JPS6266831A - 眼科用測定装置 - Google Patents
眼科用測定装置Info
- Publication number
- JPS6266831A JPS6266831A JP60209071A JP20907185A JPS6266831A JP S6266831 A JPS6266831 A JP S6266831A JP 60209071 A JP60209071 A JP 60209071A JP 20907185 A JP20907185 A JP 20907185A JP S6266831 A JPS6266831 A JP S6266831A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- index
- output
- reflection image
- corneal reflection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、被検眼角膜の反射率の差に影響されることな
く角膜形状を精度良く測定し得る角膜形状測定装置に関
するものである。
く角膜形状を精度良く測定し得る角膜形状測定装置に関
するものである。
[従来の技術]
一般にこの種の装置においては、照明光源としてキセノ
ン放電管から成るストロボが用いられ、このストロボに
一定のエネルギを入力して発光させ、所定の指標を照明
し、この指標を被検眼角膜−に投影することにより角膜
反射像を得て一次元ラインセンサ等で受光し、そこに結
像された形状を解析することにより、角膜形状に関する
各種の情報を得るようにしている。ところで、角膜の反
射率は被検眼によって差があり、約3〜4倍もの個人差
を有している。また、同一被検眼でも例えばまつ毛等に
より光が遮ぎられる等の外的原因だけでなく、生体を扱
っていることからくる内的変動によって、常に一定の反
射率を有するというわけにはゆかない。
ン放電管から成るストロボが用いられ、このストロボに
一定のエネルギを入力して発光させ、所定の指標を照明
し、この指標を被検眼角膜−に投影することにより角膜
反射像を得て一次元ラインセンサ等で受光し、そこに結
像された形状を解析することにより、角膜形状に関する
各種の情報を得るようにしている。ところで、角膜の反
射率は被検眼によって差があり、約3〜4倍もの個人差
を有している。また、同一被検眼でも例えばまつ毛等に
より光が遮ぎられる等の外的原因だけでなく、生体を扱
っていることからくる内的変動によって、常に一定の反
射率を有するというわけにはゆかない。
これらの角膜反射率の差が測定に与える影響は大きく、
特に小型・軽量・高信頼性等により近年、検出器として
一次元ラインセンサが主に用いられているが、この−次
元ラインセンサは入力光に対するダイナミックレンジが
相当に狭いという特性のために、上述の角膜反射率の差
をカバーすることができず、正確な測定値が得難いとい
う欠点を有している。
特に小型・軽量・高信頼性等により近年、検出器として
一次元ラインセンサが主に用いられているが、この−次
元ラインセンサは入力光に対するダイナミックレンジが
相当に狭いという特性のために、上述の角膜反射率の差
をカバーすることができず、正確な測定値が得難いとい
う欠点を有している。
そこで、通常はストロボに入力するエネルギを、角膜が
平均的反射率を有する場合に一次元ラインセンサの約半
分のレンジになるように設定し、約4倍のダイナミック
レンジを得るように工夫している。このようにして、−
次元ラインセンサで測定できる範囲を広くすることがで
きるが。
平均的反射率を有する場合に一次元ラインセンサの約半
分のレンジになるように設定し、約4倍のダイナミック
レンジを得るように工夫している。このようにして、−
次元ラインセンサで測定できる範囲を広くすることがで
きるが。
仮にダイナミックレンジ内で測定できた場合においても
、常に適正レベルで検出できるわけではないので、最高
と最低のレベル差によりS/N比も4借景上達ってくる
ことになり、このことが測定精度に及ぼす影響は無視で
きず、十分に精度の良い測定値が得られているとは云い
難い。
、常に適正レベルで検出できるわけではないので、最高
と最低のレベル差によりS/N比も4借景上達ってくる
ことになり、このことが測定精度に及ぼす影響は無視で
きず、十分に精度の良い測定値が得られているとは云い
難い。
[発明の目的]
本発明の目的は、被検眼の角膜からの指標反射像を受光
する受光手段を設け、受光手段の出力を処理することに
より、角膜反射率の差に影響されず、光検出器において
適正レベルの入力光量で測定を行うことが可能な眼科用
測定装置を提供することにある。
する受光手段を設け、受光手段の出力を処理することに
より、角膜反射率の差に影響されず、光検出器において
適正レベルの入力光量で測定を行うことが可能な眼科用
測定装置を提供することにある。
[発明の概要]
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、被検眼の
角膜に指標を投影し該指標の角膜反射像を結像する照明
光源を含む投影結像手段と、前記指標の角膜反射像を検
知し角膜形状に間する情報を得る光検出手段と、前記指
標の角膜反射像の少なくとも一部を受光する受光手段と
、該受光手段の出力信号を積分する積分手段と、該積分
手段の出力を設定値と比較する比較手段と、該比較手段
の出力により前記光検出手段に入力する前記指標の角膜
反射像の信号レベルを適正レベルに制御する制御手段と
を有することを特徴とする眼科用測定装置である。
角膜に指標を投影し該指標の角膜反射像を結像する照明
光源を含む投影結像手段と、前記指標の角膜反射像を検
知し角膜形状に間する情報を得る光検出手段と、前記指
標の角膜反射像の少なくとも一部を受光する受光手段と
、該受光手段の出力信号を積分する積分手段と、該積分
手段の出力を設定値と比較する比較手段と、該比較手段
の出力により前記光検出手段に入力する前記指標の角膜
反射像の信号レベルを適正レベルに制御する制御手段と
を有することを特徴とする眼科用測定装置である。
[発明の実施例]
本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す光学系及び電気系の構
成図であり、被検眼Eに対向して順次にコリメータ用リ
ングレンズ1、リング状ストロボ2が配列されており、
リングレンズ1の被検眼Eの反対側にはリング状スリッ
ト3が設けられている。また、被検眼Eの光軸上には、
対物レンズ4、可視光透過・赤外光反射のグイブロイツ
クミラー5.多数穴絞り6、プリズム7が配置され、多
数穴絞り6に対応する位置に一次元位置検出素子8が設
けられている。そして、多数穴絞り6の中心の被検眼E
側には受光センサ9が配置され、検出素子8の前面には
シリンドリカルレンズ10が配置されている。グイクロ
イックミラー5の反射側には、順次にリレーレンズ11
、TV右カメラ2が配され、TV右カメラ2の出力はT
Vモニタ13に接続されている。リングストロボ2には
ストロボトリガ回路14の出力が接続され、このストロ
ボトリガ回路14には受光センサ9、インタフェイス1
5、ストロボ電源回路16からの出力がそれぞれ接続さ
れ、インタフェイス15の出力はストロボ電源回路16
1表示器17に接続され、更にマイコンパス18の間で
信号の送受信を行うように接続されている。マイコンパ
ス18にはアナログ処理回路19、CPU20.ROM
21.RAM22がそれぞれ接続され、アナログ処理回
路19には検出素子8の出力が接続されている。
成図であり、被検眼Eに対向して順次にコリメータ用リ
ングレンズ1、リング状ストロボ2が配列されており、
リングレンズ1の被検眼Eの反対側にはリング状スリッ
ト3が設けられている。また、被検眼Eの光軸上には、
対物レンズ4、可視光透過・赤外光反射のグイブロイツ
クミラー5.多数穴絞り6、プリズム7が配置され、多
数穴絞り6に対応する位置に一次元位置検出素子8が設
けられている。そして、多数穴絞り6の中心の被検眼E
側には受光センサ9が配置され、検出素子8の前面には
シリンドリカルレンズ10が配置されている。グイクロ
イックミラー5の反射側には、順次にリレーレンズ11
、TV右カメラ2が配され、TV右カメラ2の出力はT
Vモニタ13に接続されている。リングストロボ2には
ストロボトリガ回路14の出力が接続され、このストロ
ボトリガ回路14には受光センサ9、インタフェイス1
5、ストロボ電源回路16からの出力がそれぞれ接続さ
れ、インタフェイス15の出力はストロボ電源回路16
1表示器17に接続され、更にマイコンパス18の間で
信号の送受信を行うように接続されている。マイコンパ
ス18にはアナログ処理回路19、CPU20.ROM
21.RAM22がそれぞれ接続され、アナログ処理回
路19には検出素子8の出力が接続されている。
そして、ストロボ電源回路16、ストロボトリガ回路1
4により駆動されたリングストロボ2から出射した光束
は、リング状スリット3を照明するようになっており、
このスリット3は光軸を含む一断面で見たときにリング
レンズlの焦点面上にあり、スリット3を光学的に無限
遠点にあるようにし、その無限遠点から投影された光が
被検眼Eの角膜Ecを照明するようにされている。角膜
Ecはその表面が凸面鏡のようになっているので、角膜
スリlEc上にスリット3によるリング状の角膜反射像
Saが形成されることになる。そして、この角膜反射像
Saを対物レンズ4を介して、グイクロイックミラー5
を透過する可視光と反射する赤外光とに分離される。グ
イクロイックミラー5により反射された光束は、リレー
レンズ11を介してTVカメラ12により撮像され、T
Vモニタ13上に映出され観察されるようになっている
。
4により駆動されたリングストロボ2から出射した光束
は、リング状スリット3を照明するようになっており、
このスリット3は光軸を含む一断面で見たときにリング
レンズlの焦点面上にあり、スリット3を光学的に無限
遠点にあるようにし、その無限遠点から投影された光が
被検眼Eの角膜Ecを照明するようにされている。角膜
Ecはその表面が凸面鏡のようになっているので、角膜
スリlEc上にスリット3によるリング状の角膜反射像
Saが形成されることになる。そして、この角膜反射像
Saを対物レンズ4を介して、グイクロイックミラー5
を透過する可視光と反射する赤外光とに分離される。グ
イクロイックミラー5により反射された光束は、リレー
レンズ11を介してTVカメラ12により撮像され、T
Vモニタ13上に映出され観察されるようになっている
。
一方、グイクロイックミラー5を透過した光束のうち、
光軸中心部を通る光束は受光センサ9に受光され、スト
ロボトリガ回路14に入力されるようになっている。こ
のとき、受光センサ9は測定光軸と平行な光束を受光す
る位置に配首されているため、リング状ストロボ2の照
明光の角膜反射像Saのみを受光するので、外乱光の影
響を殆ど受けることなく精度良い測光が可能となる。ま
た、グイクロイックミラー5を透過した光束のうち、受
光センサ9に受光されなかった光束は多数穴絞り6を通
り、更にプリズム7によって偏向され、光量の無駄をな
くすためのシリンドリカルレンズ10により集光され、
検出素子8上に再結像されるようになっている。
光軸中心部を通る光束は受光センサ9に受光され、スト
ロボトリガ回路14に入力されるようになっている。こ
のとき、受光センサ9は測定光軸と平行な光束を受光す
る位置に配首されているため、リング状ストロボ2の照
明光の角膜反射像Saのみを受光するので、外乱光の影
響を殆ど受けることなく精度良い測光が可能となる。ま
た、グイクロイックミラー5を透過した光束のうち、受
光センサ9に受光されなかった光束は多数穴絞り6を通
り、更にプリズム7によって偏向され、光量の無駄をな
くすためのシリンドリカルレンズ10により集光され、
検出素子8上に再結像されるようになっている。
多数穴絞り6は第2図(a)に示すように、例えば5個
の開口部6a〜6eを有し、プリズム7もこれらの開口
部6a〜6eに対応して、第2図(a)の点線で区分し
たような5個のエレメント7a〜7eを有し、各エレメ
ント7a〜7eは第2図(b)に示すような断面形状と
なっている。1個のみ図示した検出素子8は、実際には
多数穴絞り6の開口部6a〜7e、プリズムエレメント
7a〜7eに対応して測定光軸を中心に72°おきに5
個配置されており、多数穴絞り6とプリズム7とによっ
て分離された5個の角膜反射像Saの5点の座標が、5
個の検出素子8によって検知されることになる。そして
、各検出素子8から出力されたアナログ信号は、アナロ
グ処理回路19でA/D変換され、マイコンパス18を
介してRAM22に転送される。
の開口部6a〜6eを有し、プリズム7もこれらの開口
部6a〜6eに対応して、第2図(a)の点線で区分し
たような5個のエレメント7a〜7eを有し、各エレメ
ント7a〜7eは第2図(b)に示すような断面形状と
なっている。1個のみ図示した検出素子8は、実際には
多数穴絞り6の開口部6a〜7e、プリズムエレメント
7a〜7eに対応して測定光軸を中心に72°おきに5
個配置されており、多数穴絞り6とプリズム7とによっ
て分離された5個の角膜反射像Saの5点の座標が、5
個の検出素子8によって検知されることになる。そして
、各検出素子8から出力されたアナログ信号は、アナロ
グ処理回路19でA/D変換され、マイコンパス18を
介してRAM22に転送される。
このようにして、受光センサ9及び検出素子8によって
得られた情報は、CPU20を中心としたシステム制御
系で演算されることになるが、ROM21にはシステム
制御のためのソフトウェアが書き込まれており、RAM
22がシステムのワークエリアとして使用される。そし
て、ストロボトリガ回路14に入力された受光センサ9
の出力及びインタフェイス15の出力により、ストロボ
トリガ回路14によって個々の被検眼Eについてリング
状ストロボ2の発光光量が適正に設定され、適正な発光
光量によって得られた適正光量の角膜反射像Saを検出
素子8によって入力することにより、得られたデータは
cptyzolから成るシステム制御系により演算され
、表示器17に表示されることになる。
得られた情報は、CPU20を中心としたシステム制御
系で演算されることになるが、ROM21にはシステム
制御のためのソフトウェアが書き込まれており、RAM
22がシステムのワークエリアとして使用される。そし
て、ストロボトリガ回路14に入力された受光センサ9
の出力及びインタフェイス15の出力により、ストロボ
トリガ回路14によって個々の被検眼Eについてリング
状ストロボ2の発光光量が適正に設定され、適正な発光
光量によって得られた適正光量の角膜反射像Saを検出
素子8によって入力することにより、得られたデータは
cptyzolから成るシステム制御系により演算され
、表示器17に表示されることになる。
第3図はストロボトリガ制御回路14の回路図であり、
正負電源間に介挿された充電用コンデンサC1に対しリ
ング状ストロボ2とサイリスタSlの直列回路及び抵抗
R1とサイリスタS2の直列回路とが並列に接続されて
いる。また、サイリスタS1と並列に抵抗R2が接続さ
れ、サイリスタS1. S2の陽極同志がコンデンサC
2を介して接続されている。
正負電源間に介挿された充電用コンデンサC1に対しリ
ング状ストロボ2とサイリスタSlの直列回路及び抵抗
R1とサイリスタS2の直列回路とが並列に接続されて
いる。また、サイリスタS1と並列に抵抗R2が接続さ
れ、サイリスタS1. S2の陽極同志がコンデンサC
2を介して接続されている。
そして、ストロボ2に対しインタフェイス15からの入
力によりトリガを発し、サイリスタSlを作動させるト
リガ回路31が、ストロボ2及びサイリスタSlに接続
され、受光センサ9からの信号は増幅器32に入力され
ている。増幅器32の出力は積分器33に接続され、積
分器33の出力は比較器34及びホールド回路35に接
続されている、比較器34の出力はサイリスタS2を作
動させるトリガ回路36、可変抵抗VR、ホールド回路
35に接続され、トリガ回路36はサイリスタS2に接
続されている。
力によりトリガを発し、サイリスタSlを作動させるト
リガ回路31が、ストロボ2及びサイリスタSlに接続
され、受光センサ9からの信号は増幅器32に入力され
ている。増幅器32の出力は積分器33に接続され、積
分器33の出力は比較器34及びホールド回路35に接
続されている、比較器34の出力はサイリスタS2を作
動させるトリガ回路36、可変抵抗VR、ホールド回路
35に接続され、トリガ回路36はサイリスタS2に接
続されている。
インタフェイス15の出力によりトリガ回路31を介し
てストロボ2を発光させ測定を開始すると、受光センサ
9からの信号は増幅器32により増幅された後に積分器
33により積分され、この時点の積分値はホールド回路
にホールドされる0発光後に積分a33の出力は、ホー
ルド回路35の信号と可変抵抗VRとの和によって設定
された設定値と比較器34で比較され、積分値が設定値
と一致した時点で比較器34からトリガ回路36に発光
停止信号が出力される。
てストロボ2を発光させ測定を開始すると、受光センサ
9からの信号は増幅器32により増幅された後に積分器
33により積分され、この時点の積分値はホールド回路
にホールドされる0発光後に積分a33の出力は、ホー
ルド回路35の信号と可変抵抗VRとの和によって設定
された設定値と比較器34で比較され、積分値が設定値
と一致した時点で比較器34からトリガ回路36に発光
停止信号が出力される。
受光センサ9は測定光軸と平行な光束を受光する位置に
配され、外乱光の影響をできるだけ排除するようにして
いるが、ストロボ2の発光直前の受光センサ9の積分値
と可変抵抗VRとの和を設定値とすることにより、更に
ストロボ2による照明光以外の周囲の外光の影響を少な
くすることができる。即ち、第4図の縦軸を受光センサ
9で受光した光量の積分値とし、横軸を時間軸で表した
ストロボトリガ回路14の動作説明図において、t。
配され、外乱光の影響をできるだけ排除するようにして
いるが、ストロボ2の発光直前の受光センサ9の積分値
と可変抵抗VRとの和を設定値とすることにより、更に
ストロボ2による照明光以外の周囲の外光の影響を少な
くすることができる。即ち、第4図の縦軸を受光センサ
9で受光した光量の積分値とし、横軸を時間軸で表した
ストロボトリガ回路14の動作説明図において、t。
を測定開始時点、tlをストロボ発光開始時点、t2を
発光停止時点とすると、周囲の外光の影響を受けない場
合には受光センサ9が受光した光量の積分値はAのよう
になり、測定開始時点toからストロボ発光時点tlま
では受光センサ9には外光が入力されないので積分値は
増加せず、発光開始時黒目から急上昇し適正レベルL1
で発光が停止されることになる。
発光停止時点とすると、周囲の外光の影響を受けない場
合には受光センサ9が受光した光量の積分値はAのよう
になり、測定開始時点toからストロボ発光時点tlま
では受光センサ9には外光が入力されないので積分値は
増加せず、発光開始時黒目から急上昇し適正レベルL1
で発光が停止されることになる。
一方、受光センサ9に直接外乱光が入る場合にはBで示
すように、測定開始時点toからストロボ発光時点t1
までΔLだけ積分値が上昇し、時点t1から時点t2ま
ではAと同じ傾斜で積分値が上昇することになり、時点
t2において(Ll+ΔL)の信号レベルが得られるこ
とになる。この場合に、適正レベルL1で比較した場合
には2検出素子8に受光される角膜反射像Saの信号は
(Li−ΔL)となり、外乱光がない場合に比してΔL
だけ小さくなり、ΔLがバックグラウンドノイズとなっ
てS/N比の低下を招く、従って、時点t1での積分値
を一時的にホールド回路35にホールドし、LlとΔL
を加算したレベルで比較すれば、検出素子8上の反射像
Saの信号レベルは(Ll+ΔL)−ΔL=L1となり
、外乱光が無い場合と同様となって精度の低下を防止す
ることができる。
すように、測定開始時点toからストロボ発光時点t1
までΔLだけ積分値が上昇し、時点t1から時点t2ま
ではAと同じ傾斜で積分値が上昇することになり、時点
t2において(Ll+ΔL)の信号レベルが得られるこ
とになる。この場合に、適正レベルL1で比較した場合
には2検出素子8に受光される角膜反射像Saの信号は
(Li−ΔL)となり、外乱光がない場合に比してΔL
だけ小さくなり、ΔLがバックグラウンドノイズとなっ
てS/N比の低下を招く、従って、時点t1での積分値
を一時的にホールド回路35にホールドし、LlとΔL
を加算したレベルで比較すれば、検出素子8上の反射像
Saの信号レベルは(Ll+ΔL)−ΔL=L1となり
、外乱光が無い場合と同様となって精度の低下を防止す
ることができる。
このようにして適正レベルL1が得られると、上述した
ように比較器34からトリガ回路36に発光停止信号が
出力され、トリガ回路36はサイリスタS2を導通し、
転流用コンデンサC2に充電された電荷を、サイリスタ
S2を介してサイリスタS1へ逆方向に流すことにより
、サイリスタS1を非導通にしス)・ロポ2の発光を停
止させる。このとき、検出素子8には角膜反射像Saが
ダイナミックレンジの適正レベルまで蓄積され、蓄積さ
れた信号はアナログ処理回路19を通して制御システム
系内のRAM22に取り込まれ、角膜反射像Saの主径
線方向の座標が求められ、楕円近似法により演算される
ことにより、被検眼Eの角膜Ecの形状、即ち最大・最
小曲率半径、乱視度、乱視軸角度等が求められる。
ように比較器34からトリガ回路36に発光停止信号が
出力され、トリガ回路36はサイリスタS2を導通し、
転流用コンデンサC2に充電された電荷を、サイリスタ
S2を介してサイリスタS1へ逆方向に流すことにより
、サイリスタS1を非導通にしス)・ロポ2の発光を停
止させる。このとき、検出素子8には角膜反射像Saが
ダイナミックレンジの適正レベルまで蓄積され、蓄積さ
れた信号はアナログ処理回路19を通して制御システム
系内のRAM22に取り込まれ、角膜反射像Saの主径
線方向の座標が求められ、楕円近似法により演算される
ことにより、被検眼Eの角膜Ecの形状、即ち最大・最
小曲率半径、乱視度、乱視軸角度等が求められる。
上述した実施例は受光センサ9の出力に基づいてリング
ストロボ2の発光光量を制御するようにしたが、受光セ
ンサ9の出力に基づいて検出素子8の蓄積時間を制御す
るようにしても同様の効果が得られる。即ち、第3図で
示したストロボトリガ制御回路14のうち、増幅器32
、積分器33、比較器34、ホールド回路35、可変抵
抗VRだけを使用し、比較器34の出力をトリガ回路3
6を介してサイリスタS2に入力する代りに、インタフ
ェイス15に入力されるように接続すればよい、その他
は先の実施例と同様に構成され、測定が開始されリング
ストロボ2が発光されると、先の実施例と同様に受光セ
ンサ9からの信号が増幅器32により増幅された後に積
分器33により積分され、比較器34により可変抵抗V
Rとストロボ2の発光直前までに受光センサ9の積分値
をホールドしていたホールド回路35の信号との和によ
って設定された設定値と比較され、設定値と一致した時
点で比較器34からインタフェイス15に信号が出力さ
れ、マイコンパス18を介してアナログ処理回路19で
蓄積時間の制御を行うことになる。
ストロボ2の発光光量を制御するようにしたが、受光セ
ンサ9の出力に基づいて検出素子8の蓄積時間を制御す
るようにしても同様の効果が得られる。即ち、第3図で
示したストロボトリガ制御回路14のうち、増幅器32
、積分器33、比較器34、ホールド回路35、可変抵
抗VRだけを使用し、比較器34の出力をトリガ回路3
6を介してサイリスタS2に入力する代りに、インタフ
ェイス15に入力されるように接続すればよい、その他
は先の実施例と同様に構成され、測定が開始されリング
ストロボ2が発光されると、先の実施例と同様に受光セ
ンサ9からの信号が増幅器32により増幅された後に積
分器33により積分され、比較器34により可変抵抗V
Rとストロボ2の発光直前までに受光センサ9の積分値
をホールドしていたホールド回路35の信号との和によ
って設定された設定値と比較され、設定値と一致した時
点で比較器34からインタフェイス15に信号が出力さ
れ、マイコンパス18を介してアナログ処理回路19で
蓄積時間の制御を行うことになる。
第5図はこの場合のタイミング図であり、横軸は時間軸
を、Cはストロボ2の発光光量を、Dは検出素子8の光
蓄積時間をそれぞれ表している。
を、Cはストロボ2の発光光量を、Dは検出素子8の光
蓄積時間をそれぞれ表している。
ストロボ2の発光光量Cは常に一定光量に設定され、検
出素子8の光蓄積時間が個々の被検眼に合うように制御
されるようになっている0例えば、第5図では受光セン
サ9の出力を演算処理した結果、光蓄積時間t3が決定
され1時間t3間だけ角膜反射像Saからの光束を取り
込むことにより、適正レベルの入力光信号を得ることが
でき、先の実施例と同様に正確な測定値を得ることがで
きる。
出素子8の光蓄積時間が個々の被検眼に合うように制御
されるようになっている0例えば、第5図では受光セン
サ9の出力を演算処理した結果、光蓄積時間t3が決定
され1時間t3間だけ角膜反射像Saからの光束を取り
込むことにより、適正レベルの入力光信号を得ることが
でき、先の実施例と同様に正確な測定値を得ることがで
きる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明に係る眼科用測定装置は、測
定光軸と平行な角膜反射像の少なくとも一部を受光でき
る受光センサを配置し、受光センサの出力を積分器によ
り積分し、比較器によって比較することにより、角膜反
射像を検出する検出素子における入射光量が適正レベル
であるか否かを判別することができる。また、ストロボ
発光光量制御手段を設は適正レベルに達した時点でリン
グ状ストロボに通電している電流を阻止しストロボの発
光を停止させるか、或いは検出素子の光蓄積時間制御手
段を設は適正レベルに達した時点で検出素子の光蓄積を
終了することにより、個々の被検眼に即した発光光量を
与え、不必要に余分な発光光量を与えて被検眼に悪影響
を及ぼすことなく、或いは被検眼に即した光蓄積時間を
与え、被検眼の動き等に影響されることなく測定するこ
とが可能である。更に、被検眼の角膜反射率の差に影舌
されずに、常に検出素子において適正レベルの入射光量
を得ることができ、被検眼の個体差により測定精度の低
下のない安定した測定を可能としている。
定光軸と平行な角膜反射像の少なくとも一部を受光でき
る受光センサを配置し、受光センサの出力を積分器によ
り積分し、比較器によって比較することにより、角膜反
射像を検出する検出素子における入射光量が適正レベル
であるか否かを判別することができる。また、ストロボ
発光光量制御手段を設は適正レベルに達した時点でリン
グ状ストロボに通電している電流を阻止しストロボの発
光を停止させるか、或いは検出素子の光蓄積時間制御手
段を設は適正レベルに達した時点で検出素子の光蓄積を
終了することにより、個々の被検眼に即した発光光量を
与え、不必要に余分な発光光量を与えて被検眼に悪影響
を及ぼすことなく、或いは被検眼に即した光蓄積時間を
与え、被検眼の動き等に影響されることなく測定するこ
とが可能である。更に、被検眼の角膜反射率の差に影舌
されずに、常に検出素子において適正レベルの入射光量
を得ることができ、被検眼の個体差により測定精度の低
下のない安定した測定を可能としている。
図面は本発明に係る眼科用測定装置の実施例を示すもの
であり、第1図はその構成図、第2図(a)は多数穴絞
りの正面図、(b)はプリズムの断面図、第3図はスト
ロボトリガ制御回路の構成図、第4図はストロボトリガ
制御回路の動作説明図、第5図はタイミング図である。 符号1はリングレンズ、2はリングストロボ、3はリン
グスリット、4は対物レンズ、5はグイクロイックミラ
ー、6は多数穴絞り、7はプリズム、8は検出素子、9
は受光センサ、10はシリンドリカルレンズ、12はT
Vカメラ、13はTVモニタ、14はストロボトリガ制
御回路、15はインタフェイス、16はストロボ電源回
路、17は表示器、19はアナログ処理回路、20はC
PU、21はROM、22はRAM、31.36はトリ
ガ回路、32は増幅器、33は積分器、34は比較器、
35はホールド回路である。 特許出願人 キャノン株式会社 第1図 第2図
であり、第1図はその構成図、第2図(a)は多数穴絞
りの正面図、(b)はプリズムの断面図、第3図はスト
ロボトリガ制御回路の構成図、第4図はストロボトリガ
制御回路の動作説明図、第5図はタイミング図である。 符号1はリングレンズ、2はリングストロボ、3はリン
グスリット、4は対物レンズ、5はグイクロイックミラ
ー、6は多数穴絞り、7はプリズム、8は検出素子、9
は受光センサ、10はシリンドリカルレンズ、12はT
Vカメラ、13はTVモニタ、14はストロボトリガ制
御回路、15はインタフェイス、16はストロボ電源回
路、17は表示器、19はアナログ処理回路、20はC
PU、21はROM、22はRAM、31.36はトリ
ガ回路、32は増幅器、33は積分器、34は比較器、
35はホールド回路である。 特許出願人 キャノン株式会社 第1図 第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、被検眼の角膜に指標を投影し該指標の角膜反射像を
結像する照明光源を含む投影結像手段と、前記指標の角
膜反射像を検知し角膜形状に関する情報を得る光検出手
段と、前記指標の角膜反射像の少なくとも一部を受光す
る受光手段と、該受光手段の出力信号を積分する積分手
段と、該積分手段の出力を設定値と比較する比較手段と
、該比較手段の出力により前記光検出手段に入力する前
記指標の角膜反射像の信号レベルを適正レベルに制御す
る制御手段とを有することを特徴とする眼科用測定装置
。 2、前記制御手段は前記照明光源の発光駆動電流を前記
比較手段の出力によって制御することにより、前記指標
の角膜反射像の信号レベルを制御する発光光量制御手段
とした特許請求の範囲第1項に記載の眼科用測定装置。 3、前記光検出手段を光蓄積型素子とし、前記制御手段
は前記比較手段の出力によって前記光検出手段の光蓄積
時間を制御することにより、前記指標の角膜反射像の信
号レベルを制御する光蓄積時間制御手段とした特許請求
の範囲第1項に記載の眼科用測定装置。 4、前記受光手段は前記指標の角膜反射像の測定光軸と
平行な光束の少なくとも一部を受光する位置に配置する
ようにした特許請求の範囲第1項に記載の眼科用測定装
置。 5、前記設定値は前記照明光源発光直前の前記受光手段
の積分値と所定値との和とした特許請求の範囲第1項に
記載の眼科用測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60209071A JPS6266831A (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | 眼科用測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60209071A JPS6266831A (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | 眼科用測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6266831A true JPS6266831A (ja) | 1987-03-26 |
Family
ID=16566769
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60209071A Pending JPS6266831A (ja) | 1985-09-20 | 1985-09-20 | 眼科用測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6266831A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6434322A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-03 | Topcon Corp | Fundus camera |
-
1985
- 1985-09-20 JP JP60209071A patent/JPS6266831A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6434322A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-03 | Topcon Corp | Fundus camera |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH09507392A (ja) | 掌寸大自動屈折率測定器およびその眼底の位相幾何学的写像装置 | |
| US6324420B1 (en) | Blood vessel tracking apparatus | |
| US5031623A (en) | Non-contact tonometer | |
| US6749302B2 (en) | Afocal position detection system and ophthalmic instrument employing said system | |
| JP3016499B2 (ja) | 角膜形状測定装置 | |
| JPS6324383B2 (ja) | ||
| JPS6266831A (ja) | 眼科用測定装置 | |
| JPH02264632A (ja) | 視線検出装置 | |
| JPS6266830A (ja) | 角膜形状測定装置 | |
| JP2677393B2 (ja) | 視線検出装置 | |
| JP3206936B2 (ja) | 眼屈折計 | |
| JP3625323B2 (ja) | 眼科装置 | |
| JPS61293423A (ja) | 眼測定装置 | |
| US5694198A (en) | Apparatus including waveform rectifying means and method for eye examination | |
| JP2787489B2 (ja) | 視線検出装置 | |
| JPH0430296B2 (ja) | ||
| JP2830168B2 (ja) | 視線検出装置 | |
| JPH0556922A (ja) | 眼屈折計 | |
| JPH04174639A (ja) | 角膜曲率測定装置 | |
| JP2002360516A (ja) | 眼科装置 | |
| JPH02136124A (ja) | 視野計 | |
| JPH02252437A (ja) | 眼屈折力測定装置 | |
| JPH0373128A (ja) | 眼屈折計 | |
| JP2568587B2 (ja) | エアパフ型眼圧計 | |
| JPH02167134A (ja) | 非接触眼圧計 |