JPS6270735A - ゴニオホトメ−タ - Google Patents
ゴニオホトメ−タInfo
- Publication number
- JPS6270735A JPS6270735A JP60210826A JP21082685A JPS6270735A JP S6270735 A JPS6270735 A JP S6270735A JP 60210826 A JP60210826 A JP 60210826A JP 21082685 A JP21082685 A JP 21082685A JP S6270735 A JPS6270735 A JP S6270735A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light receiving
- integrating sphere
- receiving surface
- rotary disc
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は、試料への光の入射角、および試料からの光の
試料に対ずろ検出方向を変えて反射率。
試料に対ずろ検出方向を変えて反射率。
透過率等を測定することができる分光的測定装置に関す
る。
る。
口、従来の技術
ゴニオホトメータの光検出部には光電子増倍管とかシリ
コンホトセル或は光電管等が使われている。所でこれら
の光検出器の受光面は場所的な感度むらがある。試料面
の拡散反射光等の測定では試料からの反射光は光検出器
の受光面全体には＼′均一に分布して入射するから光検
出器の受光面の場所的な感度むらの影響は現れず、各試
料間の測定結果の相互比較にも支承はなく、正しい測定
ができる。しかし境面反射率測定の場合、試料反射光束
の光検出器受光面への入射位置は試料の平面度によって
変化し、受光面の場所的な感度むらの影響が直接現れる
。例えば反射率測定では基準試料の反射光測定値を１０
０として被測定試料の反射光強度を表わすので、基準試
料としてＡｅ蒸着した高精度の平面鏡を用いても被測定
試料がメガネレンズとか磁気タイル等であると表面の曲
がりによって反射光は受光面上で基準試料とは異る位置
に入射するから、正しい反射率６測定はできない。
コンホトセル或は光電管等が使われている。所でこれら
の光検出器の受光面は場所的な感度むらがある。試料面
の拡散反射光等の測定では試料からの反射光は光検出器
の受光面全体には＼′均一に分布して入射するから光検
出器の受光面の場所的な感度むらの影響は現れず、各試
料間の測定結果の相互比較にも支承はなく、正しい測定
ができる。しかし境面反射率測定の場合、試料反射光束
の光検出器受光面への入射位置は試料の平面度によって
変化し、受光面の場所的な感度むらの影響が直接現れる
。例えば反射率測定では基準試料の反射光測定値を１０
０として被測定試料の反射光強度を表わすので、基準試
料としてＡｅ蒸着した高精度の平面鏡を用いても被測定
試料がメガネレンズとか磁気タイル等であると表面の曲
がりによって反射光は受光面上で基準試料とは異る位置
に入射するから、正しい反射率６測定はできない。
ハ９発明が解決しようとする問題点
本発明は光検出器の受光面の場所的な感度むらの影響が
現れないようなゴニオホトメータを提供しようとするも
のである。
現れないようなゴニオホトメータを提供しようとするも
のである。
二１問題点解決のための手段
ゴニオホトメータにおいて光検出部を光検出器による直
接受光モードと積分等の光拡散手段を介して光検出器で
受光する間接受光モードとの選択切換えを可能にすると
共に、両モードの受光手段をゴニオホトメータ上の機構
的な位置決め手段でゴニオホトメータ上に交換可能に取
付けることで上記選択切換えを行うようにした。
接受光モードと積分等の光拡散手段を介して光検出器で
受光する間接受光モードとの選択切換えを可能にすると
共に、両モードの受光手段をゴニオホトメータ上の機構
的な位置決め手段でゴニオホトメータ上に交換可能に取
付けることで上記選択切換えを行うようにした。
ホ０作用
鏡面反射光でも光拡散手段を介して光検出器の受光面に
入射させれば、受光面全体に均一に分布して入射するか
ら感度むらの影響がなくなる。また二つの受光モードが
選択可能であるから、鏡面反射光の測定だけでな（拡散
反射光等の拡散光の測定もできる。
入射させれば、受光面全体に均一に分布して入射するか
ら感度むらの影響がなくなる。また二つの受光モードが
選択可能であるから、鏡面反射光の測定だけでな（拡散
反射光等の拡散光の測定もできる。
へ、実施例
第１図、第２図は本発明の一実施例で、第１図は面接受
光モード、第２図は積分球を用いた間接受光モードの状
態を示す。これらの図でＭは分光器、Ｒはゴニオホトメ
ータの回転円板、Ｂは同じく試料台でこれらは同心的に
配置されて各別に回転させることができる。Ｓは試料台
上にセ・ントされた試料である。Ｍｌは回転円板Ｒ上に
取付けられた凹面鏡であり、ＭＳは回転円板上に定位置
に取付けられた光束絞りであって、これは絞り径及び光
透過窓の形等種々なものを交換可能であり、試料台Ｂの
中心と凹面鏡Ｍ１と紋りＭＳの位置関係は試料台の中心
軸と凹面鏡の中心を結ぶ光線が凹面鏡で反射されて絞り
の中心を通るような関係になっている。
光モード、第２図は積分球を用いた間接受光モードの状
態を示す。これらの図でＭは分光器、Ｒはゴニオホトメ
ータの回転円板、Ｂは同じく試料台でこれらは同心的に
配置されて各別に回転させることができる。Ｓは試料台
上にセ・ントされた試料である。Ｍｌは回転円板Ｒ上に
取付けられた凹面鏡であり、ＭＳは回転円板上に定位置
に取付けられた光束絞りであって、これは絞り径及び光
透過窓の形等種々なものを交換可能であり、試料台Ｂの
中心と凹面鏡Ｍ１と紋りＭＳの位置関係は試料台の中心
軸と凹面鏡の中心を結ぶ光線が凹面鏡で反射されて絞り
の中心を通るような関係になっている。
第１図において、Ｄはホトマルチプライヤであり、Ｈは
そのゴニオホトメータへの取付は用／）ウジングである
。前述したように第１図は直接受光モードの場合で、試
料Ｓからの反射光が直接ホトマルチプライヤＤの頭端受
光面に入射するように、受光面が絞りＭＳの直後に位置
している。図では分光器Ｍの出射光が試料Ｓ表面に入射
角ωて入射し、試料からの拡散反射光のうち反射角ρで
反射された光がホトマルチプライヤＤに入射するように
回転円板Ｒ及び試料台Ｂの角位置が設定されている。ホ
トマルチプライヤのホルダＨの下面には２本のビンＰが
立ててあり、このビンを回転円板Ｒ上のビン穴（図では
ビンＰと一致していて表現されていない〉に嵌合させる
ことでホトマルチプライヤＤが回転円板Ｒ上に位置きめ
されて設置される。Ｆはこのようにして設置されたホル
ダＨを回転円板Ｒに固定するねじであり、Ｆ′は今の場
合余分になっている固定用ねじのねじ穴である。
そのゴニオホトメータへの取付は用／）ウジングである
。前述したように第１図は直接受光モードの場合で、試
料Ｓからの反射光が直接ホトマルチプライヤＤの頭端受
光面に入射するように、受光面が絞りＭＳの直後に位置
している。図では分光器Ｍの出射光が試料Ｓ表面に入射
角ωて入射し、試料からの拡散反射光のうち反射角ρで
反射された光がホトマルチプライヤＤに入射するように
回転円板Ｒ及び試料台Ｂの角位置が設定されている。ホ
トマルチプライヤのホルダＨの下面には２本のビンＰが
立ててあり、このビンを回転円板Ｒ上のビン穴（図では
ビンＰと一致していて表現されていない〉に嵌合させる
ことでホトマルチプライヤＤが回転円板Ｒ上に位置きめ
されて設置される。Ｆはこのようにして設置されたホル
ダＨを回転円板Ｒに固定するねじであり、Ｆ′は今の場
合余分になっている固定用ねじのねじ穴である。
第２図において、Ｉｓは積分球であって、上述ホルダＩ
（の場合と同様、下面に立てた２本のビンＰが回転円板
Ｒ上のビン穴に嵌合して位置決めされ、ねじＦ、Ｆ’で
固定される。第２図は前述したように鏡面反射率を測定
する間接受光モードで、紋りＭＳの直後に積分球ＩＳの
光入射窓が位置するように積分球＋Ｓが固定される。こ
の図の場合試料Ｓへの光の入射角ωと反射角ρとは等し
い値に設定される。平滑試料の場合、反射光は余り拡散
しないから反射光束は殆ど拡がらないが、積分球の内面
で拡散反射澄繰返し、積分球の光検出窓Ｗの面に均一な
照度を与えるから、この窓の外に受光面を接して取付け
られた光検出器（図では紙面より手前側に位置する）は
受光面の感度むらの影響なしに試料からの鏡面反射光を
受光することができる。
（の場合と同様、下面に立てた２本のビンＰが回転円板
Ｒ上のビン穴に嵌合して位置決めされ、ねじＦ、Ｆ’で
固定される。第２図は前述したように鏡面反射率を測定
する間接受光モードで、紋りＭＳの直後に積分球ＩＳの
光入射窓が位置するように積分球＋Ｓが固定される。こ
の図の場合試料Ｓへの光の入射角ωと反射角ρとは等し
い値に設定される。平滑試料の場合、反射光は余り拡散
しないから反射光束は殆ど拡がらないが、積分球の内面
で拡散反射澄繰返し、積分球の光検出窓Ｗの面に均一な
照度を与えるから、この窓の外に受光面を接して取付け
られた光検出器（図では紙面より手前側に位置する）は
受光面の感度むらの影響なしに試料からの鏡面反射光を
受光することができる。
第３図は間接受光モードで用いる光拡散手段の他の実施
例で、Ｄｆは白色光散乱板で脚板しに対して４５°傾斜
しており、脚板りが回転円板Ｒ上に位置決めして取付け
られるようになっている。
例で、Ｄｆは白色光散乱板で脚板しに対して４５°傾斜
しており、脚板りが回転円板Ｒ上に位置決めして取付け
られるようになっている。
Ｄは光散乱板Ｄｆに対して固定されたホトマルチプライ
ヤで絞りＭＳを通った被測定光は光散乱板Ｄｆで拡散反
射されてホトマルチプライヤＤの受光面に入射せしめら
れる。
ヤで絞りＭＳを通った被測定光は光散乱板Ｄｆで拡散反
射されてホトマルチプライヤＤの受光面に入射せしめら
れる。
本発明の他の変形実施例として、第１，２図における鏡
Ｍ１の所に紋りＭＳ以下め測光部分を直接取付けるよう
にしてもよい。
Ｍ１の所に紋りＭＳ以下め測光部分を直接取付けるよう
にしてもよい。
ト、効果
直接受光方式はその性質上高感度であるが光検出器の受
光面の感度むらの影響は避けられない。
光面の感度むらの影響は避けられない。
間接受光方式は感度むらの影響がないから高精度の測定
に適する。本発明は何れの受光方式をも選択でき、ゴニ
オホ］・メータによる測定の適用範囲の拡大、測定精度
の向上が得られる。
に適する。本発明は何れの受光方式をも選択でき、ゴニ
オホ］・メータによる測定の適用範囲の拡大、測定精度
の向上が得られる。
第１図は本発明の一実施例の直接受光モードにおける平
面図、第２図は同実施例の間接受光モードにおける平面
図、第３図は間接受光モードにおける光拡散手段の他の
実施例の側面図である。
面図、第２図は同実施例の間接受光モードにおける平面
図、第３図は間接受光モードにおける光拡散手段の他の
実施例の側面図である。
Claims (1)
- ゴニオホトメータ上に位置決め手段を介して直接受光用
の光検出器及び間接受光用の光拡散手段を交換可能に取
付けたゴニオホトメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60210826A JPS6270735A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | ゴニオホトメ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60210826A JPS6270735A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | ゴニオホトメ−タ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6270735A true JPS6270735A (ja) | 1987-04-01 |
Family
ID=16595756
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60210826A Pending JPS6270735A (ja) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | ゴニオホトメ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6270735A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6419155U (ja) * | 1987-07-24 | 1989-01-31 | ||
| JP2011154047A (ja) * | 2011-05-18 | 2011-08-11 | Shimadzu Corp | 絶対反射測定装置 |
-
1985
- 1985-09-24 JP JP60210826A patent/JPS6270735A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6419155U (ja) * | 1987-07-24 | 1989-01-31 | ||
| JP2011154047A (ja) * | 2011-05-18 | 2011-08-11 | Shimadzu Corp | 絶対反射測定装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4360275A (en) | Device for measurement of optical scattering | |
| US4873430A (en) | Method and apparatus for optically measuring characteristics of a thin film by directing a P-polarized beam through an integrating sphere at the brewster's angle of the film | |
| GB2189623A (en) | Remote reading spectrophotometer | |
| US20110007320A1 (en) | Light transmitter, light receiver and measuring device for measuring optical properties of transparent substrates | |
| JPH0248054B2 (ja) | ||
| JPS6355020B2 (ja) | ||
| CN109470656A (zh) | 一种新型双向反射分布函数快速测试系统及方法 | |
| FI78355C (fi) | Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden. | |
| CN208537405U (zh) | 一种分光测色装置 | |
| JPH058975B2 (ja) | ||
| JPH0554902B2 (ja) | ||
| JP2010276363A (ja) | 光学特性測定装置及び測定方法 | |
| US3610756A (en) | Apparatus for determining the color of cut diamonds | |
| JPS6270735A (ja) | ゴニオホトメ−タ | |
| JP2000258246A (ja) | 全光束測定方法および全光束測定装置 | |
| JPS639610B2 (ja) | ||
| CN1073012A (zh) | 测量光纤光谱透射率的装置 | |
| JP3871415B2 (ja) | 分光透過率測定装置 | |
| JPS6241224Y2 (ja) | ||
| JP2551728Y2 (ja) | 全反射蛍光ｘ線分析装置における高さ調節用ダミー | |
| RU2180429C2 (ru) | Устройство для определения шероховатости поверхности | |
| SU654853A1 (ru) | Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцов | |
| JP2561141Y2 (ja) | 拡散反射測定装置 | |
| RU2156437C2 (ru) | Устройство для определения шероховатости поверхности | |
| JPH0675035B2 (ja) | 反射率測定装置 |