JPS6239694B2 - - Google Patents
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- JPS6239694B2 JPS6239694B2 JP55043353A JP4335380A JPS6239694B2 JP S6239694 B2 JPS6239694 B2 JP S6239694B2 JP 55043353 A JP55043353 A JP 55043353A JP 4335380 A JP4335380 A JP 4335380A JP S6239694 B2 JPS6239694 B2 JP S6239694B2
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- capacitor
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 48
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 31
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K13/00—Thermometers specially adapted for specific purposes
- G01K13/02—Thermometers specially adapted for specific purposes for measuring temperature of moving fluids or granular materials capable of flow
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K3/00—Thermometers giving results other than momentary value of temperature
- G01K3/005—Circuits arrangements for indicating a predetermined temperature
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/01—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using semiconducting elements having PN junctions
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はある温度にて急激に発振周波数が変化
するもので例えば温度を検出する検出信号発生源
として採用するのに適した温度応答型発振回路に
関するものである。
するもので例えば温度を検出する検出信号発生源
として採用するのに適した温度応答型発振回路に
関するものである。
従来より被検出温度に応じて発振周波数が変化
する温度応答型発振回路が知られているが、温度
一周波数特性の傾斜が小さいため、所望の温度を
検出するため厳密にしきい値を定める必要があつ
た。
する温度応答型発振回路が知られているが、温度
一周波数特性の傾斜が小さいため、所望の温度を
検出するため厳密にしきい値を定める必要があつ
た。
本発明は簡単な回路構成により、所望の温度に
て発振周波数が急変し、そのため容易に正確な温
度を検出することができる温度応答型発振回路を
提供することを目的とするものである。
て発振周波数が急変し、そのため容易に正確な温
度を検出することができる温度応答型発振回路を
提供することを目的とするものである。
以下本発明の一実施例を図面により説明する
と、第1図において符号10は公知の無安定マル
チバイブレータ回路を示している。この発振回路
は第1、第2のトランジスタ11,12と抵抗1
3,14,15,16及びコンデンサ17,18
とより構成されている。端子101と103は定
電圧電源110に接続されている。そして前記無
安定マルチバイブレータ回路10の第2のトラン
ジスタ12のコレクタは抵抗5を介して出力トラ
ンジスタ4のベースに接続され、このトランジス
タ4のコレクタは出力端子102に接続され、こ
の端子に発振パルス信号が現われる。又前記無安
定マルチバイブレータ回路10の第1のトランジ
スタ11のコレクタは抵抗2を介して信号反転用
トランジスタ1のベースに接続され、このトラン
ジスタ1のコレクタはコンデンサ8(以後帰還コ
ンデンサと呼ぶ)を介して前記無安定マルチバイ
ブレータ回路の第2のトランジスタ12のベース
に接続されている。そして前記無安定マルチバイ
ブレータの発振周期を決める一つの要素であるコ
ンデンサ17(以後基準コンデンサと呼ぶ)と前
記帰還コンデンサ8とはトランジスタ1の反転作
用により互いに逆方向の電圧を付与される。
と、第1図において符号10は公知の無安定マル
チバイブレータ回路を示している。この発振回路
は第1、第2のトランジスタ11,12と抵抗1
3,14,15,16及びコンデンサ17,18
とより構成されている。端子101と103は定
電圧電源110に接続されている。そして前記無
安定マルチバイブレータ回路10の第2のトラン
ジスタ12のコレクタは抵抗5を介して出力トラ
ンジスタ4のベースに接続され、このトランジス
タ4のコレクタは出力端子102に接続され、こ
の端子に発振パルス信号が現われる。又前記無安
定マルチバイブレータ回路10の第1のトランジ
スタ11のコレクタは抵抗2を介して信号反転用
トランジスタ1のベースに接続され、このトラン
ジスタ1のコレクタはコンデンサ8(以後帰還コ
ンデンサと呼ぶ)を介して前記無安定マルチバイ
ブレータ回路の第2のトランジスタ12のベース
に接続されている。そして前記無安定マルチバイ
ブレータの発振周期を決める一つの要素であるコ
ンデンサ17(以後基準コンデンサと呼ぶ)と前
記帰還コンデンサ8とはトランジスタ1の反転作
用により互いに逆方向の電圧を付与される。
以上のように構成した本実施例の作用を第1図
の各部に現われる電圧波形を示した第2図及び第
3図と共に説明する。この第2図の21,22,
23,24及び25の電圧波形と第3図の31,
32,33,34及び35の電圧波形は第1図の
トランジスタ11のコレクタ、トランジスタ1の
コレクタ、トランジスタ12のベース、トランジ
スタ12のコレクタ及びトランジスタ11のベー
スに各々現われる信号である。
の各部に現われる電圧波形を示した第2図及び第
3図と共に説明する。この第2図の21,22,
23,24及び25の電圧波形と第3図の31,
32,33,34及び35の電圧波形は第1図の
トランジスタ11のコレクタ、トランジスタ1の
コレクタ、トランジスタ12のベース、トランジ
スタ12のコレクタ及びトランジスタ11のベー
スに各々現われる信号である。
第2図に示すごとく、仮に時間t=t1にて第1
のトランジスタ11が遮断状態(以後オフと呼
ぶ)に、第2のトランジスタ12が導通状態(以
後オンと呼ぶ)になつたとする。トランジスタ1
1のコレクタ電位は第2図211に示す如く基準
コンデンサ17と抵抗13と時定数で上昇する。
この時トランジスタ1は、ベース電位がトランジ
スタがオン可能な電位になる(以後VBEと呼ぶ)
までの時間と、トランジスタ自身の伝搬遅れ時間
とにより第2図22に示す如くオフ状態にある。
よつて帰還コンデンサ8にはトランジスタ1のコ
レクタに接続されている側に正、トランジスタ1
2のベースに接続されている側に負の電荷が蓄え
られていることになる。
のトランジスタ11が遮断状態(以後オフと呼
ぶ)に、第2のトランジスタ12が導通状態(以
後オンと呼ぶ)になつたとする。トランジスタ1
1のコレクタ電位は第2図211に示す如く基準
コンデンサ17と抵抗13と時定数で上昇する。
この時トランジスタ1は、ベース電位がトランジ
スタがオン可能な電位になる(以後VBEと呼ぶ)
までの時間と、トランジスタ自身の伝搬遅れ時間
とにより第2図22に示す如くオフ状態にある。
よつて帰還コンデンサ8にはトランジスタ1のコ
レクタに接続されている側に正、トランジスタ1
2のベースに接続されている側に負の電荷が蓄え
られていることになる。
時間tがt2に達すると、前記トランジスタ1が
オン状態となる。すると帰還コンデンサ8のトラ
ンジスタ1のコレクタに接続されている側がアー
ス電位(以後“0”電位と呼ぶ)になるため、瞬
間にトランジスタ12のベースは第2図231に
示す如く逆バイアスされる。よつてトランジスタ
12は第2図241に示す如く、その逆バイアス
分だけオフ状態となり、コレクタ電位が上昇す
る。このため、前記コレクタ電位の上昇によりこ
のコレクタに接続されるコンデンサ18の他端側
すなわち、トランジスタ11のベースは第2図2
51に示す如く電位が持ち上がる。前記帰還コン
デンサ8には基準コンデンサ17から電荷が流れ
込むため、帰還コンデンサ8による逆バイアスは
すぐに解除され、トランジスタ11のベース電位
は第2図252に示す如く抵抗15とコンデンサ
18の時定数で上昇する。
オン状態となる。すると帰還コンデンサ8のトラ
ンジスタ1のコレクタに接続されている側がアー
ス電位(以後“0”電位と呼ぶ)になるため、瞬
間にトランジスタ12のベースは第2図231に
示す如く逆バイアスされる。よつてトランジスタ
12は第2図241に示す如く、その逆バイアス
分だけオフ状態となり、コレクタ電位が上昇す
る。このため、前記コレクタ電位の上昇によりこ
のコレクタに接続されるコンデンサ18の他端側
すなわち、トランジスタ11のベースは第2図2
51に示す如く電位が持ち上がる。前記帰還コン
デンサ8には基準コンデンサ17から電荷が流れ
込むため、帰還コンデンサ8による逆バイアスは
すぐに解除され、トランジスタ11のベース電位
は第2図252に示す如く抵抗15とコンデンサ
18の時定数で上昇する。
時間tがt3に達すると、前記抵抗15とコンデ
ンサ18の時定数で上昇するトランジスタ11の
ベース電位がこのトランジスタのVBEになりトラ
ンジスタ11はオン状態となる。するとそれまで
基準コンデンサ17のトランジスタ11のコレク
タ側に正、トランジスタ12のベース側に負の電
荷が蓄えられており、前記トランジスタ11のコ
レクタ電位が“0”電位となるため、トランジス
タ12のベースは基準コンデンサ17により、第
2図232に示す如く逆バイアスされマイナス電
位となる。よつてトランジスタ12はオフ状態と
なる。この時トランジスタ1は前述した如く遅れ
があるためオン状態にある。
ンサ18の時定数で上昇するトランジスタ11の
ベース電位がこのトランジスタのVBEになりトラ
ンジスタ11はオン状態となる。するとそれまで
基準コンデンサ17のトランジスタ11のコレク
タ側に正、トランジスタ12のベース側に負の電
荷が蓄えられており、前記トランジスタ11のコ
レクタ電位が“0”電位となるため、トランジス
タ12のベースは基準コンデンサ17により、第
2図232に示す如く逆バイアスされマイナス電
位となる。よつてトランジスタ12はオフ状態と
なる。この時トランジスタ1は前述した如く遅れ
があるためオン状態にある。
時間tがt4に達すると、トランジスタ1がオフ
状態になる。するとこれまで抵抗14と基準コン
デンサ17の時定数で上昇していたトランジスタ
12のベース電位は電源→抵抗3→帰還コンデン
サ17と電流が流れるため第2図234に示す如
く、急激に上昇し、帰還コンデンサ17が満充電
されると当初の抵抗14と基準コンデンサ17の
時定数で上昇する。
状態になる。するとこれまで抵抗14と基準コン
デンサ17の時定数で上昇していたトランジスタ
12のベース電位は電源→抵抗3→帰還コンデン
サ17と電流が流れるため第2図234に示す如
く、急激に上昇し、帰還コンデンサ17が満充電
されると当初の抵抗14と基準コンデンサ17の
時定数で上昇する。
時間tがt5に達すると、前記トランジスタ12
のベース電位がこのトランジスタのVBEになるた
め、トランジスタ12はオン状態となる。すると
前記同様、トランジスタ11のベースはコンデン
サ18により第2図253に示す如く逆バイアス
され、マイナス電位となるためトランジスタ11
はオフ状態となる。この時間tがt5に達した時の
動作は時間tがt1の時と同様である。
のベース電位がこのトランジスタのVBEになるた
め、トランジスタ12はオン状態となる。すると
前記同様、トランジスタ11のベースはコンデン
サ18により第2図253に示す如く逆バイアス
され、マイナス電位となるためトランジスタ11
はオフ状態となる。この時間tがt5に達した時の
動作は時間tがt1の時と同様である。
以上記述した動作がくり返されて、本発明の回
路は発振する。
路は発振する。
ここで帰還コンデンサ8の逆バイアスで生じる
電圧(第2図251)は基準コンデンサ17と帰
還コンデンサ8の容量値で定まる。すなわち基準
コンデンサ17の容量値C17と帰還コンデンサ8
の容量値C8がC17≫C8の場合には第2図251の
電位が上昇しない。そして帰還コンデンサ8の容
量値C8を大きくすると、第2図251の電位が
大きく上昇する。
電圧(第2図251)は基準コンデンサ17と帰
還コンデンサ8の容量値で定まる。すなわち基準
コンデンサ17の容量値C17と帰還コンデンサ8
の容量値C8がC17≫C8の場合には第2図251の
電位が上昇しない。そして帰還コンデンサ8の容
量値C8を大きくすると、第2図251の電位が
大きく上昇する。
今第2図251の電位がトランジスタ11のV
BEになるように帰還コンデンサ8の容量値C8を
設定した時の作動を第3図の電圧波形を基に説明
する。
BEになるように帰還コンデンサ8の容量値C8を
設定した時の作動を第3図の電圧波形を基に説明
する。
第3図に示す如く、仮に時間t=t′1にて前記
第2図の時間t=t1と同様で、トランジスタ11
がオフ状態トランジスタ12がオン状態であり、
かつトランジスタ1がオフ状態にあるとする。し
かしてトランジスタ11のコレクタ電位は抵抗1
3と基準コンデンサ17の時定数で上昇する。
第2図の時間t=t1と同様で、トランジスタ11
がオフ状態トランジスタ12がオン状態であり、
かつトランジスタ1がオフ状態にあるとする。し
かしてトランジスタ11のコレクタ電位は抵抗1
3と基準コンデンサ17の時定数で上昇する。
時間tがt′2に達すると、前述同様トランジス
タ1がオン状態となる。よつて帰還コンデンサ8
の逆バイアスによりトランジスタ12のベース電
位は前記第2図231に示す電位より大きく下が
る。このためトランジスタ12は完全にオフ状態
となり、コレクタの電位は前記第2図241の電
位より高くなる。よつてトランジスタ11のベー
ス電位は前記第2図251の電位より上昇して、
トランジスタ11のVBEに達する。するとトラン
ジスタ11はオン状態となるため、前述同様にト
ランジスタ12のベースには第3図331に示す
如く基準コンデンサ17で逆バイアスされる電位
が加わる。よつてトランジスタ12はオフ状態を
保つことになる。又トランジスタ1はトランジス
タ11がオン状態となるため、オン状態からオフ
状態に移る。ここでオン状態からオフ状態に移る
時間が第2図のそれと比べて早いのはトランジス
タ1のベースに印加される電圧が第3図31に示
される如く、第2図21に示される電圧に比べて
低いためである。他方トランジスタ12のベース
電位は第3図332に示す如く抵抗14とコンデ
ンサ17との時定数で上昇する。
タ1がオン状態となる。よつて帰還コンデンサ8
の逆バイアスによりトランジスタ12のベース電
位は前記第2図231に示す電位より大きく下が
る。このためトランジスタ12は完全にオフ状態
となり、コレクタの電位は前記第2図241の電
位より高くなる。よつてトランジスタ11のベー
ス電位は前記第2図251の電位より上昇して、
トランジスタ11のVBEに達する。するとトラン
ジスタ11はオン状態となるため、前述同様にト
ランジスタ12のベースには第3図331に示す
如く基準コンデンサ17で逆バイアスされる電位
が加わる。よつてトランジスタ12はオフ状態を
保つことになる。又トランジスタ1はトランジス
タ11がオン状態となるため、オン状態からオフ
状態に移る。ここでオン状態からオフ状態に移る
時間が第2図のそれと比べて早いのはトランジス
タ1のベースに印加される電圧が第3図31に示
される如く、第2図21に示される電圧に比べて
低いためである。他方トランジスタ12のベース
電位は第3図332に示す如く抵抗14とコンデ
ンサ17との時定数で上昇する。
時間tがt′3に達すると、トランジスタ12の
ベース電位がVBEに達してトランジスタ12はオ
ン状態となり以後t′1時点と同様の作動を行う。
ベース電位がVBEに達してトランジスタ12はオ
ン状態となり以後t′1時点と同様の作動を行う。
以上の動作がくり返されて、第2図の状態に比
べて高い発振周波数で発振する。
べて高い発振周波数で発振する。
以上述べたことより明らかなように、発振周波
数の高低は基準コンデンサ17と帰還コンデンサ
8の容量値で決まる。ここで、着目すべきこと
は、トランジスタのVBEが温度に依存することで
ある。すなわち、ある温度において、第2図23
1に現われる電位がトランジスタ12を完全にオ
フする電位まで下がつており高い発振周波数で発
振しているとする。そして温度が上昇してトラン
ジスタのVBEが下がると、前記電位ではトランジ
スタ12は完全にオフしなくなる。すなわち第2
図に示されるような低い発振周波数で発振するこ
とになる。よつて帰還コンデンサ8の容量値C8
を設定することにより発振周波数が急激に変化す
る温度が定まることになる。
数の高低は基準コンデンサ17と帰還コンデンサ
8の容量値で決まる。ここで、着目すべきこと
は、トランジスタのVBEが温度に依存することで
ある。すなわち、ある温度において、第2図23
1に現われる電位がトランジスタ12を完全にオ
フする電位まで下がつており高い発振周波数で発
振しているとする。そして温度が上昇してトラン
ジスタのVBEが下がると、前記電位ではトランジ
スタ12は完全にオフしなくなる。すなわち第2
図に示されるような低い発振周波数で発振するこ
とになる。よつて帰還コンデンサ8の容量値C8
を設定することにより発振周波数が急激に変化す
る温度が定まることになる。
次に実験したデータの一部を第4図及び第5図
に示す。この実験で用いた主な抵抗、コンデン
サ、トランジスタは、抵抗13,16及び3が
11KΩ、抵抗14,15及び2が100KΩ、コン
デンサ17及び18が1000pF、トランジスタ1
1,12及び1が2SC735(東芝社製)である。
に示す。この実験で用いた主な抵抗、コンデン
サ、トランジスタは、抵抗13,16及び3が
11KΩ、抵抗14,15及び2が100KΩ、コン
デンサ17及び18が1000pF、トランジスタ1
1,12及び1が2SC735(東芝社製)である。
第4図は帰環コンデンサ8の容量値C8を163pF
にすると、常温(15℃)では約60KHzの高い発
振周波数で発振しているが、温度を上げてゆくと
約25℃で62KHzから9KHzの低い発振周波数とな
りそれ以後温度を上昇させても発振周波数は低い
周波数の傾斜にそつて上昇するだけである。次に
逆に高い温度から温度を下げてゆくと約24℃で約
61.5KHzの高い発振周波数となる。又前記容量値
C8を171pFにすると、約54℃にて高い発振周波数
から低い発振周波数に移り、51℃で低い発振周
波数から高い発振周波数に移ることを示してい
る。このように復帰還コンデンサ8の容量値C8
と周波数急変温度の関係を図にしたのが第5図で
あり、仮に帰還コンデンサ8の容量値C8をC8=
165pFにすれば約30℃にて発振周波数が急激に変
化することを示している。すなわち帰還コンデン
サの容量値で検出温度を任意に設定することがで
きる。
にすると、常温(15℃)では約60KHzの高い発
振周波数で発振しているが、温度を上げてゆくと
約25℃で62KHzから9KHzの低い発振周波数とな
りそれ以後温度を上昇させても発振周波数は低い
周波数の傾斜にそつて上昇するだけである。次に
逆に高い温度から温度を下げてゆくと約24℃で約
61.5KHzの高い発振周波数となる。又前記容量値
C8を171pFにすると、約54℃にて高い発振周波数
から低い発振周波数に移り、51℃で低い発振周
波数から高い発振周波数に移ることを示してい
る。このように復帰還コンデンサ8の容量値C8
と周波数急変温度の関係を図にしたのが第5図で
あり、仮に帰還コンデンサ8の容量値C8をC8=
165pFにすれば約30℃にて発振周波数が急激に変
化することを示している。すなわち帰還コンデン
サの容量値で検出温度を任意に設定することがで
きる。
なお、上述の実施例ではトランジスタ11,1
2が温度に依存するものとして説明したが、トラ
ンジスタ12のみ温度に依存するように構成して
も同様の動作が可能である。また、逆にトランジ
スタ11のみ温度に依存するように構成すれば、
このトランジスタ11のVBEと第2図251に現
われるベース電位との関係で、このトランジスタ
11のオン、オフ点が変わるため、トランジスタ
12の場合とは逆に、温度がある値まで上昇する
と発振周波数が急激に高くなる特性が得られる。
2が温度に依存するものとして説明したが、トラ
ンジスタ12のみ温度に依存するように構成して
も同様の動作が可能である。また、逆にトランジ
スタ11のみ温度に依存するように構成すれば、
このトランジスタ11のVBEと第2図251に現
われるベース電位との関係で、このトランジスタ
11のオン、オフ点が変わるため、トランジスタ
12の場合とは逆に、温度がある値まで上昇する
と発振周波数が急激に高くなる特性が得られる。
なお、上述した実施例ではトランジスタ11,
12、および1にNPNトランジスタを用いてい
るが、PNPトランジスタを使用してもよい。ま
た、トランジスタ11,12として複数のトラン
ジスタを組合せた複合回路、例えばダーリントン
接続回路などを用いてもよい。
12、および1にNPNトランジスタを用いてい
るが、PNPトランジスタを使用してもよい。ま
た、トランジスタ11,12として複数のトラン
ジスタを組合せた複合回路、例えばダーリントン
接続回路などを用いてもよい。
また信号反転用トランジスタ1の代わりに複数
のトランジスタを組合せたスイツチング回路を使
用してもよく、また第1のトランジスタ11から
そのスイツチング回路への出力信号伝達のために
ホトカプラなどを使用してもよい。
のトランジスタを組合せたスイツチング回路を使
用してもよく、また第1のトランジスタ11から
そのスイツチング回路への出力信号伝達のために
ホトカプラなどを使用してもよい。
以上述べた如く本発明においては無安定マルチ
バイブレータを構成するコンデンサの1つに逆バ
イアス電圧が印加されるように反転回路と帰還コ
ンデンサを設けたことにより、前記帰還コンデン
サの容量値で発振周波数が急激に変化する温度を
任意に設定でき、しかも出力には周波数変化とし
て現われるため、デジタル処理に適するという優
れた効果がある。
バイブレータを構成するコンデンサの1つに逆バ
イアス電圧が印加されるように反転回路と帰還コ
ンデンサを設けたことにより、前記帰還コンデン
サの容量値で発振周波数が急激に変化する温度を
任意に設定でき、しかも出力には周波数変化とし
て現われるため、デジタル処理に適するという優
れた効果がある。
第1図は本発明発振回路の一実施例を示す電気
結線図、第2図及び第3図は第1図に示した発振
回路の各部に生じる電圧波形図、第4図は第1図
に示した発振回路の発振周波数特性を示す図、第
5図は第1図に示した発振回路の周波数急変温度
と帰還コンデンサの容量値との関係を示した図で
ある。 1……反転回路をなすトランジスタ、8……帰
還コンデンサ、10……無安定マルチバイブレー
タ、11……第1のトランジスタ回路をなすトラ
ンジスタ、12……第2のトランジスタ回路をな
すトランジスタ、14,15……時定数を定める
抵抗、17,18……時定数を定めるコンデン
サ。
結線図、第2図及び第3図は第1図に示した発振
回路の各部に生じる電圧波形図、第4図は第1図
に示した発振回路の発振周波数特性を示す図、第
5図は第1図に示した発振回路の周波数急変温度
と帰還コンデンサの容量値との関係を示した図で
ある。 1……反転回路をなすトランジスタ、8……帰
還コンデンサ、10……無安定マルチバイブレー
タ、11……第1のトランジスタ回路をなすトラ
ンジスタ、12……第2のトランジスタ回路をな
すトランジスタ、14,15……時定数を定める
抵抗、17,18……時定数を定めるコンデン
サ。
Claims (1)
- 1 出力端子と入力端子とがCR時定数回路を介
して互いに結合され無安定マルチバイブレータを
構成する第1、第2のトランジスタ回路と、この
第1のトランジスタ回路の出力信号に応答してそ
の反転信号を作成する反転回路と、この反転回路
の反転信号を前記第2のトランジスタ回路の入力
端子に印加する帰還コンデンサとを具備し、少な
くとも前記第1、第2のトランジスタ回路の少な
くとも一方が被検出温度にさらされるようにした
ことを特徴とする温度応答型発振回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4335380A JPS56140224A (en) | 1980-04-02 | 1980-04-02 | Temperature response-type oscillation circuit |
| US06/248,443 US4384262A (en) | 1980-04-02 | 1981-03-27 | Temperature responsive astable multivibrator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4335380A JPS56140224A (en) | 1980-04-02 | 1980-04-02 | Temperature response-type oscillation circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56140224A JPS56140224A (en) | 1981-11-02 |
| JPS6239694B2 true JPS6239694B2 (ja) | 1987-08-25 |
Family
ID=12661482
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4335380A Granted JPS56140224A (en) | 1980-04-02 | 1980-04-02 | Temperature response-type oscillation circuit |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4384262A (ja) |
| JP (1) | JPS56140224A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106023890B (zh) * | 2016-07-25 | 2018-06-01 | 京东方科技集团股份有限公司 | 温度检测电路和方法、温度补偿装置和方法、及显示装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2984729A (en) * | 1958-11-10 | 1961-05-16 | Collins Radio Co | Multivibrator type oven control |
| SU527607A1 (ru) * | 1975-06-02 | 1976-09-05 | Московский Ордена Трудового Красного Знамени Инженерно-Строительный Институт Имени В.В.Куйбышева | Термопреобразователь |
| US4184126A (en) * | 1978-09-27 | 1980-01-15 | Eaton Corporation | Temperature sensitive astable multivibrator |
-
1980
- 1980-04-02 JP JP4335380A patent/JPS56140224A/ja active Granted
-
1981
- 1981-03-27 US US06/248,443 patent/US4384262A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56140224A (en) | 1981-11-02 |
| US4384262A (en) | 1983-05-17 |
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