JPS6236083Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6236083Y2 JPS6236083Y2 JP1981097467U JP9746781U JPS6236083Y2 JP S6236083 Y2 JPS6236083 Y2 JP S6236083Y2 JP 1981097467 U JP1981097467 U JP 1981097467U JP 9746781 U JP9746781 U JP 9746781U JP S6236083 Y2 JPS6236083 Y2 JP S6236083Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- paint
- fluorescent
- coating
- tank
- coating film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は金属面に塗装を行なう処理ラインの工
程において、その塗膜厚をオンラインで測定する
装置に関するものである。
程において、その塗膜厚をオンラインで測定する
装置に関するものである。
帯状鋼板面塗装処理のオンラインにおける被膜
厚の測定には蛍光Ｘ線分析法が多く用いられてい
る。この方法の原理は、被膜の蛍光Ｘ線強度を測
定する方法と、下地金属の蛍光Ｘ線強度を測定す
る方法の２種類に分けられる。しかし、塗料の製
造における管理規準は色彩におかれているために
Ti，Al，Pbなどの塗料成分はロツトごとに変動
する。したがつて前者の方法で塗膜の一成分の蛍
光Ｘ線強度によつて塗膜厚を測定すると、同一塗
膜厚でも塗膜成分の差により蛍光Ｘ線強度に差が
生じ測定できない。また、後者の方法では、入射
Ｘ線および下地金属の蛍光Ｘ線の被膜に吸収され
る量が塗膜成分の差により変動するため、塗膜成
分が末知のままでは下地金属の蛍光Ｘ線強度から
の測定はできない。
厚の測定には蛍光Ｘ線分析法が多く用いられてい
る。この方法の原理は、被膜の蛍光Ｘ線強度を測
定する方法と、下地金属の蛍光Ｘ線強度を測定す
る方法の２種類に分けられる。しかし、塗料の製
造における管理規準は色彩におかれているために
Ti，Al，Pbなどの塗料成分はロツトごとに変動
する。したがつて前者の方法で塗膜の一成分の蛍
光Ｘ線強度によつて塗膜厚を測定すると、同一塗
膜厚でも塗膜成分の差により蛍光Ｘ線強度に差が
生じ測定できない。また、後者の方法では、入射
Ｘ線および下地金属の蛍光Ｘ線の被膜に吸収され
る量が塗膜成分の差により変動するため、塗膜成
分が末知のままでは下地金属の蛍光Ｘ線強度から
の測定はできない。
従来オンラインによる塗膜厚の測定は行なわれ
ていたが、これは塗膜成分をオフラインにより分
析しておき、その値を用い上記後者の方法により
塗膜成分を補正していた。つまりこの方法では塗
膜成分をオフラインで分析しているために工数上
又は迅速性に問題があつた。
ていたが、これは塗膜成分をオフラインにより分
析しておき、その値を用い上記後者の方法により
塗膜成分を補正していた。つまりこの方法では塗
膜成分をオフラインで分析しているために工数上
又は迅速性に問題があつた。
本考案は、塗装ラインにおいて、塗装前の液状
塗料の組成成分を分析する装置を装備し、塗装後
の硬化塗膜の厚み測定も含めて一貫したオンライ
ン分析を可能としたものである。
塗料の組成成分を分析する装置を装備し、塗装後
の硬化塗膜の厚み測定も含めて一貫したオンライ
ン分析を可能としたものである。
すなわち本考案は、塗装前の液状塗料の成分分
析をロールコーターの塗料槽中の塗料を分析する
ようにし、このときの分析方法としては、オンラ
イン分析に適しているエネルギ分散方式の蛍光Ｘ
線分析法を採用した。また蛍光Ｘ線分析における
試料面は分析精度を維持するために、平滑で乱れ
が少なくかつＸ線管球および検出器から試料面の
距離の変動がないことが必要であり、このために
ロールコーターの塗料槽にオーバーフロー部をも
つ副塗料槽を接続し、この塗料槽で上記試料が得
られるように配慮した。そして上記副塗料槽の試
料面の上方にＸ線源およびけい光Ｘ線の検出器を
設置し、液状塗料より発生する蛍光Ｘ線の強度を
測定するようにし、このときの上記検出器として
Si（Li）半導体検出器を用いている。
析をロールコーターの塗料槽中の塗料を分析する
ようにし、このときの分析方法としては、オンラ
イン分析に適しているエネルギ分散方式の蛍光Ｘ
線分析法を採用した。また蛍光Ｘ線分析における
試料面は分析精度を維持するために、平滑で乱れ
が少なくかつＸ線管球および検出器から試料面の
距離の変動がないことが必要であり、このために
ロールコーターの塗料槽にオーバーフロー部をも
つ副塗料槽を接続し、この塗料槽で上記試料が得
られるように配慮した。そして上記副塗料槽の試
料面の上方にＸ線源およびけい光Ｘ線の検出器を
設置し、液状塗料より発生する蛍光Ｘ線の強度を
測定するようにし、このときの上記検出器として
Si（Li）半導体検出器を用いている。
またロールコーターでの塗装後乾燥機を通して
硬化した成品の塗膜面にＸ線を照射し、エネルギ
ー分散方式の検出器により下地金属の蛍光線強度
を測定するものである。
硬化した成品の塗膜面にＸ線を照射し、エネルギ
ー分散方式の検出器により下地金属の蛍光線強度
を測定するものである。
なお蛍光Ｘ線による塗膜厚の測定の原理は次の
ようにして表わされる。
ようにして表わされる。
ここで、ＩおよびIoは塗膜厚がそれぞれｔおよ
びゼロのときの下地金属の蛍光Ｘ線強度であり、
μ１およびμ２はそれぞれ入射Ｘ線および下地金
属の蛍光Ｘ線に対する塗膜の線吸収係数φは入射
Ｘ線の試料面に対する入射角、は蛍光Ｘ線の取
り出し角である。
びゼロのときの下地金属の蛍光Ｘ線強度であり、
μ１およびμ２はそれぞれ入射Ｘ線および下地金
属の蛍光Ｘ線に対する塗膜の線吸収係数φは入射
Ｘ線の試料面に対する入射角、は蛍光Ｘ線の取
り出し角である。
いまμ１およびμ２は塗料成分の関数であり、
μ１／ρ＝Σ（μ１／ρ）ｉ×Ci，
μ２／ρ＝Σ（μ２／ρ）ｉ×Ci …(2)
として表わされる。
ここで、（μ１／ρ）ｉおよび（μ２／ρ）ｉ
はそれぞれ入射Ｘ線および下地金属の蛍光Ｘ線に
対する塗料成分ｉの質量吸収係数であり、Ciは
塗料成分の重量分比である。
はそれぞれ入射Ｘ線および下地金属の蛍光Ｘ線に
対する塗料成分ｉの質量吸収係数であり、Ciは
塗料成分の重量分比である。
すなわち、液体塗料の蛍光Ｘ線強度より塗料成
分の重量分比Ciを求め、この値を上記(1)式に適
用し、硬化後の成品のＸ線強度より塗膜厚さｔを
測定するのである。
分の重量分比Ciを求め、この値を上記(1)式に適
用し、硬化後の成品のＸ線強度より塗膜厚さｔを
測定するのである。
以下図面に示す本考案の一実施例について説明
すれば、まず第１図において、１は被塗装帯鋼
板、２はパスロール、３はバツクアープロール、
４，５は上記鋼板１に塗装を行なうロールコータ
ーである。ところで塗装を終了した鋼板１は乾燥
機６を通過するうちに表面の塗料が硬化し、次段
の水冷タンク７で冷却され、エヤードライヤー８
でその表面部は完全に乾燥した状態になり、塗膜
厚計９を通過するのである。
すれば、まず第１図において、１は被塗装帯鋼
板、２はパスロール、３はバツクアープロール、
４，５は上記鋼板１に塗装を行なうロールコータ
ーである。ところで塗装を終了した鋼板１は乾燥
機６を通過するうちに表面の塗料が硬化し、次段
の水冷タンク７で冷却され、エヤードライヤー８
でその表面部は完全に乾燥した状態になり、塗膜
厚計９を通過するのである。
第２図は上記第１図に示すロールコーター４部
に設けられる塗料成分分析装置１０と上記塗膜厚
計９の実施例を示しており、図中１１はピツクア
ツプロール、１２はコーテイングロールであり、
塗料槽１３内の塗料は上記ロール１１，１２によ
つて適量送出され鋼板１上へ転移塗装される。
に設けられる塗料成分分析装置１０と上記塗膜厚
計９の実施例を示しており、図中１１はピツクア
ツプロール、１２はコーテイングロールであり、
塗料槽１３内の塗料は上記ロール１１，１２によ
つて適量送出され鋼板１上へ転移塗装される。
また上記塗料槽１３は、連管１４を介して副塗
料槽１５に連通されており、この副塗料槽１５に
は、供給される塗料面ａの高さを一定に保つため
のオーバーフロー部１６が設けられている。１７
は塗料タンクであり、ポンプ１８を介する配管１
９により塗料槽１３へ塗料を補給するようになつ
ている。
料槽１５に連通されており、この副塗料槽１５に
は、供給される塗料面ａの高さを一定に保つため
のオーバーフロー部１６が設けられている。１７
は塗料タンクであり、ポンプ１８を介する配管１
９により塗料槽１３へ塗料を補給するようになつ
ている。
ところで上記副塗料槽１５の塗料面ａの上方に
はＸ線源２０とSi（Li）半導体検出器２１が設置
され、塗料成分の蛍光Ｘ線は検出器２１により検
出され、増幅器２２で増幅され波高選別器２３に
より計算器２４に信号が送られる。
はＸ線源２０とSi（Li）半導体検出器２１が設置
され、塗料成分の蛍光Ｘ線は検出器２１により検
出され、増幅器２２で増幅され波高選別器２３に
より計算器２４に信号が送られる。
一方塗膜厚計９では、鋼板１の上面、下面に対
位する放射性同位体241Am２５，２６を設置
し、蛍光Ｘ線を比例計算管２７，２８により検出
するようになつており、更に増幅器２９，３０、
波高選別器３１，３２を通して計算器２４に信号
が送られる。そして計算器２４により、塗料成分
の算出およびその結果を用い、塗膜厚計９からの
信号に補正を加えて塗膜厚を算出し、その値を記
録計３３に表示するのである。
位する放射性同位体241Am２５，２６を設置
し、蛍光Ｘ線を比例計算管２７，２８により検出
するようになつており、更に増幅器２９，３０、
波高選別器３１，３２を通して計算器２４に信号
が送られる。そして計算器２４により、塗料成分
の算出およびその結果を用い、塗膜厚計９からの
信号に補正を加えて塗膜厚を算出し、その値を記
録計３３に表示するのである。
本考案によれば、以上の如く塗装工程のロール
コータ部の塗料槽に連通しかつ塗料面の高さが常
に一定に調節された副塗料槽を配設し、該副塗料
槽の塗料面上でエネルギ分散蛍光Ｘ線分析により
塗料の成分を分析しこれを送信するようにした塗
料成分分析装置と、塗装後の鋼板に対位する放射
性同位体と蛍光Ｘ線を検出する比例計算管を配設
した塗膜厚計とを備え、それぞれの信号を計算機
に入力し演算処理するようにしたものであり、塗
料成分の分析をオンラインで行ない、その成分値
と被膜厚み計の蛍光Ｘ線強度とから演算回路によ
り正確な被膜厚を適確かつ迅速に測定することが
できる。
コータ部の塗料槽に連通しかつ塗料面の高さが常
に一定に調節された副塗料槽を配設し、該副塗料
槽の塗料面上でエネルギ分散蛍光Ｘ線分析により
塗料の成分を分析しこれを送信するようにした塗
料成分分析装置と、塗装後の鋼板に対位する放射
性同位体と蛍光Ｘ線を検出する比例計算管を配設
した塗膜厚計とを備え、それぞれの信号を計算機
に入力し演算処理するようにしたものであり、塗
料成分の分析をオンラインで行ない、その成分値
と被膜厚み計の蛍光Ｘ線強度とから演算回路によ
り正確な被膜厚を適確かつ迅速に測定することが
できる。
第１図は塗装工程を示す配置図、第２図は本考
案に係る塗料成分分析装置と塗膜厚計の構造を示
す説明図である。 ９は被膜厚計、１０は塗料成分分析装置、１３
は塗料槽、１５は副塗料槽、２０はＸ線源、２１
は半導体検出器、２２，２９，３０は増幅器、２
３，３１，３２は波高選別器、２４は計算器。
案に係る塗料成分分析装置と塗膜厚計の構造を示
す説明図である。 ９は被膜厚計、１０は塗料成分分析装置、１３
は塗料槽、１５は副塗料槽、２０はＸ線源、２１
は半導体検出器、２２，２９，３０は増幅器、２
３，３１，３２は波高選別器、２４は計算器。
Claims (1)
- ロールコーター部の塗料槽に対し、これと連通
しかつその塗料面の高さを常時一定に保持する機
能を備えた副塗料槽を配設し、該副塗料槽に対し
その塗料面でエネルギ分散蛍光Ｘ線分析により塗
料の成分を分析可能に配設した塗料成分分析装置
と、塗装後の鋼板に対してその前後に対位させる
放射性同位体と蛍光Ｘ線を検出する比例計算管と
からなる塗膜厚計と、上記塗料成分分析装置の検
出信号と上記塗膜厚計の検出信号とを入力して演
算処理せしめる計算機とを具備して成ることを特
徴とする塗膜厚さ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9746781U JPS582610U (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 塗膜厚さ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9746781U JPS582610U (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 塗膜厚さ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS582610U JPS582610U (ja) | 1983-01-08 |
| JPS6236083Y2 true JPS6236083Y2 (ja) | 1987-09-14 |
Family
ID=29892272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9746781U Granted JPS582610U (ja) | 1981-06-29 | 1981-06-29 | 塗膜厚さ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS582610U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2024262198A1 (ja) * | 2023-06-22 | 2024-12-26 | 株式会社島津製作所 | 蛍光ｘ線分析装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5618668A (en) * | 1979-07-25 | 1981-02-21 | Nippon Oil & Fats Co Ltd | Aqueous adhesive composition |
-
1981
- 1981-06-29 JP JP9746781U patent/JPS582610U/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2024262198A1 (ja) * | 2023-06-22 | 2024-12-26 | 株式会社島津製作所 | 蛍光ｘ線分析装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS582610U (ja) | 1983-01-08 |
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