JPS6244920A - 真空遮断器の真空不良検出装置 - Google Patents
真空遮断器の真空不良検出装置Info
- Publication number
- JPS6244920A JPS6244920A JP18409585A JP18409585A JPS6244920A JP S6244920 A JPS6244920 A JP S6244920A JP 18409585 A JP18409585 A JP 18409585A JP 18409585 A JP18409585 A JP 18409585A JP S6244920 A JPS6244920 A JP S6244920A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum
- circuit breaker
- gas
- stress
- sealing fitting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H33/00—High-tension or heavy-current switches with arc-extinguishing or arc-preventing means
- H01H33/60—Switches wherein the means for extinguishing or preventing the arc do not include separate means for obtaining or increasing flow of arc-extinguishing fluid
- H01H33/66—Vacuum switches
- H01H33/668—Means for obtaining or monitoring the vacuum
Landscapes
- High-Tension Arc-Extinguishing Switches Without Spraying Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、ガス絶縁キユービクルに収納する真空遮断器
の真空不良検出装置に関するものである。
の真空不良検出装置に関するものである。
真空遮断器は、小形軽量という特徴で知られ、６にＶ〜
３ＢＫＶ級で多く使用されているが、最近、内部にＳＦ
ｅガスなどの絶縁性の良好な気体を封入した密閉式ガス
絶縁キユービクル（以下ガス絶縁キューごタル）に、真
空遮断器を適用した例が見られる様になってきた。この
ガス絶縁キユービクルは、密閉式であるが故に頻繁な分
解点検には不向きであり、この点からも多頻度使用に耐
え高い信頼性を有している真空遮断器は、最適なものと
言える。ところで、密閉式であるが故に、ガス絶縁キユ
ービクルの真空遮断器がどのような状態となっているか
知る内部診断は、必要不可欠と考えられ、真空遮断器の
真空度監視が望ましい。即ち、真空遮断器の真空バルブ
内部の真空度の良否により、その性能が大きく左右され
る。ガス絶縁キユービクルに於いても、真空度低下に伴
ない真空バルブ内部に絶縁性ガスが侵入すると、電流遮
断性能を著しく低下させることになる。
３ＢＫＶ級で多く使用されているが、最近、内部にＳＦ
ｅガスなどの絶縁性の良好な気体を封入した密閉式ガス
絶縁キユービクル（以下ガス絶縁キューごタル）に、真
空遮断器を適用した例が見られる様になってきた。この
ガス絶縁キユービクルは、密閉式であるが故に頻繁な分
解点検には不向きであり、この点からも多頻度使用に耐
え高い信頼性を有している真空遮断器は、最適なものと
言える。ところで、密閉式であるが故に、ガス絶縁キユ
ービクルの真空遮断器がどのような状態となっているか
知る内部診断は、必要不可欠と考えられ、真空遮断器の
真空度監視が望ましい。即ち、真空遮断器の真空バルブ
内部の真空度の良否により、その性能が大きく左右され
る。ガス絶縁キユービクルに於いても、真空度低下に伴
ない真空バルブ内部に絶縁性ガスが侵入すると、電流遮
断性能を著しく低下させることになる。
この真空不良検出方法には種々のものが提案されている
。例えば、真空遮断器の点検時に主接点をパ開″にして
電圧を印加した時の耐電圧性能により真空バルブ内部が
健全な真空状態であるか否′ かの判定を行うことがで
きる。ところが、ガス絶縁キユービクルに収納されてい
る真空遮断器では、真空バルブ内部に絶縁性ガスが侵入
していると、電流遮断性能は低下するが、耐電圧性能は
はと／υど低下せず、健全な真空状態とほぼ同じ特性に
なり、そのため正しい真空度を判定することができない
。
。例えば、真空遮断器の点検時に主接点をパ開″にして
電圧を印加した時の耐電圧性能により真空バルブ内部が
健全な真空状態であるか否′ かの判定を行うことがで
きる。ところが、ガス絶縁キユービクルに収納されてい
る真空遮断器では、真空バルブ内部に絶縁性ガスが侵入
していると、電流遮断性能は低下するが、耐電圧性能は
はと／υど低下せず、健全な真空状態とほぼ同じ特性に
なり、そのため正しい真空度を判定することができない
。
また、真空バルブの内部と外部の圧力差が健全な真空状
態の時と真空不良時とで異なることを利用する真空不良
検出方法がある。これは、真空バルブの一部に、健全な
真空状態の時は引っこんでいて、真空不良時に突出する
様な、ダイヤフラムやベローズで構成された真空不良検
出装置を取付けるものである。この場合、検出装置であ
るベローズやダイヤフラム自体が、真空容器の一部とな
るので、気密個所が増加し、従って真空バルブの信頼度
を低下させる要因になるという欠点がある。
態の時と真空不良時とで異なることを利用する真空不良
検出方法がある。これは、真空バルブの一部に、健全な
真空状態の時は引っこんでいて、真空不良時に突出する
様な、ダイヤフラムやベローズで構成された真空不良検
出装置を取付けるものである。この場合、検出装置であ
るベローズやダイヤフラム自体が、真空容器の一部とな
るので、気密個所が増加し、従って真空バルブの信頼度
を低下させる要因になるという欠点がある。
本発明は、」ニ述のにうに真空遮断器の信頼度を低下さ
せることなく、かつ、ガス絶縁キユービクルに於いて有
効である真空遮断器の真空不良検出装置を提供するもの
である。
せることなく、かつ、ガス絶縁キユービクルに於いて有
効である真空遮断器の真空不良検出装置を提供するもの
である。
Ｑ 一
本発明は、真空遮断器の真空容器の一部と’＋Ｌる様な
特別な真空度検出装置を設けるのではなく、一般的な真
空バルブの構成部祠の中で、健全な真空状態の時と真空
不良時とで発生するＩ幾械的な応力に大きな差が現われ
る個所の応力変化を捕えて、真空不良の検出を行い、真
空バルブの信頼性を低下させることなく、かつガス絶縁
キユービクルに適用可能な真空遮断器の真空不良検出装
置をｊワるものである。
特別な真空度検出装置を設けるのではなく、一般的な真
空バルブの構成部祠の中で、健全な真空状態の時と真空
不良時とで発生するＩ幾械的な応力に大きな差が現われ
る個所の応力変化を捕えて、真空不良の検出を行い、真
空バルブの信頼性を低下させることなく、かつガス絶縁
キユービクルに適用可能な真空遮断器の真空不良検出装
置をｊワるものである。
以下に図面を用いて、本発明の詳細な説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示す図である。
１は、真空遮断器の真空バルブ内部の真空部分で、２は
、真空バルブの外気部分、ガス絶縁キユービクルに使用
する絶縁性ガスの部分である。３は、真空バルブの絶縁
容器で、４は、真空バルブの端板、５は、真空バルブの
絶縁容器３と端板４を気密にし、かつ機械的に接続する
折曲げ部を有する封着金具、６は、封着金具の折曲げ部
に貼付【プられたス１〜レングージである。
、真空バルブの外気部分、ガス絶縁キユービクルに使用
する絶縁性ガスの部分である。３は、真空バルブの絶縁
容器で、４は、真空バルブの端板、５は、真空バルブの
絶縁容器３と端板４を気密にし、かつ機械的に接続する
折曲げ部を有する封着金具、６は、封着金具の折曲げ部
に貼付【プられたス１〜レングージである。
また、第２図は、ストレンゲ−シロに発生ずる抵抗変化
を、ガス絶縁キユービクルの外部に取り出す部分を示し
た検出器であり、７は、小形の直流電源、８は、発光素
子又はＦ１０変換器、９は、光伝送系、１０は、受光素
子又は０／Ｅ変換器、１１は、ノイズ吸収装置、１２は
、表示器である。
を、ガス絶縁キユービクルの外部に取り出す部分を示し
た検出器であり、７は、小形の直流電源、８は、発光素
子又はＦ１０変換器、９は、光伝送系、１０は、受光素
子又は０／Ｅ変換器、１１は、ノイズ吸収装置、１２は
、表示器である。
真空バルブ内部に絶縁ガスが侵入し、真空バルブ内外の
圧力差がなくなった時には、第３図に示す様に、あたか
も真空バルブ内部全体に力が加わったかの様に、点線で
示す様な変形が起こる。この時には、封着金具５の折曲
げ部１３．１４には、それぞれ引張応力（＾）、圧縮玉
力（Ｂ）が発生することになる。ちなみに、この引張応
力、又は圧縮応力は、外径寸法２００．程度、封着金具
の厚さ１馴程度の場合、約３ Ｋｇ／ ｃｒ／ｌの応力
の発生があることが確認されている。
圧力差がなくなった時には、第３図に示す様に、あたか
も真空バルブ内部全体に力が加わったかの様に、点線で
示す様な変形が起こる。この時には、封着金具５の折曲
げ部１３．１４には、それぞれ引張応力（＾）、圧縮玉
力（Ｂ）が発生することになる。ちなみに、この引張応
力、又は圧縮応力は、外径寸法２００．程度、封着金具
の厚さ１馴程度の場合、約３ Ｋｇ／ ｃｒ／ｌの応力
の発生があることが確認されている。
また、第４図、第５図に示すように、封着金具５の形状
が異なれば、真空バルブの真空不良時の変形状態も異な
る。しかし、封着金具５に折曲げ−今 一 部があれば、第４図の折曲げ部１５．１６のように、引
張応力又は圧縮応力が大きく発生づることになる。第５
図のような折曲げ部のない封着金具では、大きな応力は
発生してこない。
が異なれば、真空バルブの真空不良時の変形状態も異な
る。しかし、封着金具５に折曲げ−今 一 部があれば、第４図の折曲げ部１５．１６のように、引
張応力又は圧縮応力が大きく発生づることになる。第５
図のような折曲げ部のない封着金具では、大きな応力は
発生してこない。
以上のように、封着金具の折曲げ部に発生する応力の変
化をストレンゲージの抵抗変化に置き換え、更には、ガ
ス絶縁キユービクルの外部に信号を取出すため、電気的
に絶縁性の良好な光伝送系を利用することにより、真空
度不良の検出が可能となる。
化をストレンゲージの抵抗変化に置き換え、更には、ガ
ス絶縁キユービクルの外部に信号を取出すため、電気的
に絶縁性の良好な光伝送系を利用することにより、真空
度不良の検出が可能となる。
ところで、真空遮断器の投入時には、第１図の封着金具
部分５にも衝撃性の応力が発生ずるが、この発生応力の
持続時間は１ ｍ５ｅｃ前後の短い時間である。また、
第２図のストレンゲ−シロと電源７と発光素子８とで構
成している回路は、高電圧充電部に配置されるが、この
回路に持続時間の短いノズルが重量されることも考えら
れる。これら、衝撃性の応力やノズルは、真空不良の検
出に直接関係しないので、これらを除去するために、第
２図には、ノズル吸収装置１１が備えられている。しか
し、持続時間の短いものは、真空不良時の永久的な応力
変化とは、はっぎり区別できるので、ノズル吸収装置以
外でも、応力変化の継持時間で信号の区別は可能である
。
部分５にも衝撃性の応力が発生ずるが、この発生応力の
持続時間は１ ｍ５ｅｃ前後の短い時間である。また、
第２図のストレンゲ−シロと電源７と発光素子８とで構
成している回路は、高電圧充電部に配置されるが、この
回路に持続時間の短いノズルが重量されることも考えら
れる。これら、衝撃性の応力やノズルは、真空不良の検
出に直接関係しないので、これらを除去するために、第
２図には、ノズル吸収装置１１が備えられている。しか
し、持続時間の短いものは、真空不良時の永久的な応力
変化とは、はっぎり区別できるので、ノズル吸収装置以
外でも、応力変化の継持時間で信号の区別は可能である
。
（発明の効果〕
以−１二述べたように、本発明によれば、真空バルブに
、真空容器の一部となるにうな特別な真空不良検出装置
を設【ノることなしに、一般的な真空バルブの構成部側
である封着金具の折曲げ部に発生する応力の変化を捕え
ることで真空不良の検出が可能である。
、真空容器の一部となるにうな特別な真空不良検出装置
を設【ノることなしに、一般的な真空バルブの構成部側
である封着金具の折曲げ部に発生する応力の変化を捕え
ることで真空不良の検出が可能である。
そのため、高い信頼度を保ったまま、ガス絶縁キユービ
クルに適用可能な真空不良検出装置とすることができる
。
クルに適用可能な真空不良検出装置とすることができる
。
第１図は本発明の一実施例を示す真空漉断器の要部断面
図、第２図は真空不良検出回路の構成図、第３図、第４
図、第５図は、真空バルブが真空不良時に変形する様子
を示した説明図である。 ６・・・ストレンゲージ 第２図 第３図 〜２ 第４図 第５図
図、第２図は真空不良検出回路の構成図、第３図、第４
図、第５図は、真空バルブが真空不良時に変形する様子
を示した説明図である。 ６・・・ストレンゲージ 第２図 第３図 〜２ 第４図 第５図
Claims (1)
- 真空遮断器の消弧室をなす真空バルブが真空容器と端板
とを気密に接合する封着金具を有し、この封着金具にス
トレンゲージを取付け、前記ストレンゲージの抵抗変化
を検出する検出器とを具備したことを特徴とする真空遮
断器の真空不良検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18409585A JPS6244920A (ja) | 1985-08-23 | 1985-08-23 | 真空遮断器の真空不良検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18409585A JPS6244920A (ja) | 1985-08-23 | 1985-08-23 | 真空遮断器の真空不良検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6244920A true JPS6244920A (ja) | 1987-02-26 |
Family
ID=16147304
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18409585A Pending JPS6244920A (ja) | 1985-08-23 | 1985-08-23 | 真空遮断器の真空不良検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6244920A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04120342U (ja) * | 1991-04-12 | 1992-10-28 | 昭和電線電纜株式会社 | 土壌熱抵抗測定用探針棒挿入装置 |
| JP2001046836A (ja) * | 1999-08-12 | 2001-02-20 | Norikazu Nemezawa | 環境改善方法と環境改善施設および環境改善用ネット |
| JP2012150969A (ja) * | 2011-01-18 | 2012-08-09 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 真空バルブ及びタンク形真空遮断器 |
-
1985
- 1985-08-23 JP JP18409585A patent/JPS6244920A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04120342U (ja) * | 1991-04-12 | 1992-10-28 | 昭和電線電纜株式会社 | 土壌熱抵抗測定用探針棒挿入装置 |
| JP2001046836A (ja) * | 1999-08-12 | 2001-02-20 | Norikazu Nemezawa | 環境改善方法と環境改善施設および環境改善用ネット |
| JP2012150969A (ja) * | 2011-01-18 | 2012-08-09 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 真空バルブ及びタンク形真空遮断器 |
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