
ヨン」は「TV」と略称する）システムなどの如
きＸ線透視撮影装置における自動撮影条件制御に
関するものである。
ヨン」は「TV」と略称する）システムなどの如
きＸ線透視撮影装置における自動撮影条件制御に
関するものである。
Ｘ線TV寝台システムなどにおける撮影管電圧
自動設定方式として、透視管電圧をある変換比を
もつて変換して、撮影管電圧を自動的に設定する
ものがある。
自動設定方式として、透視管電圧をある変換比を
もつて変換して、撮影管電圧を自動的に設定する
ものがある。
上記方式の原理ブロツク図を第１図に示す。
第１図において、１−１はＸ線発生源としての
Ｘ線管、１−２はＸ線管１−１の放射口部に設け
られたコリメータ、１−３は寝台天板、１−４は
被写体としての被検者、１−５はステイル撮影に
用いるスポツトシヨツト装置、１−６はイメージ
インテンシフアイア（以下「II」と称する）、１
−７はII１−６の出力画像面にあらわれる画像を
導く光学系、１−８は光学系１−７内に設けられ
た光検出器としてのフオトマルチプライヤ（以下
「フオトマル」と略称する）、１−９は光学系１−
７で導かれた画像を撮像するTVカメラヘツド、
１−１０はTVカメラヘツド１−９に接続された
TVカメラ制御器、１−１１はTVカメラヘツド１
−９およびTVカメラ制御器１−１０によつて得
られるTV画像を表示するTVモニタ、１−１２は
フオトマル１−８の出力で動作する自動露出制御
器、１−１３は自動露出制御器１−１２の出力に
応じてＸ線管１−１の曝射制御を行なうＸ線制御
器である。自動露出制御器１−１２はスポツトシ
ヨツト装置１−５内に装填したＸ線フイルムによ
るステイル撮影時用のフオトタイマ制御部１−１
２ａおよびTVモニタ１−１１によるＸ線透視時
用の自動輝度制御部１−１２ｂで構成されてい
る。また、Ｘ線制御器１−１３は前記フオトタイ
マ制御部１−１２ａで制御されるフオトタイマ１
−１３ａ、前記自動輝度制御部１−１２ｂで制御
される透視管電圧制御１−１３ｂおよび透視管電
圧制御部１−１３ｂの設定値に応じて管電圧が設
定される撮影管電圧制御部１−１３ｃで構成され
ている。
Ｘ線管、１−２はＸ線管１−１の放射口部に設け
られたコリメータ、１−３は寝台天板、１−４は
被写体としての被検者、１−５はステイル撮影に
用いるスポツトシヨツト装置、１−６はイメージ
インテンシフアイア（以下「II」と称する）、１
−７はII１−６の出力画像面にあらわれる画像を
導く光学系、１−８は光学系１−７内に設けられ
た光検出器としてのフオトマルチプライヤ（以下
「フオトマル」と略称する）、１−９は光学系１−
７で導かれた画像を撮像するTVカメラヘツド、
１−１０はTVカメラヘツド１−９に接続された
TVカメラ制御器、１−１１はTVカメラヘツド１
−９およびTVカメラ制御器１−１０によつて得
られるTV画像を表示するTVモニタ、１−１２は
フオトマル１−８の出力で動作する自動露出制御
器、１−１３は自動露出制御器１−１２の出力に
応じてＸ線管１−１の曝射制御を行なうＸ線制御
器である。自動露出制御器１−１２はスポツトシ
ヨツト装置１−５内に装填したＸ線フイルムによ
るステイル撮影時用のフオトタイマ制御部１−１
２ａおよびTVモニタ１−１１によるＸ線透視時
用の自動輝度制御部１−１２ｂで構成されてい
る。また、Ｘ線制御器１−１３は前記フオトタイ
マ制御部１−１２ａで制御されるフオトタイマ１
−１３ａ、前記自動輝度制御部１−１２ｂで制御
される透視管電圧制御１−１３ｂおよび透視管電
圧制御部１−１３ｂの設定値に応じて管電圧が設
定される撮影管電圧制御部１−１３ｃで構成され
ている。
このような構成で、透式時にTVモニタ１−１
１に対しての自動輝度制御部１−１２ｂを動作さ
せると、被写体１−４に対する透式管電圧制御部
１−１３ｂが自動的に設定され、常にTVモニタ
１−１１の表示像の輝度が一定に保たれる。この
時に設定された透視管電圧を被写体の変化条件を
抽出する因子とすれば、それに対応して設定され
る撮影管電圧は、常に被写体の変化に対し適正値
となり、この状態でフオトタイマ１−１３ａによ
り撮影時間を制御すれば、このシステムは完全自
動露出制御となる。自動露出制御器１−１２の検
出部は光学系内のフオトマル１−８で、その検出
視野はII１−６の出力像のある部分（任意に設定
された面積）を採光している。前記のフオトマル
１−８の測光視野は、通常II１−６の出力像の中
心部に位置する一定の有効面積で、その面積内の
平均輝度による制御が行なわれる。ところで臨床
的にはコントラストを増すためのバリウムの如き
陽性造影剤または空気の如き陰性造影剤などを用
いる場合があるが例えばバリウムなどの陽性造影
剤がフオトマルの測光視野を被覆すると、フオト
マルの実測光面積が減少し、同一被写体厚であつ
ても出力が減少する。この結果、自動露出制御器
１−１２は線量を増す様に処理する。このように
透視管電圧制御を行なうとすると、フオトマル１
−８検出視野内へのバリウムなどの被覆によつ
て、同一被写体位置でも、透視管電圧が大きく変
化する。従つて、透視管電圧からある変換比で撮
影管電圧を設定する上記システムでは、透視管電
圧制御と同様に、同一被写体位置においても、バ
リウムなどの影響によつて制御された撮影管電圧
はまちまちとなり、それによつて得られるＸ線フ
イルム像は、コントラストが変化し、診断上不適
正な、不能率なものとなるおそれがある。また装
置にとつてはもしバリウムなどの被覆率が高くな
ると、それによつて撮影管電圧も高くなり、装置
の負荷特性上好ましくない状態になる。しかも、
過負荷防止回路が備えられているシステムでは、
過負荷と判定されＸ線曝射ができなくなることか
ら手動による条件設定となり、操作の面で極めて
不能率となる。
１に対しての自動輝度制御部１−１２ｂを動作さ
せると、被写体１−４に対する透式管電圧制御部
１−１３ｂが自動的に設定され、常にTVモニタ
１−１１の表示像の輝度が一定に保たれる。この
時に設定された透視管電圧を被写体の変化条件を
抽出する因子とすれば、それに対応して設定され
る撮影管電圧は、常に被写体の変化に対し適正値
となり、この状態でフオトタイマ１−１３ａによ
り撮影時間を制御すれば、このシステムは完全自
動露出制御となる。自動露出制御器１−１２の検
出部は光学系内のフオトマル１−８で、その検出
視野はII１−６の出力像のある部分（任意に設定
された面積）を採光している。前記のフオトマル
１−８の測光視野は、通常II１−６の出力像の中
心部に位置する一定の有効面積で、その面積内の
平均輝度による制御が行なわれる。ところで臨床
的にはコントラストを増すためのバリウムの如き
陽性造影剤または空気の如き陰性造影剤などを用
いる場合があるが例えばバリウムなどの陽性造影
剤がフオトマルの測光視野を被覆すると、フオト
マルの実測光面積が減少し、同一被写体厚であつ
ても出力が減少する。この結果、自動露出制御器
１−１２は線量を増す様に処理する。このように
透視管電圧制御を行なうとすると、フオトマル１
−８検出視野内へのバリウムなどの被覆によつ
て、同一被写体位置でも、透視管電圧が大きく変
化する。従つて、透視管電圧からある変換比で撮
影管電圧を設定する上記システムでは、透視管電
圧制御と同様に、同一被写体位置においても、バ
リウムなどの影響によつて制御された撮影管電圧
はまちまちとなり、それによつて得られるＸ線フ
イルム像は、コントラストが変化し、診断上不適
正な、不能率なものとなるおそれがある。また装
置にとつてはもしバリウムなどの被覆率が高くな
ると、それによつて撮影管電圧も高くなり、装置
の負荷特性上好ましくない状態になる。しかも、
過負荷防止回路が備えられているシステムでは、
過負荷と判定されＸ線曝射ができなくなることか
ら手動による条件設定となり、操作の面で極めて
不能率となる。
本発明は、このような事情に基づいてなされた
もので、体厚変化と造影剤の被覆等による撮影管
電圧の設定値の大きな変動を制限し、得られる画
質の低下を防止して、診断精度、能率の向上並び
に操作性の向上を可能とするＸ線透視撮影装置を
提供することを目的としている。
もので、体厚変化と造影剤の被覆等による撮影管
電圧の設定値の大きな変動を制限し、得られる画
質の低下を防止して、診断精度、能率の向上並び
に操作性の向上を可能とするＸ線透視撮影装置を
提供することを目的としている。
すなわち、本発明の特徴は、Ｘ線透視撮影装置
において、Ｘ線透視時のＸ線管電圧を自動制御す
る透視管電圧制御系と、この透視管電圧制御系制
御出力に基づいて撮影管電圧の設定基準値を出力
する第一の撮影管電圧設定系と、被写体の体厚を
計測する体厚計測手段と、この体厚計測手段の計
測値と標準体厚との関係に基づいて撮影管電圧の
設定基準値を求める第二の撮影管電圧設定手段
と、この第二の撮影管電圧設定手段で得られた設
定基準値と前記第一の撮影管電圧設定系による設
定基準値とを比較し、撮影管電圧が小となる方の
設定基準値を用いて撮影管電圧を制御する手段と
を具備することにある。
において、Ｘ線透視時のＸ線管電圧を自動制御す
る透視管電圧制御系と、この透視管電圧制御系制
御出力に基づいて撮影管電圧の設定基準値を出力
する第一の撮影管電圧設定系と、被写体の体厚を
計測する体厚計測手段と、この体厚計測手段の計
測値と標準体厚との関係に基づいて撮影管電圧の
設定基準値を求める第二の撮影管電圧設定手段
と、この第二の撮影管電圧設定手段で得られた設
定基準値と前記第一の撮影管電圧設定系による設
定基準値とを比較し、撮影管電圧が小となる方の
設定基準値を用いて撮影管電圧を制御する手段と
を具備することにある。
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明す
る。
る。
まず、本発明の一実施例の原理について説明す
る。
る。
被写体厚ｘの変化量を検出して、その検出量を
Δｘ、標準体厚をx0とし、フイルム面の透過線量
（自動露出制御の検出部入射線量）をＩ、入射線
量（被射体への）をI0、被写体厚変化Δｘに伴な
う入射線量の増加分をΔＩとすれば、 Δｘ＝０ Ie〓x0＝I0 ……(1) Δｘ≠０ Ie〓(x0+〓x)＝I0＋ΔＩ ……(2) より （但し、KV0は標準体厚の管電圧、ΔKVは管電圧
の変化量、ｅは自然数、μは放射線の吸収係数、
αはポテンシヨメータの定数、ｎはＸ線管電圧を
Ｘ線の入射線量に換算するための定数である） が成立するから、得られる入射線量の増加分ΔＩ
に対応するΔKVを撮影管電圧自動設定の際の最
大変化範囲とし、この制限内において、透視管電
圧から撮影管電圧への変換を行なう。この変換を
経て設定された管電圧が、もし上記制限幅を越え
る場合にはこの制限電圧に設定する。この様にし
て、体厚変化と造影剤等の被覆による撮影管電圧
設定値の大きな変動を制限し、被写体厚変化に伴
つて得られた画質の低下を防止する。
Δｘ、標準体厚をx0とし、フイルム面の透過線量
（自動露出制御の検出部入射線量）をＩ、入射線
量（被射体への）をI0、被写体厚変化Δｘに伴な
う入射線量の増加分をΔＩとすれば、 Δｘ＝０ Ie〓x0＝I0 ……(1) Δｘ≠０ Ie〓(x0+〓x)＝I0＋ΔＩ ……(2) より （但し、KV0は標準体厚の管電圧、ΔKVは管電圧
の変化量、ｅは自然数、μは放射線の吸収係数、
αはポテンシヨメータの定数、ｎはＸ線管電圧を
Ｘ線の入射線量に換算するための定数である） が成立するから、得られる入射線量の増加分ΔＩ
に対応するΔKVを撮影管電圧自動設定の際の最
大変化範囲とし、この制限内において、透視管電
圧から撮影管電圧への変換を行なう。この変換を
経て設定された管電圧が、もし上記制限幅を越え
る場合にはこの制限電圧に設定する。この様にし
て、体厚変化と造影剤等の被覆による撮影管電圧
設定値の大きな変動を制限し、被写体厚変化に伴
つて得られた画質の低下を防止する。
このような原理に基づく具体的な実施例の構成
を第２図に示す。
を第２図に示す。
第２図は撮影管電圧制御部の構成を詳細に示す
もので同図において、２−１は透視管電圧を撮影
管電圧に変換する透視−撮影管電圧変換回路、２
−２は被写体の体厚の検出およびそれに応じた処
理を行なう検出処理回路、２−３は撮影管電圧を
制御する撮影管電圧制御回路である。そして、
Trはトランス、Ｄは整流器、A1〜A6は演算増幅
器などを用いたアナログ演算回路、SW1，SW2は
アナログスイツチ、IN1，IN2はインバータ、R1
〜R10は抵抗、VR1〜VR4は可変抵抗、Vccは電源
である。
もので同図において、２−１は透視管電圧を撮影
管電圧に変換する透視−撮影管電圧変換回路、２
−２は被写体の体厚の検出およびそれに応じた処
理を行なう検出処理回路、２−３は撮影管電圧を
制御する撮影管電圧制御回路である。そして、
Trはトランス、Ｄは整流器、A1〜A6は演算増幅
器などを用いたアナログ演算回路、SW1，SW2は
アナログスイツチ、IN1，IN2はインバータ、R1
〜R10は抵抗、VR1〜VR4は可変抵抗、Vccは電源
である。
次に、このような構成における動作について説
明する。
明する。
第１図に示したようなシステムで透視診断を行
うとTVモニタ用自動輝度制御部１−１２ｂが動
作し、被写体１−４の条件に最適な透視管電圧が
自動的に制御される。この時の透視管電圧制御部
１−１３ｂの出力をトランスTrと整流器Ｄによ
りリニアICの電圧レベルに合つたアナログ信号
に処理する。このアナログ信号レベルをｙ＝ｆ
（ｘ）（ｘ：透視管電圧、ｙ：撮影管電圧）で表わ
されるある対応関係をもたせて変換処理するので
あるが、第２図に示す実施例では、変換回路２−
１内でｙ＝ax＋ｂと置く。この変換回路２−１
で得られた出力OUT−１をそのまま撮影管電圧
制御回路２−３に入力として所望とする撮影管電
圧を得るための信号であるアクチユアル信号
Eactとともに与えて処理したのでは前述した従
来の場合と同様の問題が出る。
うとTVモニタ用自動輝度制御部１−１２ｂが動
作し、被写体１−４の条件に最適な透視管電圧が
自動的に制御される。この時の透視管電圧制御部
１−１３ｂの出力をトランスTrと整流器Ｄによ
りリニアICの電圧レベルに合つたアナログ信号
に処理する。このアナログ信号レベルをｙ＝ｆ
（ｘ）（ｘ：透視管電圧、ｙ：撮影管電圧）で表わ
されるある対応関係をもたせて変換処理するので
あるが、第２図に示す実施例では、変換回路２−
１内でｙ＝ax＋ｂと置く。この変換回路２−１
で得られた出力OUT−１をそのまま撮影管電圧
制御回路２−３に入力として所望とする撮影管電
圧を得るための信号であるアクチユアル信号
Eactとともに与えて処理したのでは前述した従
来の場合と同様の問題が出る。
第２図に示す検出処理回路２−２の可変抵抗
VR4は、第１図のシステムのスポツトシヨツト装
置１−５等に設けられた被写体厚を検出するため
のポテンシヨメータであり、体厚ｘに対応する信
号をVxとし、これを検出処理回路２−２内で増
幅し、対数変換し、さらに指数変換する。すなわ
ち I0＝Ie〓x0およびI0＝α（KV0）nより （KV0）n＝α-1Ie〓x0 ……(4) が得られる。そこでx0＋Δｘに対し （KV0＋ΔKV）n＝α-1Ie〓(x0+〓x) ……(5) となり、 （KV0＋ΔKV）n（KV0＋ｎΔKV） ……(6) より、Δｘに対する管電圧の変化幅は ΔKV＝１／ｎ〔α-1Ie〓(x0+〓x)−KV0〕……(7) となる。ここで、標準体厚x0と、その時の設定管
電圧KV0の対応関係を求めておけば被写体厚（x0
＋Δｘ）における変化幅に対する管電圧変化量Δ
KV0は、その厚み検出値から容易に求められる。
つまりVR4より得られる被写体の体厚検出値（x0
＋Δｘ）→増幅器A3による増幅出力μ（x0＋Δ
ｘ）→指数変換＋減算増幅器A4による指数変換
および減算増幅した出力１／ｎ〔α-1Ie〓(x 0 +〓x)− KV0〕としてΔｘに対応するΔKV変化量が得られ
る。この管電圧変化幅ΔKVに標準体厚x0に対す
る基準設定電圧KV0を加算した値を検出処理回路
２−２の出力OUT−２とし、これを最大設定管
電圧ＥTH（＞０）とする。（実際は若干余裕をも
たせる。）このＥTH（OUT−２）と先に導いた出
力OUT−１すなわち撮影管電圧設定信号Eset
（＜０）を比較器A2にかける。ここでＥTHを正、
Ｅsetを負とするのは比較器A2の入力側にある抵
抗R4，R5の回路で両者の差をとることが出来る
ようにするためである。その結果、OUT−１の
絶対値レベルがOUT−２以下であれば、SW1を
オン（この時、スイツチSW2はオフ）状態にして
OUT−１の出力を撮影管電圧制御回路２−３の
設定入力信号として用い、逆にOUT−１の絶対
値レベルがOUT−２以上になればスイツチSW2
をオン（SW1はオフ）としてOUT−２の出力を
撮影管電圧制御回路２−３の設定入力信号として
用いる。このようにして、透視管電圧から得た設
定入力信号と測定体厚値から得た設定入力信号と
を比較し、前者が後者より小なるときは前者を、
また、その逆であるときは後者を設定入力信号と
して用いるよう撮影管電圧制御回路２−３の設定
入力信号を選択切換えする。これによつて、透視
管電圧値から撮影管電圧設定の際の体厚に基づい
て求まる制限値を、撮影管電圧の限度設定値とす
る。
VR4は、第１図のシステムのスポツトシヨツト装
置１−５等に設けられた被写体厚を検出するため
のポテンシヨメータであり、体厚ｘに対応する信
号をVxとし、これを検出処理回路２−２内で増
幅し、対数変換し、さらに指数変換する。すなわ
ち I0＝Ie〓x0およびI0＝α（KV0）nより （KV0）n＝α-1Ie〓x0 ……(4) が得られる。そこでx0＋Δｘに対し （KV0＋ΔKV）n＝α-1Ie〓(x0+〓x) ……(5) となり、 （KV0＋ΔKV）n（KV0＋ｎΔKV） ……(6) より、Δｘに対する管電圧の変化幅は ΔKV＝１／ｎ〔α-1Ie〓(x0+〓x)−KV0〕……(7) となる。ここで、標準体厚x0と、その時の設定管
電圧KV0の対応関係を求めておけば被写体厚（x0
＋Δｘ）における変化幅に対する管電圧変化量Δ
KV0は、その厚み検出値から容易に求められる。
つまりVR4より得られる被写体の体厚検出値（x0
＋Δｘ）→増幅器A3による増幅出力μ（x0＋Δ
ｘ）→指数変換＋減算増幅器A4による指数変換
および減算増幅した出力１／ｎ〔α-1Ie〓(x 0 +〓x)− KV0〕としてΔｘに対応するΔKV変化量が得られ
る。この管電圧変化幅ΔKVに標準体厚x0に対す
る基準設定電圧KV0を加算した値を検出処理回路
２−２の出力OUT−２とし、これを最大設定管
電圧ＥTH（＞０）とする。（実際は若干余裕をも
たせる。）このＥTH（OUT−２）と先に導いた出
力OUT−１すなわち撮影管電圧設定信号Eset
（＜０）を比較器A2にかける。ここでＥTHを正、
Ｅsetを負とするのは比較器A2の入力側にある抵
抗R4，R5の回路で両者の差をとることが出来る
ようにするためである。その結果、OUT−１の
絶対値レベルがOUT−２以下であれば、SW1を
オン（この時、スイツチSW2はオフ）状態にして
OUT−１の出力を撮影管電圧制御回路２−３の
設定入力信号として用い、逆にOUT−１の絶対
値レベルがOUT−２以上になればスイツチSW2
をオン（SW1はオフ）としてOUT−２の出力を
撮影管電圧制御回路２−３の設定入力信号として
用いる。このようにして、透視管電圧から得た設
定入力信号と測定体厚値から得た設定入力信号と
を比較し、前者が後者より小なるときは前者を、
また、その逆であるときは後者を設定入力信号と
して用いるよう撮影管電圧制御回路２−３の設定
入力信号を選択切換えする。これによつて、透視
管電圧値から撮影管電圧設定の際の体厚に基づい
て求まる制限値を、撮影管電圧の限度設定値とす
る。
このようにすれば、体厚変化がない状態で造影
剤の被覆などに基づく設定撮影管電圧の大きな変
化が防止出来、得られる撮影像のコントラストも
適正なものとなる。
剤の被覆などに基づく設定撮影管電圧の大きな変
化が防止出来、得られる撮影像のコントラストも
適正なものとなる。
なお、前述したＥSET、ＥTH、Ｅactなどの信号
は、管電圧に対応するアナログ信号である。
は、管電圧に対応するアナログ信号である。
以上、詳述したように本発明によれば、Ｘ線透
視撮影装置において、Ｘ線透視時のＸ線管電圧を
自動制御する透視管電圧制御系と、この透視管電
圧制御系制御出力に基づいて撮影管電圧の設定基
準値を出力する第一の撮影管電圧設定系と、被写
体の体厚を計測する体厚計測手段と、この体厚計
測手段の計測値と標準体厚との関係に基づいて撮
影管電圧の設定基準値を求める第二の撮影管電圧
設定手段と、この第二の撮影管電圧設定手段で得
られた設定基準値と前記第一の撮影管電圧設定系
による設定基準値とを比較し、撮影管電圧が小と
なる方の設定基準値を用いて撮影管電圧を制御す
る手段とを具備した構成とし、透視管電圧から得
た第一の撮影管電圧設定系の基準値と測定体厚値
及び標準体厚との関係をもとに得た第二の撮影管
電圧設定手段の出力する基準値とを比較し、前者
が後者より小なるときは前者を、また、その逆で
あるときは後者を撮影管電圧制御系の設定基準信
号として切換えて用いるようにし、第二の撮影管
電圧設定系の出力する基準値を上限に、この上限
値を超えない範囲で第一の撮影管電圧設定手段の
出力する基準値を基準に撮影管電圧制御を行なう
ようにすることによつて、造影剤の被覆等による
撮影管電圧の設定値の大きな変動を制限し、得ら
れる画質の低下を防止でき、診断精度、能率の向
上並びに操作性の向上を可能としたＸ線透視撮影
装置を提供することができる。
視撮影装置において、Ｘ線透視時のＸ線管電圧を
自動制御する透視管電圧制御系と、この透視管電
圧制御系制御出力に基づいて撮影管電圧の設定基
準値を出力する第一の撮影管電圧設定系と、被写
体の体厚を計測する体厚計測手段と、この体厚計
測手段の計測値と標準体厚との関係に基づいて撮
影管電圧の設定基準値を求める第二の撮影管電圧
設定手段と、この第二の撮影管電圧設定手段で得
られた設定基準値と前記第一の撮影管電圧設定系
による設定基準値とを比較し、撮影管電圧が小と
なる方の設定基準値を用いて撮影管電圧を制御す
る手段とを具備した構成とし、透視管電圧から得
た第一の撮影管電圧設定系の基準値と測定体厚値
及び標準体厚との関係をもとに得た第二の撮影管
電圧設定手段の出力する基準値とを比較し、前者
が後者より小なるときは前者を、また、その逆で
あるときは後者を撮影管電圧制御系の設定基準信
号として切換えて用いるようにし、第二の撮影管
電圧設定系の出力する基準値を上限に、この上限
値を超えない範囲で第一の撮影管電圧設定手段の
出力する基準値を基準に撮影管電圧制御を行なう
ようにすることによつて、造影剤の被覆等による
撮影管電圧の設定値の大きな変動を制限し、得ら
れる画質の低下を防止でき、診断精度、能率の向
上並びに操作性の向上を可能としたＸ線透視撮影
装置を提供することができる。
なお、本発明は上記し且つ図面に示す実施例に
のみ限定されず、その要旨を変更しない範囲内で
種々変形して実施できるものである。
のみ限定されず、その要旨を変更しない範囲内で
種々変形して実施できるものである。
例えば、上記実施例においては、演算増幅器な
どを用いたアナログ演算処理系による構成とした
が、マイクロコンピユータなどを利用したデイジ
タル演算系により上記同様の処理を行なうように
構成してもよい。
どを用いたアナログ演算処理系による構成とした
が、マイクロコンピユータなどを利用したデイジ
タル演算系により上記同様の処理を行なうように
構成してもよい。
第１図は一般的なＸ線テレビジヨン寝台システ
ムの構成の一例を示す原理ブロツク図、第２図は
本発明の一実施例の要部構成を示す回路図であ
る。 ２−１……透視−撮影管電圧変換回路、２−２
……検出処理回路、２−３……撮影管電圧制御回
路、Tr……トランス、Ｄ……整流器、A1〜A6…
…アナログ演算回路、SW1，SW2……アナログス
イツチ、IN1，IN2……インバータ、R1〜R10……
抵抗、VR1〜VR4……可変抵抗。
ムの構成の一例を示す原理ブロツク図、第２図は
本発明の一実施例の要部構成を示す回路図であ
る。 ２−１……透視−撮影管電圧変換回路、２−２
……検出処理回路、２−３……撮影管電圧制御回
路、Tr……トランス、Ｄ……整流器、A1〜A6…
…アナログ演算回路、SW1，SW2……アナログス
イツチ、IN1，IN2……インバータ、R1〜R10……
抵抗、VR1〜VR4……可変抵抗。
Claims (1)
- １ Ｘ線透視撮影装置において、Ｘ線透視時のＸ
線管電圧を自動制御する透視管電圧制御系と、こ
の透視管電圧制御系制御出力に基づいて撮影管電
圧の設定基準値を出力する第一の撮影管電圧設定
系と、被写体の体厚を計測する体厚計測手段と、
この体厚計測手段の計測値と標準体厚との関係に
基づいて撮影管電圧の設定基準値を求める第二の
撮影管電圧設定手段と、この第二の撮影管電圧設
定手段で得られた設定基準値と前記第一の撮影管
電圧設定系による設定基準値とを比較し、撮影管
電圧が小となる方の設定基準値を用いて撮影管電
圧を制御する手段とを具備するＸ線透視撮影装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8267178A JPS5510723A (en) | 1978-07-07 | 1978-07-07 | Roentogenoscopy device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8267178A JPS5510723A (en) | 1978-07-07 | 1978-07-07 | Roentogenoscopy device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5510723A JPS5510723A (en) | 1980-01-25 |
| JPS6227520B2 true JPS6227520B2 (ja) | 1987-06-15 |
Family
ID=13780880
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8267178A Granted JPS5510723A (en) | 1978-07-07 | 1978-07-07 | Roentogenoscopy device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5510723A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0112799Y2 (ja) * | 1980-11-19 | 1989-04-13 | ||
| JPS6040404A (ja) * | 1983-08-12 | 1985-03-02 | Wakachiku Kensetsu Kk | 消波構築物の構築方法 |
| JPH0440645Y2 (ja) * | 1986-03-27 | 1992-09-24 | ||
| JPS6417910A (en) * | 1987-07-14 | 1989-01-20 | Toa Harbor Works Co Ltd | Upright wave dissipation levee |
-
1978
- 1978-07-07 JP JP8267178A patent/JPS5510723A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5510723A (en) | 1980-01-25 |
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