JPS6244372Y2 - - Google Patents

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JPS6244372Y2
JPS6244372Y2 JP1531879U JP1531879U JPS6244372Y2 JP S6244372 Y2 JPS6244372 Y2 JP S6244372Y2 JP 1531879 U JP1531879 U JP 1531879U JP 1531879 U JP1531879 U JP 1531879U JP S6244372 Y2 JPS6244372 Y2 JP S6244372Y2
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JP
Japan
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terminal
changeover switch
voltage source
insulation resistance
low voltage
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JP1531879U
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JPS55116271U (ja
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、絶縁抵抗計の改良に関するものであ
る。
周知のように絶縁抵抗計は抵抗体の絶縁抵抗を
測定するものであるが、このような絶縁抵抗計
に、例えば特開昭48−8579号に示されるように導
電体の導通のチエツク機能を付加するようにして
おけば、1つの機種で絶縁抵抗の測定とこの絶縁
抵抗と表裏一体の関係にある導電体の導通もチエ
ツクすることができるので、使用にあたつて種々
便利な場合がある。ところで、絶縁抵抗計は直流
の低電圧を交流に変換したのち昇圧して整流し、
得られた直流高電圧を被測定抵抗体に供給するよ
うにしたもので、直流高電圧として1000V或いは
2000Vのような高圧のものが用いられる。このた
め、絶縁抵抗計に切換スイツチを用いて導通チエ
ツク機能を付加する場合、回路に工夫をこらさな
いと高耐圧、高絶縁抵抗の高価なスイツチを必要
とするようになる。本考案はこのような高価な切
換スイツチを使用することなく、絶縁抵抗測定機
能と導通機能を切換えて使用することのできる絶
縁抵抗計を提供するものである。
第1図は本考案の絶縁抵抗計の一実施例を示す
電気的接続図である。第1図において、ELは直
流の低電圧源、S1,S2は互に連動する切換スイツ
チ、OSCは発振回路、Tは発振回路の出力を昇
圧する変成器、REはダイオードD1,D2とコンデ
ンサC1,C2よりなる整流回路、Rは直列抵抗、
D3はダイオード、NCは指示計を含む折線回路、
Eは接地端子、Lは線路端子、BZはブザーであ
る。電圧源ELの正極側はスイツチS1の端子を
介して発振器OSCに接続され、発振器OSCの出
力端は変成器Tの1次巻線に接続され、変成器T
の2次巻線は整流回路REと抵抗Rを介して接地
端子Eに接続されている。直流電圧源ELの負極
側は折線回路NCを介してスイツチS2の端子に
接続され、S2の可動片はライン端子Lに接続され
ている。ダイオードD3のカソード電極は接地端
子Eに接続され、アノード電極はスイツチS1の端
子に接続されている。ブザーBZはスイツチS2
の端子と電圧源ELの負極端子間に接続されて
いる。Rxは被測定抵抗体で端子L,E間に接続
されている。
このような構成の絶縁抵抗計において先ず絶縁
抵抗を測定する場合について説明する。スイツチ
S1,S2の可動片を端子に接続し、電圧源ELを
発振回路OSCに接続する。発振回路OSCは所定
の周波数で発振し、その発振出力は変成器Tで昇
圧されたのち整流回路REで直流電圧に変換され
る。整流回路REの出力直流高電圧は抵抗Rを介
して端子Eより被測定抵抗体Rxに供給される。
Rxに流れる電流は指示計を含む折線回路NCに供
給されて対数変換されたのち指示計で指示され、
その指示値より被測定抵抗体Rxの絶縁抵抗が測
定される。
次に、被測定導電体の導通をチエツクする場合
にはスイツチS1,S2の可動片を端子に接続す
る。そうすると、ブジーBZとダイオードD3及び
直流低電圧源ELは被測定導電体に対して第2図
に示す如く直列に接続される。Rx′がその被測定
導電体である。被測定導電体Rx′が導通していれ
ば、電圧源ELにより電流がブザーBZを流れ、そ
れによつてブザーが鳴り、被測定導電体Rx′の導
通がチエツクされる。
このように、本考案の絶縁抵抗計においては、
被測定体の絶縁抵抗と共に導通もチエツクするこ
とができる。しかも、絶縁抵抗の測定と導通チエ
ツクの切換えに2つのスイツチS1とS2が用いられ
ているが、スイツチS1は昇圧する前の直流低電圧
EL側に接続され、又、スイツチS2は出力の低電
圧側であるライン端子L側に挿入接続されている
ので共に高電圧はかからず、この為S1,S2として
高耐圧、高絶縁抵抗のスイツチを使用することな
く、安価なものを用いることができる。なお、ダ
イオードD3を用いたのは、安価なスイツチS1を
用いた為に絶縁抵抗を測定する場合に高電圧によ
る影響がそのスイツチS1を介して直流低電圧源
EL側に及ぼさせないようにする為である。な
お、上述の実施例では導通チエツク素子としてブ
ザーを用いて構成した場合を例示したが、ランプ
であつてもよい。
以上説明したように、本考案によれば絶縁抵抗
の測定機能と導通のチエツク機能をもつ絶縁抵抗
計が極めて安価かつ簡単な構成によつて実現でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の絶縁抵抗計の一実施例の接続
図、第2図は第1図の導通チエツク時における等
価回路図である。 EL……直流低電圧源、S1,S2……切換スイツ
チ、OSC……発振回路、T……変成器、RE……
整流回路、R……抵抗素子、D3……ダイオー
ド、NC……折線回路、BZ……ブザー、E……接
地端子、L……ライン端子、Rx……被測定体。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 直流低電圧源が第1の切換スイツチの一方の端
    子を介して接続される発振回路、発振回路の出
    力を変成器によつて昇圧したのち整流する整流回
    路、整流回路の出力端に接続された接地端子、第
    1の切換スイツチと連動し線路端子に接続された
    第2の切換スイツチ、第2の切換スイツチの一方
    の端子と直流低電圧源の負極側に接続された指
    示計を含む折線回路、第1の切換スイツチの他方
    の端子と接地端子間に接続されたダイオード、
    第2の切換スイツチの他方の端子と直流低電圧
    源の負極側との間に接続された導通チエツク素子
    を具備し、導通チエツクの場合に第1及び第2の
    切換スイツチを共に他方の側の端子に切換える
    ことにより、直流低電圧源とダイオードと導通チ
    エツク素子が被測定体に対して直列回路を形成す
    るように構成した絶縁抵抗計。
JP1531879U 1979-02-08 1979-02-08 Expired JPS6244372Y2 (ja)

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JP1531879U JPS6244372Y2 (ja) 1979-02-08 1979-02-08

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JPS55116271U JPS55116271U (ja) 1980-08-16
JPS6244372Y2 true JPS6244372Y2 (ja) 1987-11-21

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