JPS6263816A - 変位センサ - Google Patents
変位センサInfo
- Publication number
- JPS6263816A JPS6263816A JP26714984A JP26714984A JPS6263816A JP S6263816 A JPS6263816 A JP S6263816A JP 26714984 A JP26714984 A JP 26714984A JP 26714984 A JP26714984 A JP 26714984A JP S6263816 A JPS6263816 A JP S6263816A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical position
- displacement
- shielding plate
- light
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims abstract description 32
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 30
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 239000012776 electronic material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
に発明の技術分野】
この発明は、1次元の変位を電気信号に変換する変位セ
ンサに関するものである。
ンサに関するものである。
K従来の技術1
従来、この種のセンサとして代表的なものに、MvJ式
ポテンショメータがあった。これは、単に電圧を印加す
るだけで変位用に比例した電圧を得ることができ、使い
易いセンサと言うことができるが、次のような欠点も有
している。
ポテンショメータがあった。これは、単に電圧を印加す
るだけで変位用に比例した電圧を得ることができ、使い
易いセンサと言うことができるが、次のような欠点も有
している。
(1) 摺動式のため、摩擦力を生じ、被測定物の運動
に影響を与える。
に影響を与える。
(2) 摺動式のため、寿命が短い。
(3) 実用上の測定範囲は、高々数百mmである。
(4) 高価である。
摺動式−でない変位センサとして、差動トランス式や、
インダクタンス・キャパシタンスを利用したものもあり
、上記(1)、〈2)の欠点は除かれるが、これらはM
4造がより複雑になるため高価であり、測定範囲も広く
ならない。
インダクタンス・キャパシタンスを利用したものもあり
、上記(1)、〈2)の欠点は除かれるが、これらはM
4造がより複雑になるため高価であり、測定範囲も広く
ならない。
摺動接点を使わず、安価に製造できる装置として、第1
1図、第12図に示づ“ように、光源24と、光スポッ
トの当たった位置を検出する光位置検出素子20との間
に、スリット22aを穿設した遮光板22を配置し、こ
の遮光板22がアーム26を介して被測定物と一体とな
つて光位置検出素子20の検出方向すなわち測定すべき
変位の方向に運動するように構成された変位センサがあ
る。光位置検出素子2oとしては、半導体装置センサく
例えば、犬種、・山水、電子材料、Vol、 19.
NO,2,ρp、119〜124.1980)や、第1
3図に示すような光電式ポテンショメータ30等が使用
される。しかしながら、この装置では、測定範囲は光位
置検出素子20の検出範囲によって決められてしまい、
光電式ポテンショメータを使用する場合は数十1、半導
体装置センサを使用する場合は数mm程度が、実用上の
限界であった。また、例えば、1011111の変位を
測定するセンサと50m1+1の変位を測定するセンサ
とでは、それぞれ同程度の精度・分解能を得るためには
、別々の検出範囲を有する光位置検出素子を用いなけれ
ばならず、部品の共通化ができなかった。さらに、第1
4図に示すように、入出力特性は直線関係になり、直線
関係以外の任意の特性に設定することも不可能だった。
1図、第12図に示づ“ように、光源24と、光スポッ
トの当たった位置を検出する光位置検出素子20との間
に、スリット22aを穿設した遮光板22を配置し、こ
の遮光板22がアーム26を介して被測定物と一体とな
つて光位置検出素子20の検出方向すなわち測定すべき
変位の方向に運動するように構成された変位センサがあ
る。光位置検出素子2oとしては、半導体装置センサく
例えば、犬種、・山水、電子材料、Vol、 19.
NO,2,ρp、119〜124.1980)や、第1
3図に示すような光電式ポテンショメータ30等が使用
される。しかしながら、この装置では、測定範囲は光位
置検出素子20の検出範囲によって決められてしまい、
光電式ポテンショメータを使用する場合は数十1、半導
体装置センサを使用する場合は数mm程度が、実用上の
限界であった。また、例えば、1011111の変位を
測定するセンサと50m1+1の変位を測定するセンサ
とでは、それぞれ同程度の精度・分解能を得るためには
、別々の検出範囲を有する光位置検出素子を用いなけれ
ばならず、部品の共通化ができなかった。さらに、第1
4図に示すように、入出力特性は直線関係になり、直線
関係以外の任意の特性に設定することも不可能だった。
K発明の目的および主たる構成X
この発明の目的は、前記従来技術のもつ欠点を除き、一
部品量の交換のみで、測定範囲を広い範囲で自由に設定
でき、また、変位と出力どの関係も自由に設定でき、か
つ安価に製jΔできる変位センサを提供するところにあ
る。
部品量の交換のみで、測定範囲を広い範囲で自由に設定
でき、また、変位と出力どの関係も自由に設定でき、か
つ安価に製jΔできる変位センサを提供するところにあ
る。
この発明は、光位置検出素子を用いることで、非摺動式
とし、該素子の検出方向が、測定(べぎ変位の方向とこ
となるように配置されること、および、遮光板に測定す
べき変位の方向ずなわら遮光板の移動方向とも該素子の
検出方向とも異なる方向に細長くスリットを穿設するこ
とをもって、一部品量(遮光板)の交換のみで測定範囲
を広い範囲で自由に設定することを可能にし、スリット
の形状を直線状または曲線状にすることにより、変位と
出力との関係を直線関係以外にも自由に設定することを
可能にし、また、このように構成されているところから
、安価に製造することを可能にしたことを特徴とするも
のである。
とし、該素子の検出方向が、測定(べぎ変位の方向とこ
となるように配置されること、および、遮光板に測定す
べき変位の方向ずなわら遮光板の移動方向とも該素子の
検出方向とも異なる方向に細長くスリットを穿設するこ
とをもって、一部品量(遮光板)の交換のみで測定範囲
を広い範囲で自由に設定することを可能にし、スリット
の形状を直線状または曲線状にすることにより、変位と
出力との関係を直線関係以外にも自由に設定することを
可能にし、また、このように構成されているところから
、安価に製造することを可能にしたことを特徴とするも
のである。
K具体的実施例】
以下、実施例を示す図面を用いて、この発明の詳細な説
明する。
明する。
第1図は、この発明の第1実施例をの要部を示す側面図
、第2図は、第1実施例の要部を示すA−A−矢視図で
ある。光位置検出素子10は、発光素子14により光を
照射されている。それらの間に、スリット12aを穿設
した遮光板12が配置され、アーム16を介して被測定
物とともに測定すべき変位の方向に移動する構造となっ
ている。この図面では、各部品の支持や周囲光の影響を
妨げるための筐体は省いである。
、第2図は、第1実施例の要部を示すA−A−矢視図で
ある。光位置検出素子10は、発光素子14により光を
照射されている。それらの間に、スリット12aを穿設
した遮光板12が配置され、アーム16を介して被測定
物とともに測定すべき変位の方向に移動する構造となっ
ている。この図面では、各部品の支持や周囲光の影響を
妨げるための筐体は省いである。
光位置検出素子10の検出方向は遮光板12の移動方向
と直交している。光位置検出素子10のもつ感光部10
aのうちスリット12aと交差する部分のみに光が照射
され、その位置に応じた出力電圧が得られる。今、被測
定物の変位に伴い、遮光板12が矢印方向に移動すると
、感光部分10a上の光が当たる部分も移動するので、
第3図のような入出力関係が得られる。
と直交している。光位置検出素子10のもつ感光部10
aのうちスリット12aと交差する部分のみに光が照射
され、その位置に応じた出力電圧が得られる。今、被測
定物の変位に伴い、遮光板12が矢印方向に移動すると
、感光部分10a上の光が当たる部分も移動するので、
第3図のような入出力関係が得られる。
測定範囲を変える場合は、遮光板12の移動方向に対す
るスリット12aの角度および良さを変えればよい。測
定範囲を広くした例として、第4図に、第2実施例、第
5図に、その入出力関係を示す。
るスリット12aの角度および良さを変えればよい。測
定範囲を広くした例として、第4図に、第2実施例、第
5図に、その入出力関係を示す。
スリット12aの形状を直線状でなくすることにより、
任意の入出力関係を得ることができる。直線状でない例
として、第6図に第3実施例、第7図にその入出力関係
を示ず。
任意の入出力関係を得ることができる。直線状でない例
として、第6図に第3実施例、第7図にその入出力関係
を示ず。
以上の実施例では、測定すべき変位の方向づなわち遮光
板12の移動方向と光位置検出素子10の検出方向とが
直交しているが、必ずしも直交していなくてもよい。測
定すべき変位の方向、光位置検出素子10の検出方向、
J5よび、スリット12aの長径方向の3者が相互に異
なっていればよい。直交していない例として、第8図に
、第4実施例、第9図にその入出力関係を示す。
板12の移動方向と光位置検出素子10の検出方向とが
直交しているが、必ずしも直交していなくてもよい。測
定すべき変位の方向、光位置検出素子10の検出方向、
J5よび、スリット12aの長径方向の3者が相互に異
なっていればよい。直交していない例として、第8図に
、第4実施例、第9図にその入出力関係を示す。
また、光位置検出素子10の検出方向の変更によっても
、測定範囲を変えることができる。
、測定範囲を変えることができる。
に発明の効果】
この発明は、以上のように構成されているところから、
以下の効果を得ることができる。
以下の効果を得ることができる。
(1) 摺動式でないため、被測定物の運動に影響を与
えず、寿命が長い。
えず、寿命が長い。
(2) !先板のみの交換で、測定範囲を自由に変更
、設定できる。また、光位置検出素子の検出方向の変更
によっても測定範囲を変更できる。
、設定できる。また、光位置検出素子の検出方向の変更
によっても測定範囲を変更できる。
〈3) 変位と出力の関係を自由に設定できる。
(4) 安価に製造できる。
第1図は、この発明の第1実施例の要部を示す側面図、
第2図は、第1実施例の要部を示す八−A′矢視図、第
3図は、第1実施例の変位量と出力の関係を表わすグラ
フ、第4図は、この発明の第2実施例の要部を示す正面
図、第5図は、第2実施例の変位mと出力の関係を表わ
すグラフ、第6図は、この発明の第3実施例の要部を示
す正面図、第7図は、第3実施例の変位量と出力の関係
を表わすグラフ、第8図は、この発明の第4実施例の要
部を示す正面図、第9図は、第4実施例の変位量と出力
の関係を表わすグラフ、第11図は、従来例の要部を示
す側面図、第12図は、従来例の要部を示ずB−8’″
矢視図、第13図は光電式ポテンショメータを示す斜視
図、第14図は、従来例の変位量と出力の関係を示すグ
ラフである。 10は光位置検出素子、10aは感光部、12は遮光板
、12aはスリット、14は発光素子ぐある。 特許出願人 ジェコー株式会社 第1図 第3図 12aスリツト 第 4 図 第 5 図 第6図 手続補正閤(方式) 昭和61年 7月23日 2、考案の名称 変位センサ 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 争361ji玉県行田市富士見町1丁目4
11地14、補正命令の日付く発送日) 昭和61年 6月24日 (1) 同窓第8頁第4行目の「第11図は、」を次の
ように補正する。 「第10図は、」 (2) 回内第8頁第5行目の[第12図(よ、lを次
のように補正覆る。 「第11図は、」 (3) 同冑第8頁第6行目の「第13図(よ」を次の
ように補正1する。 「第12図は、」 (4) 同大第8頁第7行目の「第14図は1を次のよ
うに補正する。 「第13図は、」 (5) 図面の第11図の図の番号「第11図」を次の
ように補正づ−る。 「第10図」 (6) 図面の第12図の図の番号「第12図」を次の
ように補正づる。 「第11図」 (7) 図面の第13図の図の番号「第13図」を次の
ように補正づ−る。 「第12図」 (8) 図面の第14図の図の番号「第14図」を次の
ように補正り−る。 「第13図」 以上
第2図は、第1実施例の要部を示す八−A′矢視図、第
3図は、第1実施例の変位量と出力の関係を表わすグラ
フ、第4図は、この発明の第2実施例の要部を示す正面
図、第5図は、第2実施例の変位mと出力の関係を表わ
すグラフ、第6図は、この発明の第3実施例の要部を示
す正面図、第7図は、第3実施例の変位量と出力の関係
を表わすグラフ、第8図は、この発明の第4実施例の要
部を示す正面図、第9図は、第4実施例の変位量と出力
の関係を表わすグラフ、第11図は、従来例の要部を示
す側面図、第12図は、従来例の要部を示ずB−8’″
矢視図、第13図は光電式ポテンショメータを示す斜視
図、第14図は、従来例の変位量と出力の関係を示すグ
ラフである。 10は光位置検出素子、10aは感光部、12は遮光板
、12aはスリット、14は発光素子ぐある。 特許出願人 ジェコー株式会社 第1図 第3図 12aスリツト 第 4 図 第 5 図 第6図 手続補正閤(方式) 昭和61年 7月23日 2、考案の名称 変位センサ 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 争361ji玉県行田市富士見町1丁目4
11地14、補正命令の日付く発送日) 昭和61年 6月24日 (1) 同窓第8頁第4行目の「第11図は、」を次の
ように補正する。 「第10図は、」 (2) 回内第8頁第5行目の[第12図(よ、lを次
のように補正覆る。 「第11図は、」 (3) 同冑第8頁第6行目の「第13図(よ」を次の
ように補正1する。 「第12図は、」 (4) 同大第8頁第7行目の「第14図は1を次のよ
うに補正する。 「第13図は、」 (5) 図面の第11図の図の番号「第11図」を次の
ように補正づ−る。 「第10図」 (6) 図面の第12図の図の番号「第12図」を次の
ように補正づる。 「第11図」 (7) 図面の第13図の図の番号「第13図」を次の
ように補正づ−る。 「第12図」 (8) 図面の第14図の図の番号「第14図」を次の
ように補正り−る。 「第13図」 以上
Claims (1)
- 検出方向が、測定すべき変位の方向と一致しないように
配置された光位置検出素子と、その光位置検出素子の感
光部を照明するように対向して配置された発光素子、お
よび、光位置検出素子と発光素子との間に測定すべき変
位の方向に移動可能なように配置され、測定すべき変位
の方向とも光位置検出素子の検出方向とも異なる方向に
細長く穿設されたスリットを有する遮光板とからなる変
位センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26714984A JPS6263816A (ja) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | 変位センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26714984A JPS6263816A (ja) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | 変位センサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6263816A true JPS6263816A (ja) | 1987-03-20 |
Family
ID=17440765
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26714984A Pending JPS6263816A (ja) | 1984-12-18 | 1984-12-18 | 変位センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6263816A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0197806A (ja) * | 1987-10-09 | 1989-04-17 | Fuji Heavy Ind Ltd | 自動車用車高センサ |
| JPH0630745U (ja) * | 1993-07-12 | 1994-04-22 | ミミー電子有限会社 | 気圧計又は気圧高度計 |
| JP2014035192A (ja) * | 2012-08-07 | 2014-02-24 | Oki Data Corp | 媒体厚検出装置及び画像形成装置 |
| WO2018193499A1 (ja) * | 2017-04-17 | 2018-10-25 | 株式会社島津製作所 | フーリエ変換型赤外分光光度計 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5054352A (ja) * | 1973-09-10 | 1975-05-14 | ||
| JPS50158352A (ja) * | 1974-06-10 | 1975-12-22 |
-
1984
- 1984-12-18 JP JP26714984A patent/JPS6263816A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5054352A (ja) * | 1973-09-10 | 1975-05-14 | ||
| JPS50158352A (ja) * | 1974-06-10 | 1975-12-22 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0197806A (ja) * | 1987-10-09 | 1989-04-17 | Fuji Heavy Ind Ltd | 自動車用車高センサ |
| JPH0630745U (ja) * | 1993-07-12 | 1994-04-22 | ミミー電子有限会社 | 気圧計又は気圧高度計 |
| JP2014035192A (ja) * | 2012-08-07 | 2014-02-24 | Oki Data Corp | 媒体厚検出装置及び画像形成装置 |
| WO2018193499A1 (ja) * | 2017-04-17 | 2018-10-25 | 株式会社島津製作所 | フーリエ変換型赤外分光光度計 |
| JPWO2018193499A1 (ja) * | 2017-04-17 | 2020-01-09 | 株式会社島津製作所 | フーリエ変換型赤外分光光度計 |
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