JPS6233320A - 磁気デイスク用ヘツド - Google Patents
磁気デイスク用ヘツドInfo
- Publication number
- JPS6233320A JPS6233320A JP17230085A JP17230085A JPS6233320A JP S6233320 A JPS6233320 A JP S6233320A JP 17230085 A JP17230085 A JP 17230085A JP 17230085 A JP17230085 A JP 17230085A JP S6233320 A JPS6233320 A JP S6233320A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic
- head
- disk
- optical
- gap
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は磁気ディスクと磁気ヘッドとの間の微少隙間を
光学的に測定し、かつ同時に電磁変換特性も測定し得る
装置に関する。
光学的に測定し、かつ同時に電磁変換特性も測定し得る
装置に関する。
〈従来の技術〉
磁気ディスク装置においては、磁気ヘッドと磁気ディス
クとの間の隙間の多少は電磁変換特性に大きな影響を与
える。ハードディスク装置においては高速回転する磁気
ディスクに対して、磁気ヘッドが微小隙間をもって浮上
している。また、フロッピーディスク装置ではディスク
の表面粗さ、ディスクのうねり、磁気ヘッドの振動等の
要因で磁気ヘッドとディスクとの間に微小な隙間が生じ
る。一方、磁気ディスクの高密度化に伴って磁気ヘッド
と磁気ディスクとの間の隙間をサブミクロン以下で安定
に走行させねばならず、この隙間を高精度に測定する必
要が生じている。特に、フロッピーディスクにおいては
ヘッドとディスクとの間の隙間が０．１ μｍ以下であ
り、サブミクロン以下での計測が必要になる。
クとの間の隙間の多少は電磁変換特性に大きな影響を与
える。ハードディスク装置においては高速回転する磁気
ディスクに対して、磁気ヘッドが微小隙間をもって浮上
している。また、フロッピーディスク装置ではディスク
の表面粗さ、ディスクのうねり、磁気ヘッドの振動等の
要因で磁気ヘッドとディスクとの間に微小な隙間が生じ
る。一方、磁気ディスクの高密度化に伴って磁気ヘッド
と磁気ディスクとの間の隙間をサブミクロン以下で安定
に走行させねばならず、この隙間を高精度に測定する必
要が生じている。特に、フロッピーディスクにおいては
ヘッドとディスクとの間の隙間が０．１ μｍ以下であ
り、サブミクロン以下での計測が必要になる。
本発明者等は先にこの微少隙間を計測する装置として以
下の装置を提供している。
下の装置を提供している。
すなわち、ガラスなどの透光性材料からなる光学ヘッド
を被測定物たる磁気ディスクの上部に近接配置し、特定
波長の入射光を光学ヘッドを通過して磁気ディスクの被
計測面に入射させる。これにより、光学ヘッドの下面に
おける反射光と被計測面における反射光との干渉による
干渉縞を測定することにより光学ヘッドと被計測面との
間における微小隙間を計測するように構成しである。
を被測定物たる磁気ディスクの上部に近接配置し、特定
波長の入射光を光学ヘッドを通過して磁気ディスクの被
計測面に入射させる。これにより、光学ヘッドの下面に
おける反射光と被計測面における反射光との干渉による
干渉縞を測定することにより光学ヘッドと被計測面との
間における微小隙間を計測するように構成しである。
この装置は微少の隙間を正確に測定できるが、磁気ディ
スクと磁気ヘッドとの隙間が変化すると電磁変換特性も
変化するので隙間の測定と同時にこの電磁変換特性の変
化も測定できることが望ましい。しかし、上述の装置は
ヘッドを光学ガラスやプラスチックスにより形成しであ
るので、同時に電磁変換特性を測定することはできなか
った。
スクと磁気ヘッドとの隙間が変化すると電磁変換特性も
変化するので隙間の測定と同時にこの電磁変換特性の変
化も測定できることが望ましい。しかし、上述の装置は
ヘッドを光学ガラスやプラスチックスにより形成しであ
るので、同時に電磁変換特性を測定することはできなか
った。
このため発明者等はさらに、特願昭５９−１６５５６３
号において磁気ディスクと磁気ヘッドとの間の微少隙間
を測定すると共に、同時に磁気変換特性の変化も測定で
きる方法および装置を提供した。本発明はこの装置に改
良を加えたものである。
号において磁気ディスクと磁気ヘッドとの間の微少隙間
を測定すると共に、同時に磁気変換特性の変化も測定で
きる方法および装置を提供した。本発明はこの装置に改
良を加えたものである。
〈発明が解決しようとする問題点〉
先に本発明者等が提供した、微少隙間と磁気変換特性と
を同時に測定できる装置は、磁気ヘッドと光学ヘッドと
の一体構成の方法が必ずしも実用的でなく、実機に取り
付けるには構造的にやや難点があることに鑑み構成した
ものであり、構成をより実用的にした装置である。
を同時に測定できる装置は、磁気ヘッドと光学ヘッドと
の一体構成の方法が必ずしも実用的でなく、実機に取り
付けるには構造的にやや難点があることに鑑み構成した
ものであり、構成をより実用的にした装置である。
〈問題点を解決するための手段〉
本発明は、以上の問題点を解決すべく構成したものであ
り、キャリッジに対して、ヘッドとディスクの間におけ
る電磁変換特性を測定する磁気コアを、微少隙間を光学
的に測定する光学ヘッド等により挟持するよう構成した
測定部を取り付けた装置である。
り、キャリッジに対して、ヘッドとディスクの間におけ
る電磁変換特性を測定する磁気コアを、微少隙間を光学
的に測定する光学ヘッド等により挟持するよう構成した
測定部を取り付けた装置である。
〈実施例〉
以下本発明の実施例につき図面を用いて具体的に説明す
る。
る。
第１図及び第２図おいて、符号１は光学チップ、２は光
学スライダ、３は磁気コア、４はこの磁気コアに巻いた
巻線、５は磁気へ７ド、６は磁気ディスク、７は入射光
である。このうち、光学ヘッド１と光学チップ２はガラ
ス、プラスチックス等の透光性材料からなり、後述のよ
うに両者１．２と磁気ディスクの間の隙間の測定を行う
。磁気コア３は現在使用されているものと同等のものを
用い、電磁変換を行う機能を有し、記録再生が可能なよ
うなっている。この磁気コア３は光学チップ１および光
学スライダ２に対して、接着剤等の接着手段により接続
されている。この構造により、磁気コア３は光学チップ
１および光学スライダ２により挟持され、これら王者に
より磁気ヘッド５を構成する。この磁気ヘッド５は磁気
ディスクの内周側と外周側との間を移動するキャリッジ
（図示せず）に取り付けられる。
学スライダ、３は磁気コア、４はこの磁気コアに巻いた
巻線、５は磁気へ７ド、６は磁気ディスク、７は入射光
である。このうち、光学ヘッド１と光学チップ２はガラ
ス、プラスチックス等の透光性材料からなり、後述のよ
うに両者１．２と磁気ディスクの間の隙間の測定を行う
。磁気コア３は現在使用されているものと同等のものを
用い、電磁変換を行う機能を有し、記録再生が可能なよ
うなっている。この磁気コア３は光学チップ１および光
学スライダ２に対して、接着剤等の接着手段により接続
されている。この構造により、磁気コア３は光学チップ
１および光学スライダ２により挟持され、これら王者に
より磁気ヘッド５を構成する。この磁気ヘッド５は磁気
ディスクの内周側と外周側との間を移動するキャリッジ
（図示せず）に取り付けられる。
次に主として第２図を用いてこの装置の作動状態につい
て説明する。
て説明する。
先ず、磁気へラド５をディスク６の上部に配置し、この
磁気ヘッド上部から単色光または白色光を入射光７とし
て入射させる。この際、磁気ヘッド５の光学チップ１と
光学スライダ２に入射した光は、各々光学チップ１の下
面と光学スライダ２の下面で反射して反射光７ａとなる
。また磁気ディスク６の表面６ａで反射した光は反射光
７ｂとなり、再反射光７ａ、７ｂは相互に干渉して干渉
縞を生じる。この場合、入射光７の波長をλとし、かつ
単色光とし、またｎを干渉次数とすると、隙間ｄは、ｄ
＝ｍλ／２のときに暗線となり、ｄ＝（２ｎ＋１）／４
のときに明線となる。従って、この干渉縞を測定するこ
とにより、磁気ヘッドの位置に於ける隙間ｄの測定がで
きる。
磁気ヘッド上部から単色光または白色光を入射光７とし
て入射させる。この際、磁気ヘッド５の光学チップ１と
光学スライダ２に入射した光は、各々光学チップ１の下
面と光学スライダ２の下面で反射して反射光７ａとなる
。また磁気ディスク６の表面６ａで反射した光は反射光
７ｂとなり、再反射光７ａ、７ｂは相互に干渉して干渉
縞を生じる。この場合、入射光７の波長をλとし、かつ
単色光とし、またｎを干渉次数とすると、隙間ｄは、ｄ
＝ｍλ／２のときに暗線となり、ｄ＝（２ｎ＋１）／４
のときに明線となる。従って、この干渉縞を測定するこ
とにより、磁気ヘッドの位置に於ける隙間ｄの測定がで
きる。
また、入射光７を白色光とした場合は、干渉縞が隙間ｄ
の大きさに対応した色の縞となるので、予め隙間ｄと干
渉色との関係を計測装置（図示せず）に入力しておくこ
とにより、隙間ｄの測定が可能となる。
の大きさに対応した色の縞となるので、予め隙間ｄと干
渉色との関係を計測装置（図示せず）に入力しておくこ
とにより、隙間ｄの測定が可能となる。
一方、磁気コア３は電磁変換特性を測定すると共に、デ
ィスク６に対して電気信号による記録、再生をも同時に
行うことができる。つまり、このにょうに構成すること
より、磁気ヘッドにおける隙間側、定と電磁変換特性の
測定とが同時に行えるので、磁気ヘッドと磁気ディスク
との間におけるインターフェイスを正確に把握すること
ができる。
ィスク６に対して電気信号による記録、再生をも同時に
行うことができる。つまり、このにょうに構成すること
より、磁気ヘッドにおける隙間側、定と電磁変換特性の
測定とが同時に行えるので、磁気ヘッドと磁気ディスク
との間におけるインターフェイスを正確に把握すること
ができる。
く効果〉
本発明によれば、磁気ディスクの電磁変換特性と、磁気
ヘッド及び磁気ディスク間の微少隙間の同時測定が可能
となり、従来実験的にも求める事が不可能であった、電
磁変換特性と微少隙間との関係を解明することができる
ようになった。
ヘッド及び磁気ディスク間の微少隙間の同時測定が可能
となり、従来実験的にも求める事が不可能であった、電
磁変換特性と微少隙間との関係を解明することができる
ようになった。
また、磁気コアを透光性材料からなる光学チップと光学
スライダとにより挟持する構造としたので磁気コアを中
心としてその周辺部のヘッド、ディスク間の隙間を測定
することができ、ヘッド、ディスクの走行安定性、電磁
変換特性を向上させることができる。
スライダとにより挟持する構造としたので磁気コアを中
心としてその周辺部のヘッド、ディスク間の隙間を測定
することができ、ヘッド、ディスクの走行安定性、電磁
変換特性を向上させることができる。
第１図は本発明の実施例を示す磁気ヘッドの斜視図、第
２図は第１図の磁気ヘッドによる測定状態を示す磁気ヘ
ッドの側面図である。 １・・・光学チップ ２・・・光学スライダ３・・
・磁気コア ５・・・磁気ヘッド６・・・磁気デ
ィスク 第１図 １：犬ヲヤ＋ツフ′ ２：χ戸？スラブ７” ３：磁気コア ６；ｊム気ヂ”イスク
２図は第１図の磁気ヘッドによる測定状態を示す磁気ヘ
ッドの側面図である。 １・・・光学チップ ２・・・光学スライダ３・・
・磁気コア ５・・・磁気ヘッド６・・・磁気デ
ィスク 第１図 １：犬ヲヤ＋ツフ′ ２：χ戸？スラブ７” ３：磁気コア ６；ｊム気ヂ”イスク
Claims (1)
- フロッピーディスク等の磁気ディスクに対して用いる磁
気ヘッドの構造において、磁気コアを、透光性材料から
成る光学チップと光学スライダとにより挟持して磁気ヘ
ッドを構成し、光学チップ、光学スライダは磁気ヘッド
と磁気ディスクとの間の微少隙間の測定を、磁気コアは
電磁変換特性を各々測定することを特徴とする磁気ディ
スク用ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17230085A JPS6233320A (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 | 磁気デイスク用ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17230085A JPS6233320A (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 | 磁気デイスク用ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6233320A true JPS6233320A (ja) | 1987-02-13 |
Family
ID=15939369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17230085A Pending JPS6233320A (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 | 磁気デイスク用ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6233320A (ja) |
-
1985
- 1985-08-07 JP JP17230085A patent/JPS6233320A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5199090A (en) | Flying magnetooptical read/write head employing an optical integrated circuit waveguide | |
| EP0209140B1 (en) | A method of measuring a minute flying height of an object and a magnetic disk apparatus | |
| US3665431A (en) | Magneto-optic transducer | |
| JPS6233320A (ja) | 磁気デイスク用ヘツド | |
| US4677513A (en) | Magneto-optic thin film head and method of use | |
| JPH0281307A (ja) | 磁気ヘッド | |
| JPH0240573Y2 (ja) | ||
| JPH06290500A (ja) | 磁気光学複合センサ | |
| JPH03201222A (ja) | 光記録方式 | |
| JPH0443338B2 (ja) | ||
| EP0147436B1 (en) | Apparatus for reading magnetically recorded information | |
| JP2546719B2 (ja) | 磁気ヘッドの浮上隙間測定方法 | |
| JP2904496B2 (ja) | 磁気ヘッド | |
| JP2790711B2 (ja) | 光磁気ディスクの性能指数測定方法 | |
| JPS5637839A (en) | Magnetooptical reproducing device | |
| JPS6120657Y2 (ja) | ||
| JPS63244308A (ja) | 磁気ヘツド | |
| KR100314089B1 (ko) | 광디스크제조용글래스원반감광제의현상상태검사시스템 | |
| JPS6161222A (ja) | 浮動式磁気ヘツド | |
| JPS6275954A (ja) | 記録再生方法 | |
| JPS5956644U (ja) | 磁気記録再生装置 | |
| JPS59122557U (ja) | 光電圧計 | |
| JPS60150202A (ja) | 再生方法および装置 | |
| JP2005285252A (ja) | 磁気ヘッドの評価方法 | |
| JPH04117610A (ja) | 光ディスク記録再生装置 |