JPS6234074A - シ−ト状絶縁体の交流絶縁破壊試験装置 - Google Patents
シ−ト状絶縁体の交流絶縁破壊試験装置Info
- Publication number
- JPS6234074A JPS6234074A JP17488685A JP17488685A JPS6234074A JP S6234074 A JPS6234074 A JP S6234074A JP 17488685 A JP17488685 A JP 17488685A JP 17488685 A JP17488685 A JP 17488685A JP S6234074 A JPS6234074 A JP S6234074A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sheet
- dielectric breakdown
- test
- electrodes
- test equipment
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- Pending
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、シート状絶縁体の交流絶縁破壊試験に用いら
れる試験装置に関するものである。
れる試験装置に関するものである。
［従来の技術］
電線ケーブル等のケーブル導体を被覆するシート状絶縁
体は、導体に被覆される以前に交流絶縁破壊試験が行な
われる。
体は、導体に被覆される以前に交流絶縁破壊試験が行な
われる。
この交流絶縁破壊試験は従来、第２図にその一例を示す
ように、耐電圧容器８に充填された電気絶縁性液体３中
において、ポリエチレンシート等のシート状絶縁体から
なる供試シート２を上下一対の金属製の球状電極１．１
で挟み付け、この一対の球状電極１．１に高電圧Ｅ （
ＫＶ）を印加して行なわれるようになっている。
ように、耐電圧容器８に充填された電気絶縁性液体３中
において、ポリエチレンシート等のシート状絶縁体から
なる供試シート２を上下一対の金属製の球状電極１．１
で挟み付け、この一対の球状電極１．１に高電圧Ｅ （
ＫＶ）を印加して行なわれるようになっている。
この場合、球状電極１，１同士の中心を結ぶ中心線ｌａ
上に位置する供試シート２の交流絶縁破壊値を検出する
のであるが、このような球状電極１．１を用いているに
も拘わらず、上記中心線１ａから離間した位置１ｂ、例
えば中心線１ａから２〜５ｍｍ離れた位置で絶縁破壊を
しばしば起し、誤った試験結果を得る原因になっていた
。
上に位置する供試シート２の交流絶縁破壊値を検出する
のであるが、このような球状電極１．１を用いているに
も拘わらず、上記中心線１ａから離間した位置１ｂ、例
えば中心線１ａから２〜５ｍｍ離れた位置で絶縁破壊を
しばしば起し、誤った試験結果を得る原因になっていた
。
［発明が解決しようとする問題点］
上述のように従来の交流絶縁破壊試験装置において、中
心部から離れた位置で絶縁破壊が生じるのは、電極端部
からの放電破壊によるものと思われる。
心部から離れた位置で絶縁破壊が生じるのは、電極端部
からの放電破壊によるものと思われる。
従って、本発明の目的は上記従来の欠点を除去した′電
極同士の中心線上において絶縁破壊か生しるようにした
、シート状絶縁体の交流絶縁破壊試験装置を提供するに
ある。
極同士の中心線上において絶縁破壊か生しるようにした
、シート状絶縁体の交流絶縁破壊試験装置を提供するに
ある。
［問題点を解決するための手段および作用］本発明の試
験装置は、金属製の一対の球状電極を半導電性シートで
被覆した電極によって供試シートに高電圧を印加するよ
うにすると共に、絶縁破壊時に、この半導電性シートに
まで破壊孔か生じないように電源に高速遮断装置付電源
装置を用いたものである。
験装置は、金属製の一対の球状電極を半導電性シートで
被覆した電極によって供試シートに高電圧を印加するよ
うにすると共に、絶縁破壊時に、この半導電性シートに
まで破壊孔か生じないように電源に高速遮断装置付電源
装置を用いたものである。
［実 施 例コ
以下、図示の一実施例に基づいて本発明を説明する。
第１図に示すように、本発明による交流絶縁破壊試験装
置においては金属製の一対の電極１，１は半導電性シー
ト９で被覆した電極が用いられる。
置においては金属製の一対の電極１，１は半導電性シー
ト９で被覆した電極が用いられる。
上記半導電性シート９としては絶縁シートにカーボン扮
を配合して導電性をもたせたシート、あるいは導電性ポ
リマフィルム等が使用される。このように半導電性シー
ト９によって被覆された一対の球状電極１，１により耐
電圧容器８に充填された電気絶縁性液体３中において供
試シート２を」二下から挟み付ける。そして、この両電
極１．１に高速遮断装置付き電源装置から高電圧か印加
される。
を配合して導電性をもたせたシート、あるいは導電性ポ
リマフィルム等が使用される。このように半導電性シー
ト９によって被覆された一対の球状電極１，１により耐
電圧容器８に充填された電気絶縁性液体３中において供
試シート２を」二下から挟み付ける。そして、この両電
極１．１に高速遮断装置付き電源装置から高電圧か印加
される。
上記高速遮断装置付きの高電圧交流電源装置としては、
直列共振型トランスが用いられ、そのトランスの１次側
を適時サイリスタで短絡するようになっている。即ち、
直列共振型トランス１３はその１次側巻線を可変リアク
トル１４を介して商用交流電源１８に接続されると共に
、同１次側巻線の両端には両波用サイリスタ１５が接続
されている。この両波用サイリスタ１５の制御端子には
トリガパルス制御部１６から導通信号が印加されるよう
になっている。また上記制御部１６は図示されない遮断
器操作部１７に接続されている。そしてトランス１３の
２次側巻線の一端は、供試シート２の絶縁破壊時に流入
する電流を制限するための制動抵抗１０を通じて前記両
電極１．］のうちの一方の電極１に接続され、他端は他
方の電極１に接続されると共に接地されている。また２
次側巻線の両端には絶縁破壊検出用コンデンサ１１と抵
抗１２の直列回路が接続されており、同回路のコンデン
サ１１と抵抗１２の接続点は上記トリガパルス制御部１
６に接続されている。
直列共振型トランスが用いられ、そのトランスの１次側
を適時サイリスタで短絡するようになっている。即ち、
直列共振型トランス１３はその１次側巻線を可変リアク
トル１４を介して商用交流電源１８に接続されると共に
、同１次側巻線の両端には両波用サイリスタ１５が接続
されている。この両波用サイリスタ１５の制御端子には
トリガパルス制御部１６から導通信号が印加されるよう
になっている。また上記制御部１６は図示されない遮断
器操作部１７に接続されている。そしてトランス１３の
２次側巻線の一端は、供試シート２の絶縁破壊時に流入
する電流を制限するための制動抵抗１０を通じて前記両
電極１．］のうちの一方の電極１に接続され、他端は他
方の電極１に接続されると共に接地されている。また２
次側巻線の両端には絶縁破壊検出用コンデンサ１１と抵
抗１２の直列回路が接続されており、同回路のコンデン
サ１１と抵抗１２の接続点は上記トリガパルス制御部１
６に接続されている。
本実施例の試験装置は以上のように構成されている。次
にその動作を述べると、今、供試シート２を半導電性シ
ート９を被覆した一対の電極１゜１で挟み付けて、電源
装置からこの電極１，１に高電圧を印加し試験を行なう
と、球状電極１，１が半導電性シート９で被覆されてい
ることにより、球状電極端部での絶縁破壊作用が生（７
にくく、このため球状電極１．１の中心線」二のシート
部て絶縁破壊が発生する。そして、供試シート２か絶縁
破壊すると、破壊検出用コンデンサ１１を介して抵抗１
２にザージ電圧が発生し、これがトリガパルス制御部１
６に送られる。すると、同制御部１６から上記両波用サ
イリスタ１５に導通用パルスか送られて、同サイリスタ
１５は導通してトランス１３の１次側を短絡する。また
これと同時に上記制御部１６からは電源遮断器操作部１
７にも信号が送られるのでこれによって電源も遮断され
る。
にその動作を述べると、今、供試シート２を半導電性シ
ート９を被覆した一対の電極１゜１で挟み付けて、電源
装置からこの電極１，１に高電圧を印加し試験を行なう
と、球状電極１，１が半導電性シート９で被覆されてい
ることにより、球状電極端部での絶縁破壊作用が生（７
にくく、このため球状電極１．１の中心線」二のシート
部て絶縁破壊が発生する。そして、供試シート２か絶縁
破壊すると、破壊検出用コンデンサ１１を介して抵抗１
２にザージ電圧が発生し、これがトリガパルス制御部１
６に送られる。すると、同制御部１６から上記両波用サ
イリスタ１５に導通用パルスか送られて、同サイリスタ
１５は導通してトランス１３の１次側を短絡する。また
これと同時に上記制御部１６からは電源遮断器操作部１
７にも信号が送られるのでこれによって電源も遮断され
る。
このように電源をも遮断するようにした理由は、上記の
ように絶縁破壊を生じると、半導電性シート９まで破壊
孔ができ易くなる。このため、電源を高速度で遮断する
と、上記破壊孔を作る焼損エネルギーが少なくなり半導
電性シート９．９の損傷も少なくなって数多くのシート
の破壊試験において半導電性シートの交換はせずとも済
むようになる。よって破壊試験が短時間で行なえるよう
になる。
ように絶縁破壊を生じると、半導電性シート９まで破壊
孔ができ易くなる。このため、電源を高速度で遮断する
と、上記破壊孔を作る焼損エネルギーが少なくなり半導
電性シート９．９の損傷も少なくなって数多くのシート
の破壊試験において半導電性シートの交換はせずとも済
むようになる。よって破壊試験が短時間で行なえるよう
になる。
次表は製法の異なるＡ、８２種類の厚さ０，１５ＩＩ１
ｍのポリエチレンシートの交流破壊試験結果を示したも
のである。なお、メルトインデックスＭｌはＡの方が１
０、Ｂの方が１．０である。
ｍのポリエチレンシートの交流破壊試験結果を示したも
のである。なお、メルトインデックスＭｌはＡの方が１
０、Ｂの方が１．０である。
以下余白
電極として従来の金属製電極を用いると試料Ａで１７５
、Ｂで１６５ （ＫＶ／ｍｍ）程度で大部分が球状電極
中心線上から２〜５ｍｍｆｉれた部分で絶縁破壊を生じ
たのに対して、本発明によるカーボン粉入り半導電性ポ
リエチレンシートを波頂した電極を用いると、試料Ａは
１０回破壊テストした平均か２３６ （ＫＶ／ｍｍ）で
、そのうち６回は球状電極中心線上の破壊であり、残り
は中心線上から２〜３ｍｍ離れた位置であった。なお試
料Ｂは１０回の全てが球状電極中心線上の破壊であった
。
、Ｂで１６５ （ＫＶ／ｍｍ）程度で大部分が球状電極
中心線上から２〜５ｍｍｆｉれた部分で絶縁破壊を生じ
たのに対して、本発明によるカーボン粉入り半導電性ポ
リエチレンシートを波頂した電極を用いると、試料Ａは
１０回破壊テストした平均か２３６ （ＫＶ／ｍｍ）で
、そのうち６回は球状電極中心線上の破壊であり、残り
は中心線上から２〜３ｍｍ離れた位置であった。なお試
料Ｂは１０回の全てが球状電極中心線上の破壊であった
。
［発明の効果］
本発明によれば、絶縁性シートの交流絶縁破壊試験にお
いて電極端部からの破壊が殆どなく、従ってシートの正
確な評価を行なうことができ、かつ破壊試験も短時間に
効率良く行なうことができる、従来の欠点を除去したシ
ート状絶縁体の交流絶縁破壊試験装置を提供することが
できる。
いて電極端部からの破壊が殆どなく、従ってシートの正
確な評価を行なうことができ、かつ破壊試験も短時間に
効率良く行なうことができる、従来の欠点を除去したシ
ート状絶縁体の交流絶縁破壊試験装置を提供することが
できる。
” 第１図は、本発明の一実施例を示す交流絶縁破壊試
験装置の電気回路図、 第２図は、従来の試験装置におけるｌｌ１１１定電極部
分を示す線図である。 １．１・・・・・・・・・一対の電極 ２・・・・・・・・・・・・・・・供試シート３・・・
・・・・・・・・・・・・絶縁性液体９．９・・・・・
・・半導電性シート 特許出願人 日立電線株式会社 ゛′・爺Ｘｔ’Ｌ；廖・′
験装置の電気回路図、 第２図は、従来の試験装置におけるｌｌ１１１定電極部
分を示す線図である。 １．１・・・・・・・・・一対の電極 ２・・・・・・・・・・・・・・・供試シート３・・・
・・・・・・・・・・・・絶縁性液体９．９・・・・・
・・半導電性シート 特許出願人 日立電線株式会社 ゛′・爺Ｘｔ’Ｌ；廖・′
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 シート状絶縁体の供試シートを絶縁性液体中において挟
持して、同供試シートに絶縁破壊試験用の高電圧を印加
する一対の電極と、 この一対の電極をそれぞれ被覆する半導電性シートと、 上記一対の電極に高電圧を印加するための、高速遮断装
置付き電源装置と、 を具備することを特徴とするシート状絶縁体の交流絶縁
破壊試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17488685A JPS6234074A (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 | シ−ト状絶縁体の交流絶縁破壊試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17488685A JPS6234074A (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 | シ−ト状絶縁体の交流絶縁破壊試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6234074A true JPS6234074A (ja) | 1987-02-14 |
Family
ID=15986383
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17488685A Pending JPS6234074A (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 | シ−ト状絶縁体の交流絶縁破壊試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6234074A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01107972U (ja) * | 1988-01-14 | 1989-07-20 | ||
| JPH0589939A (ja) * | 1991-09-27 | 1993-04-09 | Mitsubishi Materials Corp | サージカウンタ |
| CN107607846A (zh) * | 2017-10-17 | 2018-01-19 | 广东电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种绝缘子损伤试验平台 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51113674A (en) * | 1975-03-28 | 1976-10-06 | Toshiba Corp | Insulation proof test apparatus |
| JPS6073373A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | Yazaki Corp | 絶縁破壊試験用電極 |
-
1985
- 1985-08-07 JP JP17488685A patent/JPS6234074A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51113674A (en) * | 1975-03-28 | 1976-10-06 | Toshiba Corp | Insulation proof test apparatus |
| JPS6073373A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | Yazaki Corp | 絶縁破壊試験用電極 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01107972U (ja) * | 1988-01-14 | 1989-07-20 | ||
| JPH0589939A (ja) * | 1991-09-27 | 1993-04-09 | Mitsubishi Materials Corp | サージカウンタ |
| CN107607846A (zh) * | 2017-10-17 | 2018-01-19 | 广东电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种绝缘子损伤试验平台 |
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