JPS626213A - 光走査装置の走査光確認方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする問題点 問題点を解決するための手段　（第１図）作用 実施例 （ａ）第１の発明の詳細な説明 （第２図、第３図） 山）走査線位置調整の説明（第４図） （Ｃ）第２の発明の詳細な説明　（第５図）（ｄ）他の
実施例の説明 発明の効果 ［概要〕 可視光領域外の光を発生する光源の光を走査する光走査
装置において、光走査領域に可視光領域外の光に感応す
る感応部材を設けて、光走査による感応部材の感応状態
より光走査の状態を確認しうるようにしたものである。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、光源からの光を走査手段が光走査する光走査
装置における走査光の状態を確認する走査光確認方法に
関し、特に半導体レーザ等の可視光領域外の光を発する
光源を用いた光走査装置の走査光確認方法に関する。

光走査装置は電子写真方式を利用した印刷装置やバーコ
ード等を読取るための読取装置等に広く利用されている
。

例えば、第６図に示す電子写真一方式の印刷装置（以下
レーザープリンタと称す）においては、係る光走査装置
が用゛いられている。

即ち、光導電体（感光体）を表面に有する感光ドラム４
の周囲に感光ドラム４を一様に全面帯電する帯電器５、
現像器６、転写器７、除電ユニット８及びクリーナー９
が配置されて電子写真ユニットを構成するとともに、レ
ーザ光源１２、コリメータレンズ１３、ポリゴンミラー
（多面鏡）１４、Ｆ−θ（結像）レンズ１６によって露
光用光学ユニットを構成し、更に用紙ホッパｌ、繰出ト
ラクタ２、排出トラクタ３、定着器１０．スタッカ１１
によって用紙取扱いユニットを構成してなる。このよう
な電子写真式プリンタでは、レーザ光源であるレーザダ
イオード１２からの書込み像に応じて変調されたレーザ
光が、コリメータレンズ１３を介しスピンドルモータ（
サーボモータ）１５によって回転されるポリゴンミラー
１４によって光走査され、Ｆ−θレンズ１６を介して帯
電器５で帯電された感光ドラム４を露光する。これによ
って感光ドラム４上に静電潜像が形成され、現像粉とし
て２成分現像ζ、：；匁用いる現像器６で現像されて、
用紙ホッパ１より繰出しトラクタ２によって繰出され、
排出トラクタ３で排出送りされる連続用紙ＰＰに転写器
７によって現像粉像を転写せしめる。以降用紙ＰＰは定
着器１０によって定着され、スタッカ１１に収容され、
一方、感光ドラム４は除電ユニット８で除電された後ク
リーナー９でクリーニングされ、次の潜像形成に供され
る。

〔従来の技術〕

第６図の構成の光学ユニットは、第７図の詳細構成図お
よび第８図の光走査説明図に示ず如く、Ｆ−θレンズ１
６と走査面である感光ドラム４間に第１のミラー１７が
設けられ、Ｆ−θレンズ１６と感光ドラム４間の光路長
を長くとり、走査領域を拡大するように構成され、且つ
光走査幅の左端の光を第２のミラー１８で反射して基板
１９上のスタート検出用受光素子１９ａに導くように構
成して光走査の開始を検出しうるように構成している。

スピンドルモータ１５は、モータ制御回路を搭載したプ
リント板２０に接続され、定速回転制御され、一方レー
ザ光源１２は受光素子１９ａのスタート検出出力によっ
てプリント板２１の変調制御回路によって変調され、書
込み像に応じた光像を発生する。

このようなレーザ光源１２としては、半導体レーザで構
成され、小型、軽量化されているが、可視光領域の光を
発生するものは、現時点では、寿命が短く、冷却が必要
でしかも高価格のため使用が困難であり、安価で特性の
安定した赤外レーザ等の可視光領域外のレーザ光を発生
するレーザ光源が用いられている。

一方、係る光走査装置では、第９図（Ａ）に示す如く予
定の走査線ＳＬ上を光走査するように光学系、特に第１
のミラー１７、が調整されていないと、例えば、ＳＬ２
の如くずれていたり、ＳＬｌの如ぐ斜行（スキュー）し
たりして、所望の光走査が得られず、レーザープリンタ
等ではずれた印刷、斜行した印刷となる。

同様に、受光素子１９ａに・、“、２のミラー１８から
の反射光が受光されないと、スタート検出が不可となり
、第２のミラー１８の調整も必要となる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

このような走査光の状態を確認し、光学系の調整を行う
ことができるが、Ｈｅ−Ｎｅ　（発振波長６３２．８ｎ
ｍ）レーザやＡｒ（発振波長４８８ｎｍ）レーザの如く
半導体レーザでないガスレーザのものは、可視光領域の
レーザ光を発生するから、目視によって容易に走査光の
状態が確認できるが、大型で大電力を必要と−すること
から、前述の如く半導体レーザが用いられている。

しかしながら、半導体レーザは例えば波長が７６０ｎｍ
以上という近赤外或いは赤外光領域にあり、一点で集光
されている場合はともかく、走査されている状態では全
く目視による走査光の確認は困難である。このため、正
確に走査光を所望のものに調整することができないとい
う問題があった。

又、係る可視光領域の走査光を確認するために赤外線カ
メラ等の利用も考えられるが、高価で且つ装置内でこれ
を利用するのが困難であるという問題があった。

本発明は、係る可視光領域外の走査光の状態を容易に確
認しうる光走査装置の走査光確認方法を提供することを
目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理説明図であり、第１図（Ａ）は第
１の発明の原理説明図、第１図（Ｂ）は第２の発明の原
理説明図である。

図中、第６図から第８図によって示したものと同一のも
のは同一の記号で示してあり、２２は光走査面に設けら
れた感応部材であり、走査面全域に設けられ、可視光領
域外の光に感応して螢光（又は発光）又は発色する感光
材が設けられたもの。

である。

２４はスタート検出用基１ｔ”、　６二設けられた感応
部材であり、可視光領域外の光に感応して螢光（又は発
光）又は発色する感光材を有するものである。

〔作用〕

本発明の第１の発明では、走査面に（例えば感光ドラム
４の位置に、ドラム４の代りに）、感応部材２２を設置
する。これによって、レーザ光源１２からの光を光走査
系１７で走査して感応部材２２、即ち走査面を走査する
と、走査光によって感応部材２２の光照射部位が感応し
、例えば走査光の軌跡が螢光するから目視によって走査
光の状態が確認できる。

従って、可視光域外の光であっても目視で走査光の軌跡
が確認でき、例えば第１のミラー１７を調整して斜行（
スキュー）調整及び入射角（ずれ）調整ができる。

一方、第２の発明では、基板１９に感応部材２２を設け
ているので、第２のミラー１８を介するスタート検知用
反射光が基板１９の受光素子１９ａに対応する位置に入
射しているか否かを感応部材２２の螢光位置によって目
視で確認できる。従って、可視光域外の光であっても受
光素子１９ａが走査光の端部を受光しうるかを目視で確
認でき、例えば第２のミラー１８又は受光素子１９ａの
取付は位置を調整して正確なスタート検出を行えるよう
に設定しうる。

〔実施例〕

（ａ）第１の発明の詳細な説明 第２図は本発明の詳細な説明図、第３図は第２図におい
て用いられる走査光確認用治具の説明図である。

図中、第１図、第６図、第７図、第８図で示したものと
同一のものは同一の記号で示してあり、２３はスリット
板であり、感応部材２２の前面に設けられ、感応部材２
２と接続され、走査光確認用治具を構成するものである
。

第２図（Ａ）の如く、ドラム４に対してポリゴンミラー
１４からの走査光がＦ−θレンズ１６、第１のミラー１
７を介し入射するように光路が形成されており、走査光
位置が＋：；　）Ｈｙ　ｐ　ｐの転写器７からｉだけ離
れた回転位置ζご設定するものとすると、先づドラム４
の代りに走査光確認用治具をセソトし、スリット板２３
の後述するスリットをこの走査光位置に一致するように
且つドラム４の設定面４ａに係る治具をセットする。第
３図に示す如く治具は、感応部材２２にスリット板２３
を取付けたもので構成され、スリット板２３には、中央
の長いスリン）２３ａと両端の斜行検出用スリン）２３
ｂ、２３Ｇとで構成されており、感応部材２２には、ス
リット２３側に感応材が設けられた感応面２２ａを有し
ている。

従って、係る治具を、スリット２３をドラム面４ａに且
つ中央スリットを予定の走査線位置にセットし、レーザ
光源１２から光を発生し、ポリゴンミラー１４によって
光走査し、Ｆ−θレンズ１６、第１のミラー１７を介し
て走査光を照射すると、走査光が予定の走査線を横切る
ときだけ、中央スリン）２３ａを介し走査光が感応部材
２２の感応面２２ａに達し、第２図（Ｂ）の如く走査光
の軌跡を螢光として目視できる。

一方、第９図（Ａ）で示した如（走査光がＳＬ２の如く
予定の走査線位置からずれていれば、スリット板２３の
中央スリット２３ａ以外の部分に走査光が照射されるか
ら、走査光はスリット板２３の中央スリン）２３ａを通
過せず、感応面２２ａに軌跡の螢光は現われないので、
入射角（即ち、位置ずれ）を確認できる。

又、第９図（Ａ）の如く走査光がＳＬＩの如くスキュー
していれば斜行検出用スリン）２３ｂ。

２３ｃの両方を走査光が通過できないから、これらに対
応する感応面２２ａには軌跡の螢光は現われず、斜行検
出が目視によって可能となる。

従って、走査光がスリット板２３の全てのスリット２３
ａ、２３ｂ、２３ｃを通過し、これによって感応部材２
２の感応面２２ａにこれらに応じた走査光の軌跡が螢光
して目視できた時に予定の走査線上にあり、入射角が正
しく且つスキューも。

生じないものとなり、このような特性が得られるよう第
１のミラー１７を調整する。

（ｂ）走査線位置調整の説明 第４図は第１のミラーの４：°−構成図あり、係る入射
角、スキュー間接可能なミラーの構成図を示している。

図中、１７ａは反射ミラーであり、走査光を反射してド
ラム４へ導くもの、１７ｂは一対の軸であり、反射ミラ
ー１７ａの回転軸を構成するもの、１７Ｃはハウジング
であり、軸１７ｂを回転可能に支持するもの、１７ｄは
支持部であり、ハウジング１７ｃを支持するとともに両
端に支点１７ｈ及び長円１７ｅを有するもの、１７ｆは
ベースであり、支持部１７ｄを支持するためのもの、１
７ｇは締結ねじであり、ベース１７ｆに対し支持部１７
ｄを長円１７８を介し固定するものである。

即ち、第１のミラー１７は、一方のベース１７ｆに支持
部１７ｄが支点１７ｈによって固定され且つ他方のベー
ス１７ｆに支持部１７ｄが長円１７ｅを介しねじ１７ｇ
で固定されており、支持部１７ｄは支点１７ｈを中心に
長円１７ｅの範囲で回動可能である。又、反射ミラー１
７ａはハウジング１７ｃに対し軸１７ｂによって回転可
能である。

・従って、入射角の調整は、ハウジング１７ｃに支持さ
れた軸１７ｂのマイナスねし部をドライバーによって回
動させ、反射ミラー１７ａの角度を変化させて調整を行
い、一方スキューの調整は、支持部１７ｄのねじ１７ｇ
をゆるめて、支持部１７ｄを支点１７ｈを中心に長円１
７ｅの範囲で回動させることによって反射ミラー１７ａ
を長手方向に沿って回動させ、所望の位置でねじ１７ｇ
を締結して支持部１７ｄをベース１７ｆに固定すること
によって行う。この調整は、前述の治具の感応部材２２
の走査線軌跡を見ながら行う。

（Ｃ）第２の発明の詳細な説明 第５図は第２の発明の詳細な説明図であり、第２のミラ
ー１８とスタート検出用基板１９との関係を示しており
、第５図（Ａ）はその上面図、第５図（Ｂ）はその横面
図である。

図中、゛第１図、第７図、第８図、第９図で示したもの
と同一のものは同一の記号で示してあり、１９ｂは素子
搭載用基板であり、フォトダイオード等の受光素子１９
ａが搭載されるもの、１９Ｃは取付は板であり、素子搭
載用基板１９ｂがねじ等によって取付けられ、且つ下部
ベースに固定されるものである。

この実施例では、感応部材２４が素子搭載用基板１９ｂ
の受光素子１９２以下の部分及び受光素子１９ａの受光
面１９ａ′以外の部分に設けられている。

このため、第２のミラー１８を介する走査光の基板１９
ｂの照射位置は、感応部材２４の感応状態により目視に
よって確認しうる。

従って、第５図（Ａ）の如く、ミラー１８を回転させる
ことによってミラー１８からの反射光の横方向の調整が
でき、一方、第５図（Ｂ）の如く、基板１９ｂの取付は
板１９Ｃに対する取付は位置をずらすことによって縦方
向の調整ができる。

即ち、感応部材２４の感応状態を見ながら、ミ。

ラー１８の角度調整、基板１９ｂの取付は位置調整を行
うことによって、ミラー１８からの反射光を受光素子１
９ａに入射するように調整することができる。

このような素子搭載基板１９ｂ等に感応部材２４を設け
ておくことによって、更に実際の装置使用中にも正しく
スタート検出がされているかを確認することが可能とな
る。

又、他の実施例として、第１の発明と同様に、感応材を
設けた治具を取付は板に設け、予め反射光の照射位置を
感応材の螢光によって確認しておき、その位置に受光素
子１９ａが設けられるように基板１９ｂを取付けるよう
にしてもよく、横方向のずれは同様にミラー１８の角度
調整によって行う、又、係る治具に第１の発明と同様ス
リットを設けたものを用いてもよい。

（ｄｌ他の実施例の説明 上述の実施例では、電子写真式プリンタを例に説明した
が、読取り装置や光走査による光学計測機等にも適用で
きる。又、走査手段もポリゴンミラーに限られず、他の
周知の走査手段、例えばホログラムスキャナー等であっ
てもよい。

同様に可視光域外であれば、光源として赤外に限らず、
紫外光等にも用いることもできる。

更に、１つの装置に第７図の如く第１の発明と第２の発
明の両方を適用してもよい。

以上本発明を実施例により説明したが、本発明は本発明
の主旨に従い種々の変形が可能であり、本発明からこれ
らを排除するものではない。

〔発明の効果〕

以上説明した様に、本発明によれば、光走査装置におい
て、光源に可視光域外の光を発生するものを用いても、
走査光の状態が感応部材の感応によって目視で確認でき
るという効果を奏し、走査光の調整が容易となる。又、
第１の発明では、走査光の軌跡が目視で確認でき、入射
角やスキューの調整が容易となるという効果を奏し、第
２の発明では、走査光の端部光によるスタート検出が正
しく行われるかを目視で確認でき、受光素子への入射調
整が容易になるという効果も奏する。

更に、第１及び第２の発明とも実現が容易であり、簡易
に走査光の確認ができるという実用上優れた利点も奏す
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理説明図、 第２図は第１の発明の詳細な説明図、 第３図は第１の発明に用いられる走査光確認治具の説明
図、 第４図は走査光調整のためのミラーの説明図、第５図は
第２の発明の詳細な説明図、 第６図は電子写真式印刷装置の構成図、第７図は第６図
構成における光学ユニットの構成図、 第８図は第７図構成による光走査の説明図、第９図は従
来技術の問題点説明図である。 図中、１２・−・光源 １４−・光走査手段 ２２．２４・−感応部材 １９−・スタート検出素子。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）可視光領域外の光を発生する光源からの光を走査
   手段で走査して予定の光走査領域を光走査する光走査装
   置において、該予定の光走査領域に該可視光領域外の光
   に感応する感応部材を設け、該走査手段による光走査の
   状態を該感応部材の感応状態によって確認することを特
   徴とする光走査装置の走査光確認方法。
2. （２）可視光領域外の光を発生する光源からの光を走査
   手段で走査して予定の光走査領域を光走査するとともに
   該予定の光走査領域の端部の光を受けてスタート検出素
   子が走査開始を検出する光走査装置において、 該スタート検出素子の設けられる領域に該可視光領域外
   の光に感応する感応部材を設け、 該走査手段による、光走査領域の端部の光を該スタート
   検出素子が受光しうることを該感応部材の感応状態によ
   って確認することを特徴とする光走査装置の走査光確認
   方法。