JPS6257176U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6257176U JPS6257176U JP14957285U JP14957285U JPS6257176U JP S6257176 U JPS6257176 U JP S6257176U JP 14957285 U JP14957285 U JP 14957285U JP 14957285 U JP14957285 U JP 14957285U JP S6257176 U JPS6257176 U JP S6257176U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring bar
- base
- panel
- wiring
- connector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を示す斜視図、第２
図は同平面図、第３図は従来を示す平面図である
。 １……ＢＴ炉用パネル、２……コネクタ、２ａ
……コネクタピン、３……配線バー保持ベース、
３ａ……配線バー受け溝、３ｂ……押え板、４…
…配線バー、５……取り付けネジ、６……ジヤン
パ線。
図は同平面図、第３図は従来を示す平面図である
。 １……ＢＴ炉用パネル、２……コネクタ、２ａ
……コネクタピン、３……配線バー保持ベース、
３ａ……配線バー受け溝、３ｂ……押え板、４…
…配線バー、５……取り付けネジ、６……ジヤン
パ線。
Claims (1)
- ＩＣバーイン装置のコネクタ実装パネルに配線
バー保持ベースを設け、該ベースに配線バーを支
持し、前記パネルに実装したコネクタのピンと配
線バーとをジヤンパ線により接続したことを特徴
とする配線バー保持具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14957285U JPS6257176U (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14957285U JPS6257176U (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6257176U true JPS6257176U (ja) | 1987-04-09 |
Family
ID=31064908
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14957285U Pending JPS6257176U (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6257176U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021113800A (ja) * | 2019-12-18 | 2021-08-05 | 株式会社クオルテック | 半導体試験装置及び半導体素子の試験方法 |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP14957285U patent/JPS6257176U/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021113800A (ja) * | 2019-12-18 | 2021-08-05 | 株式会社クオルテック | 半導体試験装置及び半導体素子の試験方法 |
| JP2024107246A (ja) * | 2019-12-18 | 2024-08-08 | 株式会社クオルテック | 半導体試験装置 |
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