JPS6236527B2 - - Google Patents
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- JPS6236527B2 JPS6236527B2 JP55164604A JP16460480A JPS6236527B2 JP S6236527 B2 JPS6236527 B2 JP S6236527B2 JP 55164604 A JP55164604 A JP 55164604A JP 16460480 A JP16460480 A JP 16460480A JP S6236527 B2 JPS6236527 B2 JP S6236527B2
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- Japan
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- wave
- ultrasonic
- waves
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- stress
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/25—Measuring force or stress, in general using wave or particle radiation, e.g. X-rays, microwaves, neutrons
- G01L1/255—Measuring force or stress, in general using wave or particle radiation, e.g. X-rays, microwaves, neutrons using acoustic waves, or acoustic emission
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/11—Analysing solids by measuring attenuation of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/34—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/348—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor with frequency characteristics, e.g. single frequency signals, chirp signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S15/00—Systems using the reflection or reradiation of acoustic waves, e.g. sonar systems
- G01S15/88—Sonar systems specially adapted for specific applications
- G01S15/89—Sonar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
- G01S15/8906—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques
- G01S15/895—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques characterised by the transmitted frequency spectrum
- G01S15/8952—Short-range imaging systems; Acoustic microscope systems using pulse-echo techniques characterised by the transmitted frequency spectrum using discrete, multiple frequencies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
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- G01N2291/02827—Elastic parameters, strength or force
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
本発明は超音波の音速から物体内部の応力分布
を求める方法に関するものである。 音速と応力の関係は理論的に求められている
(D.S.Hnghes、J.L.Kelly:Phyoicul Review 第
92巻(1953)1145頁)。例えば縦波を使用した場
合は、 ρ0Vl 2=λ+2μ−P/3K0(7λ+10μ+6l+4m) ……(1) となる。ここに、ρ0:密度、Vl:縦波の速
度、λ、μ:ラメの弾性係数、l、m、n:マー
ナガンの弾性係数、P:一方向張力、K0=1/3(3 λ+2μ):体積弾性率である。音速Vlを次式
のようにする。 Vl=V0l(1+ΔVl/V0l) ……(2) ここにV0lは応力のない状態での音速であり、
ΔVlは応力により生じた音速の変化分である。
ΔVl/V0lは非常に小さい(0.01%〜0.1%)ので
、 Vl 2=V0 2 l(1+2ΔVl/V0l) ……(2)′ となる。この式を第(1)式に代入すると ΔVl/V0l=1/2ρ0V0〓〔λ+2μ−P/3K0(7λ+10μ+6l+4m)〕−1/2 ……(3) となり、ΔVl/V0lがPに比例することがわかる。
この ように、ΔVl/V0lを測定することにより応力を測
定す ることができる。 従来は、上にのべた方法により、音波変化の分
布を測定して応力分布を求めている。第1図にそ
の方法を示す。第1図aにおいて、送信センサ3
より超音波2を発信し、応力のかかつた状態にあ
る物体1を通して受信センサ4で受信し、その伝
播時間を測定する。次に実線の矢印の方向にセン
サーを一定間隔移動し、その場所での伝播時間を
測定する。以上の測定を物体のある範囲全体につ
いて行つたのち、一定角度θだけセンサー3,4
を回転し前と同様な測定をする。このようにして
物体のあらゆる方向からの伝播時間を測定してお
く。 次にこれらの測定値より音速分布を計算する。
第1図bのように、物体の存在する領域に対応し
た領域をメツシユ状に分割する。分割されたセル
には図に示したように1、2、3……j……と番
号をつける。i番目のビーム6がj番目のセル7
を横切る距離をLijとすると、ビーム6の角度が
既知であるからLijを求めることができる。各々
のセル内においては音速は一定とし、その値をV
jとする。従つてi番目のビームの伝播時間は、
各セルをビームが横切る距離Lijを音速Vjで除し
た値の和となる。即ち Ti=〓jLij/Vj+1/Vw(L−〓jLij)
……(4) となる。ここに、Ti:i番目のビームの伝播時
間、Vw:水中の音速(物体は水中にあると仮
定)、L:センサー3と4の間の距離である。第
(4)式は未知数Vjの連立方程式となる。Tiの測定
値を少なくともVj個得れば、第(4)式よりVjを求
めることができ、音速分布が求まる。 第1図に示す透過法は、実際の非破壊測定法に
は適していない。そこで第2図に示すような反射
法が考案された。この方法では、送信センサー3
より超音波を発射し、物体底面8で1回反射させ
その反射波を受信センサー4で受信する。角度θ
を一定に保つてセンサーを走査し、伝播時間を測
定する。次に角度θを変化させて走査することに
より第(4)式に対応したTiを求めることができ
る。 以上にのべた方法では、第1図の場合は物体1
の大きさを、第3図の場合は物体の厚さを正確に
求めておかねばならない。特に第2図の場合、物
体の厚さが場所的に変化している場合で、かつそ
れをセンサーの側から検知できない場合(通常の
検査の場合はまさにこの状態に対応する)、音速
の測定は不可能になり、従つて応力分布は測定で
きないという欠点があつた。 本発明の目的は、上述した従来の方法の欠点を
解消し、物体の厚さや大きさの情報を必要としな
い応力分布測定方法を提供することにある。 本発明は、物体内部に非破壊的に音速測定時の
基準となる点を設けることにより、物体の厚さや
大きさの情報を不要にしようとするものである。
このような基準点を設けることにより、第1図b
に示したLijの計算が不要となる。 以下に超音波−超音波散乱の原理を示す。超音
波と超音波をある一定条件のもとに衝突させる
と、各々の超音波の和又は差の周波数をもつ超音
波が発生する(J.D.Childress 他、Physical
Review第136巻(1964)A411頁)。第3図に示す
ように、送信センサーA9と送信センサーB10
より波数ペクトルK1、K2をもつ超音波ビーム1
1,12を、相互間の角度θで発生させると、2
つの超音波の交叉点で相互作用がおこり、→K1
から±方向にK±にK1±K2の波数ベクトル及
びω±=ω1±ω2の周波数を持つ超音波が発生
する。ここには反時計回りを正とする。ここに
添字±は、和の周波数ω+をもつ超音波に対して
は+、差の周波数をもつ超音波に対しては−をと
ることを意味する。入射超音波間の角度θは次式
で与えられる。 cosθ=C−2 ±{C1C2±1/2〔C2ω1(C1ω2)-1(C2 1−C2 ±)+C1ω2(C2ω1)-1(C2 2−C2
±)〕}
…(5) ここにCは音速である。さらに散乱点14から
発生する超音波の角度±は次式で与えられる。 sinθ=+C±ω2〔C2(ω1±ω2)〕-1sin
θ (6) 固体中での相互作用を考える場合、入射波及び
散乱波としては縦波および横板がある。いま、超
音波ビームA11として縦波を、超音波ビームB
12として横波を考えると、散乱波としては和の
周波数および差の周波数をもつ縦波が発生する。
この場合のθおよび±の値とω2/ω1の関係を第4 図に示す。 例えば入射縦波(ω1=5MHz)と入射横波
(ω2=3MHz)を入射するとω2/ω1=0.6と
なり、第4図より両者の角度θは和および差周波
数の場合それぞれ80.6゜、21.4゜となる。散乱波
13は、和の周波数の場合は+を−42.5゜、差
の周波数の場合は−=93.0゜方向に縦波が発生
し、その周波数ω+、ω−はそれぞれ8MHz及び
2MHzとなる。 さで、以上にのべた超音波−超音波の散乱点1
4を音速測定の基準点として音速の分布を測定す
る本発明の原理について説明する。 第5図は各センサーおよび超音波ビームの位置
関係を示す。超音波ビームA11の物体1への入
射角をξとする。他の記号は第3図と同様であ
る。 第6図は、第5図の物体1の表面15をy軸、
送信センサーA9から発射した超音波ビームA1
1の進行方向をx軸とした斜交座標系を示し、例
えば点A00(0、0)に送信センサーA9があ
り、点A10(1、0)で散乱がおこり、点A01
(0、1)で散乱波13を受信センサー4により
受信する。ここでは図を簡単にするため、第5図
での送信センサーB10の表示を省略している。 いま、送信センサーA9を点A00(0、0)に
固定し、受信センサー4をy軸上で点A01(0、
1)から順にA02(0、2)、A03(0、3)……
と移動させる。このとき、送信センサーB10も
角度θを一定に保つて移動させる。そうすると散
乱点はx軸上を点A10(1、0)から順にA20
(2、0)、A30(3、0)……と移動する。次に
送信センサーA9を点A01(0、1)に固定し前
と同様に受信センサー4を移動させると、散乱点
は点A11(1、1)、A21(2、1)……と移動す
る。このようにして求める範囲をすべておおうよ
うに探触子を移動させる。 距離A00(0、0)→A10(1、0)をa、A10
(1、0)→A01(0、1)をbとする。他も同
様とする。a,bの値は、送信センサーA9と受
信センサー4の距離l、超音波ビームA11の入
射角ξ、散乱角より a=|cos(+ξ)/sin|l、b=|−c
osξ/sin|l(7) と求まる。さて、点(Xh、yi)→(xj、yi)
→(xh、yk)の超音波伝播時間をτyixjykと表示
する。但し、h<j、i<kである。上記三点を
結ぶ図形は三角形である。また、点(xn、yo)
→(xp、yq)の部分の速度をvxnyoxpyqとし、
その逆数、即ち単位距離を進むに要する時間をn
xnyoxpyqと表示する。但し、i、j、h、k、
m、n、p、qはそれぞれ任意の値である。先
ず、点A00(0、0)→A10(1、0)→A01
(0、1)の伝播時間τ011は、次式となる。
を求める方法に関するものである。 音速と応力の関係は理論的に求められている
(D.S.Hnghes、J.L.Kelly:Phyoicul Review 第
92巻(1953)1145頁)。例えば縦波を使用した場
合は、 ρ0Vl 2=λ+2μ−P/3K0(7λ+10μ+6l+4m) ……(1) となる。ここに、ρ0:密度、Vl:縦波の速
度、λ、μ:ラメの弾性係数、l、m、n:マー
ナガンの弾性係数、P:一方向張力、K0=1/3(3 λ+2μ):体積弾性率である。音速Vlを次式
のようにする。 Vl=V0l(1+ΔVl/V0l) ……(2) ここにV0lは応力のない状態での音速であり、
ΔVlは応力により生じた音速の変化分である。
ΔVl/V0lは非常に小さい(0.01%〜0.1%)ので
、 Vl 2=V0 2 l(1+2ΔVl/V0l) ……(2)′ となる。この式を第(1)式に代入すると ΔVl/V0l=1/2ρ0V0〓〔λ+2μ−P/3K0(7λ+10μ+6l+4m)〕−1/2 ……(3) となり、ΔVl/V0lがPに比例することがわかる。
この ように、ΔVl/V0lを測定することにより応力を測
定す ることができる。 従来は、上にのべた方法により、音波変化の分
布を測定して応力分布を求めている。第1図にそ
の方法を示す。第1図aにおいて、送信センサ3
より超音波2を発信し、応力のかかつた状態にあ
る物体1を通して受信センサ4で受信し、その伝
播時間を測定する。次に実線の矢印の方向にセン
サーを一定間隔移動し、その場所での伝播時間を
測定する。以上の測定を物体のある範囲全体につ
いて行つたのち、一定角度θだけセンサー3,4
を回転し前と同様な測定をする。このようにして
物体のあらゆる方向からの伝播時間を測定してお
く。 次にこれらの測定値より音速分布を計算する。
第1図bのように、物体の存在する領域に対応し
た領域をメツシユ状に分割する。分割されたセル
には図に示したように1、2、3……j……と番
号をつける。i番目のビーム6がj番目のセル7
を横切る距離をLijとすると、ビーム6の角度が
既知であるからLijを求めることができる。各々
のセル内においては音速は一定とし、その値をV
jとする。従つてi番目のビームの伝播時間は、
各セルをビームが横切る距離Lijを音速Vjで除し
た値の和となる。即ち Ti=〓jLij/Vj+1/Vw(L−〓jLij)
……(4) となる。ここに、Ti:i番目のビームの伝播時
間、Vw:水中の音速(物体は水中にあると仮
定)、L:センサー3と4の間の距離である。第
(4)式は未知数Vjの連立方程式となる。Tiの測定
値を少なくともVj個得れば、第(4)式よりVjを求
めることができ、音速分布が求まる。 第1図に示す透過法は、実際の非破壊測定法に
は適していない。そこで第2図に示すような反射
法が考案された。この方法では、送信センサー3
より超音波を発射し、物体底面8で1回反射させ
その反射波を受信センサー4で受信する。角度θ
を一定に保つてセンサーを走査し、伝播時間を測
定する。次に角度θを変化させて走査することに
より第(4)式に対応したTiを求めることができ
る。 以上にのべた方法では、第1図の場合は物体1
の大きさを、第3図の場合は物体の厚さを正確に
求めておかねばならない。特に第2図の場合、物
体の厚さが場所的に変化している場合で、かつそ
れをセンサーの側から検知できない場合(通常の
検査の場合はまさにこの状態に対応する)、音速
の測定は不可能になり、従つて応力分布は測定で
きないという欠点があつた。 本発明の目的は、上述した従来の方法の欠点を
解消し、物体の厚さや大きさの情報を必要としな
い応力分布測定方法を提供することにある。 本発明は、物体内部に非破壊的に音速測定時の
基準となる点を設けることにより、物体の厚さや
大きさの情報を不要にしようとするものである。
このような基準点を設けることにより、第1図b
に示したLijの計算が不要となる。 以下に超音波−超音波散乱の原理を示す。超音
波と超音波をある一定条件のもとに衝突させる
と、各々の超音波の和又は差の周波数をもつ超音
波が発生する(J.D.Childress 他、Physical
Review第136巻(1964)A411頁)。第3図に示す
ように、送信センサーA9と送信センサーB10
より波数ペクトルK1、K2をもつ超音波ビーム1
1,12を、相互間の角度θで発生させると、2
つの超音波の交叉点で相互作用がおこり、→K1
から±方向にK±にK1±K2の波数ベクトル及
びω±=ω1±ω2の周波数を持つ超音波が発生
する。ここには反時計回りを正とする。ここに
添字±は、和の周波数ω+をもつ超音波に対して
は+、差の周波数をもつ超音波に対しては−をと
ることを意味する。入射超音波間の角度θは次式
で与えられる。 cosθ=C−2 ±{C1C2±1/2〔C2ω1(C1ω2)-1(C2 1−C2 ±)+C1ω2(C2ω1)-1(C2 2−C2
±)〕}
…(5) ここにCは音速である。さらに散乱点14から
発生する超音波の角度±は次式で与えられる。 sinθ=+C±ω2〔C2(ω1±ω2)〕-1sin
θ (6) 固体中での相互作用を考える場合、入射波及び
散乱波としては縦波および横板がある。いま、超
音波ビームA11として縦波を、超音波ビームB
12として横波を考えると、散乱波としては和の
周波数および差の周波数をもつ縦波が発生する。
この場合のθおよび±の値とω2/ω1の関係を第4 図に示す。 例えば入射縦波(ω1=5MHz)と入射横波
(ω2=3MHz)を入射するとω2/ω1=0.6と
なり、第4図より両者の角度θは和および差周波
数の場合それぞれ80.6゜、21.4゜となる。散乱波
13は、和の周波数の場合は+を−42.5゜、差
の周波数の場合は−=93.0゜方向に縦波が発生
し、その周波数ω+、ω−はそれぞれ8MHz及び
2MHzとなる。 さで、以上にのべた超音波−超音波の散乱点1
4を音速測定の基準点として音速の分布を測定す
る本発明の原理について説明する。 第5図は各センサーおよび超音波ビームの位置
関係を示す。超音波ビームA11の物体1への入
射角をξとする。他の記号は第3図と同様であ
る。 第6図は、第5図の物体1の表面15をy軸、
送信センサーA9から発射した超音波ビームA1
1の進行方向をx軸とした斜交座標系を示し、例
えば点A00(0、0)に送信センサーA9があ
り、点A10(1、0)で散乱がおこり、点A01
(0、1)で散乱波13を受信センサー4により
受信する。ここでは図を簡単にするため、第5図
での送信センサーB10の表示を省略している。 いま、送信センサーA9を点A00(0、0)に
固定し、受信センサー4をy軸上で点A01(0、
1)から順にA02(0、2)、A03(0、3)……
と移動させる。このとき、送信センサーB10も
角度θを一定に保つて移動させる。そうすると散
乱点はx軸上を点A10(1、0)から順にA20
(2、0)、A30(3、0)……と移動する。次に
送信センサーA9を点A01(0、1)に固定し前
と同様に受信センサー4を移動させると、散乱点
は点A11(1、1)、A21(2、1)……と移動す
る。このようにして求める範囲をすべておおうよ
うに探触子を移動させる。 距離A00(0、0)→A10(1、0)をa、A10
(1、0)→A01(0、1)をbとする。他も同
様とする。a,bの値は、送信センサーA9と受
信センサー4の距離l、超音波ビームA11の入
射角ξ、散乱角より a=|cos(+ξ)/sin|l、b=|−c
osξ/sin|l(7) と求まる。さて、点(Xh、yi)→(xj、yi)
→(xh、yk)の超音波伝播時間をτyixjykと表示
する。但し、h<j、i<kである。上記三点を
結ぶ図形は三角形である。また、点(xn、yo)
→(xp、yq)の部分の速度をvxnyoxpyqとし、
その逆数、即ち単位距離を進むに要する時間をn
xnyoxpyqと表示する。但し、i、j、h、k、
m、n、p、qはそれぞれ任意の値である。先
ず、点A00(0、0)→A10(1、0)→A01
(0、1)の伝播時間τ011は、次式となる。
【表】
… 〓
となる。A03、A04、……も同じである。ここで
例えば最小単位の1つの三角形A00(0、0)、
A10(1、0)、A01(0、1)においてn0010=
n1001≡n011が成立すると仮定する。 他の最小三角形A01→A11→A02、A10→A20→
A11、A02→A12→A03、……等でも同様にn0111=
n1102≡n012、n1020=n2011≡n121、n0212=n1203≡
n013、……と仮定する。かくして第(8)式は次のよ
うに簡単化できる。
となる。A03、A04、……も同じである。ここで
例えば最小単位の1つの三角形A00(0、0)、
A10(1、0)、A01(0、1)においてn0010=
n1001≡n011が成立すると仮定する。 他の最小三角形A01→A11→A02、A10→A20→
A11、A02→A12→A03、……等でも同様にn0111=
n1102≡n012、n1020=n2011≡n121、n0212=n1203≡
n013、……と仮定する。かくして第(8)式は次のよ
うに簡単化できる。
【表】
各時間τを測定することにより第(9)式より
n011、n012、n013、n121、n122……と順次各部分の
音速の逆数を求めることができ、従つて音速の分
布を求めることができる。この音速分布より第(1)
式又は第(3)式より応力の分布を求められる。 以上のべたように本方法によれば、散乱点とい
う基準点を設けることにより物体の厚さの情報は
不必要となる。さらに第1図で示したLijの計算
も不要となり、音速を求める演算が容易になると
いう利点もある。 以下本発明を実施例によつてくわしく説明す
る。第7図は各センサー、超音波ビームの位置関
係を示したものである。物体1としては鉄を例に
とる。超音波ビームA11としては5MHzの縦
波、超音波ビームB12としては3.0MHzの横波
を使用する。ω2/ω1=0.6であるから第4図より両
者 の角度θは80.6゜および21.4゜となる。散乱波1
3は差の周波数ω−=2MHzのものを選び従つて
その方向−は93゜となる。送信センサーA9と
受信センサー4の距離lを10mmとする。第6図に
おけるa,bは第(7)式より a=7.4mm b=7.1mm となる。従つて送信センサーB10と受信センサ
ー4の距離は7.1mmとなる。また超音波ビームB
12の入射角は23.6゜である。 第8図は、第7図の如く超音波ビーム11,1
2を入射しかつ散乱波13を受信するためのシユ
ーの形状を示したものである。シユーの材質は、
測定する物体の材質(本実施例では鉄)と同じも
のを使用する。シユーと送信センサーA9,B1
0、受信センサー4は油、水ガラス等適切な超音
波カツプリング材をはさんで固定してある。シユ
ー16を固定し、シユー17および29を第6図
で説明したごとく物体1の表面上を走査すること
により、超音波の伝播距離を変化させて、そのと
きの伝播時間を測定することができる。ここでは
シユーの材質として鉄を使用したが、勿論鉄に限
るものではなく、他の材質、例えばアクリルを用
いることも可能である。 第9図は本実施例における超音波発生受信回路
及び超音波伝播時間測定回路を示したものであ
る。発信器20より一定間隔例えば1ms毎にパル
スを発信する。そのパルスは可変遅延回路19を
通してパルサ18にトリガー信号として入力され
る。このトリガー信号により送信センサーA9よ
り5MHzの縦波が発射される。また発信器20か
らのパルスはパルサB21にも入力され、送信セ
ンサーB10より3MHzの横波が発射される。鉄
材中での縦波の音速は5940m/s、横波の音速は
3250m/sであるから、散乱点に両方の波が同時
に到着するように可変遅延回路19により、縦波
の発射時間を調節する。本実施例では、第7図か
らわかるように、第6図のaに対応する距離は
7.4mm、また超音波ビームB12の散乱点までの
伝播距離は5.7mmであるから、それぞれの伝播時
間は1.25μs及び1.75μsである。従つて第6図
のA10(1、0)での散乱波を得る場合には遅延
時間は0.50μsとなる。 散乱点からの散乱波は受信センサー4で受信、
増幅器22で適当な大きさまで増幅され、波形整
形器23に入力される。時間間隔測定器24で
は、可変遅延回路19の出力パルスがトリガーと
して入力され、入力された時から波形整形器23
の出力が時間間隔測定器24に入力された時まで
の時間間隔を測定する。この時間間隔は第(9)式で
示したτに相当する。τの値は平均値回路25に
入力される。測定精度をあげるため伝播時間τの
測定は1個所につき500〜1000回測定する。これ
らの値が平均値回路25で平均される。その値は
表示回路26に表示される。また、平均値回路2
5の内部にはメモリを持ち、随時計算値や計測値
が記憶される。また、表示回路26に表示するデ
ータも格納され利用される。また、平均値回路を
含む部分は計算機によつておきかえることもでき
る。 上にのべた測定を第6図に示したy軸上の各位
置について測定することにより、第(9)式のτを求
めることができる。本実施例では第6図のiが3
の場合について説明する。i=3の場合、第(9)式
に記されている場合のみになる。即ち τ011=(a+b)n011 ……(10) τ022=an011+(a+b)n121+bn012 ……(11) τ033=an011+an121+(a+b)n231 +bn122+bn013 ……(12) τ112=(a+b)n012 ……(13) τ123=an012+(a+b)n122+bn013 ……(14) τ213=(a+b)n013 ……(15) となる。上記の式より
n011、n012、n013、n121、n122……と順次各部分の
音速の逆数を求めることができ、従つて音速の分
布を求めることができる。この音速分布より第(1)
式又は第(3)式より応力の分布を求められる。 以上のべたように本方法によれば、散乱点とい
う基準点を設けることにより物体の厚さの情報は
不必要となる。さらに第1図で示したLijの計算
も不要となり、音速を求める演算が容易になると
いう利点もある。 以下本発明を実施例によつてくわしく説明す
る。第7図は各センサー、超音波ビームの位置関
係を示したものである。物体1としては鉄を例に
とる。超音波ビームA11としては5MHzの縦
波、超音波ビームB12としては3.0MHzの横波
を使用する。ω2/ω1=0.6であるから第4図より両
者 の角度θは80.6゜および21.4゜となる。散乱波1
3は差の周波数ω−=2MHzのものを選び従つて
その方向−は93゜となる。送信センサーA9と
受信センサー4の距離lを10mmとする。第6図に
おけるa,bは第(7)式より a=7.4mm b=7.1mm となる。従つて送信センサーB10と受信センサ
ー4の距離は7.1mmとなる。また超音波ビームB
12の入射角は23.6゜である。 第8図は、第7図の如く超音波ビーム11,1
2を入射しかつ散乱波13を受信するためのシユ
ーの形状を示したものである。シユーの材質は、
測定する物体の材質(本実施例では鉄)と同じも
のを使用する。シユーと送信センサーA9,B1
0、受信センサー4は油、水ガラス等適切な超音
波カツプリング材をはさんで固定してある。シユ
ー16を固定し、シユー17および29を第6図
で説明したごとく物体1の表面上を走査すること
により、超音波の伝播距離を変化させて、そのと
きの伝播時間を測定することができる。ここでは
シユーの材質として鉄を使用したが、勿論鉄に限
るものではなく、他の材質、例えばアクリルを用
いることも可能である。 第9図は本実施例における超音波発生受信回路
及び超音波伝播時間測定回路を示したものであ
る。発信器20より一定間隔例えば1ms毎にパル
スを発信する。そのパルスは可変遅延回路19を
通してパルサ18にトリガー信号として入力され
る。このトリガー信号により送信センサーA9よ
り5MHzの縦波が発射される。また発信器20か
らのパルスはパルサB21にも入力され、送信セ
ンサーB10より3MHzの横波が発射される。鉄
材中での縦波の音速は5940m/s、横波の音速は
3250m/sであるから、散乱点に両方の波が同時
に到着するように可変遅延回路19により、縦波
の発射時間を調節する。本実施例では、第7図か
らわかるように、第6図のaに対応する距離は
7.4mm、また超音波ビームB12の散乱点までの
伝播距離は5.7mmであるから、それぞれの伝播時
間は1.25μs及び1.75μsである。従つて第6図
のA10(1、0)での散乱波を得る場合には遅延
時間は0.50μsとなる。 散乱点からの散乱波は受信センサー4で受信、
増幅器22で適当な大きさまで増幅され、波形整
形器23に入力される。時間間隔測定器24で
は、可変遅延回路19の出力パルスがトリガーと
して入力され、入力された時から波形整形器23
の出力が時間間隔測定器24に入力された時まで
の時間間隔を測定する。この時間間隔は第(9)式で
示したτに相当する。τの値は平均値回路25に
入力される。測定精度をあげるため伝播時間τの
測定は1個所につき500〜1000回測定する。これ
らの値が平均値回路25で平均される。その値は
表示回路26に表示される。また、平均値回路2
5の内部にはメモリを持ち、随時計算値や計測値
が記憶される。また、表示回路26に表示するデ
ータも格納され利用される。また、平均値回路を
含む部分は計算機によつておきかえることもでき
る。 上にのべた測定を第6図に示したy軸上の各位
置について測定することにより、第(9)式のτを求
めることができる。本実施例では第6図のiが3
の場合について説明する。i=3の場合、第(9)式
に記されている場合のみになる。即ち τ011=(a+b)n011 ……(10) τ022=an011+(a+b)n121+bn012 ……(11) τ033=an011+an121+(a+b)n231 +bn122+bn013 ……(12) τ112=(a+b)n012 ……(13) τ123=an012+(a+b)n122+bn013 ……(14) τ213=(a+b)n013 ……(15) となる。上記の式より
【表】
と各nの値が求まり従つて各セル内の音速を求め
ることができる。従つて第(3)式より各セル内での
Pを求めることができる。各々のセルについてP
を求めることにより、物体内部のPの分布を得る
ことができる。 例えば第10図aのごとく、切かき27の入つ
た物体を張力Pで引張つたとき、物体内部の応力
は、AA′を含む断面では第10図bのごとくな
る。つまり、切かき27のないところでは応力は
一定であるが、切かきのあるところでは応力集中
が発生し、応力が大きくなる。AA′線上を第7図
で説明したごとく探触子を配置することにより、
物体内部の音速分布を求め、第(3)式に従つて物体
内部の応力の分布を求めることができる。 上記実施例では超音波ビームA,Bとしてパル
スを用いたが、一方の超音波ビーム(例えば超音
波ビームB)として連続波を用いることも可能で
ある。この場合、第9図の可変遅延回路19は不
用となり、またパルサB21の代りに連続波を増
幅するためのパワーアンプを用いればよく、他の
部分の変更は不用である。本構成では可変遅延回
路の調整が不用になるという利点を持つ。 上記実施例では、センサーとして通常超音波探
傷法に用いられる接触子を使用した場合について
説明したが、本発明はこれにとらわれるものでは
なく、アレイ型探触子を適用することも可能であ
る。この場合はセンサーの機械的走査は不要とな
り、そのかわり、電子的に超音波ビーム発生点の
位置を走査する。このため、探触子位置情報の精
度がよくなるという特徴がある。更に、座標系の
とり方も、計算処理に応じて他の座標系をとりう
ることもありうる。更に、(9)式の近似のやり方、
その時のデータの扱い方も本実施例以外でも可能
である。 以上の説明では、縦波と横波を入射し、縦波の
散乱波が発生する場合についてのべたが、本発明
はこれのみにとらわれるものではなく、横波と横
波を入射し、縦波の散乱波を発生させる等、他の
組合せを使うことも可能である。 以上のべたように、本発明によれば以下の効果
がある。 1 物体の厚さに関する情報は必要とせずに物体
内部の応力を測定することができる。 2 物体の底面の形状には独立に内部の応力が物
体の表面から測定できる。 3 従来の方法では必要であつた各セル内の超音
波伝播距離の計算が不要になり、応力分布を求
める演算が容易になる。
ることができる。従つて第(3)式より各セル内での
Pを求めることができる。各々のセルについてP
を求めることにより、物体内部のPの分布を得る
ことができる。 例えば第10図aのごとく、切かき27の入つ
た物体を張力Pで引張つたとき、物体内部の応力
は、AA′を含む断面では第10図bのごとくな
る。つまり、切かき27のないところでは応力は
一定であるが、切かきのあるところでは応力集中
が発生し、応力が大きくなる。AA′線上を第7図
で説明したごとく探触子を配置することにより、
物体内部の音速分布を求め、第(3)式に従つて物体
内部の応力の分布を求めることができる。 上記実施例では超音波ビームA,Bとしてパル
スを用いたが、一方の超音波ビーム(例えば超音
波ビームB)として連続波を用いることも可能で
ある。この場合、第9図の可変遅延回路19は不
用となり、またパルサB21の代りに連続波を増
幅するためのパワーアンプを用いればよく、他の
部分の変更は不用である。本構成では可変遅延回
路の調整が不用になるという利点を持つ。 上記実施例では、センサーとして通常超音波探
傷法に用いられる接触子を使用した場合について
説明したが、本発明はこれにとらわれるものでは
なく、アレイ型探触子を適用することも可能であ
る。この場合はセンサーの機械的走査は不要とな
り、そのかわり、電子的に超音波ビーム発生点の
位置を走査する。このため、探触子位置情報の精
度がよくなるという特徴がある。更に、座標系の
とり方も、計算処理に応じて他の座標系をとりう
ることもありうる。更に、(9)式の近似のやり方、
その時のデータの扱い方も本実施例以外でも可能
である。 以上の説明では、縦波と横波を入射し、縦波の
散乱波が発生する場合についてのべたが、本発明
はこれのみにとらわれるものではなく、横波と横
波を入射し、縦波の散乱波を発生させる等、他の
組合せを使うことも可能である。 以上のべたように、本発明によれば以下の効果
がある。 1 物体の厚さに関する情報は必要とせずに物体
内部の応力を測定することができる。 2 物体の底面の形状には独立に内部の応力が物
体の表面から測定できる。 3 従来の方法では必要であつた各セル内の超音
波伝播距離の計算が不要になり、応力分布を求
める演算が容易になる。
第1図は透過法により物体の応力分布を求める
説明図、第2図は反射法により応力分布を求める
説明図である。第3図は超音波−超音波散乱の原
理図、第4図は入射超音波間の角度θおよび散乱
波の角度θと入射超音波ビームの周波数比の関係
を示す図である。第5図、第6図は本発明の原理
を説明する図である。第7図は超音波ビーム間角
度81゜のときのセンサーの位置関係を示す図であ
る。第8図はシユーの構造の一例を説明する図、
第9図は本発明の測定系を説明する図、第10図
aおよびbは切かきのある物体に一定の張力を加
えた場合の、応力の分布を示した図である。 1……物体、4……受信センサー、9,10…
…送信センサー、11,12……超音波ビーム、
14……散乱点、13……散乱波。
説明図、第2図は反射法により応力分布を求める
説明図である。第3図は超音波−超音波散乱の原
理図、第4図は入射超音波間の角度θおよび散乱
波の角度θと入射超音波ビームの周波数比の関係
を示す図である。第5図、第6図は本発明の原理
を説明する図である。第7図は超音波ビーム間角
度81゜のときのセンサーの位置関係を示す図であ
る。第8図はシユーの構造の一例を説明する図、
第9図は本発明の測定系を説明する図、第10図
aおよびbは切かきのある物体に一定の張力を加
えた場合の、応力の分布を示した図である。 1……物体、4……受信センサー、9,10…
…送信センサー、11,12……超音波ビーム、
14……散乱点、13……散乱波。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被応力測定対象となる物体の表面の相異なる
位置から互いに周波数の異なる2つの超音波を該
物体内に放射させ、該2つの超音波の該物体内で
の散乱点より発生する散乱波を該散乱波の伝播方
向位置に設けられた受信器により受信させてなる
と共に、上記超音波の放射位置及び対応する受信
器の位置を走査させ、その走査によつて得られる
受信器出力をもとに物体の応力分布測定を行つて
なる応力分布測定方法。 2 上記周波数の異なる2つの超音波は縦波と横
波、又は横波と横波、又は縦波と縦波としてなる
特許請求の範囲第1項記載の応力分布測定方法。 3 上記超音波放射するに際しての最初の位置を
原点とし、物体の表面方向の座標軸を1軸、該原
点からの超音波の進行方向の座標軸を1軸とする
2軸座標系を設定し、該2軸座標系内で、理論的
に定まる超音波放射位置、受信位置を変化走査さ
せてなる特許請求の範囲第1項又は第2項記載の
応力分布測定方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55164604A JPS5788333A (en) | 1980-11-25 | 1980-11-25 | Meausring device for stress distribution |
| US06/324,443 US4399702A (en) | 1980-11-25 | 1981-11-24 | Method of measuring stress distribution in a solid body |
| DE8181305537T DE3174092D1 (en) | 1980-11-25 | 1981-11-24 | Method of determining stress distribution in a solid body |
| EP81305537A EP0053034B1 (en) | 1980-11-25 | 1981-11-24 | Method of determining stress distribution in a solid body |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55164604A JPS5788333A (en) | 1980-11-25 | 1980-11-25 | Meausring device for stress distribution |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5788333A JPS5788333A (en) | 1982-06-02 |
| JPS6236527B2 true JPS6236527B2 (ja) | 1987-08-07 |
Family
ID=15796329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55164604A Granted JPS5788333A (en) | 1980-11-25 | 1980-11-25 | Meausring device for stress distribution |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4399702A (ja) |
| EP (1) | EP0053034B1 (ja) |
| JP (1) | JPS5788333A (ja) |
| DE (1) | DE3174092D1 (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RO82449A2 (ro) * | 1982-11-10 | 1985-10-31 | Intreprinderea Metalurgica,Ro | Metoda si aparat pentru reducerea tensiunilor interne cu ajutorul vibratiilor |
| JPS60163643A (ja) * | 1984-02-07 | 1985-08-26 | テルモ株式会社 | 超音波測定装置 |
| DE3409929A1 (de) * | 1984-03-17 | 1985-09-26 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Verfahren zur darstellung elastischer parameter in objektoberflaechen |
| US4582065A (en) * | 1984-06-28 | 1986-04-15 | Picker International, Inc. | Ultrasonic step scanning utilizing unequally spaced curvilinear transducer array |
| US4649750A (en) * | 1985-09-13 | 1987-03-17 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Acoustic radiation stress measurement |
| PL152940B1 (en) * | 1986-04-18 | 1991-02-28 | Method of measuring internal steresses in material of an object under test | |
| US5048340A (en) * | 1988-05-23 | 1991-09-17 | Iowa State University Research Foundation, Inc. | Semi-automatic system for ultrasonic measurement of texture |
| US4910718A (en) * | 1988-10-05 | 1990-03-20 | Grumman Aerospace Corporation | Method and apparatus for acoustic emission monitoring |
| JPH0353137A (ja) * | 1989-07-20 | 1991-03-07 | Yakichi Higo | 応力測定法 |
| US5154081A (en) * | 1989-07-21 | 1992-10-13 | Iowa State University Research Foundation, Inc. | Means and method for ultrasonic measurement of material properties |
| US5442569A (en) * | 1993-06-23 | 1995-08-15 | Oceanautes Inc. | Method and apparatus for system characterization and analysis using finite element methods |
| JP2856043B2 (ja) * | 1993-09-28 | 1999-02-10 | 株式会社日立製作所 | 応力評価方法およびその装置 |
| CN102967397A (zh) * | 2012-11-19 | 2013-03-13 | 辽宁省电力有限公司电力科学研究院 | 焊接结构焊缝超声波残余应力测量装置及方法 |
| CN103616102B (zh) * | 2013-12-09 | 2015-10-28 | 北京理工大学 | 一种用于金属薄板残余应力分布检测的超声泄漏纵波传感装置 |
| CN112345130A (zh) * | 2020-11-02 | 2021-02-09 | 哈尔滨工程大学 | 基于超声侧波的应力分布测量装置与方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3587297A (en) * | 1968-09-25 | 1971-06-28 | Us Navy | Apparatus for precise stress measurement |
| US3771355A (en) * | 1971-09-30 | 1973-11-13 | T Sachs | Ultrasonic inspection and diagnosis system |
| US3812709A (en) * | 1972-02-09 | 1974-05-28 | Thermo Electron Corp | Stress gage |
| US4033182A (en) * | 1976-06-28 | 1977-07-05 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Method for measuring biaxial stress in a body subjected to stress inducing loads |
| SU681366A1 (ru) * | 1977-11-09 | 1979-08-25 | Киевский Ордена Ленина Государственный Университет Им.Т.Г.Шевченко | Способ ультразвукового контрол состо ни материалов |
-
1980
- 1980-11-25 JP JP55164604A patent/JPS5788333A/ja active Granted
-
1981
- 1981-11-24 DE DE8181305537T patent/DE3174092D1/de not_active Expired
- 1981-11-24 EP EP81305537A patent/EP0053034B1/en not_active Expired
- 1981-11-24 US US06/324,443 patent/US4399702A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0053034A1 (en) | 1982-06-02 |
| US4399702A (en) | 1983-08-23 |
| EP0053034B1 (en) | 1986-03-12 |
| JPS5788333A (en) | 1982-06-02 |
| DE3174092D1 (en) | 1986-04-17 |
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