JPS6254480A - 発光素子 - Google Patents
発光素子Info
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- JPS6254480A JPS6254480A JP60194098A JP19409885A JPS6254480A JP S6254480 A JPS6254480 A JP S6254480A JP 60194098 A JP60194098 A JP 60194098A JP 19409885 A JP19409885 A JP 19409885A JP S6254480 A JPS6254480 A JP S6254480A
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- light emitting
- light
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- layer region
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/81—Bodies
- H10H20/817—Bodies characterised by the crystal structures or orientations, e.g. polycrystalline, amorphous or porous
- H10H20/818—Bodies characterised by the crystal structures or orientations, e.g. polycrystalline, amorphous or porous within the light-emitting regions
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y20/00—Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/01—Manufacture or treatment
- H10H20/011—Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers
- H10H20/014—Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers having light-emitting regions comprising only Group IV materials
- H10H20/0145—Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers having light-emitting regions comprising only Group IV materials comprising polycrystalline, amorphous or porous Group IV materials
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/81—Bodies
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Led Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、O,A機器等に利用される光源或いは表示に
使用される発光素子に関する。
使用される発光素子に関する。
従来5発光素子の発光層を構成する材料としては、種々
のものが報告されているが、その中でも例えばAppl
、Phys、Lett 。
のものが報告されているが、その中でも例えばAppl
、Phys、Lett 。
29 (1976)、PP620−622.J 。
1、Pankou、D、E、CarlSon。
やJ pn、J、Appl、Phys、21(1982
)PP473−475.に、Takahashi他、に
記載されている水素原r−を含む非小結晶シリコン(以
後、rnon−3i:HJ と記す)は、中結晶シリコ
ンと同様の゛V、導体]ニ学の適用が可能であること、
及び潜在的特性に優れたものがある可能性があること笠
の為に注目されている材才lの1つである。
)PP473−475.に、Takahashi他、に
記載されている水素原r−を含む非小結晶シリコン(以
後、rnon−3i:HJ と記す)は、中結晶シリコ
ンと同様の゛V、導体]ニ学の適用が可能であること、
及び潜在的特性に優れたものがある可能性があること笠
の為に注目されている材才lの1つである。
L量中用文献に記載されたnon−3i:Hを発光材才
lに用いた発光ふr−の構成は、Pηノ不純物を含イ1
するP型体導層(P層)と、P型及びN型のいずれの不
純物も含有しない層(ノンドープ層)と、N型不純物を
含有するN型伝導層(N層)とを積層したホモ接合を有
する。
lに用いた発光ふr−の構成は、Pηノ不純物を含イ1
するP型体導層(P層)と、P型及びN型のいずれの不
純物も含有しない層(ノンドープ層)と、N型不純物を
含有するN型伝導層(N層)とを積層したホモ接合を有
する。
しかしながら、この様な構成の従来報告されている発光
素子では、1・分な発光層の可視光領域の発光が得られ
ておらず、加えて発光強度が弱く、寿命も短い、発光特
性の安定性に欠けると実用的には改良すべき点の多くを
残している。」、記数良案の1つとして、non−Si
+Hに炭素原子を加えて、光学的バンドギャップを拡大
し、++7視波長領域の発光をイ1)る試みもなされて
いるが、実用的には未だ問題を残しており、光源素Y−
や表示素子としては、未だ1.業化されるには至ってい
ない。
素子では、1・分な発光層の可視光領域の発光が得られ
ておらず、加えて発光強度が弱く、寿命も短い、発光特
性の安定性に欠けると実用的には改良すべき点の多くを
残している。」、記数良案の1つとして、non−Si
+Hに炭素原子を加えて、光学的バンドギャップを拡大
し、++7視波長領域の発光をイ1)る試みもなされて
いるが、実用的には未だ問題を残しており、光源素Y−
や表示素子としては、未だ1.業化されるには至ってい
ない。
〔11的〕
本発明は、1〕記従来の欠点を改良した発光素r−を提
供することをl:、たる11的とする。
供することをl:、たる11的とする。
未発明の別の目的は、可視波長領域に充分な発光j11
−をイIし、発光効率と再現性の向」二を計った発光素
子を提供することである。
−をイIし、発光効率と再現性の向」二を計った発光素
子を提供することである。
未発明のもう1つの目的は、発光特性の安定性と寿命を
飛躍的に向−1ニさせた発光素子を提供することである
。
飛躍的に向−1ニさせた発光素子を提供することである
。
本発明の発光素子はP型体導層と半導体性中間層とN型
伝導層とで層構成された発光層と。
伝導層とで層構成された発光層と。
該発光層に電気的に接続された少なくとも一対の電極と
を有し、前記発光層を構成する3つの層の少なくとも1
つの層は、水素原子−を含む非単結晶シリコンから成る
第1の層領域と、該層領域と光学的バンドギャップが異
なる第2の層領域とが、これ等を一単位として周期的に
積層された多層構造を有する11を特徴とする。
を有し、前記発光層を構成する3つの層の少なくとも1
つの層は、水素原子−を含む非単結晶シリコンから成る
第1の層領域と、該層領域と光学的バンドギャップが異
なる第2の層領域とが、これ等を一単位として周期的に
積層された多層構造を有する11を特徴とする。
未発1jllの発光素子は、1−記の構成とすることに
よって、可視波長領域に発光ピークを有すると共に充分
な発光11:を71?、発光効率と再現性を高めること
が出来、発光特性の安定性と寿命を飛躍的に向」−させ
ることが出来る。
よって、可視波長領域に発光ピークを有すると共に充分
な発光11:を71?、発光効率と再現性を高めること
が出来、発光特性の安定性と寿命を飛躍的に向」−させ
ることが出来る。
以ド1本発明を図面に従って几体的に説明する。
第1図は、本発明の発光素子の好適な実施IE様例の層
構成を示す模式的層構成図である。
構成を示す模式的層構成図である。
第1図に示される発光素子は、基体1011、に設けら
れた電J4i l O2−1−に、P型体導層103
、 Y導体性中間層104及びN型伝導層105とから
成る発光層、該発光層I−に設けられた′上極106と
で構成されている。
れた電J4i l O2−1−に、P型体導層103
、 Y導体性中間層104及びN型伝導層105とから
成る発光層、該発光層I−に設けられた′上極106と
で構成されている。
第1図に示す発光素子を面状発光素子として使用する場
合には、電極102又は/及び電極106は発光色の色
までも利用するのであれば、透明であることか心霊であ
り1発光層を利用するのであれば、発光する光に対して
透光性であるのが9!ましい。電極102側より発光々
を取り出す場合には、基板101は電極102と同様透
明であるか若しくは発光する光に対して透光性であるこ
とが望ましい。
合には、電極102又は/及び電極106は発光色の色
までも利用するのであれば、透明であることか心霊であ
り1発光層を利用するのであれば、発光する光に対して
透光性であるのが9!ましい。電極102側より発光々
を取り出す場合には、基板101は電極102と同様透
明であるか若しくは発光する光に対して透光性であるこ
とが望ましい。
本発明の発光素子は、 itD記の様に発光層を構成す
るP型体導層103、半導体性中間層104及びN型伝
導層105の層の中の少なくとも1つの層が、non−
Si:Hで構成される第1の層領域(I)と、該層領域
(I)とは光学的バンドキャップEgoptが異なる第
2の層領域(H)とが、これ等を一単位として)54期
的に積層された多層構造を有する。そして、本発明の効
果をより一層効果的に達成する為には、周期構造的に積
層される第1の層領域と (I)〜第2の層領域(TI )とは、量子力学的サイ
ズ効果が生ずる層厚に、夫々の層厚が選択されて交互に
積層され、所謂超格子構造が構築される。
るP型体導層103、半導体性中間層104及びN型伝
導層105の層の中の少なくとも1つの層が、non−
Si:Hで構成される第1の層領域(I)と、該層領域
(I)とは光学的バンドキャップEgoptが異なる第
2の層領域(H)とが、これ等を一単位として)54期
的に積層された多層構造を有する。そして、本発明の効
果をより一層効果的に達成する為には、周期構造的に積
層される第1の層領域と (I)〜第2の層領域(TI )とは、量子力学的サイ
ズ効果が生ずる層厚に、夫々の層厚が選択されて交互に
積層され、所謂超格子構造が構築される。
第2の層領域(II )の光学的バンドギャップEgo
pt([1)は、好ましくは第1の層領域(I )の光
学的バンドキャップEgopt(I)よりも大きくなる
様に即ち、第2の層領域(II )がポテンシャルバリ
ア層の役L1を担う様に材料の選択が成されて層形成さ
れる。
pt([1)は、好ましくは第1の層領域(I )の光
学的バンドキャップEgopt(I)よりも大きくなる
様に即ち、第2の層領域(II )がポテンシャルバリ
ア層の役L1を担う様に材料の選択が成されて層形成さ
れる。
本発明の発光素子に於いては、半導体性中間層104は
、真性半導体特性を示すI型体導層若しくは、僅かにN
型又はP型伝導層として形成される。そして、non−
3t:Hで構成される層は、その一般的傾向より所謂P
型及びN型のいずれの不純物も含有しない場合には、僅
かにN型傾向を示すので、I型体導層とするには、僅か
にP型不純物を含有させる。
、真性半導体特性を示すI型体導層若しくは、僅かにN
型又はP型伝導層として形成される。そして、non−
3t:Hで構成される層は、その一般的傾向より所謂P
型及びN型のいずれの不純物も含有しない場合には、僅
かにN型傾向を示すので、I型体導層とするには、僅か
にP型不純物を含有させる。
第2図には、前記第1の層領域(I)201と前記第2
の層領域(II)202とが夫々適宜所望される層厚で
n周期交互に積層された層構造の例が示される。
の層領域(II)202とが夫々適宜所望される層厚で
n周期交互に積層された層構造の例が示される。
第2の層領域(II)202は、第1の層領域(j)2
01よりも、より大きな光学的バンドギャップEgop
tを有し、第1の層領域(I)201と第2の層領域(
II)202との接合部には、ヘテロ接合が形成される
。第2の層領域(II)202を構成する材料としては
、non−Si:Hよりも光学的バンドギャップEgo
ptがより大きい非単結晶性の半導体材ネ1又はJI中
結晶性の電気的絶縁材料が挙げられる。これ等の第2の
層領域(II)202を構成する材料は、第1の層領域
(I)201を構成する材料と化学組成要素が異なるか
或いは化学的組成比が異なるものであるが、そのfTI
体となる構成深索は、共通である方が発光特性の敬仰を
より効果的に計ることが出来る。
01よりも、より大きな光学的バンドギャップEgop
tを有し、第1の層領域(I)201と第2の層領域(
II)202との接合部には、ヘテロ接合が形成される
。第2の層領域(II)202を構成する材料としては
、non−Si:Hよりも光学的バンドギャップEgo
ptがより大きい非単結晶性の半導体材ネ1又はJI中
結晶性の電気的絶縁材料が挙げられる。これ等の第2の
層領域(II)202を構成する材料は、第1の層領域
(I)201を構成する材料と化学組成要素が異なるか
或いは化学的組成比が異なるものであるが、そのfTI
体となる構成深索は、共通である方が発光特性の敬仰を
より効果的に計ることが出来る。
本発明に於いて、超格子構造を導入する為の第1の層領
域(I)201及び第2の層領域(IT)202の夫々
の層厚は、夫々の層領域を構成する材料及び要求される
素子特性に応じて、適宜所望に従って決定されるが、z
砂子サイズ効果が顕著になる様に決められるのが望まし
い。
域(I)201及び第2の層領域(IT)202の夫々
の層厚は、夫々の層領域を構成する材料及び要求される
素子特性に応じて、適宜所望に従って決定されるが、z
砂子サイズ効果が顕著になる様に決められるのが望まし
い。
第1及び第2の層領域の層厚としては、好ましくは、5
人〜100人、 ヨIJ &/ ia +、: ハ8久
〜80人、最適には10人〜70人とされるのが望まし
い。殊に、キャリアのドブロイ波長程度、或いはキャリ
アの平均自由行程の程度とされるのが望ましい、半導体
性中間層104に上記の超格子構造を導入する場合には
、具体的には、例えば第1の層領域(I)201として
、P型及びN5のいずれの不純物も含有してない所At
?ノンドープのnon−3i:H層、又はP型不純物を
僅か含有されて真性半導体とされた■型のnon−3t
:H層、第2の層領域(II)202としては、必要に
応じて水素原子(H)を含み、シリコン原子(S i)
と窒素原子(N)とを含む半導体性の又は電気的絶縁性
の非単結晶材料(以後、rnon−SiN(H)」と略
記する)。又は、必要に応じて水素原子(H)を含み、
シリコン原子(Si)と耐素原子(0)とを含む半導体
性の又は電気的絶縁性の非単結晶材料(以後、rnon
−3iO(H)J と略記する)で夫々構成される。
人〜100人、 ヨIJ &/ ia +、: ハ8久
〜80人、最適には10人〜70人とされるのが望まし
い。殊に、キャリアのドブロイ波長程度、或いはキャリ
アの平均自由行程の程度とされるのが望ましい、半導体
性中間層104に上記の超格子構造を導入する場合には
、具体的には、例えば第1の層領域(I)201として
、P型及びN5のいずれの不純物も含有してない所At
?ノンドープのnon−3i:H層、又はP型不純物を
僅か含有されて真性半導体とされた■型のnon−3t
:H層、第2の層領域(II)202としては、必要に
応じて水素原子(H)を含み、シリコン原子(S i)
と窒素原子(N)とを含む半導体性の又は電気的絶縁性
の非単結晶材料(以後、rnon−SiN(H)」と略
記する)。又は、必要に応じて水素原子(H)を含み、
シリコン原子(Si)と耐素原子(0)とを含む半導体
性の又は電気的絶縁性の非単結晶材料(以後、rnon
−3iO(H)J と略記する)で夫々構成される。
これ等の材料から成る第1の層領域(I)201及び第
2の層領域(II)202は、夫々の層厚を以って、々
rましくは1士数周期乃至数1−周期交配に積層される
。
2の層領域(II)202は、夫々の層厚を以って、々
rましくは1士数周期乃至数1−周期交配に積層される
。
P型体導層103或いは、N型伝導層105に上記の超
格子・構造を導入する場合には、第1の層領域、(I)
201は、P型又はN型の不純冷゛− が、第2の層領域(n)2o2は、前記の半導体性中間
層104の場合と同様である。
格子・構造を導入する場合には、第1の層領域、(I)
201は、P型又はN型の不純冷゛− が、第2の層領域(n)2o2は、前記の半導体性中間
層104の場合と同様である。
これ等の各層に導入され得る超格子構造は。
1つの層のみならず、2つ以にの層、即ち、例えばP型
体導層103及び半導体性中間層104に、或いは、P
型体導層103、半導体性中間層104及びN型伝導層
105の3層に夫々超格子構造を導入しても良い。
体導層103及び半導体性中間層104に、或いは、P
型体導層103、半導体性中間層104及びN型伝導層
105の3層に夫々超格子構造を導入しても良い。
本発明において1発光層を構成する層の少なくとも一部
は、不純物の存否は別にして。
は、不純物の存否は別にして。
non−3i:H−c−構成される。
non−3i:H層中に含有される水素原子(H)は、
シリコン原子の自由ダングリングポンドを補償し、その
含有ら1は形成される層の゛ト導体特性、光学的特性、
及び素子の発光特性を左右する’F=”l因子であって
、本発明においては、水素原子(H)の含有y11は好
適にはシリコン原−rに対して0.1〜40原子%、よ
り好適には0.5〜35原子%、最適には1〜30原子
%である。
シリコン原子の自由ダングリングポンドを補償し、その
含有ら1は形成される層の゛ト導体特性、光学的特性、
及び素子の発光特性を左右する’F=”l因子であって
、本発明においては、水素原子(H)の含有y11は好
適にはシリコン原−rに対して0.1〜40原子%、よ
り好適には0.5〜35原子%、最適には1〜30原子
%である。
発光層を構成するP型伝導層103及びN型伝導層10
5は1層形成する際にP型伝導特性を1ノえるP型不鈍
物或いはN型伝導特性をtえるN型不純物を夫々含有す
るか或いは既にnon−3i:Hで構成された層中に、
P型又はN型の不純物をイオンインプランテーションツ
ノ、等の1段で注入してやれば良い。
5は1層形成する際にP型伝導特性を1ノえるP型不鈍
物或いはN型伝導特性をtえるN型不純物を夫々含有す
るか或いは既にnon−3i:Hで構成された層中に、
P型又はN型の不純物をイオンインプランテーションツ
ノ、等の1段で注入してやれば良い。
Pη!不純物としては、所謂周期律表第■族に属する原
子(第■族原子)、即ちB(硼素)。
子(第■族原子)、即ちB(硼素)。
AICアルミニウム)、Ga(ガリウム)。
In(インジウム)、Te(タリウム)笠があり、殊に
好適に用いられるのは、B、Gaである。
好適に用いられるのは、B、Gaである。
N型イ(鈍物としては、周期律表第V族に属する原子(
第V族原子)、例えばP(燐) 、A5(砒7も)、
Sb(アンチモン) 、Bi (ビスマル)等であ
り、殊に、好適に用いられるのはP、Asである。
第V族原子)、例えばP(燐) 、A5(砒7も)、
Sb(アンチモン) 、Bi (ビスマル)等であ
り、殊に、好適に用いられるのはP、Asである。
これ等の不純物は、形成される層の電気伝導特性、ミツ
ドギャップでの局在準位密度等を考し&°シて、適宜所
望に従ってその含有にが決定される。
ドギャップでの局在準位密度等を考し&°シて、適宜所
望に従ってその含有にが決定される。
本発明においては、光CVDυ、(光エネルギーを反応
に利用した化学的気相法による堆積膜形成法)の採用に
より前述の構成を与えることが出来るものであり、前記
の不純物を導入する為の原料物質も光CVD法に適合す
るものを選択して使用するのが望ましい。
に利用した化学的気相法による堆積膜形成法)の採用に
より前述の構成を与えることが出来るものであり、前記
の不純物を導入する為の原料物質も光CVD法に適合す
るものを選択して使用するのが望ましい。
第1図に示す発光素子の場合、発光層は基体101側よ
りP型体導層、中間層、N型伝導層の層構成としたが、
本発明の場合斯かる積層順には限定される必要はなく、
基体lot側より順にN型伝導層、中間層、P型体導層
の層構成とされても良い。
りP型体導層、中間層、N型伝導層の層構成としたが、
本発明の場合斯かる積層順には限定される必要はなく、
基体lot側より順にN型伝導層、中間層、P型体導層
の層構成とされても良い。
第3図には1本発明の発光素子の別の好適な実施態様例
の層構成の模式図が示される。
の層構成の模式図が示される。
第3図に示す発光素子は、第1図に示す発光素子−とは
、半導体性中間層104を有していない以外は、同様の
層構成であり、所謂P−N接合を利用する発光素子であ
る。
、半導体性中間層104を有していない以外は、同様の
層構成であり、所謂P−N接合を利用する発光素子であ
る。
即ち、第3図に示す発光素子は、ノ^体3011−に一
ド部電J4i302.P型伝導層303.N型伝導層3
04 、1一部電極305の構成とされている。
ド部電J4i302.P型伝導層303.N型伝導層3
04 、1一部電極305の構成とされている。
第3図に示す発光素子の場合も、第1図に示す発光素子
と同様、P型伝導層303及びN型伝導層304の積層
順は、」二足の説明に限定されるものではなく、逆の積
層順としても差支えない。
と同様、P型伝導層303及びN型伝導層304の積層
順は、」二足の説明に限定されるものではなく、逆の積
層順としても差支えない。
本発明の発光素子は、non−5i:Hで構成される、
P型体導層、゛ト導体性中間層、N型伝・9層、或いは
不純物を含有しない層(ノンドープ層)を適宜所望に従
って組合せて積層することにより発光層が層構成される
ものであり、発光層を挟持して設けられる一組の対向電
極に+nr+バイアス電圧を印加してN型伝導層より電
子(エレクトロン)を、P型体導層より正孔(ホール)
を、半導体性中間層、或いはPN接合付近の空間電荷層
領域中に注入して再結合させることによって発光させる
。その際、本発明においては、可視域の発光波長を得る
為に、non−3i:Hから成る発光層を構成する各層
の光学的バンドギャップEgoptは、2.OeV以I
−とされるのが望ましい。
P型体導層、゛ト導体性中間層、N型伝・9層、或いは
不純物を含有しない層(ノンドープ層)を適宜所望に従
って組合せて積層することにより発光層が層構成される
ものであり、発光層を挟持して設けられる一組の対向電
極に+nr+バイアス電圧を印加してN型伝導層より電
子(エレクトロン)を、P型体導層より正孔(ホール)
を、半導体性中間層、或いはPN接合付近の空間電荷層
領域中に注入して再結合させることによって発光させる
。その際、本発明においては、可視域の発光波長を得る
為に、non−3i:Hから成る発光層を構成する各層
の光学的バンドギャップEgoptは、2.OeV以I
−とされるのが望ましい。
発光層を構成する各層は、光学的バンドギャップの中心
(ミツドギャップ)での局在準位密度は、10L6c+
a−3* e V−1以下、好適には1015c+r3
@e V−1とされるのが望ましい。
(ミツドギャップ)での局在準位密度は、10L6c+
a−3* e V−1以下、好適には1015c+r3
@e V−1とされるのが望ましい。
この様に、各層の物性値を制御することによって、再結
合の効率を飛躍的に向上させることが出来、従って発光
効率の向」二を一層計ることが出来る。
合の効率を飛躍的に向上させることが出来、従って発光
効率の向」二を一層計ることが出来る。
又1発光層の外部量子効率を10−4%以上になる様に
再結合の準位の分布を制御することによって、高い強度
の発光を示す発光素子を得ることが出来る。
再結合の準位の分布を制御することによって、高い強度
の発光を示す発光素子を得ることが出来る。
Jl述した様な特性を有する発光素子は、前記した様に
光CVD法によって後述の条件で作成されるのが望まし
い。本発明の発光素子の作成Jノ、は、本発明の[l的
が達成されるのであれば、光CVD法に限定されるもの
ではなく、適宜所望の条件に設定して1例えばHOMO
CVD法、プラズマCVD法等によって成されても良い
。
光CVD法によって後述の条件で作成されるのが望まし
い。本発明の発光素子の作成Jノ、は、本発明の[l的
が達成されるのであれば、光CVD法に限定されるもの
ではなく、適宜所望の条件に設定して1例えばHOMO
CVD法、プラズマCVD法等によって成されても良い
。
本発明の発光素子を構成する基体及び電極を構成する材
料としては、通常発光素子分野において使用されている
材料の殆んどを挙げることが出来る。
料としては、通常発光素子分野において使用されている
材料の殆んどを挙げることが出来る。
)よ体としては、導電性でも電気絶縁性であっても良い
が、比較的耐熱性に優れているのが申ましい。
が、比較的耐熱性に優れているのが申ましい。
導電性基体の場合には、基体と発光層との間に設けられ
る電極は、必ずしも設ける必要はない。
る電極は、必ずしも設ける必要はない。
導電性ノ、(体としては、NiCr、ステンレス、 A
I 、 Cr 、 M o 、 A u 、 N b
、 T a 。
I 、 Cr 、 M o 、 A u 、 N b
、 T a 。
V 、 T i等を挙げることが出来る。
電気絶縁性基体としては、ポリエステル、ポリエチレン
、ポリカーボネイト、ポリアミ1:。
、ポリカーボネイト、ポリアミ1:。
等々の合成樹脂のフィルム、又はシート、或いはガラス
、セラミックス、等々を挙げることが出来る。
、セラミックス、等々を挙げることが出来る。
基体として電気絶縁性のものを採用する場合には、発光
層とのIInの電極として、その表面が導電処理される
。
層とのIInの電極として、その表面が導電処理される
。
例えば、カラスであれば、その表面に。
NiCr、AIL、Cr、Mo、Au、Ir。
Nb、Ta、V、Ti、PL、Pd、In203Sn0
2 、ITO(In203+5n02)等から成る薄■
りを設けることによって導電性が不i ij−され、或
いはポリエステルフィJレム等の合成樹脂フィルムであ
れば、NiCr、AM。
2 、ITO(In203+5n02)等から成る薄■
りを設けることによって導電性が不i ij−され、或
いはポリエステルフィJレム等の合成樹脂フィルムであ
れば、NiCr、AM。
Ag、Pb、Zn、Ni、Au、Cr、Mo。
Ir、Nb、Ta、V、Ti、PL等の金属の薄膜を真
空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリング等でその表面
に設け、又は前記金属でその表面をラミンネート処理し
て、その表面に導電性がl4される。
空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリング等でその表面
に設け、又は前記金属でその表面をラミンネート処理し
て、その表面に導電性がl4される。
本発明の発光素子の作成方法の具体例を第4図に示す光
CVD装置を用いて以下に説明する。以下に説明される
作成手段及び作成条件は、好適な例を示すもので、本発
明を限定するものでないことは云うまでもない。
CVD装置を用いて以下に説明する。以下に説明される
作成手段及び作成条件は、好適な例を示すもので、本発
明を限定するものでないことは云うまでもない。
第3図中、1は堆積室であり、内部のノ^体支持台2上
に所望の基体3が・1配置される。
に所望の基体3が・1配置される。
4は基体加熱用のヒータであり、導線5を介して給電さ
れ、発熱する。基体温度は特に制限されないが、一般に
発光層の光学的バンド・ギャップを大きくして可視の発
光を得るためには、200℃以下であることが望ましい
。
れ、発熱する。基体温度は特に制限されないが、一般に
発光層の光学的バンド・ギャップを大きくして可視の発
光を得るためには、200℃以下であることが望ましい
。
6〜9は、ガス供給源であり、通;9゛状態で液状の原
料物質を使用する場合には、適宜の気化装置を具備させ
る。気化装置には、加熱線1圓を利用するタイプ、液体
原料中にキャリアガスを通過させるタイプ等があり、い
ずれでもよい。
料物質を使用する場合には、適宜の気化装置を具備させ
る。気化装置には、加熱線1圓を利用するタイプ、液体
原料中にキャリアガスを通過させるタイプ等があり、い
ずれでもよい。
ガス供給源の個数は4個に限定されず、使用する原料物
質の種類の数、希釈ガス等を使用する場合においては、
該希釈ガスと原料ガスとの予備混合の有無等に応じて適
宜選択される。図中、ガス供給源6〜9の符号に、aを
付したのは分岐管、bを付したのは流■計、Cを付した
のは各流賃計の高圧側の圧力を計測する圧力計、d又は
eを付したのは各気体流の開閉及び温間、の調整をする
ためのバルブである。
質の種類の数、希釈ガス等を使用する場合においては、
該希釈ガスと原料ガスとの予備混合の有無等に応じて適
宜選択される。図中、ガス供給源6〜9の符号に、aを
付したのは分岐管、bを付したのは流■計、Cを付した
のは各流賃計の高圧側の圧力を計測する圧力計、d又は
eを付したのは各気体流の開閉及び温間、の調整をする
ためのバルブである。
各ガス供給源から供給されるガス状の原料物質等は、ガ
ス導入管10の途中で混合され、図示しない換気装置に
付勢されて、室l内に導入される6又は、各ガス供給源
から交πに室l内に導入される。、11は、室l内に導
入されるガスの圧力を計Willするための圧力計であ
る。また、12はガス排気管であり、堆積室1内を減J
LE したり、導入ガスを強制排気するための図示しな
い排気装置と接続されている。
ス導入管10の途中で混合され、図示しない換気装置に
付勢されて、室l内に導入される6又は、各ガス供給源
から交πに室l内に導入される。、11は、室l内に導
入されるガスの圧力を計Willするための圧力計であ
る。また、12はガス排気管であり、堆積室1内を減J
LE したり、導入ガスを強制排気するための図示しな
い排気装置と接続されている。
13はレギュレータ・/ヘルプである。原本゛Iカス等
を導入する前に、室1内を排気し、減圧状y尻とする場
合、室内の圧力は、好ましくは5×1O−5Torr以
下、より好ましくはl×1O−GTorr以下とされる
のが望ましい。また、原料物質ガス等を導入した状態に
おいて、室l内の圧力は、好ましくはl X 10−2
〜100Torr、より好ましくは5XlO−2〜10
To r rテある。
を導入する前に、室1内を排気し、減圧状y尻とする場
合、室内の圧力は、好ましくは5×1O−5Torr以
下、より好ましくはl×1O−GTorr以下とされる
のが望ましい。また、原料物質ガス等を導入した状態に
おいて、室l内の圧力は、好ましくはl X 10−2
〜100Torr、より好ましくは5XlO−2〜10
To r rテある。
本発明で使用する励起エネルギー供給源の一例として、
工4は光エネルギー発生装置であって、例えば水銀ラン
プ、キセノンランプ、炭酸ガスレーザ、アルゴンイオン
レーザ、エキシマレーザ等が用いられる。なお1本発明
で用いる光エネルギーは紫外線エネルギーに限定されず
、原ネ1ガスに化学反応を起こさせ堆積膜を形成するこ
とができるものであれば、波長域を問うものではない。
工4は光エネルギー発生装置であって、例えば水銀ラン
プ、キセノンランプ、炭酸ガスレーザ、アルゴンイオン
レーザ、エキシマレーザ等が用いられる。なお1本発明
で用いる光エネルギーは紫外線エネルギーに限定されず
、原ネ1ガスに化学反応を起こさせ堆積膜を形成するこ
とができるものであれば、波長域を問うものではない。
光エネルギー発生装置14から適宜の光学系を用いてノ
^体全体或いは基体の所97部分に向けられた光15は
、矢印16の向きに流れている原1’+物質ガス等に照
射される。
^体全体或いは基体の所97部分に向けられた光15は
、矢印16の向きに流れている原1’+物質ガス等に照
射される。
発光素子の作成例として具体的には、まず、基体として
、ガラス基板(CR2059)を用いて、その1−に導
電性層として600人厚0I70層をスパッタリングに
より形成する。膜。の抵抗値としては約50Ω/口とす
る。次に一1二足導電性基体3を、第4図に示す様な光
CVD装置の基体ホルダー2に設置し、まずポンプ12
で真空に排気する。真空度が約lXl0−G以下になっ
たところで、基体ホルダー2の温度を上げ、基体温度を
所望に従って設定する0本発明においては、基体温度と
しては、好適には一20℃〜200°C1より好適には
o ’c〜150℃とされるのが望ましい。
、ガラス基板(CR2059)を用いて、その1−に導
電性層として600人厚0I70層をスパッタリングに
より形成する。膜。の抵抗値としては約50Ω/口とす
る。次に一1二足導電性基体3を、第4図に示す様な光
CVD装置の基体ホルダー2に設置し、まずポンプ12
で真空に排気する。真空度が約lXl0−G以下になっ
たところで、基体ホルダー2の温度を上げ、基体温度を
所望に従って設定する0本発明においては、基体温度と
しては、好適には一20℃〜200°C1より好適には
o ’c〜150℃とされるのが望ましい。
次にSiH4,Si2H6,5i3HB等のシラン系カ
ス、N2 、NH3、N2NNH2。
ス、N2 、NH3、N2NNH2。
NH3、NH4N3等の窒素系のガス、及び必要に応じ
て不純物導入用のガス(B2H6゜PH3等)を6.7
..8.9のボンベ、6b〜9bのフローメーターを用
いて堆積室1に流入する。この際H2,Ar、Heなど
のガスを同5nmの光をノ、(板1;で約5〜50mW
/cm2の強度で照射し1層を堆積する。
て不純物導入用のガス(B2H6゜PH3等)を6.7
..8.9のボンベ、6b〜9bのフローメーターを用
いて堆積室1に流入する。この際H2,Ar、Heなど
のガスを同5nmの光をノ、(板1;で約5〜50mW
/cm2の強度で照射し1層を堆積する。
P型、N型の伝導層を形成するためには、前記シラン系
のガスと同時にP型の場合にはB2の場合にはPH3,
As、B3等のガスをB2゜Arのガスと混合して堆積
室1に流入する。ガスの流入の後、圧力を調整し、ガス
に光を照射して分解し層を堆積する。P型体導層、半導
体性中間層、N型伝導層の厚さとしては、好適にはそれ
ぞれ100人〜1500人、200人〜8000人、1
00人〜1500人とされるのが望ましい。これらの層
厚の制御は光強度及び光照射時間を変化させて行う。
のガスと同時にP型の場合にはB2の場合にはPH3,
As、B3等のガスをB2゜Arのガスと混合して堆積
室1に流入する。ガスの流入の後、圧力を調整し、ガス
に光を照射して分解し層を堆積する。P型体導層、半導
体性中間層、N型伝導層の厚さとしては、好適にはそれ
ぞれ100人〜1500人、200人〜8000人、1
00人〜1500人とされるのが望ましい。これらの層
厚の制御は光強度及び光照射時間を変化させて行う。
超格子構造を形成する為に、実際に極薄層を交l!二に
植層するには、各薄層を形成する為の原料ガスを、その
都度変える必要がある。即ち、異なる薄層の形成の度i
σに原料ガスの堆積室lへの導入を11−め、排気装置
により適当な真空度まで排気して、オートドーピングを
防ぐ様にする。又、各層の層厚を所望通りに制御する為
にシャッター17を開閉動作させることにより励起光の
照射を断続的に行う。
植層するには、各薄層を形成する為の原料ガスを、その
都度変える必要がある。即ち、異なる薄層の形成の度i
σに原料ガスの堆積室lへの導入を11−め、排気装置
により適当な真空度まで排気して、オートドーピングを
防ぐ様にする。又、各層の層厚を所望通りに制御する為
にシャッター17を開閉動作させることにより励起光の
照射を断続的に行う。
前記の発光素ゴ5〕発光層を構成する各層の光学的バン
ドギャップは吸収係数αを測定し、Vαhνとhνの関
係より、局在準位密度はFE法より、又量子効率はダイ
オードの発光特性(温度依存性有)より求めることが出
来る。
ドギャップは吸収係数αを測定し、Vαhνとhνの関
係より、局在準位密度はFE法より、又量子効率はダイ
オードの発光特性(温度依存性有)より求めることが出
来る。
実施例1
基体としてITO基板を用いて、基板温度45°Cで膜
を作成した。P型体導層はB2H6/ S i 2 H
s = 10−2の流に比で、総論硅120SCCM(
水素希釈)、N型伝導層はPH3/S i 2H6=
l 0−2c7)流;4比で総論fi1200SCCM
(水素椙釈)、半導体性中間層は第1の層領域(I)2
01としてS i 2H6を80SCCMの流早:で第
2の層領域(II )202として、NH3/5i2H
6=102の流tY比で、総流量80SCCM(水素稀
釈)で、N型伝導層はPH3/ 5i2
H6矢=lO−2、゛ 1−′
総流量、1203CCM (水素稀釈)で夫々を、堆蹟
室I内に夫々導入して、圧力0. I T o r r
、光強度40 m W / c m 2の条件で反応
させて夫々の層を作成した。この際のP型体導層の層厚
は400人、半導体性中間層の層厚は210人、N型伝
導層は600人であった。
を作成した。P型体導層はB2H6/ S i 2 H
s = 10−2の流に比で、総論硅120SCCM(
水素希釈)、N型伝導層はPH3/S i 2H6=
l 0−2c7)流;4比で総論fi1200SCCM
(水素椙釈)、半導体性中間層は第1の層領域(I)2
01としてS i 2H6を80SCCMの流早:で第
2の層領域(II )202として、NH3/5i2H
6=102の流tY比で、総流量80SCCM(水素稀
釈)で、N型伝導層はPH3/ 5i2
H6矢=lO−2、゛ 1−′
総流量、1203CCM (水素稀釈)で夫々を、堆蹟
室I内に夫々導入して、圧力0. I T o r r
、光強度40 m W / c m 2の条件で反応
させて夫々の層を作成した。この際のP型体導層の層厚
は400人、半導体性中間層の層厚は210人、N型伝
導層は600人であった。
又1゛h導体中間層は、第1の層領域(I)の層厚15
人、第2の層領域(II)の層厚15人で7周期交〃積
層された。
人、第2の層領域(II)の層厚15人で7周期交〃積
層された。
発光層の上部表面にA文を1000人厚蒸着し、上部電
極とした。作成した素子の構成は、第1図と同様である
。得られた発光素子は白色の発光を示し、その光学的バ
ンドギャップ、局イ1べ一位畜度、H,+了効−Vと発
光強度の関係が表1に示される。
極とした。作成した素子の構成は、第1図と同様である
。得られた発光素子は白色の発光を示し、その光学的バ
ンドギャップ、局イ1べ一位畜度、H,+了効−Vと発
光強度の関係が表1に示される。
実施例2
実施例1と同様の装置、同様の条件で半導体性中間層の
層厚のみ変えて各層を堆積した。
層厚のみ変えて各層を堆積した。
P型体導層の層厚は400人、半導体性中間層は315
人、N型伝導層は600人であった。tすられた発光素
子lよ白色の発光を示しその特f1を表1に示す。
人、N型伝導層は600人であった。tすられた発光素
子lよ白色の発光を示しその特f1を表1に示す。
実施例3
実施例2と同様の装置で、対応する層の作成条件は同様
の条件として、P型体導層の層厚を400人、N型伝導
層の層厚を4000人とした第2図に示す様な構造の白
色光発光の発光素子を作成した。N型伝導層は、第1の
層領域(I)としてP)(3/5i2He=10−2の
流j1!比テWa m (jlOOS CCM (水素
稀釈)で20人4に、第2の層領域(II )としてN
H3/ S i 2 H6= 102の流早比で総論:
、T B □SCCM(水素稀釈)で20人4にし、1
00周期積層した。Al11定された素子の特性を表1
に示す。
の条件として、P型体導層の層厚を400人、N型伝導
層の層厚を4000人とした第2図に示す様な構造の白
色光発光の発光素子を作成した。N型伝導層は、第1の
層領域(I)としてP)(3/5i2He=10−2の
流j1!比テWa m (jlOOS CCM (水素
稀釈)で20人4に、第2の層領域(II )としてN
H3/ S i 2 H6= 102の流早比で総論:
、T B □SCCM(水素稀釈)で20人4にし、1
00周期積層した。Al11定された素子の特性を表1
に示す。
実施例4
実施例2と同様の装置と同様の条件でP型体導層の層厚
400人、半導体性中間層として第1の層領域CI)の
層厚50人、第2の層領域(II )の層厚50人で1
0周+1JI積層し、N型伝導層の層厚600人とした
。得られた発光素子は白色の発光を示しその特性を表1
に示す。
400人、半導体性中間層として第1の層領域CI)の
層厚50人、第2の層領域(II )の層厚50人で1
0周+1JI積層し、N型伝導層の層厚600人とした
。得られた発光素子は白色の発光を示しその特性を表1
に示す。
実施例5
実施例4と同様の装置と同様の条件でP型体導層、N型
伝導層のいずれの層も第2の層領域(II )を含む積
層構造とし、第1及び第2の層領域の層厚を夫々20人
、積層周期数を10とした。得られた発光素子は白色の
発光を示し、層厚と発光強度の関係を表1に示す。
伝導層のいずれの層も第2の層領域(II )を含む積
層構造とし、第1及び第2の層領域の層厚を夫々20人
、積層周期数を10とした。得られた発光素子は白色の
発光を示し、層厚と発光強度の関係を表1に示す。
表 1
以上の実施例1〜5より本発明の発光素子は、従来のn
on−5i:Hを用いた発光、に了がIIr視の領域で
の発光層−が小さく、強度も低いのに比較し、より高い
強度の白色発光が11tられることがわかった。
on−5i:Hを用いた発光、に了がIIr視の領域で
の発光層−が小さく、強度も低いのに比較し、より高い
強度の白色発光が11tられることがわかった。
又、各実施例における発光素子に就で、ノミ命をAl1
定したところ、従来の発光素子に較べて−桁高いノj命
を示し、再現性の点でも良好でHつ発光特性はノj命測
定において常に安定していた。
定したところ、従来の発光素子に較べて−桁高いノj命
を示し、再現性の点でも良好でHつ発光特性はノj命測
定において常に安定していた。
」、述した様に、本発明の発光素子は nf視波長領域
に発光ピークを有すると共に、充分な発光j五をイリ、
発光効率と再現性を高めることが出来1発光特性の安定
性と寿命を飛翔的に高めることが出来る。
に発光ピークを有すると共に、充分な発光j五をイリ、
発光効率と再現性を高めることが出来1発光特性の安定
性と寿命を飛翔的に高めることが出来る。
第1図乃至第3図は1本発明の発光素子の好適な実施態
様例の層構成を示す模式図、第4図は本発明の発光素子
を作成する為の装置の一例を示す模式向である。 101.301−−−一基体 102.106,302,305−−−一電極103.
303−−−−P型体導層 105.304−−−−N型伝導層 第7図 第2図 躬3厘
様例の層構成を示す模式図、第4図は本発明の発光素子
を作成する為の装置の一例を示す模式向である。 101.301−−−一基体 102.106,302,305−−−一電極103.
303−−−−P型体導層 105.304−−−−N型伝導層 第7図 第2図 躬3厘
Claims (5)
- (1)P型伝導層と半導体性中間層とN型伝導層とで層
構成された発光層と、該発光層に電気的に接続された少
なくとも一対の電極とを有し、前記発光層を構成する3
つの層の少なくとも1つの層は、水素原子を含む非単結
晶シリコンから成る第1の層領域と、該層領域と光学的
バンドギャップが異なる第2の層領域とが、これ等を単
位として周期的に積層された多層構造を有する事を特徴
とする発光素子。 - (2)前記第1の層領域はI型伝導特性を有する特許請
求の範囲第1項に記載の発光素子。 - (3)前記第1の層領域は、P型及びN型の不純物を含
有しない特許請求の範囲第1項に記載の発光素子。 - (4)前記第2の層領域の光学的バンドギャップは第1
の層領域のよりも大きい特許請求の範囲第1項に記載の
発光素子。 - (5)発光層の量子効率が10^−^4%以上である特
許請求の範囲第1項に記載の発光素子。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60194098A JPS6254480A (ja) | 1985-09-02 | 1985-09-02 | 発光素子 |
| US07/406,182 US4920387A (en) | 1985-08-26 | 1989-09-13 | Light emitting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60194098A JPS6254480A (ja) | 1985-09-02 | 1985-09-02 | 発光素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6254480A true JPS6254480A (ja) | 1987-03-10 |
Family
ID=16318912
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60194098A Pending JPS6254480A (ja) | 1985-08-26 | 1985-09-02 | 発光素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6254480A (ja) |
-
1985
- 1985-09-02 JP JP60194098A patent/JPS6254480A/ja active Pending
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