JPS6238727B2 - - Google Patents
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- JPS6238727B2 JPS6238727B2 JP15170479A JP15170479A JPS6238727B2 JP S6238727 B2 JPS6238727 B2 JP S6238727B2 JP 15170479 A JP15170479 A JP 15170479A JP 15170479 A JP15170479 A JP 15170479A JP S6238727 B2 JPS6238727 B2 JP S6238727B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 13
- 238000002076 thermal analysis method Methods 0.000 claims description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000007710 freezing Methods 0.000 description 2
- 230000008014 freezing Effects 0.000 description 2
- 239000012925 reference material Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910000809 Alumel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001006 Constantan Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- LIXXICXIKUPJBX-UHFFFAOYSA-N [Pt].[Rh].[Pt] Chemical compound [Pt].[Rh].[Pt] LIXXICXIKUPJBX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007707 calorimetry Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000004455 differential thermal analysis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 238000002411 thermogravimetry Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Control Of Temperature (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この発明は試料の温度を変化させながらその物
性の変化を温度の関数として測定する熱分析装置
の温度制御装置に関するものである。
性の変化を温度の関数として測定する熱分析装置
の温度制御装置に関するものである。
(ロ) 従来技術
熱分析装置では、物質の温度を変えた際の変化
を、示差熱分析、差動熱量測定、熱重量測定等各
種分析、測定を行ない様々な角度から記録できる
ようにしている。そのため分析の目的に見合つた
幾つかの検出器を備えているが、物質の温度を制
御するための温度プログラム設定器、物質の温度
と変化量を記録するレコーダ等は共通部として構
成されている。この温度プログラム設定器は加
熱、冷却、等温等のプログラムモードが自由に選
択できるものであるが、加熱炉または冷却槽温度
検出に使用される熱電対の温度に対する起電力特
性は単調増加関数であつても一次関数でないこと
から熱起電力間のリニアライザが組み込まれてい
る。また、熱電対で検出した信号電圧と基準電圧
の偏差をゼロに保つように加熱炉のヒータ電流を
加減制御するPID制御回路や、氷点槽を用いない
場合に使用する（基準冷接点補償回路）が設けら
れている。これら回路は高温領域と低温領域で使
い分けられる熱電対の種類に応じて温度プログラ
ム設定器のプログラムの変更を行なう際にその変
更に合わせて制御演算定数PIDの変更、室温補償
回路の切換を行なうものである。しかし、これら
変更設定は従来装置では測定者が使用する熱電対
の種類を確認して測定の準備段階ごとに手操作で
行なわなければならなかつた。かかる煩雑な操作
が要求されることは測定能率の向上を妨げるばか
りでなく、設定操作ミスによる分析測定のやり直
しといつた事態の原因ともなるものである。
を、示差熱分析、差動熱量測定、熱重量測定等各
種分析、測定を行ない様々な角度から記録できる
ようにしている。そのため分析の目的に見合つた
幾つかの検出器を備えているが、物質の温度を制
御するための温度プログラム設定器、物質の温度
と変化量を記録するレコーダ等は共通部として構
成されている。この温度プログラム設定器は加
熱、冷却、等温等のプログラムモードが自由に選
択できるものであるが、加熱炉または冷却槽温度
検出に使用される熱電対の温度に対する起電力特
性は単調増加関数であつても一次関数でないこと
から熱起電力間のリニアライザが組み込まれてい
る。また、熱電対で検出した信号電圧と基準電圧
の偏差をゼロに保つように加熱炉のヒータ電流を
加減制御するPID制御回路や、氷点槽を用いない
場合に使用する（基準冷接点補償回路）が設けら
れている。これら回路は高温領域と低温領域で使
い分けられる熱電対の種類に応じて温度プログラ
ム設定器のプログラムの変更を行なう際にその変
更に合わせて制御演算定数PIDの変更、室温補償
回路の切換を行なうものである。しかし、これら
変更設定は従来装置では測定者が使用する熱電対
の種類を確認して測定の準備段階ごとに手操作で
行なわなければならなかつた。かかる煩雑な操作
が要求されることは測定能率の向上を妨げるばか
りでなく、設定操作ミスによる分析測定のやり直
しといつた事態の原因ともなるものである。
(ハ) 目 的
この発明は上記従来装置の問題たる測定操作が
容易でない点を解消するためになされたものであ
り、使用する熱電対の種類を装置自体が識別検知
し、その熱電対に応じて自動的に温度プログラム
設定器のプログラムを変更するとともに、PID演
算制御回路、室温補償回路が各変更されたプログ
ラムに応じてそれにあらかじめ設定した複数の特
性補正回路のうち必要な特性補正回路も自動的に
選択して加熱炉の温度制御を行なえるようにした
熱分析装置の温度制御装置の提供を目的とする。
容易でない点を解消するためになされたものであ
り、使用する熱電対の種類を装置自体が識別検知
し、その熱電対に応じて自動的に温度プログラム
設定器のプログラムを変更するとともに、PID演
算制御回路、室温補償回路が各変更されたプログ
ラムに応じてそれにあらかじめ設定した複数の特
性補正回路のうち必要な特性補正回路も自動的に
選択して加熱炉の温度制御を行なえるようにした
熱分析装置の温度制御装置の提供を目的とする。
(ニ) 構 成
この発明にかかる熱分析装置の温度制御装置
は、熱分析装置の加熱炉または冷却槽のプログラ
ム制御温度を検出する熱電対と、あらかじめ設定
された複数の特性補正回路を有する、前記加熱炉
または冷却槽の温度の検出系ならびに制御系と、
前記熱電対の種別を電気信号として識別検知する
熱電対識別手段と、この熱電対識別手段と前記温
度検出系とを択一的に回路切換えする回路切換手
段と、前記熱電対識別手段によつて識別検知され
た信号によつて前記温度の検出系ならびに制御系
にあらかじめ設定された前記複数の特性補正回路
のうち前記識別検知された熱電対に適応する特定
補正回路を自動的に選択する手段とを設けたこと
を特徴とする。
は、熱分析装置の加熱炉または冷却槽のプログラ
ム制御温度を検出する熱電対と、あらかじめ設定
された複数の特性補正回路を有する、前記加熱炉
または冷却槽の温度の検出系ならびに制御系と、
前記熱電対の種別を電気信号として識別検知する
熱電対識別手段と、この熱電対識別手段と前記温
度検出系とを択一的に回路切換えする回路切換手
段と、前記熱電対識別手段によつて識別検知され
た信号によつて前記温度の検出系ならびに制御系
にあらかじめ設定された前記複数の特性補正回路
のうち前記識別検知された熱電対に適応する特定
補正回路を自動的に選択する手段とを設けたこと
を特徴とする。
(ホ) 実施例
以下図面によつてこの発明の実施例装置を説明
する。第１図はその構成を示すブロツク図で、試
料物質１と基準物質２を一定の速さで同時に昇温
（または降温）する加熱炉３はヒータ４によつて
加熱（または降温）される。５は上記１，２の同
一加熱温度Ｔを検出し、これを表示、ならびに所
定プログラムで温度制御するための制御用熱電対
である。この熱電対５は加熱温度Ｔが500〜1500
℃の高温のばあいは白金−白金ロジウム（PR）、
500〜1000℃の中温のばあいは一般にプラチネル
（PL）と称されるもの、−200〜500℃の低温のば
あいはクロメル−アルメル（CA）あるいは鋼−
コンスタンタン（CC）などのように取換えて用
いられる。これらそれぞれ異なる種類の熱電対の
温度Ｔに対する熱起電力ＥTは（＋）（−）の端子
にあらわれ、つぎに説明する温度検出回路６によ
つて０℃基準の熱起電力ＥTOに補正され、そのＥ
TOの熱起電力特性は第２図に示すようにその非直
線性が大きく異なつている。すなわち図Ａは
（PR）の０〜1000℃（横軸）に対してタテ軸にそ
の非直線誤差ε％で示したもので最大−７％位に
も達する。図Ｒは、（CA）のそれで500℃の上下
で誤差が（±）反転している。このような非直線
性では加熱炉３の温度プログラムが前述したよう
に一定の速度で昇温（または降温）することが困
難であるから、第１図のブロツク７の温度プログ
ラム設定器内に第３図に示すようなリニアライザ
８が熱電対５の使用種類に応じて８，８′，８″…
…のようにいくつも設けてある。第３図のリニア
ライザ８はその一例として（PR）用のもので、
入力端子８Ａ，８Ｂに第２図Ａで示したような非
直線性の起電力ＥTOが入力すれば定電圧ダイオー
ドD1〜D3と定電圧電源源e1〜e3ならびに直流増幅
器A1の構成によつて析線近似の作用でその出力
端子８Ｃ，８Ｄに温度Ｔにほぼ直線的に比例した
電圧ＶTが出力される。このような複数のリニア
ライザ８，８′……のうち使用熱電対５の種別に
よつて切換えるのであるが従来装置ではその選択
切換操作が測定者に任されている。つぎに第１図
の温度検出回路６には電位差計回路が設けられ前
記熱起電力ＥTを零位法で検出するのであるが氷
点槽を使用しない多くの装置では基準接点（冷接
点）補償回路９をこれも熱電対の種類ごとに
９′，９″……のように設けられている。これらは
装置がおかれている室温（ｔ℃）に対する熱電対
５の熱起電力ＥTだけ上記電位差計回路に加算す
ることで温度検出回路６の出力は０℃基準の熱起
電力ＥTOとなり、前述の温度プログラム設定器７
に入力される。温度プログラム設定器７は上記Ｅ
TOをリニアライザ８で直線化した出力ＶTと、た
とえば昇温プログラムに基づく目標値（温度）に
対応する電圧ＶPとの差電圧、すらわちＶTと目標
値ＶPとの偏差△ＶをPID制御回路１０に入力す
る。PID制御回路１０は比例Ｐ・積分Ｉ・微分Ｄ
の演算回路１１をそれぞれ熱電対５の種別に対応
して１１，１１′，１１″……といくつも設けてあ
る。この１１，１１′，１１″……の演算回路は上
記ＶPとＶTとの偏差ΔＶに応じてPID定数の演算
を行い、その出力△V0を増幅器A2で増幅し、ト
ライアツク（３端子交流半導体スイツチ）１２の
ゲート１２Ｇを制御する。この構成によつてAC
電源１３たとえばAC100Vの電力は測定者によつ
て選択された熱電対５の種別に応じたPID制御出
力ＶCとしてヒータ４に印加され、精密な温度プ
ログラム制御動作をするのである。
する。第１図はその構成を示すブロツク図で、試
料物質１と基準物質２を一定の速さで同時に昇温
（または降温）する加熱炉３はヒータ４によつて
加熱（または降温）される。５は上記１，２の同
一加熱温度Ｔを検出し、これを表示、ならびに所
定プログラムで温度制御するための制御用熱電対
である。この熱電対５は加熱温度Ｔが500〜1500
℃の高温のばあいは白金−白金ロジウム（PR）、
500〜1000℃の中温のばあいは一般にプラチネル
（PL）と称されるもの、−200〜500℃の低温のば
あいはクロメル−アルメル（CA）あるいは鋼−
コンスタンタン（CC）などのように取換えて用
いられる。これらそれぞれ異なる種類の熱電対の
温度Ｔに対する熱起電力ＥTは（＋）（−）の端子
にあらわれ、つぎに説明する温度検出回路６によ
つて０℃基準の熱起電力ＥTOに補正され、そのＥ
TOの熱起電力特性は第２図に示すようにその非直
線性が大きく異なつている。すなわち図Ａは
（PR）の０〜1000℃（横軸）に対してタテ軸にそ
の非直線誤差ε％で示したもので最大−７％位に
も達する。図Ｒは、（CA）のそれで500℃の上下
で誤差が（±）反転している。このような非直線
性では加熱炉３の温度プログラムが前述したよう
に一定の速度で昇温（または降温）することが困
難であるから、第１図のブロツク７の温度プログ
ラム設定器内に第３図に示すようなリニアライザ
８が熱電対５の使用種類に応じて８，８′，８″…
…のようにいくつも設けてある。第３図のリニア
ライザ８はその一例として（PR）用のもので、
入力端子８Ａ，８Ｂに第２図Ａで示したような非
直線性の起電力ＥTOが入力すれば定電圧ダイオー
ドD1〜D3と定電圧電源源e1〜e3ならびに直流増幅
器A1の構成によつて析線近似の作用でその出力
端子８Ｃ，８Ｄに温度Ｔにほぼ直線的に比例した
電圧ＶTが出力される。このような複数のリニア
ライザ８，８′……のうち使用熱電対５の種別に
よつて切換えるのであるが従来装置ではその選択
切換操作が測定者に任されている。つぎに第１図
の温度検出回路６には電位差計回路が設けられ前
記熱起電力ＥTを零位法で検出するのであるが氷
点槽を使用しない多くの装置では基準接点（冷接
点）補償回路９をこれも熱電対の種類ごとに
９′，９″……のように設けられている。これらは
装置がおかれている室温（ｔ℃）に対する熱電対
５の熱起電力ＥTだけ上記電位差計回路に加算す
ることで温度検出回路６の出力は０℃基準の熱起
電力ＥTOとなり、前述の温度プログラム設定器７
に入力される。温度プログラム設定器７は上記Ｅ
TOをリニアライザ８で直線化した出力ＶTと、た
とえば昇温プログラムに基づく目標値（温度）に
対応する電圧ＶPとの差電圧、すらわちＶTと目標
値ＶPとの偏差△ＶをPID制御回路１０に入力す
る。PID制御回路１０は比例Ｐ・積分Ｉ・微分Ｄ
の演算回路１１をそれぞれ熱電対５の種別に対応
して１１，１１′，１１″……といくつも設けてあ
る。この１１，１１′，１１″……の演算回路は上
記ＶPとＶTとの偏差ΔＶに応じてPID定数の演算
を行い、その出力△V0を増幅器A2で増幅し、ト
ライアツク（３端子交流半導体スイツチ）１２の
ゲート１２Ｇを制御する。この構成によつてAC
電源１３たとえばAC100Vの電力は測定者によつ
て選択された熱電対５の種別に応じたPID制御出
力ＶCとしてヒータ４に印加され、精密な温度プ
ログラム制御動作をするのである。
２１は熱電対５に直列に挿入する固定抵抗器で
これを熱電対の種類ごとに数オームずつ異なる抵
抗値として熱電対５に付加しておくことで
（PR）（CA）などの種別を特徴づけている。２
２，２３は手動（または自動）にて反転連動する
双極切換スイツチで図で測定中の状態を示してい
るが、測定に先立つて熱電対５の種別を識別する
とき、２２を開放し２３を閉じるように構成され
ている。２４は２３がONになつたとき上記２１
の抵抗を含んだ熱電対５の室温での抵抗値ｒを測
定する回路で、今たとえば（PR）の（ｒPR≒５
Ω）、（CA）の（ｒCA≒10Ω）のようにしておけ
ば室温が少々変化していても２４は正確にそれら
の種類を識別し、その識別信号S1，S2，S3を点線
の回線で、それぞれブロツク６，７，１０に発信
する。この熱電対識別回路２４の具体的構成の１
例を第５図に示す。同図において、スイツチ２６
は上記の双極切換スイツチ２３と連動しており、
熱電対５の種類を識別する際に、それらのスイツ
チ２３，２６はONされる。スイツチ２３，２６
が閉じられると、上述したように熱電対５の種類
ごとに異なる抵抗値をもたせた固定抵抗器２１と
可変抵抗器２６との間で分圧して、熱電対５の種
類ごとに、たとえば（PR）は0.1V、（PL）は
0.5V、（CA）は1.0Vというように適当な電圧
（ＶIN）がウインドコンパレータ回路２７に入力
される。このとき回路抵抗を適当に選んでおくこ
とにより、第６図に示すように、ウインドコンパ
レータ回路２７からHi、OV、Lowの３段階の電
圧（ＪOUT）が出力され、これによつて熱電対５
の種類が識別される。
これを熱電対の種類ごとに数オームずつ異なる抵
抗値として熱電対５に付加しておくことで
（PR）（CA）などの種別を特徴づけている。２
２，２３は手動（または自動）にて反転連動する
双極切換スイツチで図で測定中の状態を示してい
るが、測定に先立つて熱電対５の種別を識別する
とき、２２を開放し２３を閉じるように構成され
ている。２４は２３がONになつたとき上記２１
の抵抗を含んだ熱電対５の室温での抵抗値ｒを測
定する回路で、今たとえば（PR）の（ｒPR≒５
Ω）、（CA）の（ｒCA≒10Ω）のようにしておけ
ば室温が少々変化していても２４は正確にそれら
の種類を識別し、その識別信号S1，S2，S3を点線
の回線で、それぞれブロツク６，７，１０に発信
する。この熱電対識別回路２４の具体的構成の１
例を第５図に示す。同図において、スイツチ２６
は上記の双極切換スイツチ２３と連動しており、
熱電対５の種類を識別する際に、それらのスイツ
チ２３，２６はONされる。スイツチ２３，２６
が閉じられると、上述したように熱電対５の種類
ごとに異なる抵抗値をもたせた固定抵抗器２１と
可変抵抗器２６との間で分圧して、熱電対５の種
類ごとに、たとえば（PR）は0.1V、（PL）は
0.5V、（CA）は1.0Vというように適当な電圧
（ＶIN）がウインドコンパレータ回路２７に入力
される。このとき回路抵抗を適当に選んでおくこ
とにより、第６図に示すように、ウインドコンパ
レータ回路２７からHi、OV、Lowの３段階の電
圧（ＪOUT）が出力され、これによつて熱電対５
の種類が識別される。
そして、ブロツク６の温度検出回路に入力され
た上記信号S1は前述の基準接点補償回路９，
９′，９″……のうちのたとえば（PR）用の回路
を選択し、これを自動的に接続する。信号S2は同
じく７のブロツク内のリニアライザ８，８′……
のうちのPR用（前記の第３図のもの）を選択接
続し、信号S3は１０のブロツクの１１，１１′…
…の演算回路の（PR）用を選択接続するのであ
る。これら電気信号によつての回路選択切換はリ
レーを用いてもよく、アナログスイツチなど電子
的スイツチを用いても容易にできるものである。
た上記信号S1は前述の基準接点補償回路９，
９′，９″……のうちのたとえば（PR）用の回路
を選択し、これを自動的に接続する。信号S2は同
じく７のブロツク内のリニアライザ８，８′……
のうちのPR用（前記の第３図のもの）を選択接
続し、信号S3は１０のブロツクの１１，１１′…
…の演算回路の（PR）用を選択接続するのであ
る。これら電気信号によつての回路選択切換はリ
レーを用いてもよく、アナログスイツチなど電子
的スイツチを用いても容易にできるものである。
第１図の実施例では熱電対の特徴づけを付加抵
抗によつて行つているが、この発明は抵抗付設に
限定されるものではなく、第４図に示すように熱
電対をカートリツジ式に保護筒３０に収め、その
先端に３１〜３１″のピン接点を設け、定位置に
挿入したとき、このピン接点が図示しないピン受
に挿入されるように構成すれば、ピン接点の数を
種別に対応して変えておくことにより、そのピン
受の発生信号を第１図２４の熱電対識別回路に入
力させて、上記と同様の作用を備えることができ
るものである。上記ピン接点が熱電対の種別を特
徴づけるものである。
抗によつて行つているが、この発明は抵抗付設に
限定されるものではなく、第４図に示すように熱
電対をカートリツジ式に保護筒３０に収め、その
先端に３１〜３１″のピン接点を設け、定位置に
挿入したとき、このピン接点が図示しないピン受
に挿入されるように構成すれば、ピン接点の数を
種別に対応して変えておくことにより、そのピン
受の発生信号を第１図２４の熱電対識別回路に入
力させて、上記と同様の作用を備えることができ
るものである。上記ピン接点が熱電対の種別を特
徴づけるものである。
また第１図に特に図示していないが２４の識別
回路にはその識別した種別を表示する表示器ある
いはプリントアウトする印字器を設けてもよい。
さらに第１図の構成にマイクロコンピユータを組
込んでプログラムの設定をキイ操作で行うように
した装置のばあい、従来装置に比してキイ操作が
大幅に減少しうるものとなる。
回路にはその識別した種別を表示する表示器ある
いはプリントアウトする印字器を設けてもよい。
さらに第１図の構成にマイクロコンピユータを組
込んでプログラムの設定をキイ操作で行うように
した装置のばあい、従来装置に比してキイ操作が
大幅に減少しうるものとなる。
(ヘ) 効 果
この発明は以上のように構成されているので、
従来の熱分析装置が各種の検出器との組合わせ、
およびその測定温度範囲の変更ごとに温度プログ
ラムの設定操作に加えて熱電対の種類をチエツク
して、これに対する検出系ならびに制御系の各特
性を個々に変更設定する煩雑な操作から測定者を
解放し、使用熱電対を誤りなく装置に装着するだ
けで上記の変更設定が自動的に行われることによ
つて設定のミスがなく、測定操作が容易で良好な
制御精度で能率の高い熱分析を行なうことができ
るものである。
従来の熱分析装置が各種の検出器との組合わせ、
およびその測定温度範囲の変更ごとに温度プログ
ラムの設定操作に加えて熱電対の種類をチエツク
して、これに対する検出系ならびに制御系の各特
性を個々に変更設定する煩雑な操作から測定者を
解放し、使用熱電対を誤りなく装置に装着するだ
けで上記の変更設定が自動的に行われることによ
つて設定のミスがなく、測定操作が容易で良好な
制御精度で能率の高い熱分析を行なうことができ
るものである。
第１図はこの発明の実施例の熱分析装置の温度
制御系の構成を示すブロツク図で、熱電対の種別
を特徴づける手段として、直列抵抗器付設を採用
したものを示す。第２図Ａは一般のPR熱電対の
熱起電力特性の非直線性を示す図で、図Ｒは同じ
くCA熱電対の上記非直線性を示す図である。第
３図は上記PR熱電対の特性を直線化するリニア
ライザの構成を示す図である。第４図はこの発明
の熱電対種別を特徴づける手段として第１図とは
別の実施例説明図である。また第５図は第１図に
おける熱電対識別回路の構成の１例を示す回路図
であり、第６図は第５図に示した熱電対識別回路
から発信される識別信号についての説明図であ
る。 １……試料物質、２……基準物質、３……加熱
炉または冷却槽、４……ヒータ、５……プログラ
ム制御温度検出用熱電対、A2……直流増幅器、
８，８′，８″〜……各熱電対の熱起電力特性のリ
ニアライザ（温度検出系の特性補正回路の一
つ）、９，９′，９″〜……各熱電対の基準接点補
償回路（温度検出系の特性補正回路の一つ）、１
１，１１′，１１″〜……各熱電対に対応する温度
制御動作のPID演算回路（温度制御系の特性補正
回路）、１２……３端子交流半導体スイツチ、１
２Ｇ……上記１２のゲート、１３……交流電源、
２１……熱電対識別用付加抵抗、２２，２３……
双極連動切換スイツチ、２４……熱電対の種別を
識別する回路、S1，S2，S3……熱電対種別識別検
知信号、ε％……熱電対の温度に対する熱起電力
の非直線性誤差、D1〜D3……定電圧ダイオー
ド、e1〜e3……定電圧電源、A1……リニアライザ
の直流増幅器、ＥTO……０℃基準の熱起電力、Ｖ
T……ＥTOを直線化した電圧（温度Ｔに比例する
もの）、３０……カートリツジ式熱電対の一部、
３１，３１′，３１″，３１……熱電対の種類を
特徴づけるピン接点。
制御系の構成を示すブロツク図で、熱電対の種別
を特徴づける手段として、直列抵抗器付設を採用
したものを示す。第２図Ａは一般のPR熱電対の
熱起電力特性の非直線性を示す図で、図Ｒは同じ
くCA熱電対の上記非直線性を示す図である。第
３図は上記PR熱電対の特性を直線化するリニア
ライザの構成を示す図である。第４図はこの発明
の熱電対種別を特徴づける手段として第１図とは
別の実施例説明図である。また第５図は第１図に
おける熱電対識別回路の構成の１例を示す回路図
であり、第６図は第５図に示した熱電対識別回路
から発信される識別信号についての説明図であ
る。 １……試料物質、２……基準物質、３……加熱
炉または冷却槽、４……ヒータ、５……プログラ
ム制御温度検出用熱電対、A2……直流増幅器、
８，８′，８″〜……各熱電対の熱起電力特性のリ
ニアライザ（温度検出系の特性補正回路の一
つ）、９，９′，９″〜……各熱電対の基準接点補
償回路（温度検出系の特性補正回路の一つ）、１
１，１１′，１１″〜……各熱電対に対応する温度
制御動作のPID演算回路（温度制御系の特性補正
回路）、１２……３端子交流半導体スイツチ、１
２Ｇ……上記１２のゲート、１３……交流電源、
２１……熱電対識別用付加抵抗、２２，２３……
双極連動切換スイツチ、２４……熱電対の種別を
識別する回路、S1，S2，S3……熱電対種別識別検
知信号、ε％……熱電対の温度に対する熱起電力
の非直線性誤差、D1〜D3……定電圧ダイオー
ド、e1〜e3……定電圧電源、A1……リニアライザ
の直流増幅器、ＥTO……０℃基準の熱起電力、Ｖ
T……ＥTOを直線化した電圧（温度Ｔに比例する
もの）、３０……カートリツジ式熱電対の一部、
３１，３１′，３１″，３１……熱電対の種類を
特徴づけるピン接点。
Claims (1)
- １ 熱分析装置の加熱炉または冷却槽のプログラ
ム制御温度を検出する熱電対と、あらかじめ設定
された複数の特性補正回路を有する、前記加熱炉
または冷却槽の温度の検出系ならびに制御系と、
前記熱電対の種別を電気信号として識別検知する
熱電対識別手段と、この熱電対識別手段と前記温
度検出系とを択一的に回路切換えする回路切換手
段と、前記熱電対識別手段によつて識別検知され
た信号によつて前記温度の検出系ならびに制御系
にあらかじめ設定された前記複数の特性補正回路
のうち前記識別検知された熱電対に適応する特性
補正回路を自動的に選択する手段とを設けたこと
を特徴とする熱分析装置の温度制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15170479A JPS5674717A (en) | 1979-11-21 | 1979-11-21 | Temperature controller of thermal analysis apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15170479A JPS5674717A (en) | 1979-11-21 | 1979-11-21 | Temperature controller of thermal analysis apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5674717A JPS5674717A (en) | 1981-06-20 |
| JPS6238727B2 true JPS6238727B2 (ja) | 1987-08-19 |
Family
ID=15524436
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15170479A Granted JPS5674717A (en) | 1979-11-21 | 1979-11-21 | Temperature controller of thermal analysis apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5674717A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0648251B2 (ja) * | 1984-03-12 | 1994-06-22 | 出光興産株式会社 | 熱処理剤の冷却性能評価方法および評価装置 |
| JP2581669B2 (ja) * | 1985-12-23 | 1997-02-12 | 株式会社島津製作所 | 熱分析装置 |
-
1979
- 1979-11-21 JP JP15170479A patent/JPS5674717A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5674717A (en) | 1981-06-20 |
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