JPS6258735U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6258735U JPS6258735U JP14997785U JP14997785U JPS6258735U JP S6258735 U JPS6258735 U JP S6258735U JP 14997785 U JP14997785 U JP 14997785U JP 14997785 U JP14997785 U JP 14997785U JP S6258735 U JPS6258735 U JP S6258735U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- base material
- utility
- model registration
- measuring tape
- continuous pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例の粘着テープの斜視
図、第２図は本考案の他の実施例の粘着テープの
部分平面図である。 １：粘着テープ、２：基材、３：方眼目盛、４
：円形パターン。
図、第２図は本考案の他の実施例の粘着テープの
部分平面図である。 １：粘着テープ、２：基材、３：方眼目盛、４
：円形パターン。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 基材上に粘着材を塗布してなる清浄度測定テー
プにおいて、 前記基材に面積が規格化された連続模様を付し
たことを特徴とする清浄度測定テープ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14997785U JPS6258735U (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14997785U JPS6258735U (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6258735U true JPS6258735U (ja) | 1987-04-11 |
Family
ID=31065685
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14997785U Pending JPS6258735U (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6258735U (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012073160A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Toppan Printing Co Ltd | 塵埃モニター用キット、およびそれを用いた評価方法 |
| JP2012208080A (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-25 | Toppan Printing Co Ltd | 塵埃モニター用キット及びそれを用いた評価方法 |
| JP2014044135A (ja) * | 2012-08-28 | 2014-03-13 | Ntt-At Creative Corp | 検出対象物の測定方法 |
| JP2017535768A (ja) * | 2014-10-22 | 2017-11-30 | ジェデックス インコーポレイテッド | クリーンルームの表面粒子検出用試験フィルム |
-
1985
- 1985-10-02 JP JP14997785U patent/JPS6258735U/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012073160A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Toppan Printing Co Ltd | 塵埃モニター用キット、およびそれを用いた評価方法 |
| JP2012208080A (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-25 | Toppan Printing Co Ltd | 塵埃モニター用キット及びそれを用いた評価方法 |
| JP2014044135A (ja) * | 2012-08-28 | 2014-03-13 | Ntt-At Creative Corp | 検出対象物の測定方法 |
| JP2017535768A (ja) * | 2014-10-22 | 2017-11-30 | ジェデックス インコーポレイテッド | クリーンルームの表面粒子検出用試験フィルム |