JPS62289933A - 光ヘツド装置 - Google Patents
光ヘツド装置Info
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- JPS62289933A JPS62289933A JP61132724A JP13272486A JPS62289933A JP S62289933 A JPS62289933 A JP S62289933A JP 61132724 A JP61132724 A JP 61132724A JP 13272486 A JP13272486 A JP 13272486A JP S62289933 A JPS62289933 A JP S62289933A
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- light
- lens
- photodetector
- optical head
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
３、発明の詳細な説明
〔産業上の利用分野〕
この発明は、いわゆる光ディスク、ディジタルオーディ
オディスク、ビデオディスクなどの記録再生に用いる光
ヘッド装置に関する。
オディスク、ビデオディスクなどの記録再生に用いる光
ヘッド装置に関する。
ビデオディスク、ディジタルオーディオディスク、光デ
ィスク（以下では、光ディスクと総称する）の従来の光
ヘッド装置は、第２図に示すように、光源である半導体
レーザ１と、半導体レーザ１の放射光１５をコリメート
光１６にするコリメーティングレンズ１７と、収束レン
ズ１８と、ビームスプリンタプリズム１９の他に、焦点
誤差検出手段とトラッキング誤差検出手段とを備えて構
成されている。
ィスク（以下では、光ディスクと総称する）の従来の光
ヘッド装置は、第２図に示すように、光源である半導体
レーザ１と、半導体レーザ１の放射光１５をコリメート
光１６にするコリメーティングレンズ１７と、収束レン
ズ１８と、ビームスプリンタプリズム１９の他に、焦点
誤差検出手段とトラッキング誤差検出手段とを備えて構
成されている。
焦点誤差検出手段には種々の方式があるが、本発明の方
式と最も関連の深い方式としてウェッジプリズム方式を
あげることができる。ウェッジプリズム方式の焦点誤差
検出手段は、第２図に示すようにウェッジプリズム２０
及び２１と、光検出素子２２及び２３から成る２分割光
検出器と、光検出素子２４及び２５から成る２分割光検
出器とから構成されている。ディスク面６に対し、収束
ビーム５が丁度焦点を結んでいる時は、ウェッジプリズ
ム２０゜２１からの光ビーム２６及び２７は、各々、光
検出素子２２及び２３の間と、光検出素子２４及び２５
の間に収束しているが、収束ビーム５がディスク面６に
対してデフォーカスした時は、光ビーム２６及び２７は
互いに離れる方向に、又は、互いに接近する方向にデフ
ォーカスするので、光検出素子２２及び２３の差動出力
、又は、光検出素子２４及び２５の差動出力をとること
で焦点誤差信号が得られる。
式と最も関連の深い方式としてウェッジプリズム方式を
あげることができる。ウェッジプリズム方式の焦点誤差
検出手段は、第２図に示すようにウェッジプリズム２０
及び２１と、光検出素子２２及び２３から成る２分割光
検出器と、光検出素子２４及び２５から成る２分割光検
出器とから構成されている。ディスク面６に対し、収束
ビーム５が丁度焦点を結んでいる時は、ウェッジプリズ
ム２０゜２１からの光ビーム２６及び２７は、各々、光
検出素子２２及び２３の間と、光検出素子２４及び２５
の間に収束しているが、収束ビーム５がディスク面６に
対してデフォーカスした時は、光ビーム２６及び２７は
互いに離れる方向に、又は、互いに接近する方向にデフ
ォーカスするので、光検出素子２２及び２３の差動出力
、又は、光検出素子２４及び２５の差動出力をとること
で焦点誤差信号が得られる。
トラッキング誤差検出手段にも種々の方式があるが、本
発明の方式と最も関連の深い方式としてプッシュプル方
式をあげることができる。プッシュプル方式は、２分割
光検出器を使ってディスク面からの反射光を検出する方
式で、第２図に示す光検出素子２２及び２３の出力の和
と、光検出素子２４及び２５の出力の和との差をとるこ
とでトラッキング誤差信号が得られる。なお、第２図に
示した従来技術の光ヘッド装置は、フィリップステクニ
カルレビュー （Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｔｅｃｈｎｉｃａｌ
Ｒｅｖｉｅｗ）第４０巻（１９８２年発行）第６号第
１５１頁から１５６頁に詳しく述べられている。
発明の方式と最も関連の深い方式としてプッシュプル方
式をあげることができる。プッシュプル方式は、２分割
光検出器を使ってディスク面からの反射光を検出する方
式で、第２図に示す光検出素子２２及び２３の出力の和
と、光検出素子２４及び２５の出力の和との差をとるこ
とでトラッキング誤差信号が得られる。なお、第２図に
示した従来技術の光ヘッド装置は、フィリップステクニ
カルレビュー （Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｔｅｃｈｎｉｃａｌ
Ｒｅｖｉｅｗ）第４０巻（１９８２年発行）第６号第
１５１頁から１５６頁に詳しく述べられている。
上述した従来の光ヘッド装置は、実用化されているもの
でも大きさが４０ Ｘ ４０ Ｘ ３（ｈｍ ３程度あ
り、従って重量も重く、光デイスク装置全体の小型化。
でも大きさが４０ Ｘ ４０ Ｘ ３（ｈｍ ３程度あ
り、従って重量も重く、光デイスク装置全体の小型化。
軽量化、あるいはスタック型大容量光ディスク実現の障
害となっている。この原因の１つは、光ディスクからの
反射光をハーフプリズム、あるいは偏光ビームスプリッ
タプリズムにより光軸を９０６曲げて、光源から分離さ
せ、その後方に光検出器を配置するという方法がとられ
ているため、光学系の１軸化が難しい点にある。
害となっている。この原因の１つは、光ディスクからの
反射光をハーフプリズム、あるいは偏光ビームスプリッ
タプリズムにより光軸を９０６曲げて、光源から分離さ
せ、その後方に光検出器を配置するという方法がとられ
ているため、光学系の１軸化が難しい点にある。
このような問題に対して、半導体レーザ光源の発光部に
光を戻した際、自己結合効果によって発振出力が増加す
るいわゆる５ｃｏｏｐ効果を利用した小型光ヘッドが捉
案されている。
光を戻した際、自己結合効果によって発振出力が増加す
るいわゆる５ｃｏｏｐ効果を利用した小型光ヘッドが捉
案されている。
しかしながら、自己結合効果は、半導体レーザの発振現
象の不安定性であることが指摘され、ここ数年内で実用
化されたディジタルオーディオディスク、ビデオディス
クなどでは、再生信号１位置決め信号にもれ込むノイズ
として、逆にこの自己結合効果を抑制するための技術が
開発されるにいたっている状況である。半導体レーザの
自己結合効果は、半導体レーザ自身の共振器に光ディス
クという反射面が加わり、三つのミラーからなる共振器
という構成で考えなければならないものである。ディス
クの回転中は、ディスクの光軸方向のばたつきのため、
焦点サーボがかかっている時でも、半導体レーザと光デ
ィスクの間隔が約１μｍの幅でゆれ動いており、極めて
安定度の悪い共振器構成となってしまっている。従って
、このような５ＣＯＯＰ効果により、光デイスク上の信
号を再生することは困難な課題が多すぎる。
象の不安定性であることが指摘され、ここ数年内で実用
化されたディジタルオーディオディスク、ビデオディス
クなどでは、再生信号１位置決め信号にもれ込むノイズ
として、逆にこの自己結合効果を抑制するための技術が
開発されるにいたっている状況である。半導体レーザの
自己結合効果は、半導体レーザ自身の共振器に光ディス
クという反射面が加わり、三つのミラーからなる共振器
という構成で考えなければならないものである。ディス
クの回転中は、ディスクの光軸方向のばたつきのため、
焦点サーボがかかっている時でも、半導体レーザと光デ
ィスクの間隔が約１μｍの幅でゆれ動いており、極めて
安定度の悪い共振器構成となってしまっている。従って
、このような５ＣＯＯＰ効果により、光デイスク上の信
号を再生することは困難な課題が多すぎる。
本発明の目的は、上記欠点を解消して小型の光へノドを
実現することが可能な光ヘッド装置を捷供することにあ
る。
実現することが可能な光ヘッド装置を捷供することにあ
る。
本発明の光ヘット装置は、半導体レーザ光源と、前記光
源の像を記録媒体上に絞りこむ結像レンズと、前記光源
の脇に配置されその受光面が互いに平行な分割線で４分
割された光検出器と、前記光源と前記結像レンズとの間
に設けられ、前記結像レンズの光軸と交わる前記分割線
と平行な境界線を境に互いに異なる収束距離を有し、前
記結像レンズを経て来た前記記録媒体からの反射光を前
記境界線を境に分割して前記光検出器の左右２つの分割
線上にそれぞれ導く格子レンズとを備えることを特徴と
している。
源の像を記録媒体上に絞りこむ結像レンズと、前記光源
の脇に配置されその受光面が互いに平行な分割線で４分
割された光検出器と、前記光源と前記結像レンズとの間
に設けられ、前記結像レンズの光軸と交わる前記分割線
と平行な境界線を境に互いに異なる収束距離を有し、前
記結像レンズを経て来た前記記録媒体からの反射光を前
記境界線を境に分割して前記光検出器の左右２つの分割
線上にそれぞれ導く格子レンズとを備えることを特徴と
している。
本発明の作用・原理は次の通りである。本発明の光ヘッ
ド装置では、光学系の１軸化を達成するために、光デイ
スク面からの反射光を光検出器に導くために、格子レン
ズを用いる。格子レンズには所望の＋１次回折光の他に
０次回指光がある。
ド装置では、光学系の１軸化を達成するために、光デイ
スク面からの反射光を光検出器に導くために、格子レン
ズを用いる。格子レンズには所望の＋１次回折光の他に
０次回指光がある。
０次回指光は格子レンズを直接透過した光である。
そこで、この格子レンズを半導体レーザ光源と結像レン
ズの間に配置し、半導体レーザからディスり面に行く光
に対しては、０次回折光を用いると、単に格子レンズの
基板の厚さに等しい透明板か挿入されたのと同しになる
。
ズの間に配置し、半導体レーザからディスり面に行く光
に対しては、０次回折光を用いると、単に格子レンズの
基板の厚さに等しい透明板か挿入されたのと同しになる
。
一方、ディスク面からの反射光に対しては、所望の千１
次回ｊＲ光を用いるとハーフプリスムや、偏光ビームス
プリッタプリズムを用いることなく情報光を光軸外にと
り出すことができる。すなわち、格子レンズはヒームス
プリノタとして作用することになる。この結果、小型、
軽量の光ヘット装置を構成できる。
次回ｊＲ光を用いるとハーフプリスムや、偏光ビームス
プリッタプリズムを用いることなく情報光を光軸外にと
り出すことができる。すなわち、格子レンズはヒームス
プリノタとして作用することになる。この結果、小型、
軽量の光ヘット装置を構成できる。
さらに本発明では、光軸外にとり出した情報光から信号
の他、フォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号もと
り出すために、格子レンズの収束距離を結像レンズの光
軸と交わる線を境に４いに異ならせることにより、第２
図に示す従来の光へ７ＦＷ置におけるウェッジプリズム
と等価な作用をさせ、ウェッジプリズム方式とほぼ等価
な光ビームに変換している。
の他、フォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号もと
り出すために、格子レンズの収束距離を結像レンズの光
軸と交わる線を境に４いに異ならせることにより、第２
図に示す従来の光へ７ＦＷ置におけるウェッジプリズム
と等価な作用をさせ、ウェッジプリズム方式とほぼ等価
な光ビームに変換している。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第１図は、本発明の一実施例の基本構成を示す正面断面
図である。半導体レーザｌの放射光２は、格子レンズ３
を０次回折光として通過し、結像レンズ４によりディス
ク面６上の点７に収束される。
図である。半導体レーザｌの放射光２は、格子レンズ３
を０次回折光として通過し、結像レンズ４によりディス
ク面６上の点７に収束される。
ディスク面６からの反射光は、結像レンズ４により収束
され、格子レンズ３により回折され、回折光８及び回折
光１０として、半導体レーザの脇にある光検出素子３２
．３３．３４．３５からなる４分割光検出器２８に到達
する。
され、格子レンズ３により回折され、回折光８及び回折
光１０として、半導体レーザの脇にある光検出素子３２
．３３．３４．３５からなる４分割光検出器２８に到達
する。
第３図は、第１回の光ヘット装置の右側面図を示す。第
３図に示すように、格子レンズ３は軸外しレンズで、各
々収束点１１及び９を持ち、ディスク面６からのもどり
光を軸外し部に置かれた４分割光検出器２８に導く。
３図に示すように、格子レンズ３は軸外しレンズで、各
々収束点１１及び９を持ち、ディスク面６からのもどり
光を軸外し部に置かれた４分割光検出器２８に導く。
格子レンズ３を半導体レーザｌの方向から見た時の格子
の配置の様子を第４図に模式的に示ず。
の配置の様子を第４図に模式的に示ず。
格子レンズのピッチと方向は、配置をわかりやすくする
ために実際より大きく書いである。格子レンズ３は、結
像レンズ４の光軸と交わる線を境に、収束距離の異なる
左側格子レンズ２９と右側格子レンズ３０とから構成さ
れている。左側格子レンズ２９の＋１次回折光は第１図
及び第３図に示す点９に収束する。一方、右側格子レン
ズ３０の＋１次回折光は、第１図及び第３図に示す点１
１に収束する。
ために実際より大きく書いである。格子レンズ３は、結
像レンズ４の光軸と交わる線を境に、収束距離の異なる
左側格子レンズ２９と右側格子レンズ３０とから構成さ
れている。左側格子レンズ２９の＋１次回折光は第１図
及び第３図に示す点９に収束する。一方、右側格子レン
ズ３０の＋１次回折光は、第１図及び第３図に示す点１
１に収束する。
そこで、４分割光検出器２８の光検出素子３２．３３゜
３４、３５を第１図に示すように左側回折光８を光検出
素子３２と３３で、右側回折光１０を光検出素子３４と
３５で検出するようにし、ディスク面６に光ビーム５が
収束している合焦状態で４分割光検出器２８上の両回指
光のスポット径が等しくなるように配置することで、次
に説明するように、フォーカス誤差信号、トラッキング
誤差信号、再生信号を得ることができる。
３４、３５を第１図に示すように左側回折光８を光検出
素子３２と３３で、右側回折光１０を光検出素子３４と
３５で検出するようにし、ディスク面６に光ビーム５が
収束している合焦状態で４分割光検出器２８上の両回指
光のスポット径が等しくなるように配置することで、次
に説明するように、フォーカス誤差信号、トラッキング
誤差信号、再生信号を得ることができる。
第５図は、４分割光検出器２８上の回折光の状態を説明
するための図である。第５図（ａｌは、ディスク面６上
に光ヒーム５が収束している合焦状態を示す図で、左側
回折光８及び右側回折光１０は等しいスポット径になっ
て４分割光検出器２８の左右２つの分割線上に到達して
いる。第５図（ｂｌは、ディスク面６が面ふれして、結
像レンズ４に近づいたデフォーカス状態の回折光を示す
図である。回折光８及び１０の収束点は、合焦時よりも
格子レンズ３から遠くなるので、第５図＋ｂｌに示すよ
うに、４分割光検出器２８−Ｌでは、左側回１）１光８
のスポット径が大きくなり、右側回折光ＩＯのスポット
径か小さくなる。しかし、格子レンズの境界線に対応す
る半円スポットの境界線３１の位置は変化しない。
するための図である。第５図（ａｌは、ディスク面６上
に光ヒーム５が収束している合焦状態を示す図で、左側
回折光８及び右側回折光１０は等しいスポット径になっ
て４分割光検出器２８の左右２つの分割線上に到達して
いる。第５図（ｂｌは、ディスク面６が面ふれして、結
像レンズ４に近づいたデフォーカス状態の回折光を示す
図である。回折光８及び１０の収束点は、合焦時よりも
格子レンズ３から遠くなるので、第５図＋ｂｌに示すよ
うに、４分割光検出器２８−Ｌでは、左側回１）１光８
のスポット径が大きくなり、右側回折光ＩＯのスポット
径か小さくなる。しかし、格子レンズの境界線に対応す
る半円スポットの境界線３１の位置は変化しない。
したがって、光検出素子３２及び３５の出力が増加し、
光検出素子３３及び３４の出力が減少する。反対に、デ
ィスク面６が結像レンズから遠ざかった場合は、回折光
８及び１０の収束点は合焦時よりも格子レンズ３に近く
なるので、第５図（Ｃ）に示すように、４分割光検出器
上では、左側回折光８のスポット径が小さくなり、右側
回折光１０のスポット径が大きくなる。この場合も半円
スポットの境界線３１の位置は変化しない。したがって
、光検出素子３２及び３５の出力が減少し、光検出索子
３３及び３４の出力が増加する。
光検出素子３３及び３４の出力が減少する。反対に、デ
ィスク面６が結像レンズから遠ざかった場合は、回折光
８及び１０の収束点は合焦時よりも格子レンズ３に近く
なるので、第５図（Ｃ）に示すように、４分割光検出器
上では、左側回折光８のスポット径が小さくなり、右側
回折光１０のスポット径が大きくなる。この場合も半円
スポットの境界線３１の位置は変化しない。したがって
、光検出素子３２及び３５の出力が減少し、光検出索子
３３及び３４の出力が増加する。
以上の考察により、光検出素子３２．３３．３４．３５
の出力電圧を各々Ｖ（３２Ｌ Ｖ（３３）、 Ｖ（３４
）、 Ｖ（３５）とすれば、偵点誤差信号は、Ｖ （３
２） ＋ Ｖ （３５）−Ｖ （３３） −Ｖ （３４
）により検出でき、ディスクのフォーカスずれの方向及
び量を検知することができる。
の出力電圧を各々Ｖ（３２Ｌ Ｖ（３３）、 Ｖ（３４
）、 Ｖ（３５）とすれば、偵点誤差信号は、Ｖ （３
２） ＋ Ｖ （３５）−Ｖ （３３） −Ｖ （３４
）により検出でき、ディスクのフォーカスずれの方向及
び量を検知することができる。
一方トラッキングのずれ信号は、半導体レーザｌからの
放射光２のディスク上の絞り込みスポットがトラック位
置からずれるともどり光の強度分布にアンバランスが生
じることを利用する。第１図の紙面に垂直な方向にトラ
ックが延びている配置であるとすると、トラックずれに
より回折光８と１０の強度比が変わるため、４分割光検
出器２Ｂの光検出素子３２及び３３の出力信号の和と、
光検出素子３４及び３５の出力信号の和とに差が生じる
。従ってトラッキング信号は、ｖ （３２） 十Ｖ （
３３） −ｖ （３４）−Ｖ （３５）により検出でき
、この差信号の正負により、トラックずれの方向も検知
することができる。
放射光２のディスク上の絞り込みスポットがトラック位
置からずれるともどり光の強度分布にアンバランスが生
じることを利用する。第１図の紙面に垂直な方向にトラ
ックが延びている配置であるとすると、トラックずれに
より回折光８と１０の強度比が変わるため、４分割光検
出器２Ｂの光検出素子３２及び３３の出力信号の和と、
光検出素子３４及び３５の出力信号の和とに差が生じる
。従ってトラッキング信号は、ｖ （３２） 十Ｖ （
３３） −ｖ （３４）−Ｖ （３５）により検出でき
、この差信号の正負により、トラックずれの方向も検知
することができる。
ディスクからの信号は、４分割光検出器２８の光量の総
和Ｖ （３２） ＋ Ｖ （３３） ＋ Ｖ （３４）
十Ｖ （３５）をとることにより検出できる。
和Ｖ （３２） ＋ Ｖ （３３） ＋ Ｖ （３４）
十Ｖ （３５）をとることにより検出できる。
回折素子である格子レンズを用いたフォーカス誤差検出
、トラッキング誤差検出では、半導体レーザの波長が変
動すると回折角が変化し、光検出器上の回折光の位置ず
れが生しるため、光源である半導体レーザの発振波長の
変動に対する対策が必要であるが、本発明では、この点
に関して、次のような解決策がほどこされている。
、トラッキング誤差検出では、半導体レーザの波長が変
動すると回折角が変化し、光検出器上の回折光の位置ず
れが生しるため、光源である半導体レーザの発振波長の
変動に対する対策が必要であるが、本発明では、この点
に関して、次のような解決策がほどこされている。
今、回折角による位置ずれを光検出器２８上で、分割線
に平行な方向及び直交する方向の２方向に分けて考察す
る。第６図に点線で示したような分割線に平行な方向の
位置変動については、何ら信号強度に変化を及ぼさない
ので問題ない。第７図に点線で示したような分割線に直
交する方向の位置変動については、光検出素子３２〜３
５の出力が変化するので注意が必要である。トラッキン
グ誤差信号はｖ （３２） ＋ Ｖ （３３） −Ｖ
（３４） −Ｖ （３５）であり、情報信号はＶ （３
２） ＋ Ｖ （３３） 十ｖ （３４）±Ｖ （３５
）であるから変化は生しない。フォーカス誤差信号につ
いては、本発明では、４分割光検出器上の２つの回折光
の分割線に直交方向の変動が同し方向になるように第１
図に示すように４分割光検出器２８を格子レンズ３の境
界線と結像レンズ４の光軸とを含む平面の片側に配置し
、さらに４分割光検出器２８上の回折光８と１０の間隔
と４分割光検出器の左右２つの分割線の間隔とを等しく
することにより、次に述べるように波長変動に対しフォ
ーカス誤差を生じないようにしている。このような配置
をとった時の各光検出素子３２〜３５の出力を第８図に
示す。第８図（ａ）の曲線３６．３７はフォーカスエラ
ーΔＺに対する出力電圧ｖ ＝ Ｖ （３４）〜Ｖ （
３５）を、曲線３８、３９はＶ −Ｖ （３２） −Ｖ
（３３）を示す。点線と実線は、第７図の実線と点線
の場合に対応する。このように、Ｖ （３４） −Ｖ
（３５）又はｖ （３２） −ｖ （３３）は、回折光
の位置変動に対して第８図（ａ）に示すようにオフセッ
ト電圧を生じ、フォーカス誤差を生じてしまうが、本発
明ではフォーカス誤差信号をｖ （３２）＋ Ｖ （３
５） −Ｖ （３３） −Ｖ （３４）でとっているの
で、第８図（ｂ）に曲線４０及び４１で示すように、回
折光が位置変動してもほとんどオフセットを生じない。
に平行な方向及び直交する方向の２方向に分けて考察す
る。第６図に点線で示したような分割線に平行な方向の
位置変動については、何ら信号強度に変化を及ぼさない
ので問題ない。第７図に点線で示したような分割線に直
交する方向の位置変動については、光検出素子３２〜３
５の出力が変化するので注意が必要である。トラッキン
グ誤差信号はｖ （３２） ＋ Ｖ （３３） −Ｖ
（３４） −Ｖ （３５）であり、情報信号はＶ （３
２） ＋ Ｖ （３３） 十ｖ （３４）±Ｖ （３５
）であるから変化は生しない。フォーカス誤差信号につ
いては、本発明では、４分割光検出器上の２つの回折光
の分割線に直交方向の変動が同し方向になるように第１
図に示すように４分割光検出器２８を格子レンズ３の境
界線と結像レンズ４の光軸とを含む平面の片側に配置し
、さらに４分割光検出器２８上の回折光８と１０の間隔
と４分割光検出器の左右２つの分割線の間隔とを等しく
することにより、次に述べるように波長変動に対しフォ
ーカス誤差を生じないようにしている。このような配置
をとった時の各光検出素子３２〜３５の出力を第８図に
示す。第８図（ａ）の曲線３６．３７はフォーカスエラ
ーΔＺに対する出力電圧ｖ ＝ Ｖ （３４）〜Ｖ （
３５）を、曲線３８、３９はＶ −Ｖ （３２） −Ｖ
（３３）を示す。点線と実線は、第７図の実線と点線
の場合に対応する。このように、Ｖ （３４） −Ｖ
（３５）又はｖ （３２） −ｖ （３３）は、回折光
の位置変動に対して第８図（ａ）に示すようにオフセッ
ト電圧を生じ、フォーカス誤差を生じてしまうが、本発
明ではフォーカス誤差信号をｖ （３２）＋ Ｖ （３
５） −Ｖ （３３） −Ｖ （３４）でとっているの
で、第８図（ｂ）に曲線４０及び４１で示すように、回
折光が位置変動してもほとんどオフセットを生じない。
第８図ｆｂｌでΔ２はフォーカスエラー、ＶＦはフォー
カス誤差信号で、点線４１と実線４ｏは第７図の実線と
点線の場合に対応している。
カス誤差信号で、点線４１と実線４ｏは第７図の実線と
点線の場合に対応している。
本発明の光ヘッド装置は、光学部品が、結像レンズと、
格子レンズだけでよく、これまで数多くの部品を使って
いた光ヘッド装置の部品を大幅に削減することが可能で
あり、これまで光デイスク装置全体の小型化、あるいは
、スタック型光ディスク装置のネックとなっていた光ヘ
ッドのサイズを縮小することが可能となる。
格子レンズだけでよく、これまで数多くの部品を使って
いた光ヘッド装置の部品を大幅に削減することが可能で
あり、これまで光デイスク装置全体の小型化、あるいは
、スタック型光ディスク装置のネックとなっていた光ヘ
ッドのサイズを縮小することが可能となる。
さらに本発明によれば、半導体レーザと４分割光検出器
とを同一パッケージ内にハイブリッドに作成することに
より、量産性信頼性に富む光ヘッド装置を実現すること
ができる。
とを同一パッケージ内にハイブリッドに作成することに
より、量産性信頼性に富む光ヘッド装置を実現すること
ができる。
第１図は本発明の実施例の基本構成を示す断面図、
第２図は従来の光ヘッド装置の一例を示す断面図、
第３図は第１図に示す実施例の右側面図、第４図は第１
図に示す実施例の格子レンズの構成を示す平面図、 第５図、第６図及び第７図は４分割光検出器上の回折光
の状態を説明するための図、 第８図はフォーカスエラーに対するフォーカス誤差信号
の変化を説明するための図である。 １・・・半導体レーザ 尤 ２．１５・・・放射レー礒 ３・・・格子レンズ ４・・・結像レンズ ５・・・収束ビーム ６・・・ディスク面 ７．９．１１・・・収束点 ８．１０・・・回折光 ２２．２３，２４，２５，３２，３３．３４．３５・・
・光検出素子１６・・・コリメート光 １７・・・コリメーティングレンズ １８・・・収束レンズ １９・・・ビームスプリンタプリスム ２０．２１ ・・・ウェッジプリズム ２６．２７・・・分割光ビーム ２８・・・４分割光検出器 ２９・・・左側格子レンズ ３０・・・右側格子レンズ ３１・・・半円スポットの境界線 ３６、３７．３８．３９・・・光検出素子の差信号４０
．４１・・・フォーカス誤差信号 代理人弁理士 岩 佐 義 幸鴛 Ｒ吋 Ｌ’ｌ ■ はく 、）’に 第３図 第４図 第６図 第７図 （ａ） （ｂ） （Ｃ）第５図 （ａ） （ｂ） 第８図
図に示す実施例の格子レンズの構成を示す平面図、 第５図、第６図及び第７図は４分割光検出器上の回折光
の状態を説明するための図、 第８図はフォーカスエラーに対するフォーカス誤差信号
の変化を説明するための図である。 １・・・半導体レーザ 尤 ２．１５・・・放射レー礒 ３・・・格子レンズ ４・・・結像レンズ ５・・・収束ビーム ６・・・ディスク面 ７．９．１１・・・収束点 ８．１０・・・回折光 ２２．２３，２４，２５，３２，３３．３４．３５・・
・光検出素子１６・・・コリメート光 １７・・・コリメーティングレンズ １８・・・収束レンズ １９・・・ビームスプリンタプリスム ２０．２１ ・・・ウェッジプリズム ２６．２７・・・分割光ビーム ２８・・・４分割光検出器 ２９・・・左側格子レンズ ３０・・・右側格子レンズ ３１・・・半円スポットの境界線 ３６、３７．３８．３９・・・光検出素子の差信号４０
．４１・・・フォーカス誤差信号 代理人弁理士 岩 佐 義 幸鴛 Ｒ吋 Ｌ’ｌ ■ はく 、）’に 第３図 第４図 第６図 第７図 （ａ） （ｂ） （Ｃ）第５図 （ａ） （ｂ） 第８図
Claims (2)
- （１）半導体レーザ光源と、前記光源の像を記録媒体上
に絞りこむ結像レンズと、前記光源の脇に配置されその
受光面が互いに平行な分割線で４分割された光検出器と
、前記光源と前記結像レンズとの間に設けられ、前記結
像レンズの光軸と交わる前記分割線と平行な境界線を境
に互いに異なる収束距離を有し、前記結像レンズを経て
来た前記記録媒体からの反射光を前記境界線を境に分割
して前記光検出器の左右２つの分割線上にそれぞれ導く
格子レンズとを備えることを特徴とする光ヘッド装置。 - （２）前記光検出器を前記境界線と前記光軸とを含む平
面の片側に配置し、かつ、前記光検出器上の前記反射光
の間隔と、前記左右２つの分割線の間隔とを等しくした
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光ヘッド
装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61132724A JPH0622063B2 (ja) | 1986-06-10 | 1986-06-10 | 光ヘツド装置 |
| EP86117152A EP0228620B1 (en) | 1985-12-10 | 1986-12-09 | Optical head comprising a diffraction grating for directing two or more diffracted beams to optical detectors |
| DE8686117152T DE3679648D1 (de) | 1985-12-10 | 1986-12-09 | Optischer kopf mit einem beugungsgitter zum richten von zwei oder mehreren gebeugten lichtstrahlen auf optische detektoren. |
| US06/940,007 US4945529A (en) | 1985-12-10 | 1986-12-10 | Optical head comprising a diffraction grating for directing two or more diffracted beams to optical detectors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61132724A JPH0622063B2 (ja) | 1986-06-10 | 1986-06-10 | 光ヘツド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62289933A true JPS62289933A (ja) | 1987-12-16 |
| JPH0622063B2 JPH0622063B2 (ja) | 1994-03-23 |
Family
ID=15088099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61132724A Expired - Lifetime JPH0622063B2 (ja) | 1985-12-10 | 1986-06-10 | 光ヘツド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0622063B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5253237A (en) * | 1989-06-06 | 1993-10-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical head device |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59177734A (ja) * | 1983-03-29 | 1984-10-08 | Toshiba Corp | 焦点誤差検出装置 |
| JPS6150227A (ja) * | 1984-08-17 | 1986-03-12 | Akai Electric Co Ltd | 光ピツクアツプ装置 |
-
1986
- 1986-06-10 JP JP61132724A patent/JPH0622063B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59177734A (ja) * | 1983-03-29 | 1984-10-08 | Toshiba Corp | 焦点誤差検出装置 |
| JPS6150227A (ja) * | 1984-08-17 | 1986-03-12 | Akai Electric Co Ltd | 光ピツクアツプ装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5253237A (en) * | 1989-06-06 | 1993-10-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical head device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0622063B2 (ja) | 1994-03-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |