JPS6239898B2 - - Google Patents
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- JPS6239898B2 JPS6239898B2 JP14688780A JP14688780A JPS6239898B2 JP S6239898 B2 JPS6239898 B2 JP S6239898B2 JP 14688780 A JP14688780 A JP 14688780A JP 14688780 A JP14688780 A JP 14688780A JP S6239898 B2 JPS6239898 B2 JP S6239898B2
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- Japan
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- light
- pinhole
- plate member
- thin plate
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 42
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 4
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 18
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 18
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/894—Pinholes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
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- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はピンホール検出装置に関する。
一般に、薄板鋼板のような薄板部材の製造ライ
ンには走行中の薄板鋼板のピンホールを検出する
ピンホール検出装置が設けられている。このよう
なピンホール検出装置として例えば第１図に示す
ものがある。１は基台であり、この基台には図示
しないモーターに回転させられるラブストリツプ
２が回転自在に支持されている。ラブストリツプ
２に載置されている薄板鋼板３はラブストリツプ
２の回転によつて図中例えば紙面方向に移動させ
られる。また、基台１の上部には薄板鋼板３を照
射する照明部４が、下部つまり薄板鋼板３の下方
にはピンホールを検出する光電変換器を有した検
出部５が設けられている。そして、検出部５でピ
ンホール検出を確実にするため薄板鋼板３と隣接
するラブストリツプ２とともに暗室を形成するシ
ヤツター６が薄板鋼板３の両端部を包むように設
けられている。したがつて、このような従来のピ
ンホール検出装置ではシヤツター６に覆われた端
部が不感帯として存在することになる。そのた
め、従来この不感帯を解消すべく端部検査専用の
ピンホール検査装置を製造ラインに別途設けてい
た。また、端部のみを照射してピンホールを検出
するエツジピンホール検出器を従来のピンホール
検出装置に組込んで薄板鋼板全体を１つの装置で
検査できるピンホール検出装置が最近実用化され
ている。ところが、薄板鋼板３はラブストリツプ
２上を移動する際その幅方向にも移動する。した
がつて、端部を照射する投光部やピンホール検出
部は、端部のこの動きに追従する必要があるとこ
ろから投光部や検出部を含めて装置全体が一体と
して追従する構造となつていた。そのため、追従
機構が複雑となり装置全体が大形化し高価なもの
となるという問題点があつた。
ンには走行中の薄板鋼板のピンホールを検出する
ピンホール検出装置が設けられている。このよう
なピンホール検出装置として例えば第１図に示す
ものがある。１は基台であり、この基台には図示
しないモーターに回転させられるラブストリツプ
２が回転自在に支持されている。ラブストリツプ
２に載置されている薄板鋼板３はラブストリツプ
２の回転によつて図中例えば紙面方向に移動させ
られる。また、基台１の上部には薄板鋼板３を照
射する照明部４が、下部つまり薄板鋼板３の下方
にはピンホールを検出する光電変換器を有した検
出部５が設けられている。そして、検出部５でピ
ンホール検出を確実にするため薄板鋼板３と隣接
するラブストリツプ２とともに暗室を形成するシ
ヤツター６が薄板鋼板３の両端部を包むように設
けられている。したがつて、このような従来のピ
ンホール検出装置ではシヤツター６に覆われた端
部が不感帯として存在することになる。そのた
め、従来この不感帯を解消すべく端部検査専用の
ピンホール検査装置を製造ラインに別途設けてい
た。また、端部のみを照射してピンホールを検出
するエツジピンホール検出器を従来のピンホール
検出装置に組込んで薄板鋼板全体を１つの装置で
検査できるピンホール検出装置が最近実用化され
ている。ところが、薄板鋼板３はラブストリツプ
２上を移動する際その幅方向にも移動する。した
がつて、端部を照射する投光部やピンホール検出
部は、端部のこの動きに追従する必要があるとこ
ろから投光部や検出部を含めて装置全体が一体と
して追従する構造となつていた。そのため、追従
機構が複雑となり装置全体が大形化し高価なもの
となるという問題点があつた。
この発明はこのような従来の問題点に着目して
なされたもので、光源と、この光源からの光線を
収束して薄板部材の端部に光点を結ばせこの光点
を走査させる光点走査ユニツトと、この端部に対
向配置され、光点走査ユニツトの出力光線を端部
の方向に反射させる反射ミラー及び端部のピンホ
ールを通過した光線を検知して電気信号に変換す
る光電変換器とを有して端部の動きに追従する検
出ヘツドを従来のピンホール検出装置に設けるこ
とによつて上述の問題点を解決することを目的と
している。
なされたもので、光源と、この光源からの光線を
収束して薄板部材の端部に光点を結ばせこの光点
を走査させる光点走査ユニツトと、この端部に対
向配置され、光点走査ユニツトの出力光線を端部
の方向に反射させる反射ミラー及び端部のピンホ
ールを通過した光線を検知して電気信号に変換す
る光電変換器とを有して端部の動きに追従する検
出ヘツドを従来のピンホール検出装置に設けるこ
とによつて上述の問題点を解決することを目的と
している。
以下、この発明を図面に基づいて説明する。
第２図、第３図および第４図はこの発明の一実
施例を示す図である。まず、構成を説明する。な
お、第１図と同一部分には同一符号を付してその
説明を省略する。１１はレーザ光源、１２は光点
走査ユニツトであり、このレーザ光源１１と光点
走査ユニツト１２とは対向して基台１に取り付け
られている。光点走査ユニツト１２はピエゾ光学
効果結晶体とコリメータとを内蔵し、これらによ
つてレーザ光線を揺動収束させるものである。１
３は遮光板であり、この遮光板１３には、第３図
に詳示するように、スリツト１４，１５が設けら
れている。１７は薄板鋼板３端部のエツジ、１８
は、光点走査ユニツト１２でレーザ光線１６が走
査される走査範囲である。スリツト１４は走査範
囲１８でカバーできず、かつ、遮光板１３に覆わ
れた薄板鋼板の端部を照明部４により照射させ不
感帯をなくするためのものである。なお、この遮
光板１３は従来のシヤツター６と同一機能、すな
わち、暗室を形成するようになされている。第２
図に戻つて１９は前記遮光板１３を一体に構成し
た、検出ヘツドであり、この検出ヘツド１９は反
射板２０と検出部２１とを有して歯車機構２２に
より薄板鋼板３の幅方向に移動自在になされてい
る。第４図において、反射板２０には反射ミラー
２３が張り付けられている。また、検出部２１に
はレンズ２４、フイルター２５、光電変換器２６
およびコネクタ２７が組み込まれている。第５図
および第６図にピンホール検出信号の処理回路の
構成例および各部の信号波形を示す。２８は増幅
器であり、この増幅器２８にはコネクタ２７に出
力された検出部２１の出力信号ａ，ｂ，ｃが入力
される。ａはピンホールが存在しない場合、ｂは
ピンホール（矢印）が存在する場合、およびｃは
薄板鋼板の端部が幅方向に移動して端部のエツジ
と遮光板１３との位置関係がΔｔずれている場合
の出力波形を示している。そして、このずれΔ
ｔ、つまり、端部の幅方向への動きを検出して追
従すべく検出ヘツド１９は前述のように移動自在
になされている。検出部２１からの出力信号ａが
入力された増幅器２８の出力は、弁別回路２９と
微分回路３０に入力される。弁別回路２９の出力
ｅは一致回路３２の一方の入力となり、微分回路
３０の出力は遅延回路３１に出力される。一致回
路３２は遅延回路３１の出力ｄを他方の入力とし
て、ピンホール検出信号ｆを出力している。
施例を示す図である。まず、構成を説明する。な
お、第１図と同一部分には同一符号を付してその
説明を省略する。１１はレーザ光源、１２は光点
走査ユニツトであり、このレーザ光源１１と光点
走査ユニツト１２とは対向して基台１に取り付け
られている。光点走査ユニツト１２はピエゾ光学
効果結晶体とコリメータとを内蔵し、これらによ
つてレーザ光線を揺動収束させるものである。１
３は遮光板であり、この遮光板１３には、第３図
に詳示するように、スリツト１４，１５が設けら
れている。１７は薄板鋼板３端部のエツジ、１８
は、光点走査ユニツト１２でレーザ光線１６が走
査される走査範囲である。スリツト１４は走査範
囲１８でカバーできず、かつ、遮光板１３に覆わ
れた薄板鋼板の端部を照明部４により照射させ不
感帯をなくするためのものである。なお、この遮
光板１３は従来のシヤツター６と同一機能、すな
わち、暗室を形成するようになされている。第２
図に戻つて１９は前記遮光板１３を一体に構成し
た、検出ヘツドであり、この検出ヘツド１９は反
射板２０と検出部２１とを有して歯車機構２２に
より薄板鋼板３の幅方向に移動自在になされてい
る。第４図において、反射板２０には反射ミラー
２３が張り付けられている。また、検出部２１に
はレンズ２４、フイルター２５、光電変換器２６
およびコネクタ２７が組み込まれている。第５図
および第６図にピンホール検出信号の処理回路の
構成例および各部の信号波形を示す。２８は増幅
器であり、この増幅器２８にはコネクタ２７に出
力された検出部２１の出力信号ａ，ｂ，ｃが入力
される。ａはピンホールが存在しない場合、ｂは
ピンホール（矢印）が存在する場合、およびｃは
薄板鋼板の端部が幅方向に移動して端部のエツジ
と遮光板１３との位置関係がΔｔずれている場合
の出力波形を示している。そして、このずれΔ
ｔ、つまり、端部の幅方向への動きを検出して追
従すべく検出ヘツド１９は前述のように移動自在
になされている。検出部２１からの出力信号ａが
入力された増幅器２８の出力は、弁別回路２９と
微分回路３０に入力される。弁別回路２９の出力
ｅは一致回路３２の一方の入力となり、微分回路
３０の出力は遅延回路３１に出力される。一致回
路３２は遅延回路３１の出力ｄを他方の入力とし
て、ピンホール検出信号ｆを出力している。
次に、作用を説明する。
光点走査ユニツト１２で揺動収束させられたレ
ーザ光線１６は反射ミラー２３に反射されスリツ
ト１５を通り端部表面に光点を結ばされる。この
光点はスリツト１５に沿つてスリツト１５の開口
側から閉止側に向つて移動し端部表面を走査させ
られる。そして、この走査スピードは光点走査ユ
ニツト１２に内蔵されているピエゾ光学効果結晶
体に印加される超音波のエネルギーに依存す。し
たがつて、薄板鋼板３の移動速度に合せて走査ス
ピードを設定することができる。第６図におい
て、Ｔは光点が端部表面を走査している期間であ
り、この期間Ｔ内では通常検出部２１にレーザ光
線１６は伝達されない。ところが、この期間Ｔ内
で薄板鋼板３にピンホールがあると、波形ｂに示
すスパイク状の波形（矢印）が観測される。この
波形ｂが第５図に示す処理回路で処理され、ピン
ホール検出信号ｆが出力される。なお、第２図に
おいて、検出ヘツド３５の反射ミラー３７をハー
フミラーとする、あるいは、レーザ光線３３、光
点走査ユニツト３４、検出ヘツド３５および遮光
板３６を設ければ薄板鋼板３の両端を検査でき
る。さらに、第７図に示すように、光点走査ユニ
ツトの代わりに回転ミラー４１、あるいは振動ミ
ラーなどを使用し、この回転ミラー４１で走査さ
れたレーザ光を反射板４３で端部方向へ反射させ
るようにしてもよい。４２はレンズである。
ーザ光線１６は反射ミラー２３に反射されスリツ
ト１５を通り端部表面に光点を結ばされる。この
光点はスリツト１５に沿つてスリツト１５の開口
側から閉止側に向つて移動し端部表面を走査させ
られる。そして、この走査スピードは光点走査ユ
ニツト１２に内蔵されているピエゾ光学効果結晶
体に印加される超音波のエネルギーに依存す。し
たがつて、薄板鋼板３の移動速度に合せて走査ス
ピードを設定することができる。第６図におい
て、Ｔは光点が端部表面を走査している期間であ
り、この期間Ｔ内では通常検出部２１にレーザ光
線１６は伝達されない。ところが、この期間Ｔ内
で薄板鋼板３にピンホールがあると、波形ｂに示
すスパイク状の波形（矢印）が観測される。この
波形ｂが第５図に示す処理回路で処理され、ピン
ホール検出信号ｆが出力される。なお、第２図に
おいて、検出ヘツド３５の反射ミラー３７をハー
フミラーとする、あるいは、レーザ光線３３、光
点走査ユニツト３４、検出ヘツド３５および遮光
板３６を設ければ薄板鋼板３の両端を検査でき
る。さらに、第７図に示すように、光点走査ユニ
ツトの代わりに回転ミラー４１、あるいは振動ミ
ラーなどを使用し、この回転ミラー４１で走査さ
れたレーザ光を反射板４３で端部方向へ反射させ
るようにしてもよい。４２はレンズである。
次に、第６図ｃに示す（Δｔ）の利用方法を説
明する。まず、遮光板と端部のエツジとの相対的
な位置ずれ量（ΔＷ）を次式により求めることが
できる。
明する。まず、遮光板と端部のエツジとの相対的
な位置ずれ量（ΔＷ）を次式により求めることが
できる。
ΔＷ＝Ｋ・Δｔ／Ｔ ……(1)
ここで
Ｋ：常数（mm）、Ｔ：光点の走査周期（秒）
Δｔ：出力波形のずれ（秒）
次いで、この（ΔＷ）から薄板鋼板の全幅
（Ｗ）を次式により求める。
（Ｗ）を次式により求める。
Ｗ＝W0＋（ΔW1＋ΔW2） ……(2)
ここで
W0：遮光板の位置（mm）
ΔW1、ΔW2：(1)式より求まる位置ずれ量
そして、(1)式によつて端部の動きに追従する検
出ヘツドあるいは、遮光板の位置検出を行なうこ
とができる。
出ヘツドあるいは、遮光板の位置検出を行なうこ
とができる。
以上説明してきたように、この発明によれば、
ピンホール検出装置を複雑化、大型化させること
なく、あるいは端部検出用ピンホール検出装置を
別に設けることなく薄板部材の端部を含めた全幅
を同一環境下で簡単に検査することができる。
ピンホール検出装置を複雑化、大型化させること
なく、あるいは端部検出用ピンホール検出装置を
別に設けることなく薄板部材の端部を含めた全幅
を同一環境下で簡単に検査することができる。
第１図は従来のピンホール検出装置を示すその
一部断面図、第２図はこの発明に係るピンホール
検出装置の一実施例を示すその一部断面図、第３
図はこの発明に係るピンホール検出装置の遮光板
を示すその平面図、第４図はこの発明に係るピン
ホール検出装置の検出ヘツドを示すその一部断面
図、第５図はこの発明に係るピンホール検出装置
の信号処理回路のブロツク図、第６図は第５図の
信号処理回路のタイムチヤート、第７図はこの発
明のピンホール検出装置の他の実施例を示すその
一部断面図である。 ３……薄板鋼板、４……照明部、５……検出
部、１１……レーザ光源、１２……光点走査ユニ
ツト、４１……回転ミラー、２３……反射ミラ
ー、２６……光電変換器、１９……検出ヘツド、
１３……遮光板、１５……スリツト。
一部断面図、第２図はこの発明に係るピンホール
検出装置の一実施例を示すその一部断面図、第３
図はこの発明に係るピンホール検出装置の遮光板
を示すその平面図、第４図はこの発明に係るピン
ホール検出装置の検出ヘツドを示すその一部断面
図、第５図はこの発明に係るピンホール検出装置
の信号処理回路のブロツク図、第６図は第５図の
信号処理回路のタイムチヤート、第７図はこの発
明のピンホール検出装置の他の実施例を示すその
一部断面図である。 ３……薄板鋼板、４……照明部、５……検出
部、１１……レーザ光源、１２……光点走査ユニ
ツト、４１……回転ミラー、２３……反射ミラ
ー、２６……光電変換器、１９……検出ヘツド、
１３……遮光板、１５……スリツト。
Claims (1)
- １ 薄板部材を照射する照明部と、この薄板部材
の通路を挾んで対向配置されたピンホール検出部
とを備えたピンホール検出装置において、光源
と、この光源からの光線を揺動させるとともに収
束させて前記薄板部材の端部に光点を結ばせる光
点走査ユニツトと、前記薄板部材の端部に対向し
て配置され、この揺動収束させられた光線を端部
の方向に反射する反射ミラー及びこの反射ミラー
に前記薄板部材の端部を介して対向配置され、ピ
ンホールを通過した光線を検知して電気信号に変
換する光電変換器とを有し、前記薄板部材の端部
の動きに追従可能な検出へツドと、このヘツドに
取着され、このヘツドの反射ミラーからの光線を
通過させるスリツトを有する遮光板とを備えるよ
うにしたことを特徴とするピンホール検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14688780A JPS5770431A (en) | 1980-10-22 | 1980-10-22 | Pinhole detecting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14688780A JPS5770431A (en) | 1980-10-22 | 1980-10-22 | Pinhole detecting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5770431A JPS5770431A (en) | 1982-04-30 |
| JPS6239898B2 true JPS6239898B2 (ja) | 1987-08-25 |
Family
ID=15417816
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14688780A Granted JPS5770431A (en) | 1980-10-22 | 1980-10-22 | Pinhole detecting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5770431A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107023738A (zh) * | 2017-04-10 | 2017-08-08 | 安徽江南春包装科技有限公司 | 一种花纸印刷裂纹检测用固定装置 |
-
1980
- 1980-10-22 JP JP14688780A patent/JPS5770431A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5770431A (en) | 1982-04-30 |
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