JPS6248184B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6248184B2 JPS6248184B2 JP1384678A JP1384678A JPS6248184B2 JP S6248184 B2 JPS6248184 B2 JP S6248184B2 JP 1384678 A JP1384678 A JP 1384678A JP 1384678 A JP1384678 A JP 1384678A JP S6248184 B2 JPS6248184 B2 JP S6248184B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grit
- cylindrical
- film
- slit
- cylindrical grit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—HANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/04—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers
- G21K1/043—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers changing time structure of beams by mechanical means, e.g. choppers, spinning filter wheels
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は核燃料要素等の放射性物体の外形変
化および内部構造を検査する非破壊検査において
被検査物自体の放出するγ線等の放射線によるフ
イルム感光を防ぎ鮮明な画像を得る為の回転グリ
ツト装置に関するものである。
化および内部構造を検査する非破壊検査において
被検査物自体の放出するγ線等の放射線によるフ
イルム感光を防ぎ鮮明な画像を得る為の回転グリ
ツト装置に関するものである。
照射済核燃料要素等の放射性物体のＸ線非破壊
検査を行い内部欠陥等を調べる為には以下の条件
が必要である。
検査を行い内部欠陥等を調べる為には以下の条件
が必要である。
(1) 被検査物から照射される放射線によるフイル
ム感光（Noise）に比べ被検査物を透過したＸ
線によるフイルム感光（Signal）を大きくす
る。すなわちＳ／Ｎ比（Signal／Noise）を大
きくする。
ム感光（Noise）に比べ被検査物を透過したＸ
線によるフイルム感光（Signal）を大きくす
る。すなわちＳ／Ｎ比（Signal／Noise）を大
きくする。
(2) 被検査物とフイルム間距離を狭めるととも
に、Ｘ線発生装置の焦点とフイルム間距離を大
きくとる。
に、Ｘ線発生装置の焦点とフイルム間距離を大
きくとる。
(3) フイルム面でのＳ／Ｎ比分布を均一にする。
通常の撮影方式では被検査物自体から放出され
る放射線の影響が大きく、そのためＳ／Ｎ比が
極めて小さくなり、鮮明な画像が得られない。
通常の撮影方式では被検査物自体から放出され
る放射線の影響が大きく、そのためＳ／Ｎ比が
極めて小さくなり、鮮明な画像が得られない。
そこで従来の回転円盤方式によるＸ線非破壊装
置として第１図に示すものを用いていた。第１図
ａは平面図、第１図ｂは正面図で、同図におい
て、１はフイルム、２はシヤツタ、３は回転円
盤、４は核燃料要素等の被検査物、５はＸ線発生
装置である。放射状のスリツトを有する回転円盤
３を被検査物４とフイルム１間に配してＳ／Ｎ比
の向上を計つている。すなわち、回転円盤３に設
けたスリツト６は被検査物４の長手方向とほぼ直
交しており被検査物４からの放射線は回転円盤３
のスリツト６を通してのみフイルム１に照射さ
れ、スリツト６の巾に応じた被検査物４の局部か
らの放射線しかフイルム１に照射されない為、被
検査物４を透過したＸ線発生装置５からのＸ線
（Signal）に比べ相対的に減少しＳ／Ｎ比が向上
する。
置として第１図に示すものを用いていた。第１図
ａは平面図、第１図ｂは正面図で、同図におい
て、１はフイルム、２はシヤツタ、３は回転円
盤、４は核燃料要素等の被検査物、５はＸ線発生
装置である。放射状のスリツトを有する回転円盤
３を被検査物４とフイルム１間に配してＳ／Ｎ比
の向上を計つている。すなわち、回転円盤３に設
けたスリツト６は被検査物４の長手方向とほぼ直
交しており被検査物４からの放射線は回転円盤３
のスリツト６を通してのみフイルム１に照射さ
れ、スリツト６の巾に応じた被検査物４の局部か
らの放射線しかフイルム１に照射されない為、被
検査物４を透過したＸ線発生装置５からのＸ線
（Signal）に比べ相対的に減少しＳ／Ｎ比が向上
する。
しかし、このスリツト６の効果にも限度があ
り、被検査物４からの放射線がＸ線発生装置５か
らのＸ線に比べ大巾に強い場合にはＳ／Ｎ比が低
下し、鮮明な画像が得られない。又、Ｓ／Ｎ比を
大きくし、Ｓ／Ｎ比分布が不均一になる第１図に
示すように回転円盤３の回転軸がＸ線発生装置５
の焦点方向を向くように設定する必要がある。こ
れは、フイルム面でのＸ線照射時間をフイルム面
位置に無関係に一定にする為である。このように
すると回転円盤３はフイルム１に対して斜めにな
りフイルム１と被検査物４との間隔は広くなつて
しまう。又、この装置では撮影前後に被検査物４
からの放射線に対しフイルム１を遮蔽する為のシ
ヤツタ２が必要であり、更にフイルム１と被検査
物４の間隔が広がりその結果画像が不鮮明になる
という欠点がある。又、Noiseの量はフイルム
１、被検査物４、Ｘ線発生装置５の相対位置関係
及びスリツト巾に依存し、この装置では撮影位置
によりフイルム１、被検査物４、Ｘ線発生装置５
の相対位置が変化し、スリツト巾も回転円盤３の
内周側と外周側では変わる（一定にすると撮影位
置によりフイルム面に照射される放射線、Ｘ線の
照射時間が一定にならない）為、Ｓ／Ｎ比分布が
大きくなるという欠点がある。又、フイルム１と
Ｘ線発生装置５との距離ffdを変える場合には回
転円盤３の軸方向を変える必要があり回転円盤３
は大形、重量物である為、操作がやりにくいとい
う欠点がある。
り、被検査物４からの放射線がＸ線発生装置５か
らのＸ線に比べ大巾に強い場合にはＳ／Ｎ比が低
下し、鮮明な画像が得られない。又、Ｓ／Ｎ比を
大きくし、Ｓ／Ｎ比分布が不均一になる第１図に
示すように回転円盤３の回転軸がＸ線発生装置５
の焦点方向を向くように設定する必要がある。こ
れは、フイルム面でのＸ線照射時間をフイルム面
位置に無関係に一定にする為である。このように
すると回転円盤３はフイルム１に対して斜めにな
りフイルム１と被検査物４との間隔は広くなつて
しまう。又、この装置では撮影前後に被検査物４
からの放射線に対しフイルム１を遮蔽する為のシ
ヤツタ２が必要であり、更にフイルム１と被検査
物４の間隔が広がりその結果画像が不鮮明になる
という欠点がある。又、Noiseの量はフイルム
１、被検査物４、Ｘ線発生装置５の相対位置関係
及びスリツト巾に依存し、この装置では撮影位置
によりフイルム１、被検査物４、Ｘ線発生装置５
の相対位置が変化し、スリツト巾も回転円盤３の
内周側と外周側では変わる（一定にすると撮影位
置によりフイルム面に照射される放射線、Ｘ線の
照射時間が一定にならない）為、Ｓ／Ｎ比分布が
大きくなるという欠点がある。又、フイルム１と
Ｘ線発生装置５との距離ffdを変える場合には回
転円盤３の軸方向を変える必要があり回転円盤３
は大形、重量物である為、操作がやりにくいとい
う欠点がある。
この発明は、これらの欠点を解消する為になさ
れたもので、小型がＳ／Ｎ比が大きく、かつフイ
ルム面でＳ／Ｎ比分布が均一で操作性の良い回転
グリツト装置を提供するものである。
れたもので、小型がＳ／Ｎ比が大きく、かつフイ
ルム面でＳ／Ｎ比分布が均一で操作性の良い回転
グリツト装置を提供するものである。
以下第２図を用いて、この発明の一実施例につ
いて詳細する。
いて詳細する。
第２図において、１はフイルム、４は核燃料要
素等の被検査物、７はフイルム１が感光するのを
防ぐシヤツタで、第２図において上下に移動し得
るものである。８は回転可能な回転円柱グリツ
ト、９は回転可能な回転円筒グリツトで、円柱グ
リツト８を取り囲んでおり、円柱グリツト８と共
にシヤツタ７に組込まれている。円柱グリツト８
には、第２図に示す如く半径方向に貫通する２本
のスリツトを設ける。また、円筒グリツト９に
は、第２図に示す如く半径方向に貫通する１本の
スリツトを設ける。
素等の被検査物、７はフイルム１が感光するのを
防ぐシヤツタで、第２図において上下に移動し得
るものである。８は回転可能な回転円柱グリツ
ト、９は回転可能な回転円筒グリツトで、円柱グ
リツト８を取り囲んでおり、円柱グリツト８と共
にシヤツタ７に組込まれている。円柱グリツト８
には、第２図に示す如く半径方向に貫通する２本
のスリツトを設ける。また、円筒グリツト９に
は、第２図に示す如く半径方向に貫通する１本の
スリツトを設ける。
即ち、円柱グリツト８の回転に応じて円筒グリ
ツト９に設けたスリツトと円柱グリツト８に設け
たいずれかのスリツトとが貫通しうるように構成
する。１２は円筒グリツトに設けられた位置検出
装置、１３はピーク出力の高いパルス状出力のＸ
線発生装置である。
ツト９に設けたスリツトと円柱グリツト８に設け
たいずれかのスリツトとが貫通しうるように構成
する。１２は円筒グリツトに設けられた位置検出
装置、１３はピーク出力の高いパルス状出力のＸ
線発生装置である。
撮影前にはフイルム１はシヤツタ７上側（又は
下側）の部分により被検査物４からの放射線に対
して遮蔽されている。円柱グリツト８は高速回転
し円筒グリツト９に組込まれた位置検出装置１２
により円柱グリツト８の回転と同期してＸ線発生
装置１３よりパルス状Ｘ線が照射される。次に、
シヤツタ７は上方向に定速で移動を開始し、円筒
グリツト９はシヤツタ７の動きに合せて円筒グリ
ツト９のスリツト１１の方向が常にＸ線発生装置
１３の焦点方向を向くように回転する。このよう
にして、被検査物４は下側より連続的に撮影され
てゆき、フイルム１は再びシヤツタ７の下側の部
分で遮蔽され撮影は完了する。このようにＸ線発
生装置１３のパルス状Ｘ線出力時のみ円柱グリツ
ト８、円筒グリツト９のそれぞれのスリツト１
０，１１を通して被検査物４を透過したＸ線がフ
イルム１に照射される。第３図にパルス状Ｘ線照
射状態のスリツト１０，１１の位置関係を、また
第４図にＸ線非照射状態のスリツト１０，１１の
位置関係をそれぞれ示している。このようなこと
から従来の装置に比べＳ／Ｎ比は約Ｌ／ａ倍に向
上させることができる。またスリツト１０の−
断面を第５図に示すように凸凹を設けることに
よりスリツト巾方向の散乱線も除去され解像力が
向上する。第２図に示す実施例では円柱グリツト
８、円筒グリツト９をシヤツタ７に組込み一体構
造にすることによりフイルム１と被検査物４との
間の間隔は狭まり画像の解像力が改善されると共
に撮影中の円柱グリツト８、円筒グリツト９、フ
イルム１、被検査物４の間隙の変動が少なく、ス
リツト巾も一定である為、フイルム面でのＳ／Ｎ
比分布が均一となる。又、露出時間はシヤツタ７
の移動速度を変えることにより任意に変えられ、
ffd変更時には円筒グリツト９の回転量を変える
だけの簡単な操作で済む。
下側）の部分により被検査物４からの放射線に対
して遮蔽されている。円柱グリツト８は高速回転
し円筒グリツト９に組込まれた位置検出装置１２
により円柱グリツト８の回転と同期してＸ線発生
装置１３よりパルス状Ｘ線が照射される。次に、
シヤツタ７は上方向に定速で移動を開始し、円筒
グリツト９はシヤツタ７の動きに合せて円筒グリ
ツト９のスリツト１１の方向が常にＸ線発生装置
１３の焦点方向を向くように回転する。このよう
にして、被検査物４は下側より連続的に撮影され
てゆき、フイルム１は再びシヤツタ７の下側の部
分で遮蔽され撮影は完了する。このようにＸ線発
生装置１３のパルス状Ｘ線出力時のみ円柱グリツ
ト８、円筒グリツト９のそれぞれのスリツト１
０，１１を通して被検査物４を透過したＸ線がフ
イルム１に照射される。第３図にパルス状Ｘ線照
射状態のスリツト１０，１１の位置関係を、また
第４図にＸ線非照射状態のスリツト１０，１１の
位置関係をそれぞれ示している。このようなこと
から従来の装置に比べＳ／Ｎ比は約Ｌ／ａ倍に向
上させることができる。またスリツト１０の−
断面を第５図に示すように凸凹を設けることに
よりスリツト巾方向の散乱線も除去され解像力が
向上する。第２図に示す実施例では円柱グリツト
８、円筒グリツト９をシヤツタ７に組込み一体構
造にすることによりフイルム１と被検査物４との
間の間隔は狭まり画像の解像力が改善されると共
に撮影中の円柱グリツト８、円筒グリツト９、フ
イルム１、被検査物４の間隙の変動が少なく、ス
リツト巾も一定である為、フイルム面でのＳ／Ｎ
比分布が均一となる。又、露出時間はシヤツタ７
の移動速度を変えることにより任意に変えられ、
ffd変更時には円筒グリツト９の回転量を変える
だけの簡単な操作で済む。
以上はＸ線発生装置を使つての放射性物質のＸ
線ラジオグラフイに関する場合であるが、この発
明はこれに限らずパルス型中性子発生装置を使つ
ての中性子ラジオグラフイに使用しても良い。
線ラジオグラフイに関する場合であるが、この発
明はこれに限らずパルス型中性子発生装置を使つ
ての中性子ラジオグラフイに使用しても良い。
以上のように、この発明によれば装置がコンパ
クトになり、かつＳ／Ｎ比が大きく、しかも画像
の解像力が改善されると共にフイルム面でのＳ／
Ｎ比分布が均一となる効果を有する。
クトになり、かつＳ／Ｎ比が大きく、しかも画像
の解像力が改善されると共にフイルム面でのＳ／
Ｎ比分布が均一となる効果を有する。
第１図は従来の回転円盤を使つた核燃料要素の
Ｘ線非破壊検査装置図、第２図はこの発明の一実
施例を説明するための核燃料要素のＸ線非破壊検
査装置図を示す構成図、第３図、第４図は第２図
に示す装置の動作を説明するための図、第５図は
第４図の−断面図である。 図において、８は第２の遮蔽体、９は第１の遮
蔽体、１０，１１はそれぞれスリツト、１３はパ
ルス状信号発生装置である。なお、図中同一符号
は同一または相当部分を示す。
Ｘ線非破壊検査装置図、第２図はこの発明の一実
施例を説明するための核燃料要素のＸ線非破壊検
査装置図を示す構成図、第３図、第４図は第２図
に示す装置の動作を説明するための図、第５図は
第４図の−断面図である。 図において、８は第２の遮蔽体、９は第１の遮
蔽体、１０，１１はそれぞれスリツト、１３はパ
ルス状信号発生装置である。なお、図中同一符号
は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 放射性物体にＸ線を照射し、この放射性物体
を透過したＸ線を撮影するフイルムと上記放射性
物体との間に設置され、上記放射性物体からの放
射線によつて上記フイルムが感光されるのを防ぐ
回転グリツト装置において、半径方向に貫通する
複数本のスリツトを有した円柱グリツトと、この
円柱グリツトを回転可能に取り囲み、半径方向に
貫通する１本のスリツトを有した円筒グリツト
と、この円筒グリツトが回転可能に組込まれ、上
記フイルム面を覆いながらフイルム面と平行に移
動するシヤツタとを設け、上記円柱グリツトを高
速回転すると共に、上記シヤツタの移動に伴な
い、上記円筒グリツトのスリツトがＸ線の焦点方
向に向くように上記円筒グリツトを回転させるこ
とを特徴とした回転グリツト装置。 ２ 円筒グリツトがシヤツタの中央部に組込ま
れ、この円筒グリツトがフイルム面を横切ること
を特徴とした特許請求の範囲第１項記載の回転グ
リツト装置。 ３ 円柱グリツトのスリツト内面に凸凹を設けた
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の回
転グリツト装置。 ４ 円柱グリツトのスリツトと円筒グリツトのス
リツトの両光学軸が一致したときにＸ線を照射す
るようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第
１項から第３項の何れかに記載の回転グリツト装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1384678A JPS54107389A (en) | 1978-02-09 | 1978-02-09 | Rotary grid device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1384678A JPS54107389A (en) | 1978-02-09 | 1978-02-09 | Rotary grid device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54107389A JPS54107389A (en) | 1979-08-23 |
| JPS6248184B2 true JPS6248184B2 (ja) | 1987-10-13 |
Family
ID=11844631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1384678A Granted JPS54107389A (en) | 1978-02-09 | 1978-02-09 | Rotary grid device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS54107389A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01227657A (ja) * | 1988-03-07 | 1989-09-11 | Nec Corp | スイッチングレギュレータ |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57165744A (en) * | 1981-04-06 | 1982-10-12 | Mitsubishi Electric Corp | Inspecting device using radioactive rays |
-
1978
- 1978-02-09 JP JP1384678A patent/JPS54107389A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01227657A (ja) * | 1988-03-07 | 1989-09-11 | Nec Corp | スイッチングレギュレータ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54107389A (en) | 1979-08-23 |
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