JPS6244214B2 - - Google Patents

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JPS6244214B2
JPS6244214B2 JP55178974A JP17897480A JPS6244214B2 JP S6244214 B2 JPS6244214 B2 JP S6244214B2 JP 55178974 A JP55178974 A JP 55178974A JP 17897480 A JP17897480 A JP 17897480A JP S6244214 B2 JPS6244214 B2 JP S6244214B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electromagnetic
detector
partial pressure
electromagnetic detector
vacuum
Prior art date
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Expired
Application number
JP55178974A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57103029A (en
Inventor
Takahiro Kanamori
Michio Ootsuka
Mitsuji Abe
Masatsugu Nishi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP55178974A priority Critical patent/JPS57103029A/ja
Publication of JPS57103029A publication Critical patent/JPS57103029A/ja
Publication of JPS6244214B2 publication Critical patent/JPS6244214B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/04Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
    • G01M3/20Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
    • G01M3/202Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/10Nuclear fusion reactors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は電磁気検出器の破壊検知方法に係り、
特に、核融合装置の真空容器内に設置される電磁
気検出器の真空漏れを検出するに最適な破壊検知
方法に関する。 核融合装置等のプラズマ位置、形状、振動等を
測定するために電磁検出器が採用されている。か
かる電磁検出器はプラズマ電流等によつて作られ
る磁場変化を検出するサーチコイルの一種であ
り、第1図の如き構造を有している。 磁場を検出するためのコイル1はボビン2に巻
かれている。ここで磁場φ3がボビン2の長手方
向より到達するとすれば、検出端4のA〜B端子
間に発生する電位差Vは、比例定数をCとすれ
ば、 V=Cdφ/dt ……(1) で表せる。したがつて電位差Vを測定すること
で、磁場の時間変化dφ/dtを知ることができ
る。そこで、このようなコイルを空間的に多数配
置すれば、プラズマ位置、形状、振動等を測定す
ることができる。 第2図は、円形断面の真空容器21を有するト
ーラス型核融合装置の外観図を示し、そのA―
A′面断面図が第3図である。真空容器21の外
壁22又は内壁23の各々に電磁気検出器30を
設置し、更に、複数ケ所に設置される。内壁側に
電磁検出器を設置するのは、プラズマが動くこと
により生じる時間遅れに対処する為に設けられる
ものである。しかし、一般には電磁気検出器がプ
ラズマ32に対する不純物源となりうるので、内
側でなく外壁側に設置される。この場合、電磁気
検出器の構造としては、第1図の構造またはコイ
ル1を保護する目的および静電シールドを持たせ
ることを目的として、シースを覆う構造のものと
する。しかしながら、どちらの構造としても真空
容器外に設置されることから真空容器21の時定
数の影響を受けることになる。前述のようにプラ
ズマ32の挙動を真空容器21の時定数以下の時
間スケールで観測するには電磁気検出器30を第
2図の様に真空容器内壁23に設置しなければな
らない。電磁気検出器30を真空容器21の内部
に設置する場合、電磁気検出器30のプラズマ3
2からの熱に対する保護、及び真空に対する保護
を行なう必要がある。 第4図は真空容器21に設置される電磁気検出
器30の構造を示すものである。コイル1はシー
ス41内に嵌装され、筒状に形成されてフランジ
42に取付けられる。コイル1の装填部分はセン
サ部43を形成し、芯線44の装架部分はケーブ
ル部45を形成する。センサ部43のコイル1と
シース41間には、絶縁耐圧を上げる目的でアル
ゴン等の不活性ガス46を封入する。さらにケー
ブル部43の芯線44とシース41間には酸化マ
グネシウム等の絶縁粉末45を装填して絶縁耐圧
を上げている。しかし、プラズマ32の破壊等に
より真空容器21と電磁気検出器30のシース部
41の間に電位差が発生し、放電したとすると薄
板で構成されたシース41が破壊され、ケーブル
部43の絶縁粉末45を通してフランジ42の外
方より大気が流入し、真空容器21の真空度が低
下する。したがつてプラズマ電流、温度等のプラ
ズマ諸特性を悪化させる。さらに一般に大型装置
では、検出精度を上げる目的から真空容器内に百
数十本の電磁気検出器を配備している。したがつ
て上記の原因による真空度低下をおさえるために
は出来る限り速く正確に真空破壊を生じた電磁気
検出器を同定する必要がある。 従来から、上述の電磁気検出器30のシース破
壊による真空度低下の検出には、真空容器21に
取り付けた真空計あるいはコイル1とシース41
間に充填した不活性ガス46の検出のための質量
分析器等でガス分析を行なつて検出していた。し
かし前者の方法では、第4図におけるフランジ4
2とシース41間の溶接不良によるものか、セン
サ部43のシース41の破壊による真空漏れかの
判断が不可能に近かつた。また後者の方法では、
前者の方法とは異なりセンサ部43のシース41
の破壊であることの証明にはなり得るが、どの検
出器が故障しているのかを見きわめることが即座
に出来ないという問題点があつた。 本発明の目的は、複数の電磁気検出器のいずれ
に破壊が生じたかを検出することのできる電磁気
検出器の破壊検知方法を提供するにある。 本発明は、電磁気検出器ごとにセンサ部に封入
するガスの分圧比を異ならせ、これをガス分析す
ることにより破壊された電磁気検出器を判定する
ようにしたものである。 第4図に示した電磁気検出器のコイル1とシー
ス41との間に充填するガスをn種の気体状不活
性元素で構成するとともに各検出器に封入する混
合元素の分圧比を各検出器ごとに異ならせる。一
般に、この分圧比の取り得る値をm通りとする
と、混合が可能な組合せの数(N)は次式で与え
られる。 N=n+o-2n-1 ………(2) (ここでCは組合せの記号である) 例えば、不活性ガスとしてアルゴン及びネオン
の2種類(n=2)を考え、分圧比を20%ずつ変
化させた(m=6)場合を想定したとすると、(2)
式より組み合せの数はN=6となり、6本までの
電磁気検出器に封入することが可能となる。本例
で例えばアルゴンを体積比にして20%、ネオンを
体積比にして80%の混合気体を用い、混合気体の
全圧を1気圧、電磁気検出器内の混合気体の容積
を10-6m3、真空容器の全体積を50m3、真空度を
7.6×10-6気圧とすると電磁気検出器のコイル1
とシース41の間の破壊によるアルゴンの分圧は
4×10-9気圧となる。この値は例えば四重極質量
分析器等の質量分析器における検出感度1×
10-17気圧に比べて十分大きな値であり、感度良
く検出することが可能である。上述の例ではガス
の種数n=2であつたが、同様に126本の電磁気
検出器の漏洩を調べるためには、5種類のガスを
混合させればよい。 本発明に係るガス漏洩検出装置を示したのは第
5図である。 複数の電磁気検出器が設置される雰囲気中のガ
スを質量分析器51(例えば、四重極質量分析
器)で分析され、その分析スペクトルは除算回路
52に入力される。この場合、質量数は元素を示
し、ピーク値は元素の存在比に対応した値を示
す。ここで例えば、混合気体としてアルゴン及び
ネオンを用いたとすると、質量20のアルゴンのピ
ーク値a、質量40のネオンのピーク値bとし
て、a/(a+b)あるいは、b/(a+b)を
求める。メモリ回路53には例えば下表に示す形
式に諸量が予め書込まれている。
【表】 上表において、#0〜#5はメモリのアドレス
に1対1に対応している。a及びbは前述のアル
ゴンおよびネオンの存在比を示すものである。一
致回路54は、除算回路52の出力とメモリ回路
53からの出力とを比較し、一致したアドレス
(即ち電磁気検出器の番号)を表示回路55に出
力し、該表示回路55はアドレスに対応する電磁
気検出器の番号を表示する。 以上は、自動的に故障検出器を判定する例であ
るが、オペレータが質量分析器の分析結果を判定
することも勿論可能である。 以上より明らかなように本発明によれば、真空
破壊の生じた電磁気検出器を速座に同定すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は電磁気検出器用コイルの概略構造図、
第2図はトーラス型核融合装置の外観図、第3図
は第2図の装置A―A′面断面図、第4図は電磁
気検出器の正面断面図、第5図は本発明に係るガ
ス漏洩検出装置のブロツク図である。 1…コイル、2…ボビン、21…真空容器、3
0…電磁気検出器、41…シース、46…不活性
ガス、47…絶縁粉末、51…質量分析器、52
…除算回路、53…メモリ回路、54…一致回
路、55…表示回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 核融合装置等の真空容器内に設置されプラズ
    マ電流等によつて生成される磁場変化を検出する
    密閉構造の複数の電磁気検出器において、該複数
    の電磁気検出器ごとに分圧比を変えた複数の気体
    状不活性元素を封入し、当該電磁気検出器の破壊
    時に漏洩する前記封入ガスを質量分析し、その分
    析結果と予め知られる前記分圧比との比較により
    破壊された検出器を判定する電磁気検出器の破壊
    検知方法。 2 特許請求の範囲第1項において、前記比較
    は、前記質量分析の結果得られる漏洩ガスの分圧
    比と予め前記各電磁気検出器ごとに設定された分
    圧比のメモリ内容との比較によることを特徴とす
    る電磁気検出器の破壊検知方法。
JP55178974A 1980-12-19 1980-12-19 Detecting method for defective electromagnetic detector Granted JPS57103029A (en)

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JP55178974A JPS57103029A (en) 1980-12-19 1980-12-19 Detecting method for defective electromagnetic detector

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JPS57103029A JPS57103029A (en) 1982-06-26
JPS6244214B2 true JPS6244214B2 (ja) 1987-09-18

Family

ID=16057905

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JPS57103029A (en) 1982-06-26

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