JPS6269111A - 反射型傾き検出素子 - Google Patents
反射型傾き検出素子Info
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- JPS6269111A JPS6269111A JP60208787A JP20878785A JPS6269111A JP S6269111 A JPS6269111 A JP S6269111A JP 60208787 A JP60208787 A JP 60208787A JP 20878785 A JP20878785 A JP 20878785A JP S6269111 A JPS6269111 A JP S6269111A
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- Japan
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- reflected
- light emitting
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- reflective
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、反射光によって物体の傾きの程度を検出す
ることができる小型の反射型傾き検出素子に関するもの
である。
ることができる小型の反射型傾き検出素子に関するもの
である。
この発明の反射型傾き検出素子は、拡散光源と、この拡
散光源と所定の距雛だけ摩れた両側辺に配置された受光
素ｒ−を共通のノ、（台ヒに搭載し。
散光源と所定の距雛だけ摩れた両側辺に配置された受光
素ｒ−を共通のノ、（台ヒに搭載し。
これらを例えば透明な樹脂等によって一体成形した保護
体で覆い、かつ前記保護体の上部には平行光線に近似し
た光束が放出されるよう曲面を成形したものである。
体で覆い、かつ前記保護体の上部には平行光線に近似し
た光束が放出されるよう曲面を成形したものである。
したがって、検出素ｒ−全体がきわめてコンパクトとな
り、軽Ｊｉｉ化されるため、種々の傾き検出に利用でき
、検出感度を安定化させることができる。
り、軽Ｊｉｉ化されるため、種々の傾き検出に利用でき
、検出感度を安定化させることができる。
反射光を利用して物体の傾きを検出する装置としては種
々の形状のものが提案されているが、例えば光ディスク
のＩＩｆ生装置におけるディスクのスキュー検出等に利
用するものは、光ディスクの情報゛を読みとるピックア
ップに搭載することが必要になるから高精度で、かつ、
小型化のものが黄請されることになる。
々の形状のものが提案されているが、例えば光ディスク
のＩＩｆ生装置におけるディスクのスキュー検出等に利
用するものは、光ディスクの情報゛を読みとるピックア
ップに搭載することが必要になるから高精度で、かつ、
小型化のものが黄請されることになる。
第６図（ａ）、（ｂ）は本出願人が先に提案した光７式
ディスク１１生装置（特願昭５８−１４０１３９号）に
おけるスキュー検出用の装置の側面及びＸ−Ｘ線の１−
而の概要を示す図である。
ディスク１１生装置（特願昭５８−１４０１３９号）に
おけるスキュー検出用の装置の側面及びＸ−Ｘ線の１−
而の概要を示す図である。
この図において、１０は図示しない光学ピッグア、・ブ
に配置されている筒状体のハウジングをＩｉぺし、この
ハウジング１０の上面には光ディスクに対接する位置に
レンズ１１が内定されている。
に配置されている筒状体のハウジングをＩｉぺし、この
ハウジング１０の上面には光ディスクに対接する位置に
レンズ１１が内定されている。
又、ハウジング１０の底面には矩形状をした発光ダイオ
ード等からなる光源１２及び、天場′市池等からなる光
検出器１３が設けられており、これらは第６図（ｂ）の
Ｌ面図によく表わされているように光源１２は底面の１
分に矩形状の発光部を形成するように構成され、又、光
検出器１３は、中央で２分；！Ａされた２枚の受光部１
３Ａ、１３Ｂとされている。
ード等からなる光源１２及び、天場′市池等からなる光
検出器１３が設けられており、これらは第６図（ｂ）の
Ｌ面図によく表わされているように光源１２は底面の１
分に矩形状の発光部を形成するように構成され、又、光
検出器１３は、中央で２分；！Ａされた２枚の受光部１
３Ａ、１３Ｂとされている。
１４は傾きの被測定物である光ディスクの反射面を；１
＜す。
＜す。
かかるスキュー検出用の装置は光源１２かう放出された
拡散光がレンズ１１を介して光デ１−スクの反射面１４
で反射し、その反射光が受光部１３Ａ。１３Ｂに到達す
る点で焦点となるようにレンズ１１の曲率面が形成され
ているので、図示したように反射面１４を鏡面とした場
合は仮想のレンズ１１′によって１５′の位置に光源１
２の虚像が表われる。
拡散光がレンズ１１を介して光デ１−スクの反射面１４
で反射し、その反射光が受光部１３Ａ。１３Ｂに到達す
る点で焦点となるようにレンズ１１の曲率面が形成され
ているので、図示したように反射面１４を鏡面とした場
合は仮想のレンズ１１′によって１５′の位置に光源１
２の虚像が表われる。
したがって“、その実像１５は第６図（ｂ）に示すよう
に光検出器１３の受光部１３Ａ、１３Ｂにメツシュ線で
弘すように結像される。
に光検出器１３の受光部１３Ａ、１３Ｂにメツシュ線で
弘すように結像される。
このような光学系においては、反射面１４奢示す光ディ
スクが紙面の方向で傾きがあると、入射光と反射光の経
路が異なったものになり、実像１５は矢印Ａ、又はＢで
示すように反射面１４の傾きの方向に対応して変位する
ことになるから、受光部１３Ａ。１３Ｂから出力される
電気信−３−のＨ，旨と差が生じる。
スクが紙面の方向で傾きがあると、入射光と反射光の経
路が異なったものになり、実像１５は矢印Ａ、又はＢで
示すように反射面１４の傾きの方向に対応して変位する
ことになるから、受光部１３Ａ。１３Ｂから出力される
電気信−３−のＨ，旨と差が生じる。
したがって、つ′光面１３Ａ、１３Ｂから得られる信υ
−（’ｉｔｊ圧又は電流）ｓ、、ｓｂの差を、例えりの
傾き角Δ０と検出信じ〜の関係は第７図に示すように表
りされることになり、尤ディス／７のＴ７ Ｈ，ニー。
−（’ｉｔｊ圧又は電流）ｓ、、ｓｂの差を、例えりの
傾き角Δ０と検出信じ〜の関係は第７図に示すように表
りされることになり、尤ディス／７のＴ７ Ｈ，ニー。
ｔｌイカ向の傾き、又はそりを検出する、−とかできる
。
。
したがって、このスキニー検出によって光学ピンクアン
プの光軸を制御すると、尤ディスク面に、に、ｌ して
常に、光ビームを直交するよ；）す寸−ボ機構を構染す
ることができる。
プの光軸を制御すると、尤ディスク面に、に、ｌ して
常に、光ビームを直交するよ；）す寸−ボ機構を構染す
ることができる。
〔発明が解決し２ようとする問題点〕
しかしなから、このスキュー検出構造によると個別に形
成、されている各部品を組み）ンてるためにコストアッ
プを招くと同１（１！に、組１７部品の精度によって検
出感度にバラツキが発生するという問題かある。
成、されている各部品を組み）ンてるためにコストアッ
プを招くと同１（１！に、組１７部品の精度によって検
出感度にバラツキが発生するという問題かある。
特に、発光源と受光（＼装置がレンズの光軸からずれて
いる位置に配置されるため、し〉′ズ１１と光ディスク
の反射面１４の距離に変動があると前述した第７図の検
出４￥性が一点釦線で示すように変動するという問題が
あり、サーボ回路を構成するときに回路が複雑になると
いう問題がある。
いる位置に配置されるため、し〉′ズ１１と光ディスク
の反射面１４の距離に変動があると前述した第７図の検
出４￥性が一点釦線で示すように変動するという問題が
あり、サーボ回路を構成するときに回路が複雑になると
いう問題がある。
この発明１よ、かかる問題点？解消するためになされた
もので、透明な保護体によって発光源と受光面を一体化
することによって小型、及び軽賃化をはかり、かつ取り
扱いも容易となるようにした反射型傾き検出素子を提供
しようとするものであ〔問題点を解決するための手段〕 この発明の反射型傾き検出素子は、基台のＬに発光ダイ
オード等からなる発光源をｐＳ載し、その内側に１対の
受光素ｆを配置し、さらにこの基台の上部空間を透明な
例えばエポキシ系の樹脂等によって覆うようにモールド
成形（７て保護体を形成する。
もので、透明な保護体によって発光源と受光面を一体化
することによって小型、及び軽賃化をはかり、かつ取り
扱いも容易となるようにした反射型傾き検出素子を提供
しようとするものであ〔問題点を解決するための手段〕 この発明の反射型傾き検出素子は、基台のＬに発光ダイ
オード等からなる発光源をｐＳ載し、その内側に１対の
受光素ｆを配置し、さらにこの基台の上部空間を透明な
例えばエポキシ系の樹脂等によって覆うようにモールド
成形（７て保護体を形成する。
透明な保護体のに部には放出光がほぼモ行光線となるよ
うな曲率のレンズ形状とされているので、被測定物の表
面から反射された光は保護体に入射したのち、ｉｉｉ記
発先発光源１μに円形の像を形成する。
うな曲率のレンズ形状とされているので、被測定物の表
面から反射された光は保護体に入射したのち、ｉｉｉ記
発先発光源１μに円形の像を形成する。
被測定物の傾きによって反射光の経路が変化すると、前
記円形の像が変位するため１対の受光素子から得られる
各検出信号の値に差が発生し、傾きの程度を検出するこ
とができるようになる。
記円形の像が変位するため１対の受光素子から得られる
各検出信号の値に差が発生し、傾きの程度を検出するこ
とができるようになる。
第１図はこの発明の反射型傾き検出素ｆ・の概要説明図
を示したもので、■は透明な樹脂、例えばエポキシ系の
樹脂等で形成されている保護体で、その頂部は後述する
ように放出光を所定の方向に集束するような曲率の曲面
５とされている。
を示したもので、■は透明な樹脂、例えばエポキシ系の
樹脂等で形成されている保護体で、その頂部は後述する
ように放出光を所定の方向に集束するような曲率の曲面
５とされている。
又、保護体１の底面にはほぼ中央部に発光ダイオード等
からなる発光源２が配置され、その両側片にはホト尋ト
ランジスタ等からなる１対の受光素子３Ａ、３Ｂが配置
されている。そして、これらは前述した保護体１を形成
する樹脂等によって一体にモールド成形し、図示されて
いないが発光ダイオード、及びホト尋トランジスタを作
動させるためのリード線が引き出されている。
からなる発光源２が配置され、その両側片にはホト尋ト
ランジスタ等からなる１対の受光素子３Ａ、３Ｂが配置
されている。そして、これらは前述した保護体１を形成
する樹脂等によって一体にモールド成形し、図示されて
いないが発光ダイオード、及びホト尋トランジスタを作
動させるためのリード線が引き出されている。
この発明の反射型傾き検出麦子は北述したようにすべて
の部材が保護体１によって一体化されているので、きわ
めて小型、軽；、ｌ、化され、例えばプリントノ１（板
等に筒中に取り付けて＋ｎｉ ’ｙＢしたように光学デ
ィスクｉｌＦ生装置のスキュー検出に利用することがで
きる。
の部材が保護体１によって一体化されているので、きわ
めて小型、軽；、ｌ、化され、例えばプリントノ１（板
等に筒中に取り付けて＋ｎｉ ’ｙＢしたように光学デ
ィスクｉｌＦ生装置のスキュー検出に利用することがで
きる。
以下、本発明の反射型傾き検出十ｆの動作について第２
図、第３図を参照して説明する。
図、第３図を参照して説明する。
発光［１に所定の゛重圧を印加することによって出力さ
れる光は、一般に拡散光となって矢印方向に放出される
が、保護体１の１：部の曲面５の曲率を所定の値に設定
すると、光線６Ａ、６Ａで示すように、やや拡散気味の
刊行光線が放出される。
れる光は、一般に拡散光となって矢印方向に放出される
が、保護体１の１：部の曲面５の曲率を所定の値に設定
すると、光線６Ａ、６Ａで示すように、やや拡散気味の
刊行光線が放出される。
したがって、前述したように傾きを持った被検出体（例
えば光ディスク）の反射面４に照射すると、この反射面
４を鏡面として、反射光は矢印の方向に進む光として表
示でき、鏡像で表示されている保護体１′に入射してそ
の受光素子３Ａ′。
えば光ディスク）の反射面４に照射すると、この反射面
４を鏡面として、反射光は矢印の方向に進む光として表
示でき、鏡像で表示されている保護体１′に入射してそ
の受光素子３Ａ′。
３Ｂ′に入射することになる。
このとき１反射光が図示したように受光素子３Ａ’、３
Ｂ′の前面のｆ点で焦点となるように曲面５か形成され
ていると、受光面は第２図（ｂ）に示すように円形の反
射像Ｓとなり、反射面４に傾きがない場合は、発光源２
を中心とした反射像Ｓｏ を形成する。したがって、発
光源２の両側に配置されている受光素子３Ａ、３Ｂには
等Ｉ栓の光が斜線で示すように照射される。
Ｂ′の前面のｆ点で焦点となるように曲面５か形成され
ていると、受光面は第２図（ｂ）に示すように円形の反
射像Ｓとなり、反射面４に傾きがない場合は、発光源２
を中心とした反射像Ｓｏ を形成する。したがって、発
光源２の両側に配置されている受光素子３Ａ、３Ｂには
等Ｉ栓の光が斜線で示すように照射される。
しかし、反射面４に傾きがあると、当然のことながら保
護体１からの反射光も反射面４の傾き角０の２倍を反射
角として受光素子３Ａ、３Ｂに入射することになるから
、第２図（ａ）、又は（ｂ）に示す反射像ｓｌ、ｓ２に
みられるように中心から変位したものになり、各々の受
光素子３Ａ 、 ３Ｂに入射する光電に差が生じる。
護体１からの反射光も反射面４の傾き角０の２倍を反射
角として受光素子３Ａ、３Ｂに入射することになるから
、第２図（ａ）、又は（ｂ）に示す反射像ｓｌ、ｓ２に
みられるように中心から変位したものになり、各々の受
光素子３Ａ 、 ３Ｂに入射する光電に差が生じる。
そこで、受光素子３Ａによって出力される光電流をｉｌ
、受光素子３Ｂによって出力される光電と、その演算出
力は中心からの反射像Ｓの変位、つまり、反射面４の傾
き角０に対応したものになり、第３図に示すように演算
出力のイ、ｉｉｌ、 ｆによって反射面４の傾き角０を
検知することができる。
、受光素子３Ｂによって出力される光電と、その演算出
力は中心からの反射像Ｓの変位、つまり、反射面４の傾
き角０に対応したものになり、第３図に示すように演算
出力のイ、ｉｉｌ、 ｆによって反射面４の傾き角０を
検知することができる。
曲面５の曲率は前述したように曲面５から放出される光
がやや拡散するようなｆ行光線６Ａ、６Ａとされ、反射
光の焦点が受光面の前面ｆＡ となるように設定したが
、−・点鎖線で示すように曲面５から放出される光が僅
かに集束されるような刊行光線６Ｂ、６Ｂとすることに
よって反射光の焦点ｆｏ を受光面の後面となるように
して反射像Ｓを形成するようにしてもよい。
がやや拡散するようなｆ行光線６Ａ、６Ａとされ、反射
光の焦点が受光面の前面ｆＡ となるように設定したが
、−・点鎖線で示すように曲面５から放出される光が僅
かに集束されるような刊行光線６Ｂ、６Ｂとすることに
よって反射光の焦点ｆｏ を受光面の後面となるように
して反射像Ｓを形成するようにしてもよい。
反射像Ｓは−に述したように焦点に結像したものでない
ため、例えば光ディスクの場合は、その表面に記録され
ている凹凸のビット情報や、トラック間のミラー面によ
る反射光等の影響をうけない直流成分に近い信号になり
、従来のものより検出信５）回路が容易になるという利
点がある。
ため、例えば光ディスクの場合は、その表面に記録され
ている凹凸のビット情報や、トラック間のミラー面によ
る反射光等の影響をうけない直流成分に近い信号になり
、従来のものより検出信５）回路が容易になるという利
点がある。
又、放出光の光軸と反射光の光軸が曲面５の中央部分を
通るように設定することによって、反射面が光ディスク
等の場合に発生し易い一ヒ下連動による傾き検出感度の
変動を殆どなくすることができる。
通るように設定することによって、反射面が光ディスク
等の場合に発生し易い一ヒ下連動による傾き検出感度の
変動を殆どなくすることができる。
そのため、前記した従来例に示されているように、尤ビ
、クアップに搭載してスキューサーボ機構を構築する際
にきわめて有効である。
、クアップに搭載してスキューサーボ機構を構築する際
にきわめて有効である。
第７！図は、発光源２、及び受光ＪＪｆ−３Ａ 、 ３
Ｂの拡大側面図を示したもので、７は導電性のノ、（
台、８は発光源２から出力される光をに方に反射するよ
うな反射面から形成されているフランジ部である。
Ｂの拡大側面図を示したもので、７は導電性のノ、（
台、８は発光源２から出力される光をに方に反射するよ
うな反射面から形成されているフランジ部である。
９Ａは前記基台７に固定されている共通電極、（又はリ
ード線）であり、９Ｂは発光源２の発光タイオードをド
ライブするための電極、９Ｃ９９Ｄは受光素子３Ａ、３
Ｂを形成するホト・トランジスタ又はホト−ダイオード
の出力電極である。
ード線）であり、９Ｂは発光源２の発光タイオードをド
ライブするための電極、９Ｃ９９Ｄは受光素子３Ａ、３
Ｂを形成するホト・トランジスタ又はホト−ダイオード
の出力電極である。
これらは基台７の所定の位置に接続剤等で取り付け、モ
ールド成形によって保護体１と一体化される。
ールド成形によって保護体１と一体化される。
なお、ノ、（台７を半導体のベースとして集積技術１こ
よって発光源２．受光素′Ｔ−３Ａ、３Ｂ′Ｔ、を形成
するようにしてもよい。
よって発光源２．受光素′Ｔ−３Ａ、３Ｂ′Ｔ、を形成
するようにしてもよい。
−Ｌ述した実施例では１対の受光素子３Ａ、３Ｂが設け
られているが、第５図に示すように発光源２の廻りにさ
らに受光素（−３Ｃ，３Ｄを設け、傾き検出の方向を噌
加させることもできる。
られているが、第５図に示すように発光源２の廻りにさ
らに受光素（−３Ｃ，３Ｄを設け、傾き検出の方向を噌
加させることもできる。
〔発１９（の効果〕
以ヒ説明したように、この発明の反射型傾き検出素ｒ−
は、発光源及び受光素子が光を集束する機能を持った透
明な保護体によって一体化されているので、製造が容易
になると同時に、小型、軽量化がり濠になり、使用機器
に対する取り付けも容易になるという効果がある。
は、発光源及び受光素子が光を集束する機能を持った透
明な保護体によって一体化されているので、製造が容易
になると同時に、小型、軽量化がり濠になり、使用機器
に対する取り付けも容易になるという効果がある。
又１発光源２の光軸と、反射光の光軸が集光用の曲面の
中心を通るように配ｔしているので、検出感度が従来の
ものより安定になるため検出回路を簡易化することがで
きるという利点を有する。
中心を通るように配ｔしているので、検出感度が従来の
ものより安定になるため検出回路を簡易化することがで
きるという利点を有する。
第１図はこの発明の反射型傾き検出素子の概要説明図、
第２図（ａ） 、 （ｂ） 、 （ｃ）は反射像の説明
図、第３図は傾き角と検出′上流の関係を示すグラフ、
第４図は発光源と受光素子の配置を示す拡大側面図、第
５図はこの発明の他の実施例を示す受光、い子の配置図
、第６図（ａ、）及び（ｂ）は従来のスキュー検出装こ
の側面図とモ面図、：３７図は傾き角と検出信号の関係
を示すグラフである。 図中、１は透明体で形成されている保護体、２は発光源
、３は受光素子、４は反射面、５は曲面、７は基台、８
は反射用のフランジ部、９Ａ。 ９Ｂ、９Ｃ，９Ｄは電極を示す。 第２図 ７みＬぷ□斐圭素シつ紘メミ図 第４図 第５図 第６図 第７図
第２図（ａ） 、 （ｂ） 、 （ｃ）は反射像の説明
図、第３図は傾き角と検出′上流の関係を示すグラフ、
第４図は発光源と受光素子の配置を示す拡大側面図、第
５図はこの発明の他の実施例を示す受光、い子の配置図
、第６図（ａ、）及び（ｂ）は従来のスキュー検出装こ
の側面図とモ面図、：３７図は傾き角と検出信号の関係
を示すグラフである。 図中、１は透明体で形成されている保護体、２は発光源
、３は受光素子、４は反射面、５は曲面、７は基台、８
は反射用のフランジ部、９Ａ。 ９Ｂ、９Ｃ，９Ｄは電極を示す。 第２図 ７みＬぷ□斐圭素シつ紘メミ図 第４図 第５図 第６図 第７図
Claims (1)
- 拡散光源と、前記拡散光源の両側に設けられている少
なくとも一対の受光素子とを共通の基台上に配置し、前
記基台の上部空間をモールド成形された透明な保護体に
よって覆うと共に、前記保護体の上部は前記拡散光源か
ら放出される光を平行光線に近似した光束とするような
曲面に成形されていることを特徴とする反射型傾き検出
素子。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60208787A JPH0660811B2 (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | 反射型傾き検出素子 |
| US06/910,522 US4779256A (en) | 1985-09-24 | 1986-09-23 | Apparatus for detecting deviations from a mutually perpendicular condition between a disc and a light beam |
| EP86307327A EP0216637A3 (en) | 1985-09-24 | 1986-09-24 | Reflection-type skew detector and method for detecting sreflection-type skew detector and method for detecting skewness utilizing the same kewness utilizing the same |
| KR1019860007976A KR940010945B1 (ko) | 1985-09-24 | 1986-09-24 | 반사형 기울기검출소자 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60208787A JPH0660811B2 (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | 反射型傾き検出素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6269111A true JPS6269111A (ja) | 1987-03-30 |
| JPH0660811B2 JPH0660811B2 (ja) | 1994-08-10 |
Family
ID=16562101
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60208787A Expired - Fee Related JPH0660811B2 (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | 反射型傾き検出素子 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4779256A (ja) |
| EP (1) | EP0216637A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0660811B2 (ja) |
| KR (1) | KR940010945B1 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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