JPS6228358U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6228358U JPS6228358U JP11815185U JP11815185U JPS6228358U JP S6228358 U JPS6228358 U JP S6228358U JP 11815185 U JP11815185 U JP 11815185U JP 11815185 U JP11815185 U JP 11815185U JP S6228358 U JPS6228358 U JP S6228358U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass spectrometer
- analysis section
- ion source
- power supply
- ion
- Prior art date
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- Pending
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- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
第１図、第２図は本考案の一実施例を示す質量
分析装置の全体平面図である。 １……イオン源、２……イオン源、３……偏向
電極、４……偏向電極、５……電場、６……磁場
、７……検出器、８……ＭＭ電源、９……ＩＡ電
源、１０……イオンビーム。
分析装置の全体平面図である。 １……イオン源、２……イオン源、３……偏向
電極、４……偏向電極、５……電場、６……磁場
、７……検出器、８……ＭＭ電源、９……ＩＡ電
源、１０……イオンビーム。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 １ 試料導入系、イオン源、分析部及び検出器よ
りなる質量分析装置において、１つの分析部に対
し、それぞれ独立した複数個のイオン源を並列に
設けたことを特徴とする質量分析装置。 ２ 実用新案登録請求の範囲第１項において、イ
オン源と分析部の間にイオンビームの軌道を調整
するところの偏向電極を設けたことを特徴とする
質量分析装置。 ３ 実用新案登録請求の範囲第１項において、磁
場の掃引を制御するＭＭ電源からイオン源に電圧
を供給するところのＩＡ電源を連動させたことを
特徴とする質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11815185U JPS6228358U (ja) | 1985-08-02 | 1985-08-02 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11815185U JPS6228358U (ja) | 1985-08-02 | 1985-08-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6228358U true JPS6228358U (ja) | 1987-02-20 |
Family
ID=31004332
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11815185U Pending JPS6228358U (ja) | 1985-08-02 | 1985-08-02 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6228358U (ja) |
-
1985
- 1985-08-02 JP JP11815185U patent/JPS6228358U/ja active Pending
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