JPS6255586A - シンチレ−シヨン計数器用の試料びんホルダ− - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の目的 （産業上の利用分野） この発明はびん運搬キャリヤ内に小型のガラス又はプラ
スチックのびんを保持する機能を果たすとともに、検査
される試料を入れるびんの表面上の静電気を除去するた
めの手段を含むシンチレーション（ｓｃｉｎｔｉｌｌａ
ｔｉｏｎ　）計数器と共に使用するようにしたホルダー
に関するものである。

（従来の技術） 液体シンチレーション技術において、試料の検査中に発
生ずる静電気はシンチレーション計数の結果に悪影響を
及ぼすことが判明している。静電気は液体のシンチレー
ション計数おいて光子生成の妨害となる。液体シンチレ
ーション計数は試料からの放出光線を測定することによ
り放射能を数量化するための分析法である。核崩壊以外
の原因により測定室で生成される光子は測定の妨害とな
る。静電気のような妨害を生む光子は、核現象として説
明される核崩壊現象により生成された光線から発生する
パルスにかなり近いので、液体シンチレーション計数器
の出力に対する信頼性に影響を及ぼす。

静電気は正または負に帯電されたイオンからなっており
、このイオンは単−又は複数の電子の除去又は付加によ
り電気的に平衡を失った原子である。イオンは磁石と同
様に帯電反発を好み帯電吸引を嫌う。

市販されている液体シンチレーション計数器の構成に通
常使用されている材料、及び日常我々が接触する材料は
静電気の発生源である。静電気はシンチレーション用の
試料びん又はシンチレーションカクテル内で発生し得る
。びん表面上の静電気は輸送中に、又は液体シンチレー
ション計数器における試料交換の際の動きの結果として
も発生する。ガラスびんはプラスチックびんよりは静電
気の蓄積に関して問題が少ない。アダプタ又はホルダー
中の小型びんは静電気を特に帯びやすい。

静電気の蓄積を制御するために用いられてきた方法の一
つは、静電気を帯びた表面に逆帯電イオンの雰囲気を与
えることである。逆イオンは中性化作用の結果、表面の
静電気を消滅させる。これらの逆イオンは電離放射線又
は電流のいずれかにより生成できる。

逆イオンによりイオン化した雰囲気を生成するために電
流を使用ことは商業的に成功してきた。

環状の静電気除去装置がこれまで商業的に使用され、こ
れを液体シンチレーション計数器内に配置し、試料びん
がびん運搬キャリヤから取り出され測定室に輸送される
ときに、ぴんと静電気除去装置により生成された帯電イ
オンとが相互作用するようになっている。例えば、２秒
間のような短期間に、静電気除去装置により生成された
イオンはびん上の静電気を中性化する。静電気除去装置
は周囲の雰囲気に高電圧を供給し、各電極の周囲に局部
的な電気的妨害を発生させて逆イオンを生成する機能を
果たす。試料を入れたびんが静電気除去装置を通過する
とき、逆イオンはびんの表面に受動的に移動して蓄積さ
れた帯電・イオンを中性化する。

（発明が解決しようとする問題点） ところで、自動的な試料交換をベースにした大部分の液
体シンチレーション計数器は、多数個のびんを保持でき
るびん運搬キャリヤを使用している。異なる寸法の試料
びんは異なる目的に用いられる。びん運搬キャリヤが大
型のびんを受けるために大きな場所を占める場合は、ホ
ルダーないしアダプターは、びん運搬キャリヤの大きな
収納場所に比較的小さなびんを配置しなければならない
。

びん運搬キャリヤ内に配置されたホルダーに小型びんが
載せられると、ホルダーはびん運搬キャリヤと一体に静
電除去装置を通って測定室に輸送される。不運なことに
、静電除去装置により生成された逆イオンが、びんに帯
電した静電気を中性化する機能を果たすためにびんの表
面に移動しなければならない。びんを保持する通常のホ
ルダーによると、中性化するためのイオンの流れが大幅
に縮減されてしまうという問題点があった。そこで、本
発明は帯電イオンの上記の流れを促進するためにホルダ
ー内に開口部を設け、ホルダー内に収容される小型びん
を適切に処理して、びんの表面上の静電気を最小限にお
さえることができるようにしたものである。

シンチレーションびんは通常ガラス又は石油生成材料に
より製造されている。小型びんは静電気の蓄積に極めて
敏感であり、プラスチック製の場合はより一層激しい。

従って、小型のプラスチック又はガラスびんの表面の静
電気を最小限にする手段を講じることが極めて重要であ
る。

この発明の目的は、大型びんを収容するように設計され
たびん運搬キャリヤ内に小型びんを固定するためのホル
ダーを提供することにある。

この発明の別の目的は、静電気を除去するために、ホル
ダーを通って試料びんに至るイオンの流れを許容するこ
とができる手段を提供することにある。

この発明の他の目的は、大型びんを専ら収容するように
設計された液体シンチレーション計数器内の小型びんか
ら静電気を除去する装置を提供することにある。

発明の構成 （問題点を解決するための手段） この発明の上記した目的及びその他の目的を達成するた
めに、この発明の有利な実施例においては、シンチレー
ション計数器に配置される試料を入れる小型及び大型の
双方のびんのうち、大型びんを収納する寸法のびん運搬
キャリヤ内に小型びんを固定するためのホルダーが設け
られている。

ホルダーは大型ぴんと同一の寸法及び形状のボデー手段
を備え、そのボデー手段は内部に小型びんを保持するた
めの中央開放部を含むとともに、ホルダー内に保持され
た小型びんの表面上の静電気を除去するために帯電イオ
ン雰囲気の小型びんへの流れを許容し得る大きさの透孔
部を形成している。

さらに、大型びん用に設けられたびん運搬キャリヤ内の
小型びんに収納されたシンチレーション計数器用の試料
を保持し、かつ小型びんが検査に先立って静電気除去装
置を通過する際に、その小型びんの表面上の静電気を最
小限にして、液体シンチレーション計数器の能力を維持
するための装置が提供される。ホルダーはびん運搬キャ
リヤ内に適合する大きさを有し、かつその内部に小型び
んを保持するための手段を含む。ホルダーには、さらに
、帯電イオンを含む雰囲気が通過し得る透孔部が形成さ
れている。

（作用） そして、静電気除去装置により生成された帯電イオンが
ホルダー〇透孔部を通って流れ込むことにより、小型び
んの表面上の静電気が中性化されるようになっている。

（実施例） 次に、この発明の一実施例を液体シンチレーション計数
器に関連して詳細に説明するが、この発明の装置は、び
ん上の静電気を最小限にすることが必要とされるガンマ
計数器等のその他の同類装置にも応用可能であることを
理解されたい。

第１図に示すように、ホルダーＸＯはボデー部３０と頭
部２０とを有している。頭部２０は通常環状に形成され
、上部の保持環２２と底部の留め環２４とを含んでいる
。内壁２８は保持環２２と留めＩ、！２４との間に広が
り、小型びんを内部に入れて保持するための中央開口部
２６を形成している。保持環２２の上面２９には、小型
びんが前記開口部２６によりホルダー１０内の中心に置
かれる際に、その小型びんのキャップ又は他の部分が位
置するようになっている。

ホルダー１０におけるボデー部３０の周面には、間隔を
おいて複数個の透孔部３２．３４．３６が形成されてい
る。帯電イオンはこれらの透孔部３２．３４．３６を通
って流れ込み、内部に配置されたびんに到達する。中央
開放部３９はボデー部３０の軸方向上端に広がり、その
内部に小型びんが保持される。ボデー部３０はさらに、
前記凹部２０が取着される上端部分３８を含んでいる。

留め溝４０は上端部分３８の内部に前記留め環２４と適
合する大きさで形成され、この留め溝４０に留め環２４
を圧入することによって凹部２０がボデー部３０に固定
されるようになっている。イオンの流れを補足的に促進
するために、ボデー部３０の下部周面にはさらに複数の
補助透孔部４２゜４４．４６が形成されている。支持ベ
ース４８は試料びんの底部を保持し得るように環状に形
成されている。支持ベース４８は環状形態であるので、
びんをホルダー１０内の適宜高さに保持するだけではな
く、その中心に配置する役割をも果たす。

第２図は第１図の拡大縦断面図である。この図では透孔
部３２，３４及びボデー部３０が特に明確に示されてい
る。さらに、留め環２４が留め溝４０に固定され、保持
環２２がボデー部３０の上端部分３８に載せられている
状態が示されている。

第３．４図に示すように、小型びん５０はキャンプ５６
と、ホルダー１０内に保持される側壁５２及び底壁５４
とからなっている。第３図に示すように、小型びん５０
の上部はボデー部３ｏの中央開放部３９内に保持され、
又小型びん５ｏの底壁５４は支持ベース４８内に嵌合さ
れていて、開放部３９と支持ベース４８とは小型びん５
ｏを縦方向に直立保持し、かつそれをホルダー１０の中
心位置に配置する機能を果たしている。キャップ５Ｇは
小型びん５０の大きさによって保持環２２に支えられる
場合とそうでない場合とがある。いずれにせよ、小型び
ん５０の側壁５２は凹部２゜の内壁２８に嵌合して、び
ん５０の上端部を所望の位置に保持する。従って、びん
５０の上端部は内壁２８に、又底部５４は支持ベース４
８に接触され、これによりびん５０がホルダー１０内の
所望位置に保持される。第３図に示すように、透孔部３
２．３４及び補助透孔部４２．４４は、帯電イオンをホ
ルダー１０の内部に導き入れて、びん５０の表面に相互
作用させることができる。勿論、これらの帯電イオンは
ホルダー１０にも作用し、そこに両頂された静電気を除
去する。

第５図はびん運搬キャリヤ６０の断面図であり、ポジシ
ョンＡ−Ｅが示されている。びん運搬キャリヤ６０のポ
ジションの数は計数器の特性とびん運搬キャリヤ６０の
設計値に関する多くの要因により変化する。第５図のポ
ジションＡ、Ｂ、Ｅにはキャップ８２を有する大型びん
８０が収納されている。このびん運搬キャリヤ６０にお
いては、図示のとおり、各ポジションが専ら大型びん８
０を保持し得る大きさで設計されている。ポジションＣ
及びＤには小型びん５０を収納載置したホルダー１０が
配置されている。ホルダー１０は大型びん８０とほぼ同
一の外形寸法と形感とを有し、びん運搬キャリヤ６０内
において隔壁６２と背壁６４とにより画定された適宜の
ポジションに保持されるようになっている。このように
すれば、液体シンチレーション計数器の機械的構成を変
更しなくても、大型びん８０をびん運搬キャリヤ６０の
ポジションＡ、Ｂ、Ｅから取り出し、かつ小型びん５０
を収納したホルダー１０をびん運）股キャリヤ６０のポ
ジションＣ，Ｄから取り出すことができる。

第６図は液体シンチレーション計数器の概略図である。

試料室とも測定室とも呼ばれるキャビティ９８はシール
ド８４内に配置され、その両側には光電子増倍管ＰＭＴ
９４が配置されている。なお、びん５０とホルダー１０
とは通常びん運搬キャリヤ６０　（第６図には図示され
ない）に保持されている。

第６図に示すように、ホルダー１０の大きさは、これが
静電気除去装置９０と通路９２とを通って下方に移動し
得る寸法に設定されている。静電気除去装置９０はイオ
ンに電荷を与えて、それらの帯電イオンをホルダー１０
又はびん５０上のイオンを中性化するための気流内に配
置するようにした高電圧発生装置である。従って、試料
は中性化されたのちにキャビティ９８内に向かって下降
する。

なお、以上においてこの発明を特定の実施例に基づいて
説明してきたが、当業者にはこの発明の精神と範囲内で
種々の変形と修正とが可能であることを了解されよう。

発明の効果 以上詳述したように、この発明よれば、大型びん用の大
きさのポジションを有するびん運搬キャリヤ内に小型び
んを収納するためのホルダーを配置するとともに、その
ホルダーに小型びん上の静電気を除去するだめのイオン
が通過し得る透孔部を形成したので、液体シンチレーシ
ョン計数器における測定精度を大幅に向上させることが
できるという優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明を具体化した一実施例を示すホルダー
の分解斜視図、第２図は同じ（拡大縦断面図、第３図は
ホルダー内に小型びんを収納した状態を示す斜視図、第
４図は小型びんの一部破断圧面図、第５図は異なる大き
さのびんを収納保持した状態を示すびん運搬キャリヤの
断面図、第６図はホルダー内に保持されたぴんと静電気
除去装置とを示す液体シンチレーション計数システムの
路体正面図である。 ホルダー・・・１０、頭部・・・２０、保持環・・・２
２、留め環・・・２４、中央開口部・・・２６、ボデー
部・・・３０、透孔部・・・３２，３４．３６、中央開
放部・・・３９、留め溝・・・４０、補助透孔部・・・
４２，４４．４６、支持ベース・・・４８、小型びん・
・・５０、大型びん・・・８０、静電気除去装置・・・
９０、光電子増倍管ＰＭＴ・・・９４゜

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、シンチレーション計数器内に配置される試料を入れ
   る大型びんを受ける大きさのびん運搬キャリヤ内に、前
   記試料を入れる小型びんを保持するためのびんホルダー
   であって、 前記大型びんとほぼ同じ大きさのボデー手段に、前記小
   型びんを収容保持するための中央開放部を設けるととも
   に、前記小型びんの表面上の静電気を除去するための帯
   電イオンの雰囲気が小型びんに向かって流れ得る大きさ
   の透孔部を形成したことを特徴とするシンチレーション
   計数器用の試料びんホルダー。 ２、内側に広がる環状の上面を形成する保持環及び留め
   環とを含む頭部を備えるとともに、前記ボデー手段はそ
   の上端部近傍に前記留め環を受け得る大きさの留め溝を
   有し、その留め溝と留め環との嵌合により前記頭部を前
   記ボデー手段に固定したことを特徴とする特許請求の範
   囲第１項に記載のシンチレーション計数器用の試料びん
   ホルダー。 ３、前記頭部には中央開口部が形成されるとともに、前
   記ボデー手段には支持ベースが設けられ、これら双方に
   よって小型びんがホルダーの中心に配置保持されること
   を特徴とする特許請求の範囲第２項に記載のシンチレー
   ション計数器用の試料びんホルダー。 ４、大型びん用に設けられたびん運搬キャリヤ内の小型
   びんに収容されたシンチレーション計数器用の試料を保
   持するとともに、その試料の検査に先立って前記小型び
   んが静電気除去装置を通過する際に、小型びんの表面上
   の静電気を除去してシンチレーション計数器の性能を維
   持するための装置であって、 びん運搬キャリヤ内に適合する大きさのホルダーに、小
   型びんを保持するための手段を設けるとともに、前記静
   電気除去装置により生成された帯電イオンを含む雰囲気
   が通過し得る透孔部を形成し、その透孔部を通って流れ
   る前記イオンが小型びんの表面上の静電気を中性化する
   ようにしたことを特徴とするシンチレーション計数装置
   。 ５、前記ホルダーは、 底部に形成された支持ベース、前記小型びんを収納する
   ために中心軸方向に延びるように形成された開放部、及
   び前記イオンの流れを許容するために外周面上に形成さ
   れた補助透孔部を含むほぼ円筒状のボデー部と、 そのボデー部の上端部に固定され、ボデー部の前記開放
   部よりも小さい直径を有するとともに、前記支持ベース
   と協働して前記小型びんをボデー部の前記開放部内に保
   持し得る大きさと位置とを有する中央開口部を備えた頭
   部と から構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
   ４項に記載のシンチレーション計数装置。 ６、前記頭部は留め環を備え、かつ前記ボデー部はその
   留め環を受ける大きさの留め溝を有し、留め環を留め溝
   に嵌合することによって頭部がボデー部に固定されてい
   ることを特徴とする特許請求の範囲第５項に記載のシン
   チレーション計数装置。 ７、測定室に配置されたびん内の試料の光学現象を測定
   するための装置と、試料の通過に伴い前記びん上の静電
   気を除去するための静電気除去装置と、前記びんをびん
   運搬キャリヤから取り出し前記静電気除去装置を通して
   前記測定室に送るための装置とを含むシステムであって
   、 標準寸法のびんを受ける大きさのびん運搬キャリヤ内に
   種々の大きさのびんを装着し得るとともに、より小型の
   びんを保持し得るホルダー手段に、前記静電気除去装置
   からの帯電イオンを含む雰囲気が前記小型びんに接触し
   得るように透孔部を形成して、前記帯電イオンとの接触
   により小型びん上の静電気が最小限となるようにしたこ
   とを特徴とするシンチレーション計数システム。