JPS6228655A - 絶縁劣化診断方法 - Google Patents
絶縁劣化診断方法Info
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- JPS6228655A JPS6228655A JP16870685A JP16870685A JPS6228655A JP S6228655 A JPS6228655 A JP S6228655A JP 16870685 A JP16870685 A JP 16870685A JP 16870685 A JP16870685 A JP 16870685A JP S6228655 A JPS6228655 A JP S6228655A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ｃ産業上の利用分野〕
本発明は電動機、変圧器１ケーブル等、電気機器、設備
一般に広く適用できる絶縁劣化の診断方法に関する。
一般に広く適用できる絶縁劣化の診断方法に関する。
電気機器、設備はその経年使用により絶縁特性が劣化し
ていく。従って定期的にこれを診断して、異字な劣化が
みられ、或いは許容限度を超える程に劣化が進展してい
る場合は、修理、交換を行う６従来の絶縁劣化の診断方
法としては誘電正接測定及び直流漏洩電流測定が挙げら
れる。前者は診断部分に高電圧の商用周波数電圧を印加
し、誘電体損失を測定する方法であり、また後者は直流
高電圧を印加して漏れ電流、成極指数等を求める方法で
ある。
ていく。従って定期的にこれを診断して、異字な劣化が
みられ、或いは許容限度を超える程に劣化が進展してい
る場合は、修理、交換を行う６従来の絶縁劣化の診断方
法としては誘電正接測定及び直流漏洩電流測定が挙げら
れる。前者は診断部分に高電圧の商用周波数電圧を印加
し、誘電体損失を測定する方法であり、また後者は直流
高電圧を印加して漏れ電流、成極指数等を求める方法で
ある。
以上の従来方法においては高電圧を印加するために作業
の安全性に問題がある。また安全に診断をするための準
備作業に長時間を要する。
の安全性に問題がある。また安全に診断をするための準
備作業に長時間を要する。
また固体絶縁物の場合はクランク、或いはトリーが発生
ずる。そうすると、この部分の絶縁耐力は弱く、ここで
部分放電が生じる。このような部分放電が生じると、絶
縁特性の測定に支障を来し正しい診断ができないことが
ある。
ずる。そうすると、この部分の絶縁耐力は弱く、ここで
部分放電が生じる。このような部分放電が生じると、絶
縁特性の測定に支障を来し正しい診断ができないことが
ある。
更に高電圧下での誘電正接測定、漏洩電流測定ともに吸
湿等の環境条件により測定値の変動を伴う。
湿等の環境条件により測定値の変動を伴う。
本発明は斯かる問題点を解決するためになされたもので
あり、診断対象に常時加わる電界の周波数（一般には商
用周波数）よりも高い周波数の電圧を印加することによ
り、印加電圧を低下させて診断を行なえるようになし、
安全性を高めると共に、クランク、トリーにおける部分
放電を防止して診断のための測定の精度を高め得る一方
、このような測定精度向上により静電容量を診断の要素
となし得る絶縁劣化診断方法を提供することを目的とす
る。
あり、診断対象に常時加わる電界の周波数（一般には商
用周波数）よりも高い周波数の電圧を印加することによ
り、印加電圧を低下させて診断を行なえるようになし、
安全性を高めると共に、クランク、トリーにおける部分
放電を防止して診断のための測定の精度を高め得る一方
、このような測定精度向上により静電容量を診断の要素
となし得る絶縁劣化診断方法を提供することを目的とす
る。
本発明に係る絶縁劣化診断方法は、絶縁物に電圧を印加
して、その絶縁特性の劣化を診断する方法において、該
絶縁物に常時加わる電界の周波数よりも高い周波数の電
圧を印加してその静電容量及び／又は誘電体損失を測定
することを特徴とする。
して、その絶縁特性の劣化を診断する方法において、該
絶縁物に常時加わる電界の周波数よりも高い周波数の電
圧を印加してその静電容量及び／又は誘電体損失を測定
することを特徴とする。
以下本発明をその実施側番示す図面に基づいて詳述する
。
。
第１．２図は本発明をケーブルに通用した場合の実施状
態を示す模式図であり、第１図は静電容量の測定を行う
場合の結線図、第２図は誘電体損失の測定を行う場合の
結線図である。
態を示す模式図であり、第１図は静電容量の測定を行う
場合の結線図、第２図は誘電体損失の測定を行う場合の
結線図である。
第１図においてケーブル１の内外の導体１ａ、 ｌｂ間
には商用周波数よりも高い周波数〔の電圧が高周波電源
２にて印加され、印加電圧Ｅ及び漏洩電流Ｉは夫々電圧
計３．電流計４にて測定される。
には商用周波数よりも高い周波数〔の電圧が高周波電源
２にて印加され、印加電圧Ｅ及び漏洩電流Ｉは夫々電圧
計３．電流計４にて測定される。
容１ｃは以下の（１）式によって算出される。
Ｃ１／２π「Ｅ ・・・（１）
第２図においては電流計４に替えてシエーリングブリッ
ジ５を接続する。このシェーリングブリソジによってｔ
ａｎ δ（誘電正接）が測定できる。
ジ５を接続する。このシェーリングブリソジによってｔ
ａｎ δ（誘電正接）が測定できる。
そうすると誘電体損失Ｐは下記（２）式にて算出される
。
。
Ｐ＝２πｓ Ｃｆ Ｅ２Ｘｔａｎ δ −（２１但し
εはケーブル１の絶縁物の誘電率 面して従来の測定方法と異なる点は高周波電源２の使用
であり、（１１，（２１式においてｆが大きな値となる
。従ワて（１１式についてみると電流計４のａｌｌ定精
度が従来方法と同程度である程度の電流■を流すことと
するとそれに要するＥの値は小さくてよい。一方（２）
式についてはシェーリングブリソジ５に付設する検流計
を従来方法の場合と同程度に動作させるに要するＥの値
は小さくて済む。
εはケーブル１の絶縁物の誘電率 面して従来の測定方法と異なる点は高周波電源２の使用
であり、（１１，（２１式においてｆが大きな値となる
。従ワて（１１式についてみると電流計４のａｌｌ定精
度が従来方法と同程度である程度の電流■を流すことと
するとそれに要するＥの値は小さくてよい。一方（２）
式についてはシェーリングブリソジ５に付設する検流計
を従来方法の場合と同程度に動作させるに要するＥの値
は小さくて済む。
つまり＜１）式の場合は使用周波数に反比例して使用電
圧を低下させ得、（２）式の場合は使用周波数の２乗に
反比例して使用電圧を低下させ１７る。
圧を低下させ得、（２）式の場合は使用周波数の２乗に
反比例して使用電圧を低下させ１７る。
以上のように本発明による場合は診断に使用する電圧の
低下により作業の安全性が高まり、またこれに付随して
準備作業の時間が低減できる。
低下により作業の安全性が高まり、またこれに付随して
準備作業の時間が低減できる。
更に使用電圧が低下したことにより絶縁部に加わる電界
強度が低下するからクラック、１−り一等での部分放電
が生じ難くなり、適当な周波数、電圧を選定することで
部分放電を皆無にすることが可能である。
強度が低下するからクラック、１−り一等での部分放電
が生じ難くなり、適当な周波数、電圧を選定することで
部分放電を皆無にすることが可能である。
第３図は劣化絶縁物の等価回路を示している。
図においてＣＯ＋ＲＯは夫々健全時の静電容量及び絶縁
抵抗を示しており、これらの並列回路に電圧が印加され
ていると考えられる。
抵抗を示しており、これらの並列回路に電圧が印加され
ていると考えられる。
而して絶縁劣化により例えばクランク、］・リー等が発
生ずると抵抗ｒと静電容量Ｃ１の直列回路が並列付加さ
れたと見做される。そして高い電界強度が加わった場合
には放電ギャップＧが静電容ＲＣｌに並列に存在するこ
とになる。その地熱劣化に伴う絶縁抵抗の低下は並列抵
抗ｒ′にて表わされる。
生ずると抵抗ｒと静電容量Ｃ１の直列回路が並列付加さ
れたと見做される。そして高い電界強度が加わった場合
には放電ギャップＧが静電容ＲＣｌに並列に存在するこ
とになる。その地熱劣化に伴う絶縁抵抗の低下は並列抵
抗ｒ′にて表わされる。
而して本発明による場合は印加電圧Ｅの低下により部分
放電が生じないから放電ギャップＧが存在しないことと
なり、容量Ｃ１が正確にａ＋＋定できることになる（使
用開始時にＣ６を測定しておく必要があることは勿論で
ある）。
放電が生じないから放電ギャップＧが存在しないことと
なり、容量Ｃ１が正確にａ＋＋定できることになる（使
用開始時にＣ６を測定しておく必要があることは勿論で
ある）。
（１）式から明らかな如く放電ギャップＧでの放電が生
じるとＴが大となＩ／）Ｃの値が大きな値として求めら
れる。従って従来は正しいＣ１の測定ができなかったの
で、これを絶縁劣化診断の要素となし得なかったのであ
るが、本発明ではそれが可能となる。つまり本発明によ
れば静電容量の増加量をも絶縁劣化の診断指標として用
いることが可能となる等、本発明は優れた効果を奏する
。
じるとＴが大となＩ／）Ｃの値が大きな値として求めら
れる。従って従来は正しいＣ１の測定ができなかったの
で、これを絶縁劣化診断の要素となし得なかったのであ
るが、本発明ではそれが可能となる。つまり本発明によ
れば静電容量の増加量をも絶縁劣化の診断指標として用
いることが可能となる等、本発明は優れた効果を奏する
。
第１． ２図は本発明方法の実施状態を示す模式図、第
３図は劣化絶縁物の等価回路である。 ２・・・高周波電源 ３・・・電圧計 ４・・・電流δ
↑５・・・シエーリングブリソジ
３図は劣化絶縁物の等価回路である。 ２・・・高周波電源 ３・・・電圧計 ４・・・電流δ
↑５・・・シエーリングブリソジ
Claims (1)
- １、絶縁物に電圧を印加して、その絶縁特性の劣化を診
断する方法において、該絶縁物に常時加わる電界の周波
数よりも高い周波数の電圧を印加してその静電容量及び
／又は誘電体損失を測定することを特徴とする絶縁劣化
診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16870685A JPS6228655A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 絶縁劣化診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16870685A JPS6228655A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 絶縁劣化診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6228655A true JPS6228655A (ja) | 1987-02-06 |
| JPH0453378B2 JPH0453378B2 (ja) | 1992-08-26 |
Family
ID=15872937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16870685A Granted JPS6228655A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 絶縁劣化診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6228655A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03277951A (ja) * | 1990-03-28 | 1991-12-09 | Ngk Insulators Ltd | ブッシングの劣化診断方法 |
| US5150059A (en) * | 1989-11-09 | 1992-09-22 | B & C Diagnostics Kft. | Method and apparatus for testing the condition of insulating system |
| US5307896A (en) * | 1991-08-13 | 1994-05-03 | Nippondenso Co., Ltd. | Collision detection sensor |
| US5335749A (en) * | 1991-08-13 | 1994-08-09 | Nippondenso Co., Ltd. | Crash sensor |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5668365B2 (ja) | 2009-11-20 | 2015-02-12 | 株式会社リコー | 描画処理システム、サーバ装置、ユーザ端末、描画処理方法、プログラム及び記録媒体 |
| JP5935162B2 (ja) * | 2012-02-17 | 2016-06-15 | 学校法人日本大学 | 高強度繊維複合材ケーブルの損傷評価方法および損傷検出装置。 |
-
1985
- 1985-07-30 JP JP16870685A patent/JPS6228655A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5150059A (en) * | 1989-11-09 | 1992-09-22 | B & C Diagnostics Kft. | Method and apparatus for testing the condition of insulating system |
| JPH03277951A (ja) * | 1990-03-28 | 1991-12-09 | Ngk Insulators Ltd | ブッシングの劣化診断方法 |
| US5307896A (en) * | 1991-08-13 | 1994-05-03 | Nippondenso Co., Ltd. | Collision detection sensor |
| US5335749A (en) * | 1991-08-13 | 1994-08-09 | Nippondenso Co., Ltd. | Crash sensor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0453378B2 (ja) | 1992-08-26 |
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