JPS6258641A - 気相エピタキシヤル成長装置 - Google Patents

気相エピタキシヤル成長装置

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Publication number
JPS6258641A
JPS6258641A JP19823285A JP19823285A JPS6258641A JP S6258641 A JPS6258641 A JP S6258641A JP 19823285 A JP19823285 A JP 19823285A JP 19823285 A JP19823285 A JP 19823285A JP S6258641 A JPS6258641 A JP S6258641A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reservoir
temperature
gas
filled
epitaxial growth
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Pending
Application number
JP19823285A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Maruyama
研二 丸山
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS6258641A publication Critical patent/JPS6258641A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [概要] 本発明は、気相エピタキシャル成長装置であって、易蒸
発性元素の蒸気圧を正確に制御するために、易蒸発性元
素が充填されたリザーバ内に、温度が制御された気体を
流通する複数の毛細管を形成し、その毛細管中に所定の
温度の気体を通すことにより、リザーバ内で毛細管と接
合している易蒸発性元素の温度及び流量を制御して、適
切な温度調節することにより、リザーバの易蒸発性元素
の温度を制御して、適格な蒸発を行うよ・うにしたもの
である。
[産業上の利用分野] 本発明は、気相エピタキシャル成長に係り、特に易蒸発
性元素の温度調節方法に関するものである。
気相エピタキシャル成長方法は、結晶成長をさせる成分
を含む素材を気化し、その雰囲気中で成長基板を加熱し
て、成長基板表面に膜を形成するものであって、化合物
半導体の成膜をはじめ多くの膜成長に広く利用されてい
る。
例えば、赤外線レーザ等の材料に使用される水銀カドミ
ウム、テルル(HgCdTe)等を気相成長をする際に
は、水銀は極めて5茎発性の元素であるので、従来は易
蒸発性元素をリザーバに収納、これを成長アンプル内に
挿入し、リザーバを抵抗加熱によって水銀を蒸発をさせ
ている。
しかしながら、このリザーバは、リザーバに近い位置に
配置され、高温になっているサセプタからの照り返しに
より、リザーバの温度が影口を受けるという不都合があ
り、その改善が要望されている。
[従来の技術] 第4図は、従来の気相エピタキシャル成長装置の要部断
面図である。
気相エピクキシャル成長の一例として、カドミウムテル
ル(CdTe)基板上にHg Cd T e層を成長す
る場合について説明する。
石英で形成された成長アンプル1の内部に、カーボン製
のサセプタ2があり、サセプタ2上にCd T eの基
板3が載置されている。
成長アンプル内には、さらに水銀(Hg)を充填した石
英製のリザーバ5があり、Hgの温度を上昇するために
、ヒータ6が設けられ、ヒータ電源7によって、熱電対
10の信号により温度制御がなされている。
成長アンプルの外部には、基板加熱用の高周波誘導加熱
装置8があり、基板を所定の温度に加熱するようになっ
ている。
Hg Cd T e結晶を成長するには、反応ガスとし
て、ジメチルカドミウム((CH3) 2 Cd)を約
20Torr、ジエチルチルライド((C2H5) 2
 Te)を約10Torr、及びキャリヤガスとして水
素ガスをほぼ大気圧程度の圧力で供給する。
Hg蒸気は、リザーバをヒータ7によって加熱されるが
、約300℃の温度にすることにより、約70Torr
の圧力になる。
このようにして、基板3の温度を高周波誘導加熱装置8
で基板温度を500℃に加熱することにより、10μr
a / h rの成長速度で成膜がなされる。
このような従来方法では、特に水銀の蒸気圧の制御が必
要であるが、リザーバがサセプタの温度の影響を受けて
、一定温度に保持することが困難であり、そのためにH
gの蒸気圧が成長中に変動して、均一なHg Cd T
 eの成長が不可能であるという欠点がある。
[発明が解決しようとする問題点] 上記の従来の気相エピタキシャル成長方法では、成長ア
ンプル内の水銀を充填したリザーバの温度が変動すると
いうことが問題点である。
[問題点を解決するための手段] 本発明は、上記問題点を解決した気相エピタキシャル成
長装置を提供するもので、その解決の手段は、石英製の
気相成長アンプル内に、結晶成長を行う基板と、例えば
水銀のような易蒸発性材料を充填した石英製のリザーバ
と、反応ガスの供給孔を備え、易蒸発性元素を成長すべ
き化合物半導体の構成元素とした気相エピタキシャル成
長装置で、易蒸発性元素を充填したリザーバ内に、複数
本の気体流路用毛細管を配列して、その複数の気体流路
用毛細管内に温度が完全に制御されたガスを通過させ、
その流量を制御することにより、気体流路用毛細管の表
面温度を一定に維持し、その気体流路用毛細管の表面に
接する易蒸発性材料の温度を制御して、その蒸発量を制
御するようにしたものである。
[作用] 本発明は、易蒸発性元素を成長すべき化合物半導体の構
成元素とした気相エピタキシャル成長で、易蒸発性元素
を充填したリザーバが、直接加熱と、サセプタ等の近辺
の高温物体からの輻射熱との双方から加熱されるために
、正確な温度が保持されないのであるので、易蒸発性元
素を収納するリザーバ内に直接加熱または冷却体となる
、複数本の気体流路用毛細管を配列して、その複数の気
体流路用毛細管内に温度が完全に制御されたガスを通過
させ、そのifを制御することにより、易蒸発性材料は
、気体流路用毛細管との接触面積が大きくなるために、
易蒸発性材料の高感度の温度制御ができるようにして、
易蒸発性材料の蒸気圧を制御するものである。
[実施例] 第1図は、本発明の気相エピタキシャル成長装置の断面
図である。
成長アンプル11の内部に、カーボン製のサセプタ12
があり、サセプタ12上にCdTeの基板13が載置さ
れ、さらに水銀Hgを充填した石英製のりザーバ14が
ある。
リザーバ14の内部には、温度調整用ガスパイプ15と
接続されて複数の細管に分岐された気体流路用毛細管1
6が形成され、リザーバ14の出口ではこれらの分岐さ
れた気体流路用毛細管I6が、再び温度調整用ガスパイ
プ17で一本化される。
リザーバに充填されたHgの温度を制御する方法は、ガ
スの種類として窒素等のガスを送る高圧ボンベ18があ
り、これらのガスは流量制御装置19で適量の流量に制
御されるが、その制御とHgの温度を検出した熱電対2
0によってフィードバックされる。
即ちガスの流量を最適に調整することにより、水銀とガ
スの熱交換によって、リザーバに充填されたHgの温度
は極めて正確に制御できることになる。
第2図は、リザーバの側断面図であり、第3図は、その
正面断面図である。
水銀21を貫通して気体流路用毛細管16が形成されて
いることを示している。
[発明の効果コ 以上、詳細に述べたように、本発明の気相エピタキシャ
ル成長装置を採用することにより、易蒸発性元素の蒸気
圧を正確に制御するこたとができ、高精度のエピタキシ
ャル成長が可能になるという効果大なるものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の気相エピタキシャル成長装置の実施
例を示す断面図、 第2図は、本発明のリザーバの側断面図、第3図は、本
発明のリザーバの正面断面図、第4図は、従来の気相エ
ピタキシャル成長装置の要部断面図、 図において、 11は成長アンプル、  12はサセプタ、13は基板
、      14はリザーバ、15.17は温度調整
用ガスパイプ、 16は気体流路用毛細管、18は高圧ボンベ、19は流
量制御装置、  20は熱電対、21は水銀、 す発e万4五メ召Iと!りへ1シYル戒+k)f−遮ケ
1カ閲sl  @ 子発Eすqr +)7”バーn LrHJ mtliI
PA第 3 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 成長アンプル(11)内に、成長基板(13)と、易蒸
    発性材料(21)を充填したリザーバ(14)と、反応
    ガスの供給孔を具備し、該易蒸発性元素を化合物半導体
    の構成元素とする気相エピタキシャル成長装置において
    、 該易蒸発性元素を充填した該リザーバ(14)内に、複
    数本の気体流路用毛細管(16)を配置し、該複数の気
    体流路用毛細管(16)内を通過する気体の温度及び流
    量を制御することにより、上記易蒸発性材料の蒸発量を
    制御するようにしたことを特徴とする気相エピタキシャ
    ル成長装置。
JP19823285A 1985-09-06 1985-09-06 気相エピタキシヤル成長装置 Pending JPS6258641A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02248383A (ja) * 1989-03-22 1990-10-04 Nec Corp 熱起電力の検出方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH02248383A (ja) * 1989-03-22 1990-10-04 Nec Corp 熱起電力の検出方法

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