JPS6232401B2 - - Google Patents

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JPS6232401B2
JPS6232401B2 JP21632082A JP21632082A JPS6232401B2 JP S6232401 B2 JPS6232401 B2 JP S6232401B2 JP 21632082 A JP21632082 A JP 21632082A JP 21632082 A JP21632082 A JP 21632082A JP S6232401 B2 JPS6232401 B2 JP S6232401B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
small object
polished surface
flat polished
main body
receiving plate
Prior art date
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Expired
Application number
JP21632082A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59105501A (ja
Inventor
Narahisa Kobashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NISHIHARA SHOKAI KK
Original Assignee
NISHIHARA SHOKAI KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NISHIHARA SHOKAI KK filed Critical NISHIHARA SHOKAI KK
Priority to JP21632082A priority Critical patent/JPS59105501A/ja
Publication of JPS59105501A publication Critical patent/JPS59105501A/ja
Publication of JPS6232401B2 publication Critical patent/JPS6232401B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は例えばダイヤモンドなどの宝石その
他の小物体の頂面とそれにつゞく斜面のなす角度
を測定する場合などに用いる平面研磨面の交叉角
度測定具に関するものである。
従来、宝石などの小物体表面の平面研磨面が互
に交叉する角度を測定する方法として小物体の両
側などをピンセツトで挾んで目測により判断する
方法があるが、きわめて困難で、熟練を要するも
のであり、特に宝石などが指輪などの枠に取付け
られている場合は測定は殆んど不可能であつた。
また、光学的な測定を行なうものとして小物体
を拡大してスクリーンに投影し、交叉角を測定す
るプロポーシヨンスコープと称する装置が用いら
れているが、この場合も枠に取付けたままでは測
定ができず、かつ、装置が大型で重いため携帯す
ることが困難で高価であるなどの問題があつた。
この発明は上記のような従来の測定装置の問題
を解決することを目的とするものでポケツトに入
る程度のきわめて小型で、しかも安価でありなが
ら相当な精度で交叉角が測定できる測定具を提供
するものである。
この発明は第1図のように円周a上の任意の点
bの接線l1と同じ円周a上の他の任意の点cの接
線l2が交叉したとき、その角θと点b、cと円周
aの中心0のなす角θとは等しいということを原
理とし、かつ、光の反射を利用するものである。
すなわち、この発明は第2図のように中心0を
有する円周面を反射面1とする本体2に何等かの
固定手段で、交叉した平面研磨面3,4を有する
小物体5を固定し、この各平面研磨面3,4と平
行の円周上の接線l1、l2のなす角度θが研磨面
3,4の交叉角と等しいことを、円周上の点cと
研磨面4上に当つて矢印のように反射する平行の
光線により検知して本体2に設けた目盛により測
定するようにしたもので、円周は正多角形が無段
となつたものであるから、反射面1が円周に近い
多角形の場合でも同じ効果が得られることはいう
までもない。
この発明の構成は、円周または円周に近い多角
形の周面に沿つた反射面を有する本体の適所に、
交叉した平面研磨面を有する小物体を固定する固
定手段を設け、この固定手段により本体に固定し
て小物体の基準となる平面研磨面と平行の反射面
を0度としてそれより必要な範囲に亘つて反射面
の角度を示す角度目盛を設けたものおよびこの構
成の基板に前記小物体を有する指輪などを、小物
体を上にして保持する突部を設けたものである。
以下に、この発明の測定具の詳細を添付図面に
示す実施例に基づいて説明する。
第3図、第4図に示す第1の実施例において、
12は円周または円周に近い多角形の反射面11
を有する本体で、この本体12の側面適所に小物
体15の固定手段としてのクリツプ16を設け、
反射面11の角度目盛を設けてある。このクリツ
プ16はバネの弾力で小物体15を挾むのでクリ
ツプ16の先端の形状を小物体15を挾むに適し
た形状にする必要がある。この実施例の場合、測
定に先立つて測定者の前上方のできるだけ遠方に
固定した一個の光源を準備しなければならない。
この光源は電球のようなスポツト型よりも、1本
の長い直線型螢光灯のように細長い光源がよく、
この場合、測定者に対して横方向に長くなるよう
に設ける。
つぎに、クリツプ16により保持した小物体1
5の基準の研磨面、すなわち第11図に示す小物
体15の頂部の平面研磨面13と反射面11の角
度目盛0度の点の接線とが平行になるように小物
体15の固定角度を調整する。
このように調整するためには反射面11の角度
目盛0度の点と、被測定小物体15の研磨面13
の両方から反射する前記光源からの反射光が測定
者の目で同時に視認されるように小物体15を動
かして固定すればよい。また、このとき、小物体
15の他方の平面研磨面14は角度目盛の大きい
方に向けておく。
こうして小物体15の基準となる研磨面13と
本体12の0度の反射面11を平行にしたのち、
角度目盛の大きい方、すなわち第4図の左方を測
定者に向けて保持し、目盛の大きい側が徐々に上
方になるように本体12を反射面に沿つて第4図
矢印方向に回動していくか、または本体12は回
動せず、視認方向を変えることにより、小物体1
5の他方の平面研磨面14の反射光が測定者の目
に入つたとき、その角度に本体12を保持したま
ま反射面11上に光の反射が見える点を確認す
る。
このときの反射面11の光の反射する位置の角
度目盛の読みが測定しようとする二つの平面研磨
面13,14の交叉角である。
この発明の測定具を使用する場合において、最
も重要なことは基準となる平面研磨面13と、反
射面11の角度目盛0度の点の接線とを如何にし
て正確に平行させるかであるが、これを容易かつ
正確に行なえるようにするため、平面状の反射板
17を第3図のように0度の点を通る接線と平行
になるよう、本体12の適所に固定するとよい。
つぎに、第5図に示す実施例では本体12の側
面適所に上下面が平行の透明平板からなる受板1
8を、反射面11の0度の点の接線と平行となる
ように固定し、その下部に軸19を支点とするク
リツプ20を設け、このクリツプ20の先端をバ
ネ21により押上げる。
この場合、クリツプ20の先端上部に小物体1
5を載せて、その平面研磨面13を受板18の下
面に当てがうと研磨面13が0度を通る接線と平
行になるからその後は第1の実施例と同様の方法
で測定する。また、この方法では光線が透明の受
板18を透過して研磨面14に当り、反射光も透
明の受板18を透過するため光が受板18を透過
するさい屈折するが、入射光と反射光が反対に同
角度屈折するので受板18による屈折は打ち消さ
れる。
第6図、第7図の実施例では本体12の側面に
固定する受板22を金属板のような上下面が平行
の不透明板で上面が鏡面の反射面23となり、こ
の面23が反射面11の0度の接線と平行であ
り、かつこの受板22の測定者側に切欠24が設
けてある。
受板22の下方において、本体12の側面に固
定した支持枠25には縦方向の丸棒状支持部材2
6が昇降及び回動自在に取付けてある。この支持
部材26の上端面には小物体15の下端を受ける
凹所27を形成し、部材26の途中に固定したカ
ラーと支持枠25の下片間には部材26を上方に
押すバネ28を取付け、部材26の下端にはツマ
ミ29を設ける。
この実施例の場合、ツマミ29をもつて支持部
材26を引下げ上端の凹所27に小物体15の下
端をはめ、支持部材26を元に戻すとバネ28の
弾力により小物体15の研磨面13が受板22の
下面に押し付けられ、研磨面13と交叉する他方
の研磨面14が切欠24の部分に表われる。その
後は前記の各実施例と同様の方法で測定する。
また、この実施例の場合、支持部材26と受板
22間に小物体15を挾んだまま、ツマミ29に
より部材26を回すと小物体15が回動して研磨
面13を交叉する多数の研磨面14が全周に亘つ
て測定できる。
しかし、この実施例の場合、小物体15がある
大きさ以上、すなわち、上面の平面研磨面13と
交叉する他方の研磨面14が切欠24に表われる
大きさでないと使用できないが、受板22を透明
板とすれば切欠24に研磨面14が表われないよ
うな小さなものでも第5図の例と同様の方法で測
定できる。
さらに、前記支持部材26のかわりに第5図に
示すようにクリツプを受板22の下部に設け、こ
のクリツプの先端で支持した小物体15の研磨面
13を受板22の下面に押し付けるようにしても
よいが、この場合は小物体15は回すことはでき
ない。
第8図、第9図の例は第6図、第7図の構造の
支持部材26にコ字形の枠30を取付けるととも
に支持部材26に固定した上下のカラーで枠30
を挾んで部材26と枠30が共に昇降するように
構成し、この枠30の外側に弾性材料で作つた突
部31を固定したものである。
この場合、第8図の鎖線のようにダイヤモンド
のような小物体15を取付けた指輪32を突部3
1に当てがい、指輪32を回しながら反射面23
と小物体15の平面研磨面13の光の反射を観測
して反射面23と研磨面13を平行させたのちは
他の例と同じである。また、この実施例では、小
物体15のみの場合は、支持部材26を用いて第
6図、第7図の例と同じ方法で測定できる。
また、指輪に取付けた小物体のみを測定する測
定具として第8図、第9図の突部31と同じもの
を本体12の適所に直接固定したものでも第8
図、第9図の例と同じ方法で測定できる。
第10図は指輪に取付けた小物体のみを測定す
る測定具で、本体12の側面適所に揺動部材33
の上端を軸34により取付け、この部材33に前
記突部と同じ材料で作つた突部35を固定してあ
る。
この実施例の場合は指輪32を突部35にはめ
てその上部の小物体15の研磨面13を本体12
の反射面11の0度点の接線と平行に合わすので
あるが、そのとき、揺動部材33を回動させる
と、指輪32を突部35に固定したままで研磨面
13の角度を変えて光の反射の向きを調節し、第
3図の場合と同様に研磨面13を反射面11の0
度の点の接線と平行にして揺動部材33を本体1
2に対して動かぬように保持し、その後は他の例
の操作と同様に研磨面14の測定を行なう。
なお、第12図において、光源および測定者の
目の位置が、反射面1および小物体5から無限大
とみなされるほど十分に遠いときには、同一の光
源から出て、小物体5の平面研磨面4に当る光線
l7と反射面1に当る光線l8は平行とみなされる。
従つて、平面研磨面4で反射された光線l9と反
射面1上のC点で反射された光線l10とは平行と
みなされ、十分に遠くにある測定者の目で視認す
ることができる。すなわち、第2図の説明と同じ
になる。
しかし、通常は光源および測定者の目は十分に
遠くにはなく、また、小物体の平面研磨面と反射
面上の反射点とは同一位置にはなく、位置的にず
れがある。
このため、同一の光源Aから出て、平面研磨面
4に当る光線l7と反射面1に当る光線l11とは第1
2図のように平行ではなく、また、位置的に、ず
れがある2つの点(平面研磨面および反射面1上
のC′点)から反射された2本の光線l9とl12が有限
の距離にある測定者の目Bで視認されているため
にはこれらの反射光線l9とl12は、測定者の目の位
置において1点に集中しなければならないので、
図のように平行ではない。
このときの、反射面1上の反射点の位置は、光
源と中心Oと測定者の目がなす角度の2等分線l6
と反射面1との交点C′となる。
従つて、理論的には、C点にθ度を目盛るべき
ところであるが、C′点にθ度の目盛を設ける修
正をすることにより、より正確な測定が行える。
なお、第12図中において、l0は平面研磨面3
および、この研磨面3と平行な反射面1上の接線
l1に垂直な線、l2はC点上の接線、l3はC′点上の
接線、l4は光源Aと点Oを結ぶ直線、l5は測定者
の目Bと点Oを結ぶ線である。
この発明の測定具は上記のように光の反射の方
向を利用するという極めて簡単な方法により、ダ
イヤモンドその他の宝石のような小物体の二つの
研磨面の交叉角を相当高い精度で測定することが
できる。しかもこの発明の測定具は掌に載せられ
る程度のきわめて小型のものであるから、ポケツ
トなどに入れて携帯し、どこでも用いられるなど
の効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図はこの発明の測定具の原理を示
す図面、第3図はこの発明の測定具の基本構成を
示す第1の実施例の斜視図、第4図は同上要部の
一部切欠拡大正面図、第5図は第2の実施例の斜
視図、第6図は第3の実施例の側面図、第7図は
同上の斜視図、第8図は第4の実施例の側面図、
第9図は同上の斜視図、第10図は第5の実施例
の斜視図、第11図は小物体の一例を示す拡大側
面図、第12図は誤差の修正方法を示す図面であ
る。 1,11……反射面、2,12……本体、3,
4,13,14……平面研磨面、5,15……小
物体、17……反射板、18……透明の受板、2
2……受板、23……反射面、24……切欠、2
6……支持部材、31,35……突部、32……
指輪。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 円周または円周に近い多角形の周面に沿つた
    反射面を有する本体の適所に、交叉した平面研磨
    面を有する小物体を固定する固定手段を設け、こ
    の固定手段により本体に固定した小物体の基準と
    なる平面研磨面と平行の反射面を0度としてそれ
    より必要な範囲に亘つて反射面の角度を示す角度
    目盛を設けた小物体の平面研磨面の交叉角度測定
    具。 2 本体の側部適所に0度の点の接線と平行の反
    射面を上面にする反射板を設けた特許請求の範囲
    第1項記載の小物体の平面研磨面の交叉角度測定
    具。 3 本体の側部適所に0度の点の接線と平行の面
    を上下面とした透明の受板を固定し、この受板の
    下面に小物体の基準面となる平面研磨面を押し付
    ける適宜の保持手段を設けた特許請求の範囲第1
    項記載の小物体の平面研磨面の交叉角度測定具。 4 本体の側部適所に0度の点の接線と平行の面
    を上下とした受板と、この受板に小物体の基準面
    となる平面研磨面を押し付ける適宜の保持手段を
    設け、本体の反射面の角度目盛が大きくなる側の
    受板の縁には受板の下面に圧着された小物体の基
    準となる研磨面と交叉した他方の研磨面を露出さ
    せる切欠を設けたことを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の小物体の平面研磨面の交叉角度測
    定具。 5 切欠を有する受板に基準となる平面研磨面を
    圧着させる小物体の支持部材を、小物体とともに
    回動し得るように構成した特許請求の範囲第4項
    記載の小物体の平面研磨面の交叉角度測定具。 6 円周または円周に近い多角面の周面に沿つた
    反射面を有する本体の側面適所に交叉した平面研
    磨面を有する小物体を有する指輪などを、この小
    物体を上にして保持する突部を設けた特許請求の
    範囲第1項記載の小物体の平面研磨面の交叉角度
    測定具。 7 本体の側面適所に揺動自在に取付けた揺動部
    材に小物体を有する指輪などを保持する突部を設
    けた特許請求の範囲第6項記載の小物体の平面研
    磨面の交叉角度測定具。
JP21632082A 1982-12-08 1982-12-08 小物体の平面研磨面の交叉角度測定具 Granted JPS59105501A (ja)

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JPS59105501A JPS59105501A (ja) 1984-06-18
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ID=16686676

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JP (1) JPS59105501A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01113707U (ja) * 1988-01-22 1989-07-31
JPH01282603A (ja) * 1988-05-10 1989-11-14 Hitachi Ltd 運転操作監視方法、及び、運転操作監視装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01113707U (ja) * 1988-01-22 1989-07-31
JPH01282603A (ja) * 1988-05-10 1989-11-14 Hitachi Ltd 運転操作監視方法、及び、運転操作監視装置

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JPS59105501A (ja) 1984-06-18

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