JPS6270775A - Ｉｃテスタ用ｉｃシミユレ−タ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、ＩＣテストシステムに関し、特にプログラム
を用いてＩＣの試験を行うＩＣテスタのプログラムデバ
ッグ（不良の探究発見）のためのＩＣシミュレータに関
する。

（従来の技術） ＩＣテスタを用いてＩＣの試験を行う場合、そのＩＣテ
スタへの試験方法、手順（プログラム）の入力が必要と
なる事が多い。その際、作成したプログラムが適切なも
のであるか否かを確かめる為に従来は実際に試験評価の
対象となるＩＣを用いてデバッグを行っていた６ （発明が解決しようとする間趙点） 上述の様に、実際に評価の対象となる試料（ＩＣ）を用
いてプログラムデバッグを行った場合、作成プログラム
に誤りが有ってそれが測定結果を大幅に変えてしまい、
明らかにプログラム誤りである事が分かる場合は問題が
ないとしても、デバッグ時の測定結果に正しくない値が
現れた時、それが試料の特性としてみえてしまい、プロ
グラムに潜在している誤りが分からない事も起こり得る
という問題があった。

本発明の目的は、ＩＣテスタのテスト１０グラムそのも
ののデバッグを行うのに、そのプログラムによる評価の
対象となるＩＣを試験台として用いるということに本質
的に存在する上記問題点を解決するために、プログラム
デバッグ用として、被試験ＩＣに加える試験信号を加え
たならば、被試験ＩＣから得られる筈の応答信号と同じ
信号を出力するＩＣシミュレータを提供しようとするも
のである。

（問題点を解決するための手段） 本発明は上記の目的を達成するために次の構成を有する
。即ち、本発明のＩＣシミュレータは、試験用人カパタ
ンデータとこれに対する出力期待値パタンデータと制御
データを記憶する記憶部と、　　ＩＣテスタからの試験
用入力信号の電圧を比較測定する電圧比較部と、　　Ｉ
Ｃテスタからの試験用入力信号のクロック周波数を測定
する周波数検出部と；　前記電圧比較部と前記周波数検
出部の測定結果を受けて、前記記憶部に記憶されている
制御データに基づいて前記記憶されている試験用入力パ
タンデータと照合し、前記試験用入力信号に対して得ら
れるべき出力期待値データを抽出構成するシステム制御
部と；　前記出力期待値データを受けて出力パルス波形
を生成する波形生成部と；　該出力パルス波形の波形整
形を行う波形整形部と；　前記システム制御部からのＭ
＃により前記周波数検出部、電圧比較部および波形整形
部と外部接続端子との接続を行うＩＣ入出力インターフ
ェイス部と；　を有することを特徴とする。

（作　用） 本発明のＩＣシミュレータは上記の構成を有しているの
で、種々の試験用入力パタンデータとこれに対する出力
期待値パタンデータと制御データを記憶させておくこと
により、ＩＣテスタから試験用入力信号を加えた場合疑
似ＩＣとして種々の動作をし、実際のＩＣと同様の出力
信号を発生する。従って、この出力信号を受けたＩＣテ
スタの下した試験結果とＩＣシミュレータに設定された
動作状態とが一致するか否かを比較することによってＩ
Ｃテスタが正しい試験評価動作を行っているかどうかを
知ることができる。即ち、両者が一致していればＩＣテ
スタは正しい試験評価動作を行っていることになるが不
一致の場合には、試験プログラムに欠点（ｂｕｇ：バグ
）が存在することになる。従って、本発明のＩＣシミュ
レータを用いることによりＩＣテスタのプログラムデバ
ッグを行うことができ、試験評価の対象である実際のＩ
Ｃを試験台として、試験評価を行う主体であるＩＣテス
タのプログラムデバッグを行うという従来の技術におけ
る問題点を解決することができる。

（実　施　例） 以下、本発明の実施例について図面を用いて説明する。

第１図は本発明の実施例の構成を示すブロック図である
。先ず磁気テープ等の外部記憶媒体から、或は鍵盤がら
直接、外部入出力部１００へ、入力パタンデータ、出力
パタンデータおよび制御データを入力する。ここで入力
パタンデータ、出力パタンデータとは、ＩＣを試験する
際ＩＣへ入力する入力パタンデータと、その入力パタン
データに依る電圧をＩＣの入力端子に加えた事により、
出力端子に現れる可きＩＣの出力期待値パタンデータの
事であり、制御データとは、■ｃの端子番号対応に持っ
ている入力端子、出力端子およびクロック端子の区別の
ためのデータや、周波数検出部４００および電圧比較部
５００で測定された入力クロック周波数および入力信号
電圧の条件から出力端子対応に波形生成部に発生させる
可き電圧や電流値を決定するためのデータや、波形整形
回路９００が波形を整形する際の時定数等を決定する為
のデータを言う。

上記データは外部入出力インタフェイス部２゜Ｏにてイ
ンタフェイス整合が行われ、記憶部３００に引き渡され
て蓄積される。

次にＩＣ試験実行時の本発明シミュレータの動作を説明
する。ＩＣアタッチメント８１０を介してＩＣテスタの
ＩＣソケットから試験用入力電圧が本発明シミュレータ
に加えられる。前述の様に予め記憶部３００に端子番号
対応の諸情報が記憶されているので、システム制御部６
００は、当該情報により、入力端子を電圧比較部５００
、その内クロック端子は同時に周波数検出部４００へ、
入出力インタフェイス部８００を介して接続させる事が
出来る。その結果、電圧比較部５００と、周波数検出部
４００にて測定された入力電圧およびクロック周波数が
システム制御部６００へ伝えられ、システム制御部６０
０はやはり記憶部３００に有る制御データによって、条
件が取られ、記憶部３００に蓄えられている出力端子対
応の出力バタンによる「０」、「１」の選択をし、制御
データが示す出力電圧レベル、出力電流の指示を波形生
成部７００へ、出力電圧波形の整形を行う為の時定数を
波形整形回路９００へ伝えて制御を行う。以上の様にシ
ステム制御部６００に制御されて波形生成部７００と、
波形整形回路９００が、出力端子対応に任意の電圧波形
、又は電流波形を作り、それが入出力インタフェイス部
８００、ＩＣアクッチメン）−８１０を通じてＩＣテス
タ内へ導かれる。ＩＣテスタには、当該波形が恰も実際
の試料（ＩＣ）の出力の様に見える。この時入出力イン
タフェイス部８００は、記憶部３００、およびシステム
制御部６００に依り、ＩＣアタッチメント８１０の出力
端子を波形整形回路９００に接続している。

（発明の効果） 以上説明したようにＩＣテスタのテストプログラムをデ
バッグする際に実際の試料ＩＣを用いず、本発明による
ＩＣシミュレータを用いる事により、予めＩＣシミュレ
ータに入力した特性値と異なる測定結果が出れば明らか
にプログラム誤りが有ると分かるのでバグを減らす事が
でき被測定デバイスの特性がプログラムの間違いで正確
に測定出来なくなってしまうという従来技術の問題点を
解決できるという利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のＩＣシミュレータの構成を示すブロッ
ク図である。 ・　１００・・・・・・外部入出力部、　２００・・・
・・・外部入出力インタフェイス部、　３００・・・・
・・記憶部、４００・・・・・・周波数検出部、　５０
０・・・・・・電圧比較部、　６００・・・・・・シス
テム制御部、　７００・・・・・・波形生成部、　８０
０・・・・・・入出力インタフェイス部、　　８１０・
・・・・・ＩＣアタッチメント、９００・・・・・・波
形整形回路。 代理人　弁理士　　八　幡　　義　博 ネだ所の１Ｃシミユレータの層成 第７図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 試験用入力パタンデータとこれに対する出力期待値パタ
   ンデータと制御データを記憶する記憶部と；ＩＣテスタ
   からの試験用入力信号の電圧を比較測定する電圧比較部
   と；ＩＣテスタからの試験用入力信号のクロック周波数
   を測定する周波数検出部と；前記電圧比較部と前記周波
   数検出部の測定結果を受けて、前記記憶部に記憶されて
   いる制御データに基づいて前記記憶されている試験用入
   力パタンデータと照合し、前記試験用入力信号に対して
   得られるべき出力期待値データを抽出構成するシステム
   制御部と；前記出力期待値データを受けて出力パルス波
   形を生成する波形生成部と；該出力パルス波形の波形整
   形を行う波形整形部と；前記システム制御部からの制御
   により前記周波数検出部、電圧比較部および波形整形部
   と外部接続端子との接続を行うＩＣ入出力インターフェ
   イス部と；を有することを特徴とするＩＣテスタ用ＩＣ
   シミュレータ。